CN105224460A - 一种基于插装技术统计测试覆盖率的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于插装技术统计测试覆盖率的方法,所述方法在保证被测程序原有逻辑完整性的基础上在程序中***一些探针,通过探针的执行并抛出程序运行的特征数据,通过对这些数据的分析,获得程序的控制流和数据流信息,进而得到动态信息测试覆盖率,从而实现测试目的;所述测试覆盖率采用层次覆盖率,按照程序粒度划分为三个层次:api覆盖率、函数覆盖率、代码条件分支覆盖率,三个层次的覆盖率由粗到细,相互关联。本发明通过计算三个层次的测试覆盖率,三种覆盖率相结合,一定程度减少过度集中调用对数据的影响;根据项目测试阶段和覆盖率数据,有理有据的、灵活的判断测试的有效性,防止互相推诿、无视事实,提高项目管理的科学性。
Description
技术领域
本发明涉及软件测试和项目管理技术领域,具体涉及一种基于插装技术统计测试覆盖率的方法,主要针对软件开发过程中质量反复,可控性差,问责困难等问题,通过在程序代码中***测试桩,监测该代码在某次测试中是否被执行,统计测试覆盖率,减少测试的随机性、随意性,提高项目管理的科学性,从而缩短项目测试时间,降低测试成本。
背景技术
从事软件项目管理及测试管理时,我们会发现在项目面对结项时间压力,此时软件质量反复、bug收敛度不如预期等问题,往往是项目结项面临的最大问题。项目经理通常采取的做法第一是bug分类追踪问责:将本次bug分类,新发现、修改导致、未修改等,以追究测试人员及开发人员的责任,期待开发人员修改bug质量及测试人员测试全面性的提高,第二是加班赶工。测试经理为了减少新发现bug的数量,往往采用固定模块测试人员的做法。
不可否认,这些做法会取得一定的效果。但是bug分类的统计过程,缺乏科学的、***的标准,依据开发及测试对于往期的测试印象而进行分类,这往往造成开发与测试互相推诿的现象。
总结这些矛盾的根本在于测试覆盖率的问题,如何保证在测试初期就进行全面的覆盖?作为管理人员如何在测试之后统计本次测试对于程序测试的全面性?
目前在项目工期紧、软件质量反复、bug收敛度不如预期的情况下,项目经理归结原因时往往缺乏科学性和可靠性,对项目其他人员来说此结论缺乏数据依据和说服力。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:基于上述技术,本发明提供一种基于插装技术统计测试覆盖率的方法。
本发明所采用的技术方案为:
一种基于插装技术统计测试覆盖率的方法,所述方法在保证被测程序原有逻辑完整性的基础上在程序中***一些探针(又称为“探测仪”),通过探针的执行并抛出程序运行的特征数据,通过对这些数据的分析,获得程序的控制流和数据流信息,进而得到动态信息测试覆盖率,从而实现测试目的;所述测试覆盖率采用层次覆盖率,按照程序粒度划分为三个层次:api覆盖率、函数覆盖率、代码条件分支覆盖率,三个层次的覆盖率由粗到细,相互关联。
基于插装技术的统计测试覆盖率的方法即在被测程序中***装探针,当程序被执行(被测试)时,探针执行并输入指定信息,反之,探针的指定信息未输出则证明该段程序在本轮测试中未被测试到,从而可以科学的、有说服力的计算测试的覆盖率。
所述api覆盖率,以程序接口为单位,在每一个接口执行前***探针,探针信息包括接口编号、执行次数变量X(i)(接口每被执行一次该变量加1,初始值为0),在程序详细设计时,记录编号为i的接口被调用的次数,计为总数A(i),api(i)=X(i)/A(i),当api(i)>1时,视该接口被完全覆盖(本方法基于测试的随机性排除该接口被少数情况下集中调用的情况)剔除i接口在总api覆盖率中的计算,
总api覆盖率=[X(1)+X(2)+…+X(n-1)+X(n)]/[A(1)+A(2)+…+A(n-1)+A(n)](其中1到n中剔除api(i)>1的i接口)。当api覆盖率偏低时,可以通过计算api(i)=X(i)/A(i)来具体到是某个具体的api。
所述函数覆盖率,以函数为单位,在每一个函数开始执行之前***探针,探针信息包含函数编号、执行次数X(i)(函数每被调用一次该变量加1,初始值为0),在程序详细设计时,记录编号为i的函数被调用的次数,计为总数A(i),函数覆盖率=X(i)/A(i)。
所述代码条件分支覆盖率,以函数内分支为单位,在每个分支执行时***探针,探针信息包括分支编号,在编码阶段,记录分支数量,分支覆盖率=执行的编号总数/总的分支数量。
所述方法在计算程序测试覆盖率时,综合这三种层次的覆盖率,判断该轮测试是否为有效的测试,对于覆盖率与有效测试的关系,根据测试的不同阶段来具体定义,在测试后期,程序功能趋于完善时,三种覆盖率基本上要达到90%以上,测试才算有效。
所述方法操作步骤如下:
1)项目详细设计阶段,根据详细设计图,给api编号,并记录api将被调用情况的数量;给函数编号,并记录函数被调用的情况数量;
2)在编码阶段,给函数的分支编号;
3)在编码阶段,在api接口开始、函数开始及函数的分支开始,***探针:System.out.println语句,输入信息到指定的文件,包括但不限于编号及执行次数;
4)在测试结束后,分别计算api覆盖率、函数覆盖率及分支覆盖率(综合三种覆盖率的情况,可以一定程度上避免少数情况下集中调用的情况),综合考量目前项目功能的完成情况及三种覆盖率,对测试是否有效做出判断。
在测试初期,项目的功能只完成了50%,根据二八原则,三种测试覆盖率若均低于48%,则考虑测试覆盖率低的情况,再根据单个的接口覆盖率、单个的函数覆盖率及单个函数的分支覆盖率,去排查确认是哪些代码未覆盖到;到了项目后期,程序功能基本完成,则三种测试覆盖率基本上要达到80%以上甚至更高,才能判断此次测试有效。
所述***测试需要持续5轮甚至更高,比较轮次之间的测试覆盖率,当测试覆盖率逐渐升高的情况下,判断项目在朝好的方向发展;当测试覆盖率下降,在排除测试原因时,判断程序质量出现后退,需要引起项目经理的重视。
本发明的有益效果为:
本发明通过在代码中插装的技术,记录测试轨迹;通过一轮测试之后的探针输出,计算三个层次的测试覆盖率,三种覆盖率相结合,一定程度减少过度集中调用对数据的影响;根据项目测试阶段和覆盖率数据,有理有据的、灵活的判断测试的有效性,防止互相推诿、无视事实,提高项目管理的科学性。
附图说明
图1为本发明基于插装技术计算测试覆盖率方法图。
具体实施方式
下面根据说明书附图,结合具体实施方式对本发明进一步说明:
实施例1:
一种基于插装技术统计测试覆盖率的方法,所述方法在保证被测程序原有逻辑完整性的基础上在程序中***一些探针(又称为“探测仪”),通过探针的执行并抛出程序运行的特征数据,通过对这些数据的分析,获得程序的控制流和数据流信息,进而得到动态信息测试覆盖率,从而实现测试目的;所述测试覆盖率采用层次覆盖率,按照程序粒度划分为三个层次:api覆盖率、函数覆盖率、代码条件分支覆盖率,三个层次的覆盖率由粗到细,相互关联。
基于插装技术的统计测试覆盖率的方法即在被测程序中***装探针,当程序被执行(被测试)时,探针执行并输入指定信息,反之,探针的指定信息未输出则证明该段程序在本轮测试中未被测试到,从而可以科学的、有说服力的计算测试的覆盖率。
实施例2:
在实施例1的基础上,本实施例所述api覆盖率,以程序接口为单位,在每一个接口执行前***探针,探针信息包括接口编号、执行次数变量X(i)(接口每被执行一次该变量加1,初始值为0),在程序详细设计时,记录编号为i的接口被调用的次数,计为总数A(i),api(i)=X(i)/A(i),当api(i)>1时,视该接口被完全覆盖(本方法基于测试的随机性排除该接口被少数情况下集中调用的情况)剔除i接口在总api覆盖率中的计算,
总api覆盖率=[X(1)+X(2)+…+X(n-1)+X(n)]/[A(1)+A(2)+…+A(n-1)+A(n)](其中1到n中剔除api(i)>1的i接口)。当api覆盖率偏低时,可以通过计算api(i)=X(i)/A(i)来具体到是某个具体的api。
实施例3:
在实施例1的基础上,本实施例所述函数覆盖率,以函数为单位,在每一个函数开始执行之前***探针,探针信息包含函数编号、执行次数X(i)(函数每被调用一次该变量加1,初始值为0),在程序详细设计时,记录编号为i的函数被调用的次数,计为总数A(i),函数覆盖率=X(i)/A(i)。
实施例4:
在实施例1的基础上,本实施例所述代码条件分支覆盖率,以函数内分支为单位,在每个分支执行时***探针,探针信息包括分支编号,在编码阶段,记录分支数量,分支覆盖率=执行的编号总数/总的分支数量。
实施例5:
在实施例1-4的基础上,本实施例所述方法在计算程序测试覆盖率时,综合这三种层次的覆盖率,判断该轮测试是否为有效的测试,对于覆盖率与有效测试的关系,根据测试的不同阶段来具体定义,在测试后期,程序功能趋于完善时,三种覆盖率基本上要达到90%以上,测试才算有效。
实施例6:
如图1所示,在实施例5的基础上,本实施例所述方法操作步骤如下:
1)项目详细设计阶段,根据详细设计图,给api编号,并记录api将被调用情况的数量;给函数编号,并记录函数被调用的情况数量;
2)在编码阶段,给函数的分支编号;
3)在编码阶段,在api接口开始、函数开始及函数的分支开始,***探针:System.out.println语句,输入信息到指定的文件,包括但不限于编号及执行次数;
4)在测试结束后,分别计算api覆盖率、函数覆盖率及分支覆盖率(综合三种覆盖率的情况,可以一定程度上避免少数情况下集中调用的情况),综合考量目前项目功能的完成情况及三种覆盖率,对测试是否有效做出判断。
在测试初期,项目的功能只完成了50%,根据二八原则,三种测试覆盖率若均低于48%,则考虑测试覆盖率低的情况,再根据单个的接口覆盖率、单个的函数覆盖率及单个函数的分支覆盖率,去排查确认是哪些代码未覆盖到;到了项目后期,程序功能基本完成,则三种测试覆盖率基本上要达到80%以上甚至更高,才能判断此次测试有效。
实施例7:
在实施例6的基础上,本实施例所述***测试需要持续5轮甚至更高,比较轮次之间的测试覆盖率,当测试覆盖率逐渐升高的情况下,判断项目在朝好的方向发展;当测试覆盖率下降,在排除测试原因时,判断程序质量出现后退,需要引起项目经理的重视。
以上实施方式仅用于说明本发明,而并非对本发明的限制,有关技术领域的普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围的情况下,还可以做出各种变化和变型,因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴,本发明的专利保护范围应由权利要求限定。
Claims (7)
1.一种基于插装技术统计测试覆盖率的方法,其特征在于:所述方法在保证被测程序原有逻辑完整性的基础上在程序中***一些探针,通过探针的执行并抛出程序运行的特征数据,通过对这些数据的分析,获得程序的控制流和数据流信息,进而得到动态信息测试覆盖率,从而实现测试目的;所述测试覆盖率采用层次覆盖率,按照程序粒度划分为三个层次:api覆盖率、函数覆盖率、代码条件分支覆盖率,三个层次的覆盖率由粗到细,相互关联。
2.根据权利要求1所述的一种基于插装技术统计测试覆盖率的方法,其特征在于:所述api覆盖率,以程序接口为单位,在每一个接口执行前***探针,探针信息包括接口编号、执行次数变量X(i),在程序详细设计时,记录编号为i的接口被调用的次数,计为总数A(i),api(i)=X(i)/A(i),当api(i)>1时,视该接口被完全覆盖剔除i接口在总api覆盖率中的计算,
总api覆盖率=[X(1)+X(2)+…+X(n-1)+X(n)]/[A(1)+A(2)+…+A(n-1)+A(n)]。
3.根据权利要求1所述的一种基于插装技术统计测试覆盖率的方法,其特征在于:所述函数覆盖率,以函数为单位,在每一个函数开始执行之前***探针,探针信息包含函数编号、执行次数X(i)(函数每被调用一次该变量加1,初始值为0),在程序详细设计时,记录编号为i的函数被调用的次数,计为总数A(i),函数覆盖率=X(i)/A(i)。
4.根据权利要求1所述的一种基于插装技术统计测试覆盖率的方法,其特征在于:所述代码条件分支覆盖率,以函数内分支为单位,在每个分支执行时***探针,探针信息包括分支编号,在编码阶段,记录分支数量,分支覆盖率=执行的编号总数/总的分支数量。
5.根据权利要求1-4任一所述的一种基于插装技术统计测试覆盖率的方法,其特征在于:所述方法在计算程序测试覆盖率时,综合这三种层次的覆盖率,判断该轮测试是否为有效的测试,对于覆盖率与有效测试的关系,根据测试的不同阶段来具体定义,在测试后期,程序功能趋于完善时,三种覆盖率基本上要达到90%以上,测试才算有效。
6.根据权利要求5所述的一种基于插装技术统计测试覆盖率的方法,其特征在于,所述方法操作步骤如下:
1)项目详细设计阶段,根据详细设计图,给api编号,并记录api将被调用情况的数量;给函数编号,并记录函数被调用的情况数量;
2)在编码阶段,给函数的分支编号;
3)在编码阶段,在api接口开始、函数开始及函数的分支开始,***探针:System.out.println语句,输入信息到指定的文件,包括但不限于编号及执行次数;
4)在测试结束后,分别计算api覆盖率、函数覆盖率及分支覆盖率,综合考量目前项目功能的完成情况及三种覆盖率,对测试是否有效做出判断。
7.根据权利要求6所述的一种基于插装技术统计测试覆盖率的方法,其特征在于:所述***测试持续5轮以上,比较轮次之间的测试覆盖率,当测试覆盖率逐渐升高的情况下,判断项目在朝好的方向发展;当测试覆盖率下降,在排除测试原因时,判断程序质量出现后退,需要引起项目经理的重视。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20160106 |