CN105160386A - 射频识别***中的无源标签电路 - Google Patents

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CN105160386A CN201410229538.XA CN201410229538A CN105160386A CN 105160386 A CN105160386 A CN 105160386A CN 201410229538 A CN201410229538 A CN 201410229538A CN 105160386 A CN105160386 A CN 105160386A
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王吉健
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Shanghai Huahong Integrated Circuit Co Ltd
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Abstract

本发明公开了一种射频识别***中的无源标签电路,包括:一场强检测电路,检测当前接收到的场强的大小,根据输入的通过天线从场强中得到的电流,产生并输出场强指示信号;一可调电容组,其作为天线的谐振电容并联在天线两端,根据所述场强指示信号,调节连接入电路的电容值。本发明能减小标签接收到的场强能量,降低标签的发热。

Description

射频识别***中的无源标签电路
技术领域
本发明涉及射频识别(RFID)领域,特别是涉及一种工作在高频(HF)的射频识别***中的无源标签电路。
背景技术
工作在高频的射频识别***中的标签一般是无源的,即标签工作所需的能量是标签天线从读卡器发送的电磁场中得到的。当读卡器发送的电磁场强度(简称为“场强”)比较大时,标签接收到的能量就会超过其工作所需的能量。这时,多余的能量就会以发热的形式消耗掉。这会引起标签的温度升高。温度升高会影响电路的性能,特别是电路的功耗会随温度大幅上升,从而使得电路不能正常工作。天线的谐振频率主要是由天线的电感与标签芯片内部的谐振电容所决定。当谐振频率与读卡器发送的载波频率相同时,其接收到的能量比不同时大。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种射频识别***中的无源标签电路,能减小标签接收到的场强能量,降低标签的发热。
为解决上述技术问题,本发明的射频识别***中的无源标签电路,包括:
一场强检测电路,检测当前接收到的场强的大小,根据输入的通过天线从场强中得到的电流,产生并输出场强指示信号;
一可调电容组,其作为天线的谐振电容并联在天线两端,根据所述场强指示信号,调节连接入电路的电容值。
本发明通过场强检测电路给出的场强指示信号来调节天线的谐振电容,使得标签在大场强下略微偏离谐振点,从而减小标签接收到的场强能量,降低标签的发热。
附图说明
下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细的说明:
图1是所述射频识别***中的无源标签电路一实施例结构图;
图2是图1中场强检测电路一实施例结构图。
具体实施方式
结合图1所示,在下面的实施例中,所述射频识别***中的无源标签电路由一个场强检测电路和一组可调的电容(即可调电容组)构成。
所述场强检测电路,检测当前接收到的场强的大小。当接收到的场强过大时,调节并联在天线两端的谐振电容组,使得标签在大场强下略微偏离谐振点,从而减小标签接收到的场强能量,降低标签的发热。
图2是所述场强检测电路一个具体实施例,其由一个恒流源电路,一个电流泄放电路以及一个电流检测电路构成。
所述恒流源电路从天线的输出端抽取固定的电流(即图中通过天线从场强中得到的电流)给标签内部电路供电。这个电流是标签内部正常工作所需的最大电流。天线输出的多余电流就由电流泄放电路泄放掉。当电流泄放电路有电流泄放时,就表明当前的场强超过正常工作所需了,所以用一个电流检测电路来检测泄放电路是否有电流流过,从而得到场强指示信号。
所述可调电容组作为天线的谐振电容并联在天线两端,当场强指示信号显示现在场强过大时,就调整连接入电路的电容个数,从而调整天线的谐振电容值,改变天线的谐振频率,使得标签能接收到的能量变小,达到降低标签的发热的目的。
以上通过具体实施方式对本发明进行了详细的说明,在不脱离本发明原理的情况下,本领域的技术人员还可做出许多变形和改进,这些也应视为本发明的保护范围。

Claims (2)

1.一种射频识别***中的无源标签电路,其特征在于,包括:
一场强检测电路,检测当前接收到的场强的大小,根据输入的通过天线从场强中得到的电流,产生并输出场强指示信号;
一可调电容组,其作为天线的谐振电容并联在天线两端,根据所述场强指示信号,调节连接入电路的电容值。
2.如权利要求1所述的无源标签电路,其特征在于:所述场强检测电路,包括:
一恒流源电路,从天线的输出端抽取固定的电流给标签内部电路供电;
一电流泄放电路,用于泄放天线输出的多余电流;
一电流检测电路,用于检测所述泄放电路是否有电流泄放,并根据检测结果产生场强指示信号。
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PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
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Application publication date: 20151216

WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication