CN104932164A - 阵列基板及其制作方法、测试方法、显示面板、显示装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种阵列基板及其制作方法、测试方法、显示面板、显示装置，该阵列基板包括：基底以及形成在所述基底上的多条栅线，并具有多个栅极扫描信号输入端，各个栅极扫描信号输入端一对一连接各条栅线的第一端；还包括至少一条栅线测试线和至少一个测试信号检测端，以及形成在所述栅线测试线与所述栅线之间的绝缘层；各条栅线测试线连接至所述至少一个测试信号检测端，且每一条栅线在第二端位置处与至少一条栅线测试线存在垂直交叠区域。本发明提供的阵列基板，可以简单的实现对栅线的测试。

Description

阵列基板及其制作方法、测试方法、显示面板、显示装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板及其制作方法、测试方法、显示面板、显示装置。
背景技术
TFT-LCD面板在生产过程中需要对内部线路进行检测，及时发现问题并修复，该过程称为面板测试过程(cell test)。比如需要对各条栅线进行测试以确定各条栅线是否存在断路或者短路现象，目前比较广泛应用的对栅线进行测试的方式是，在栅级焊接区(Gate bonding pad)下方引入测试短棒(shorting bar)的设计，在面板测试结束后，将该测试短棒的走线采用激光切割(laser cut)的方式切断，测试过程相对比较复杂。
发明内容
本发明的一个目的在于克服上述技术问题。
第一方面，本发明提供了一种阵列基板，包括：基底以及形成在所述基底上的多条栅线，并具有多个栅极扫描信号输入端，各个栅极扫描信号输入端一对一连接各条栅线的第一端；还包括至少一条栅线测试线和至少一个测试信号检测端，以及形成在所述栅线测试线与所述栅线之间的绝缘层；各条栅线测试线连接至所述至少一个测试信号检测端，且每一条栅线在第二端位置处与至少一条栅线测试线存在垂直交叠区域。
进一步的，奇数行的栅线的第一端以及所连接的栅极扫描信号输入端均位于所述阵列基板的第一侧边缘区域；偶数行的栅线的第一端以及所连接的栅极扫描信号输入端均位于所述阵列基板的第二侧边缘区域，所述第一侧和所述第二侧为相对的两侧；
所述栅线测试线和测试信号检测端的数目均为两个；第一栅线测试线位于阵列基板的第一侧边缘区域，连接第一测试信号检测端，与偶数行的各条栅线在第二端处存在交叠区域；
第二栅线测试线位于阵列基板的第二侧边缘你区域，连接第二测试信号检测端，与奇数行的各条栅线在第二端处存在交叠区域。
进一步的，所述阵列基板还包括通过图案化工艺形成在基底上的栅极驱动电路，栅极扫描信号输入端位于所述栅极驱动电路上；所述栅极驱动电路分为两组，第一组位于所述阵列基板的第一侧边缘区域，连接奇数行的栅线的第一端；第二组位于所述阵列基板的第二侧边缘区域，连接偶数行的栅线的第一端。
进一步的，第一栅线测试线位于第一组栅极驱动电路与显示区域之间，第二栅极测试线位于第二组栅极驱动电路与显示区域之间。
进一步的，与一条栅线在该栅线的第二端位置处存在垂直交叠区域的栅线测试线在该栅线的第二端位置处包括一个环形，该环形与该栅线存在两个垂直交叠区域。
进一步的，还包括通过图案化工艺形成在基底上的栅极驱动电路，栅极扫描信号输入端位于所述栅极驱动电路上。
进一步的，所述阵列基板还包括：形成在所述基底的上的源漏电极图形，各条栅线测试线与所述源漏电极图形同层形成。
第二方面，本发明提供了一种阵列基板的测试方法，用于上述任一项所述的阵列基板进行测试，该方法包括：
在需要对一条栅线进行测试时，将该栅线和与该栅线第二端存在垂直交叠区域的栅线测试线在该垂直交叠区域处短接；
在该栅线上施加测试信号，并在该栅线测试线所连接的测试信号检测端读取信号。
进一步的，所述阵列基板中需要测试的栅线在第二端位置处与相应的栅线测试线存在两个垂直交叠区域时，当需要测试的栅线在第二端位置处与相应的栅线测试线存在两个垂直交叠区域时，所述将该栅线和与该栅线第二端存在垂直交叠区域的栅线测试线在该垂直交叠区域处短接包括：在所述两个垂直交叠区域中的一个垂直交叠区域处将该栅线与相应的栅线测试线短接；
在该栅线测试线所连接的测试信号检测端读取信号之后，所述方法还包括：
在该栅线与相应的栅线测试线的短接处的***将相应的栅线测试线的环形断开，使该栅线不与相应的栅线测试线相连。
进一步的，所述在该栅线与相应的栅线测试线的短接处的***将相应的栅线测试线的环形断开包括：
采用激光切割的方式在该栅线与相应的栅线测试线的短接处的***将相应的栅线测试线的环形断开。
进一步的，所述将该栅线和与该栅线第二端存在垂直交叠区域的栅线测试线在该垂直交叠区域处短接包括：
采用激光对该垂直交叠区域进行照射，使该栅线和该栅线测试线在该垂直交叠区域处短接。
第三方面，本发明提供了一种制作阵列基板的方法，包括：
在基底上形成多条栅线和多个和栅极扫描信号输入端，各个栅极扫描信号输入端一对一连接各条栅线的第一端；
在基底上形成至少一条栅线测试线和一个测试信号检测端，以及在所述栅线测试线与所述栅线之间的绝缘层；其中，各条栅线测试线连接至所述至少一个测试信号检测端，且每一条栅线在第二端位置处与至少一条栅线测试线存在垂直交叠区域。
第四方面，本发明提供了一种显示面板，包括上述任一项所述的阵列基板。
第五方面，本发明提供了一种显示装置，包括如上述的显示面板。
本发明提供的阵列基板中，设置有与各条栅线存在垂直交叠区与的栅线测试线，并设置有测试信号检测端，这样通过将栅线与栅线测试线短接，并在测试信号检测端处读取信号即可实现对相应的栅线的测试，测试过程简单易实现。
附图说明
图1和图2为本发明实施例一提供的阵列基板的结构示意图；
图3、图4和图5为本发明实施例二提供的阵列基板的结构示意图；
图6为本发明实施例三提供的阵列基板的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他的实施例，都属于本发明保护的范围。
第一方面，本发明提供了一种阵列基板，包括：基底以及形成在所述基底上的多条栅线，并具有多个栅极扫描信号输入端，各个栅极扫描信号输入端一对一连接各条栅线的第一端；另外，该阵列基板还包括至少一条栅线测试线和至少一个测试信号检测端，以及形成在所述栅线测试线与所述栅线之间的绝缘层；各条栅线测试线连接至所述至少一个测试信号检测端，且每一条栅线在第二端位置处与至少一条栅线测试线存在垂直交叠区域。
本发明提供的阵列基板中，设置有与各条栅线存在垂直交叠区与的栅线测试线，并设置有测试信号检测端，这样通过将栅线与栅线测试线短接，并在测试信号检测端处读取信号即可实现对相应的栅线的测试，测试过程简单易实现。
第二方面，本发明还提供了一种可用于对上述的阵列基板进行测试的方法，该方法包括：
在需要对一条栅线进行测试时，将该栅线和与该栅线第二端存在垂直交叠区域的栅线测试线在该垂直交叠区域处短接；
在该栅线上施加测试信号，并在该栅线测试线所连接的测试信号检测端读取信号。
本发明提供的阵列基板测试方法，继续将栅线与栅线测试线短接即可，测试过程简单以实现。
第三方面，本发明还提供了一种制作第一方面所述的阵列基板的方法，该方法包括：
在基底上形成多条栅线和多个和栅极扫描信号输入端，各个栅极扫描信号输入端一对一连接各条栅线的第一端；
在基底上形成至少一条栅线测试线和一个测试信号检测端，以及在所述栅线测试线与所述栅线之间的绝缘层；其中，各条栅线测试线连接至所述至少一个测试信号检测端，且每一条栅线在第二端位置处与至少一条栅线测试线存在垂直交叠区域。
在具体实施时，上述的阵列基板的具体结构可能表现为不同的形式，具体的结构不同的各个阵列基板所对应的测试方法和制作方法的具体过程也可能存在一定的差异。下面结合附图对本发明提供的阵列基板的结构以及相应的测试方法、修复方法进行简单的说明。
实施例一
参见图1，为本发明实施例一提供的一种阵列基板的局部的结构示意图，该阵列基板包括：基底、形成在基底上的多条栅线210-250，并形成有多个栅极扫描信号输入端310-350，其中每一条栅线的第一端(在图1中基底的左侧)一对一连接一个栅极扫描信号输入端；还包括形成在基底右侧边缘处的栅线测试线400以及形成在基底上侧边缘处的测试信号检测端500，其中栅极测试线400和栅线210-250之间还具有绝缘层(图中未示出)，该栅线测试线300连接所述的测试信号检测端500，并与每一条栅线在该栅线的第二端(在图1中基底的右侧)处存在垂直交叠区域。
不难理解，这里所指的栅线与栅线测试线存在垂直交叠区域是栅线在基底上的投影与栅线测试线在基底上的投影存在交点，但是栅线与栅线测试线本身并不直接相连，二者之间通过绝缘层间隔开。在具体实施时，上述的栅线测试线可以与形成在基底上栅线之外的其他导电结构同层形成，比如在基底上还形成有源漏电极图形时，与该源漏电极图形同层形成。这样做的好处是能够通过同一工艺制作栅线测试线和源漏电极图形，降低制作难度。
在具体实施时，这里的测试信号检测端可以形成在数据驱动电路的焊盘区域，这样在需要进行测试时，直接将相应的信号采集装置连接到相应的焊盘区域即可，这样可以使得该阵列基板被封装成显示面板之后，在不拆解显示面板的基础上实现对该阵列基板的测试。
对于图1中的阵列基板进行测试时，可以按照如图2所述的方法，如果需要对其中的栅线230进行测试，此时测试的流程可以包括：
在栅线230与栅线测试线400的垂直交叠区域处将栅线230和栅线测试线400短接(在图中短接处用黑点表示)；
在栅线230上施加测试信号，并读取测试信号检测端500上的信号。
之后可以根据读取的信号确定该栅线230是否发生断路或者短路现象。可见，本发明提供的阵列基板可以较为简单的实现栅线的测试过程。不难理解的是，在发生断路时，在测试信号检测端500读取到的信号的电平持续为0。
在具体实施时，这里所指的将栅线230和栅线测试线400短接可以是指采用激光照射栅线230和栅线测试线400的垂直交叠区域，使二者之间的绝缘材料熔融，使线230和栅线测试线400熔融一起，实现电连接。
在具体实施时，图1中的阵列基板中，上述的栅线可以位于栅线测试线的上方，或者栅线测试线也可以形成在栅线的上方。假设栅线测试线位于栅线的上方，则此时的制作方法可以包括：
制作阵列基板的方法可以具体为：
在基底上形成多条栅线和多个栅极扫描信号输入端，各个栅极扫描信号输入端一对一连接各条栅线的第一端；
在多条栅线和多个和栅极扫描信号输入端上形成绝缘层；
在所述绝缘层上形成栅线测试线和测试信号检测端，其中，各条栅线测试线连接至所述测试信号检测端，且每一条栅线在第二端位置处与栅线测试线存在垂直交叠区域。
本发明实施例一提供的阵列基板，可以在不制作测试棒的前提下完成对栅线的测试，制作方法简单。
实施例二
参见图3，与实施例一提供的阵列基板不同的是，栅线测试线400在每一条栅线的第二端位置处为环形，该环形包括与该栅线存在两个垂直交叠区域。
这样设置的好处是，能够使用该栅线测试线400对多条栅线进行测试。下面结合图4和图5对测试的过程进行说明，
参见图4，在需要对栅线230和栅线240进行测试时，首先在该栅线230与栅线测试线400的两个垂直交叠区域中的一个垂直交叠区域(图4中示出为靠近左侧的垂直交叠区域)处将该栅线230与栅线测试线400短接，之后在测试信号检测端500检测信号，完成对该栅线230的测试。
之后参见图5，在栅线测试线400与该栅线230短接处的***将该栅极测试线400的环形切断，使该环形在该短接处形成一个缺口，从而使得栅线测试线400与该栅线230的连接断开，并将栅线240与栅线测试线400的两个垂直交叠区域中的一个垂直交叠区域(图5中示出为靠近左侧的垂直交叠区域)将该栅线240与栅线测试线400短接，完成对栅线240的测试过程。
这样该栅线测试线能够完成对多条栅线的测试。不难理解的是，虽然图3、4、5中示出的是栅线测试线400与各个栅线均存在两个垂直交叠区域的情况，但是在实际应用中，栅线测试线400也可以仅与部分栅线存在两个垂直交叠区域。
对实施例二所述的阵列基板进行制作时，所制作的栅线测试线400在每一条栅线的第二端的位置处应包含一个环，该环与该栅线存在两个垂直交叠区域。
实施例三
参见图6，与实施例二提供的阵列基板不同的是，奇数行的栅线210、230、250的第一端(连接栅极扫描信号输入端310、310、350的一端)以及栅极扫描信号输入端310、310、350位于基底的左侧边缘，第二端位于基底的右侧边缘；而偶数行的栅线220、240的第一端(连接栅极扫描信号输入端310、310、350的一端)以及栅极扫描信号输入端310、310、350位于基底的右侧边缘，第二端位于基底的左侧边缘。且基底上形成有两条栅线测试线410和420，其中栅线测试线410位于基底的左侧边缘，栅线测试线420位于基底的右侧边缘，对应的还包括两个测试信号检测端510和520，栅线测试线410连接测试信号检测端510，而栅线测试线420连接测试信号检测端520。且栅线测试线410和栅线测试线420在每一条栅线的第一端和第二端处均为环形，与该栅线在第一端和第二端处均存在两个垂直交叠区域。
这样做的好处是，可以将栅极驱动电路设置在相应的显示面板的两侧，利于显示面板的窄边化。当然在实际应用中，对于栅线测试线410来说，并无需与奇数行的栅线210、230、250的第一端存在两个垂直交叠区域，而栅线测试线420也无需与偶数行的栅线210、230、250的第一端存在两个垂直交叠区域。
实施例三提供的阵列基板的测试方法和制作方法可以参考实施例一和二，在此不再详细说明。
另外，在具体实施时，上述的阵列基板可以为GOA阵列基板，即栅极驱动电路通过图案化一体形成在基底上，此时上述的各个栅极扫描信号输入端位于该栅极驱动电路上，具体为该栅极驱动电路向栅线输出栅极扫描信号的接口。更进一步的，当上述的GOA阵列基板为按照如图6所示的方式奇数行栅线和偶数行栅线分别从左侧和右侧进行驱动时，这里的栅极驱动电路可以分为两组，第一组位于阵列基板的左侧，通过奇数行的栅极扫描信号输入端310、330、350与奇数行的栅线210、230、250，第二组位于阵列基板的右侧，通过偶数行的栅极扫描信号输入端320、340与偶数行的栅线220、240相连。更进一步的，此时可以将左侧的栅线测试线设置在第一组的栅极驱动电路与显示区域之间，将右侧的栅线测试线设置在第二组的栅极驱动电路与显示区域之间。这样做的好处是，充分利用了显示区域与栅极驱动电路之间的区域形成栅线测试线，利于相应的显示装置的窄边化，另一方面还可以降低布线的难度。
这样的技术方案同样不能够解决本发明所要解决的技术问题，相应的也应落入本发明的保护范围。
第四方面，本发明还提供了一种显示面板，该显示面板包括上述的阵列基板。
第五方面，本发明提供了一种显示装置，该显示装置包括上述的显示面板。
在具体实施时，该显示装置可以为手机、电脑、电视机、平板电脑等任何具有显示功能的装置。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但是，本发明的保护范围不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替代，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (14)

1.一种阵列基板，包括：基底以及形成在所述基底上的多条栅线，并具有多个栅极扫描信号输入端，各个栅极扫描信号输入端一对一连接各条栅线的第一端；其特征在于，还包括至少一条栅线测试线和至少一个测试信号检测端，以及形成在所述栅线测试线与所述栅线之间的绝缘层；各条栅线测试线连接至所述至少一个测试信号检测端，且每一条栅线在第二端位置处与至少一条栅线测试线存在垂直交叠区域。
2.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，奇数行的栅线的第一端以及所连接的栅极扫描信号输入端均位于所述阵列基板的第一侧边缘区域；偶数行的栅线的第一端以及所连接的栅极扫描信号输入端均位于所述阵列基板的第二侧边缘区域，所述第一侧和所述第二侧为相对的两侧；
所述栅线测试线和测试信号检测端的数目均为两个；第一栅线测试线位于阵列基板的第一侧边缘区域，连接第一测试信号检测端，与偶数行的各条栅线在第二端处存在交叠区域；
第二栅线测试线位于阵列基板的第二侧边缘区域，连接第二测试信号检测端，与奇数行的各条栅线在第二端处存在交叠区域。
3.如权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，还包括通过图案化工艺形成在基底上的栅极驱动电路，栅极扫描信号输入端位于所述栅极驱动电路上；所述栅极驱动电路分为两组，第一组位于所述阵列基板的第一侧边缘区域，连接奇数行的栅线的第一端；第二组位于所述阵列基板的第二侧边缘区域，连接偶数行的栅线的第一端。
4.如权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，第一栅线测试线位于第一组栅极驱动电路与显示区域之间，第二栅极测试线位于第二组栅极驱动电路与显示区域之间。
5.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，与一条栅线在该栅线的第二端位置处存在垂直交叠区域的栅线测试线在该栅线的第二端位置处包括一个环形，该环形与该栅线存在两个垂直交叠区域。
6.如权利要求1或5所述的阵列基板，其特征在于，还包括通过图案化工艺形成在基底上的栅极驱动电路，栅极扫描信号输入端位于所述栅极驱动电路上。
7.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，还包括：形成在所述基底的上的源漏电极图形，各条栅线测试线与所述源漏电极图形同层形成。
8.一种阵列基板的测试方法，其特征在于，用于对如权利要求1-7任一项所述的阵列基板进行测试，该方法包括：
在需要对一条栅线进行测试时，将该栅线和与该栅线第二端存在垂直交叠区域的栅线测试线在该垂直交叠区域处短接；
在该栅线上施加测试信号，并在该栅线测试线所连接的测试信号检测端读取信号。
9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述阵列基板为如权利要求5所述的阵列基板，当需要测试的栅线在第二端位置处与相应的栅线测试线存在两个垂直交叠区域时，所述将该栅线和与该栅线第二端存在垂直交叠区域的栅线测试线在该垂直交叠区域处短接包括：
在所述两个垂直交叠区域中的一个垂直交叠区域处将该栅线与相应的栅线测试线短接；
在该栅线测试线所连接的测试信号检测端读取信号之后，所述方法还包括：
在该栅线与相应的栅线测试线的短接处的***将相应的栅线测试线的环形断开，使该栅线不与相应的栅线测试线相连。
10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述在该栅线与相应的栅线测试线的短接处的***将相应的栅线测试线的环形断开包括：
采用激光切割的方式在该栅线与相应的栅线测试线的短接处的***将相应的栅线测试线的环形断开。
11.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述将该栅线和与该栅线第二端存在垂直交叠区域的栅线测试线在该垂直交叠区域处短接包括：
采用激光对该垂直交叠区域进行照射，使该栅线和该栅线测试线在该垂直交叠区域处短接。
12.一种制作阵列基板的方法，其特征在于，包括：
在基底上形成多条栅线和多个和栅极扫描信号输入端，各个栅极扫描信号输入端一对一连接各条栅线的第一端；
在基底上形成至少一条栅线测试线和一个测试信号检测端，以及在所述栅线测试线与所述栅线之间的绝缘层；其中，各条栅线测试线连接至所述至少一个测试信号检测端，且每一条栅线在第二端位置处与至少一条栅线测试线存在垂直交叠区域。
13.一种显示面板，其特征在于，包括如权利要求1-7任一项所述的阵列基板。
14.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求13所述的显示面板。
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