CN104931086A - 平行多工测试***及测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例提供一种平行多工测试***及测试方法，所述平行多工测试***用于以N个测试信号透过N个测试通道对N个隔离箱内的N个受测装置进行测试，所述平行多工测试***包括中央处理单元与N个功能测试模块，其中N为大于1的正整数。平行多工测试***根据N个受测装置尚未测试的测项去请求相对应的闲置的测试模块进行对应的功能测试，以使全部的受测装置同时透过不同的测试通道来进行不同的功能测试。本发明可节省生产测试成本、测试时间、人力。

Description

平行多工测试***及测试方法
技术领域
本发明涉及一种测试***及测试方法，特别涉及一种具有平行多工能力的测试***及测试方法。
背景技术
测试仪器的价格居高不下的一个主要原因是传统测试仪器架构具专属的特性。每一个测试仪器制造商都有数个测试仪器架构，不仅在厂商如爱德万(Advantest)、泰瑞达(Teradyne)以及安捷伦(Agilent)之间均不相容，同时在同一厂商如爱德万所推出的T3300、T5500、以及T6600系列之间也不相容。由于彼此不相容，每一种测试仪器需要有自己专属的硬件与软件组件，而这些专属的硬件与软件组件并无法用于其他测试仪器上。此外，将一个测试程序由一个测试仪器移植至另一个，以及开发协力厂商解决方案，需要花很大的功夫，即使协力厂商解决方案是为一个平台所开发，它也不能移植或重新使用在另一平台上，而从一个平台转译至另一平台的流程通常很复杂也容易出错，必须付出更多的努力、时间，也使得测试成本增加。
发明内容
本发明实施例提供一种平行多工测试***，用于以N个测试信号透过N个测试通道对N个隔离箱内的N个受测装置进行测试，平行多工测试***包括中央处理单元与N个功能测试模块，其中N为大于1的正整数。中央处理单元根据一固件来判断N个受测装置中尚未测试的项目并且传送至少一指示信号以进行测试。N个功能测试模块电性连接中央处理单元，N个功能测试模块根据指示信号来与相对应的受测装置进行对应的功能测试，每一个功能测试模块具有不同的测试功能。在测试周期的一时间槽（time slot），平行多工测试***根据固件寻找相对应的N个功能测试模块对N个受测装置进行对应的功能测试，以使全部的受测装置同时透过不同的测试通道来进行不同的功能测试，其中N为大于1的正整数。在测试周期的另一时间槽，中央处理单元根据固件来判断N个受测装置中尚未测试的项目并且传送指示信号至对应的N个功能测试模块，以发出测试信号经过测试通道来测试对应的受测装置。
在本发明其中一个实施例中，平行多工测试***包括射频分配器、射频测试模块、影音测试模块、电荷耦合元件、红外线遥控模块与控制器。射频测试模块包括向量信号分析器与向量信号产生器。射频测试模块电性连接中央处理单元，射频测试模块根据指示信号来决定是否与相对应的受测装置进行射频功能测试，其中射频测试模块透过射频分配器来进行射频功能测试，并且射频测试模块包括向量信号分析器与向量信号产生器。影音测试模块电性连接中央处理单元，影音测试模块根据指示信号来决定是否与相对应的受测装置进行影音功能测试，其中影音测试模块透过高清晰度多媒体介面切换器来进行影音功能测试。控制器电性连接中央处理单元，控制器根据指示信号来决定是否与相对应的受测装置进行光学功能测试，其中控制器透过电荷耦合元件与红外线遥控模块来进行光学功能测试。当在测试周期，射频测试模块、影音测试模块与控制器根据指示信号来平行多工地对多个受测装置进行射频功能测试、影音功能测试与光学功能测试。
在本发明其中一个实施例中，向量信号分析器电性连接射频切换器，用以分析对应的受测装置的发送器所传送的测试信号，并且向量信号产生器电性连接射频切换器，用以产生射频信号且传送至对应的受测装置的接收器。
在本发明其中一个实施例中，在测试周期的时间槽，射频测试模块、影音测试模块与控制器根据指示信号分别透过其对应的测试通道来同时与相对应的受测装置进行功能测试。
在本发明其中一个实施例中，平行多工测试***还包括射频切换器与射频多工器。射频切换器电性连接向量信号分析器、向量信号产生器与中央处理单元。射频多工器电性连接射频切换器与中央处理单元，射频多工器根据指示信号来决定与相对应的受测装置进行射频功能测试。当射频切换器根据指示信号来决定与相对应的受测装置的发送器进行射频功能测试时，则平行多工测试***透过射频分配器、射频多工器、射频切换器与向量信号分析器来对受测装置的发送器进行射频信号分析。当该射频切换器根据该指示信号来决定与相对应的受测装置的接收器进行射频功能测试时，则平行多工测试***透过射频分配器、射频多工器、射频切换器与向量信号产生器来对受测装置的接收器进行射频信号分析。
本发明实施例提供一种用于平行多工测试***的平行多工测试方法，平行多工测试***以N个测试信号透过N个测试通道对N个隔离箱内的N个受测装置进行测试，平行多工测试***包括中央处理单元与N个功能测试模块，多个功能测试模块电性连接中央处理单元，其中多个功能测试模块中的每一个具有不同的测试功能并且N为大于1的正整数，平行多工测试方法包括：透过中央处理单元，根据固件来判断受测装置中尚未测试的项目并且传送至少一指示信号以进行测试；透过N个功能测试模块，根据指示信号来与相对应的受测装置进行对应的功能测试，每一个功能测试模块具有不同的测试功能；在测试周期的一时间槽，平行多工测试***根据固件寻找相对应的功能测试模块对受测装置进行对应的功能测试，以使全部的受测装置同时透过不同的测试通道来进行不同的功能测试，其中N为大于1的正整数；以及在测试周期的另一时间槽，中央处理单元根据固件来判断受测装置中尚未测试的项目并且传送指示信号至对应的功能测试模块，以发出测试信号经过测试通道来测试对应的受测装置。
综上所述，本发明实施例所提出的平行多工测试***及方法，能够整合多个测试功能于单一机台以减少机台数量，进而节省生产测试成本、测试时间、人力。
为使能更进一步了解本发明的特征及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，但是此等说明与附图仅系用来说明本发明，而非对本发明的权利范围作任何的限制。
附图说明
图1为根据本发明例示性实施例所绘示的平行多工测试***的区块示意图。
图2为根据本发明实施例的图1的平行多工测试***的平行测试的示意图。
图3为根据本发明另一实施例所绘示的平行多工测试***的区块示意图。
图4为根据本发明实施例的图3的平行多工测试***的平行测试的示意图。
图5为根据本发明实施例的平行多工测试方法的流程图。
其中，附图标记说明如下：
100：平行多工测试***
112：中央处理单元
114_1～114_N：功能测试模块
120_1、120_2、120_3、120_4～120_N：受测装置
300：平行多工测试***
311：中央处理单元
312：射频多工器
313：射频切换器
314：射频测试模块
3141：向量信号分析器
3142：向量信号产生器
315：影音测试模块
316：控制器
320_1、320_2：射频分配器
330：HDMI切换器
340：信号转换器
350：电荷耦合元件
360：红外线遥控模块
CH_1、CH_2、CH_3、CH_4～CH_N：测试通道
IS：指示信号
S_1、S_2、S_3、S_4～S_N：测试信号
T1：测试周期
t_11～t_1N：时间槽
S510、S520、S530、S540：步骤
具体实施方式
在下文将参看附图更充分地描述各种例示性实施例，在附图中展示一些例示性实施例。然而，本发明概念可能以许多不同形式来体现，且不应解释为限于本文中所阐述的例示性实施例。确切而言，提供此等例示性实施例使得本发明将为详尽且完整，且将向本领域的技术人员充分传达本发明概念的范畴。在诸附图中，可为了清楚而夸示层及区的大小及相对大小。类似数字始终指示类似元件。
应理解，虽然本文中可能使用术语第一、第二、第三等来描述各种元件，但此等元件不应受此等术语限制。此等术语乃用以区分一元件与另一元件。因此，下文论述的第一元件可称为第二元件而不偏离本发明概念的教示。如本文中所使用，术语“及/或”包括相关联的列出项目中的任一者及一或多者的所有组合。
〔平行多工测试***的实施例〕
一般来说，于测试机台进行待测装置(Device Under Test，简称DUT)例如移动装置的测试时，会以隔离箱作为测试设备与待测移动装置的间的介面，该隔离箱会将来自测试机台的各种测试信号传递至待测移动装置的介面，并将待测移动装置对测试信号的反应传回至测试设备，而可得知该移动装置所被测试的各项功能是否良好。
请参照图1，图1为根据本发明例示性实施例所绘示的平行多工测试***的区块示意图。如图1所示，在本实施例中，平行多工测试***100可以例如是移动装置的测试设备，并且平行多工测试***100用于以N个测试信号S_1～S_N来透过N个测试通道CH_1～CH_N来测试N个隔离箱(图1未绘示)内的N个受测装置(Device Under Test,DUT)120_1～120_N，其中N为大于1的正整数。平行多工测试***100包括中央处理单元112与N个功能测试模块114_1～114_N。N个功能测试模块114_1～114_N分别电性连接至中央处理单元112。
关于中央处理单元112，中央处理单元112根据一固件来判断该些受测装置120_1～120_N中尚未测试的项目并且传送至少一指示信号IS以进行测试，亦即指示信号IS含有N个受测装置120_1～120_N的受测排序与受测功能的相关信息。在平行多工测试***100中，中央处理单元112扮演着中控中心的角色并且根据设计者所设计的平行测试演算法(亦即固件)来统筹功能测试模块114_1～114_N的动作，以使功能测试模块114_1～114_N能够同步启动且用以平行测试多个受测装置120_1～120_N。
关于功能测试模块114_1～114_N，功能测试模块114_1～114_N根据中央处理单112元所传送的指示信号IS来与相对应的该受测装置进行对应的功能测试。须注意的是，功能测试模块114_1～114_N中的每一个都具有不同的测试功能或测试信号，并且，在一实施例中，功能测试模块114_1～114_N中的每一个都能够独立运作。功能测试模块114_1～114_N的测试功能，例如为射频功能测试、影音功能测试与光学功能测试，但并不以所列举者为限，其测试功能的种类并非用以限制本揭露内容。
接下来要教示的，是进一步说明平行多工测试***100的工作原理。
为了更清楚了解本揭露内容的平行多工测试***100的工作机制，以下请同时参照图1与图2，图2为根据本发明实施例的图1的平行多工测试***的平行测试的示意图。当平行多工测试***100在测试周期T1，平行多工测试***100会根据固件来平行多工地对受测装置120_1～120_N进行对应的功能测试，以使全部的受测装置120_1～120_N能够利用测试信号S_1～S_N来同时透过不同的测试通道CH_1～CH_N来进行不同的功能测试。也就是说，当平行多工测试***100在测试周期T1，功能测试模块114_1～114_N会根据中央处理单元112所传送的指示信号IS来同时地对受测装置120_1～120_N进行对应的功能测试，以使全部的受测装置120_1～120_N能够同时透过不同的测试通道CH_1～CH_N来进行不同的功能测试，以达到多通道平行多工处理的效果。换句话说，在测试周期T1的一时间槽，平行多工测试***100会根据固件寻找相对应的功能测试模块对受测装置进行对应的功能测试，以使全部的受测装置同时透过不同的测试通道来进行不同的功能测试，其中N为大于1的正整数。接下来，在测试周期T1的另一时间槽，中央处理单元112会根据固件来判断受测装置中尚未测试的项目并且传送指示信号IS至对应的功能测试模块，以发出测试信号经过测试通道来测试对应的受测装置。
举例来说，在本实施例中，测试周期T1内包括N个时间槽(timeslot)t_11～t_1N。当平行多工测试***100在时间槽t_11～t_1N的第一个时间槽t_11时，功能测试模块114_1～114_N的第一个功能测试模块114_1会根据中央处理单元112所传送的指示信号IS来对受测装置120_1～120_N的第一个受测装置120_1进行第一个功能测试(亦即第一个功能测试项)。第一个功能测试模块114_1会透过测试通道CH_1且利用测试信号S_1来对受测装置120_1进行功能测试。同样地，中央处理单元112会根据固件来判断受测装置中尚未测试的项目并且传送指示信号IS至对应的功能测试模块。所以当在时间槽t_11～t_1N的第二个时间槽t_11时，功能测试模块114_1～114_N的第二个功能测试模块114_2会根据中央处理单元112所传送的指示信号IS来对受测装置120_1～120_N的第二个受测装置120_2进行第二个功能测试(亦即第二个功能测试项)。第二个功能测试模块114_2会透过测试通道CH_2且利用测试信号S_2来对受测装置120_2进行功能测试。依此类推，功能测试模块114_1～114_N的第N个功能测试模块114_N会根据中央处理单元112所传送的指示信号IS来对受测装置120_1～120_N的第N个受测装置120_N进行第N个功能测试(亦即第N个功能测试项)。第N个功能测试模块114_N会透过测试通道CH_N且利用测试信号S_N来对受测装置120_N进行功能测试。
此外，当平行多工测试***100在时间槽t_11～t_1N的第二个时间槽t_12时，平行多工测试***100开始循序地进行测试切换。进一步来说，功能测试模块114_1～114_N的第一个功能测试模块114_1会根据中央处理单元112所传送的指示信号IS来对受测装置120_1～120_N的第二个受测装置120_2进行第一个功能测试(亦即第一个功能测试项)。亦即，第一个功能测试模块114_1会透过测试通道CH_1且利用测试信号S_1来对受测装置120_2进行功能测试。同样地，中央处理单元112会根据固件来判断受测装置中尚未测试的项目并且传送指示信号IS至对应的功能测试模块。所以当在时间槽t_11～t_1N的第一个时间槽t_11时，功能测试模块114_1～114_N的第二个功能测试模块114_2会根据中央处理单元112所传送的指示信号IS来对受测装置120_1～120_N的第三个受测装置120_3进行第二个功能测试(亦即第二个功能测试项)。亦即，第二个功能测试模块114_2会透过测试通道CH_2且利用测试信号S_2来对受测装置120_3进行功能测试。依此类推，功能测试模块114_1～114_N的第N个功能测试模块114_N会根据中央处理单元112所传送的指示信号IS来对受测装置120_1～120_N的第一个受测装置120_1进行第N个功能测试(亦即第N个功能测试项)。亦即，第N个功能测试模块114_N会透过测试通道CH_N且利用测试信号S_N来对受测装置120_1进行功能测试。
透过上述工作机制，平行多工测试***100会根据平行测试演算法(亦即固件)并且每一个时间槽使得全部的受测装置120_1～120_N同时透过不同的测试通道CH_1～CH_N来进行不同的功能测试。值得一提的是，在另一实施例中，本领域的技术人员应可透过上述的说明来理解平行多工测试***100的相关机制。
此外，在平行多工测试***100结束测试周期T1后，平行多工测试***100会进入另一测试周期。为了方便了解本揭露内容，图2所示的测试周期T1仅有一个，但在实际应用上，平行多工测试***100能够具有多个测试周期，并不以图2所示作为限制。接下来，平行多工测试***100会根据受测装置尚未测试的功能测试项去要求相对应的功能测试模块实施测试的方式来平行多工(多通道)测试全部的受测装置120_1～120_N。承上述，本揭露内容能够将多种测试功能整合于单一机台以减少机台数量、电源使用量与工作面积，进而节省生产测试成本、测试时间与人力。
为了更详细地说明本发明所述的平行多工测试***100的运作流程，以下将举多个实施例中至少的一来作更进一步的说明。
在接下来的多个实施例中，将描述不同于上述图1实施例的部分，且其余省略部分与上述图1实施例的部分相同。此外，为说明便利起见，相似的参考数字或标号指示相似的元件。
〔平行多工测试***的另一实施例〕
请参照图3，图3为根据本发明另一实施例所绘示的平行多工测试***的区块示意图。如图3所示，平行多工测试***300包括中央处理单元311、射频测试模块314、射频切换器313、射频多工器312、影音测试模块315与控制器316，其中射频测试模块314包括向量信号分析器3141与向量信号产生器3142。射频测试模块314电性连接中央处理单元311。射频切换器313电性连接向量信号分析器3141、向量信号产生器3142与中央处理单元311。射频多工器312电性连接射频切换器313与中央处理单元311。影音测试模块315电性连接中央处理单元311。控制器316电性连接中央处理单元311。在本实施例中，射频测试模块314、射频切换器313与射频多工器312为一功能测试模块。影音测试模块315与控制器316也分别是平行多工测试***300中的两个功能测试模块。平行多工测试***还包括射频分配器320_1与320_2、电荷耦合元件350与红外线遥控模块360。电荷耦合元件350电性连接控制器316，并且红外线遥控模块360电性连接控制器316。
关于射频测试模块314，射频测试模块314根据中央处理单元311所传送的指示信号IS来决定是否与相对应的受测装置(受测装置120_1～120_4其中之一)进行射频功能测试，例如受测装置的发送器或接受器，其中射频测试模块314透过射频分配器(RF divider)320_1与320_2来进行射频功能测试。
关于向量信号分析器3141，向量信号分析器3141用以分析对应的受测装置(受测装置120_1～120_4其中之一)的发送器(transmitter)所传送的测试信号(此为射频信号)。
关于向量信号产生器3142，向量信号产生器3142用以产生一射频信号(亦即测试信号)并且传送至对应的该受测装置(受测装置120_1～120_4其中之一)的接收器(receiver)。
关于射频切换器313，当射频切换器313根据中央处理单元311所传送的指示信号IS来决定与相对应的受测装置(受测装置120_1～120_4其中之一)的发送器进行射频功能测试时，则平行多工测试***300会透过射频分配器320_1与320_2、射频多工器312、射频切换器313与向量信号分析器3141来对受测装置的发送器进行射频信号分析。当射频切换器313根据中央处理单元311所传送的指示信号IS来决定与相对应的受测装置的接收器进行射频功能测试时，则平行多工测试***300会透过射频分配器320_1与320_2、射频多工器312、射频切换器313与向量信号产生器3141来对受测装置的接收器进行射频信号分析。关于射频多工器312，射频多工器312根据指示信号IS来决定与相对应的受测装置(受测装置120_1～120_4其中之一)进行射频功能测试。
关于影音测试模块315，影音测试模块315根据指示信号IS来与相对应的受测装置(受测装置120_1～120_4其中之一)进行影音功能测试，其中影音测试模块315透过高清晰度多媒体介面(High Definition Multimedia Interface，简称HDMI)切换器330来进行影音功能测试，其中HDMI是一种全数码化影像和声音传送介面，可以传送未压缩的音频及视频信号。
关于控制器316，控制器316根据指示信号IS来决定与相对应的受测装置(受测装置120_1～120_4其中之一)进行光学功能测试，其中控制器316至透过电荷耦合元件(Charge-coupled Device,CCD)350与红外线遥控(infraredremote,IR remote)模块360来进行光学功能测试。
于本实施例中，平行多工测试***300在一典型的电子电路受测装置，会藉由将各种逻辑状态的测试信号施加至各DUT上的输入端子来测试各受测装置(DUT)。藉由监测响应所施加的测试信号而在DUT输出端子处所产生信号的状态，来确定各DUT是否正处于预计的运行状态。当平行多工测试***300在测试周期，射频测试模块314、射频切换器313和射频多工器312、影音测试模块315与控制器316根据指示信号IS来平行多工地对受测装置120_1～120_4进行射频功能测试、影音功能测试与光学功能测试。以下会更进一步说明平行多工测试***300在测试周期的工作机制。此外，在测试周期的一时间槽，射频测试模块314、射频切换器313和射频多工器312、影音测试模块315与控制器316根据指示信号IS分别透过其对应的测试通道(例如图1的测试通道CH_1～CH_4其中之一)来同时与相对应的受测装置(受测装置120_1～120_4其中之一)进行功能测试。
接下来要教示的，是进一步说明平行多工测试***300的工作原理。
为了更清楚了解本揭露内容的平行多工测试***300的工作机制，以下请同时参照图3与图4，图4为根据本发明实施例的图3的平行多工测试***的平行测试的示意图。在本实施例中，为了方便说明本揭露内容，本实施例将上述图1与图2的实施例中的N假设为4，亦即，在本实施例中，平行多工测试***300会根据设计者所设计的平行测试演算法(亦即固件)平行测试四个受测装置120_1～120_4。
当平行多工测试***300在测试周期T1，平行多工测试***300会根据固件平行多工地对受测装置120_1～120_4进行对应的功能测试，以使全部的受测装置120_1～120_4能够利用测试信号S_1～S_4来同时透过不同的测试通道CH_1～CH_4来进行不同的功能测试。也就是说，当平行多工测试***300在测试周期T1，射频测试模块314、射频切换器313和射频多工器312、影音测试模块315与控制器316会根据中央处理单元311所传送的指示信号IS来同时地对受测装置120_1～120_4进行射频功能测试、影音功能测试与光学功能测试，以使全部的受测装置120_1～120_4能够同时透过不同的测试通道CH_1～CH_4来进行不同的功能测试，以达到多通道平行多工处理的效果。值得一提的是，在进行平行多工测试前，平行多工测试***300会透过机器手臂来逐一将受测装置120_1～120_4中的每一个放置到隔离箱内并且启动电源。
进一步来说，在本实施例中，测试周期T1内包括四个时间槽(timeslot)t_11～t_14。当平行多工测试***300在时间槽t_11～t_14的第一个时间槽t_11时，平行多工测试***300的一功能测试模块(图3未绘示)会根据中央处理单元311所传送的指示信号IS来对受测装置120_1进行第一种功能测试，其中该第一种功能测试为电力消耗率和条码扫描(power consumptionrate and bar code scan)的功能测试项。关于电力消耗率与条码扫描的功能测试模块(图3未绘示)会透过测试通道CH_1且利用测试信号S_1来对受测装置120_1进行功能测试。
如图4所示，同样地当在时间槽t_11～t_14的第一个时间槽t_11(测试周期T1内)，平行多工测试***300内的射频测试模块314、射频切换器313和射频多工器312(射频测试模块314、射频切换器313和射频多工器312为一单独的功能测试模块)会根据中央处理单元311所传送的指示信号IS来对受测装置120_2进行射频功能测试。亦即，当在时间槽t_11～t_14的第一个时间槽t_11，电力消耗率和条码扫描的功能测试模块与射频测试模块314、射频切换器313和射频多工器312(射频测试模块314、射频切换器313和射频多工器312为一单独的功能测试模块)会分别透过测试通道CH_1与CH_2且利用测试信号S_1与S_2来对受测装置120_1与120_2进行电力消耗率和条码扫描的功能测试与射频功能测试。关于射频功能测试的细节，当平行多工测试***300对受测装置120_2进行射频功能测试时，射频切换器313与射频多工器312会根据指示信号IS来将测试路径导向至受测装置120_2。之后，射频测试模块314会透过向量信号产生器3142来产生一测试信号并且透过射频切换器313、射频多工器312与射频分配器320_1与320_2的路径来对受测装置120_2的接收器进行测试并且并将受测装置120_2对测试信号的反应传回至平行多工测试***300的向量信号分析器3141，以得知该受测装置120_2的品质是否良好。
再者，在同一时间槽t_11，平行多工测试***300内的影音测试模块315会根据中央处理单元311所传送的指示信号IS来对受测装置120_3进行影音功能测试。换句话说，在同一时间槽t_11，电力消耗率和条码扫描的功能测试模块、射频测试模块314、射频切换器313和射频多工器312(射频测试模块314、射频切换器313和射频多工器312为一单独的功能测试模块)与影音测试模块315会分别透过测试通道CH_1、CH_2与CH_3且利用测试信号S_1、S_2与S_3来对受测装置120_1、120_2与120_3进行电力消耗率和条码扫描的功能测试、射频功能测试与影音功能测试。关于影音功能测试的细节，当平行多工测试***300对受测装置120_3进行影音功能测试时，受测装置120_3会传送HDMI信号且经由HDMI切换器330至影音测试模块315以进行影音信号的分析。另外，受测装置120_3也会传送RCA信号至信号转换器340以将RCA信号转换为HDMI信号，再透过HDMI切换器330传送至影音测试模块315以进行影音信号的分析。
此外，在时间槽t_11，平行多工测试***300内的控制器316会根据中央处理单元311所传送的指示信号IS来对受测装置120-_4进行光学功能测试。换句话说，在时间槽t_11，电力消耗率和条码扫描的功能测试模块、射频测试模块314、射频切换器313和射频多工器312(射频测试模块314、射频切换器313和射频多工器312为一单独的功能测试模块)、影音测试模块315与控制器316会分别透过测试通道CH_1、CH_2、CH_3与CH_4且利用测试信号S_1、S_2、S_3与S_4来对受测装置120_1、120_2、120_3与120_4进行电力消耗率和条码扫描(power consumption rate and bar code scan)的功能测试、射频功能测试、影音功能测试与光学功能测试。关于光学功能测试的细节，当平行多工测试***300对受测装置120_4进行光学功能测试(如LED或IR)时，受测装置120_4的LED灯会闪烁并且透过电荷耦合元件350将光信号传送至控制器以进行光信号分析。此外，控制器316还会传送另一光信号且透过红外线遥控模块360来对受测装置120_4的红外线接收端进行测试。
依此，在接下来的时间槽t_12、t_13与t_14，平行多工测试***300内的各功能测试模块(包含控制器316)会根据中央处理单元311所传送的指示信号IS，对受测装置120-_1～120_4分别进行上述举例的各项功能的测试并完成对受测装置120-_1～120_4的各项功能测试。
当在测试周期T1，所举例的电力消耗率和条码扫描的功能测试模块(图未示)、射频测试模块314、射频切换器313和射频多工器312(射频测试模块314、射频切换器313和射频多工器312为一单独的功能测试模块)、影音测试模块315以及控制器316，根据指示信号IS循序地对所举例的受测装置120-_1～120_4进行电力消耗率和条码扫描功能测试、射频功能测试、影音功能测试以及光学功能测试。
此外，为了方便了解本揭露内容，图4所示的测试周期T1仅有一个，但在实际应用上，平行多工测试***300能够具有多个测试周期，并不以图4所示作为限制。接下来，平行多工测试***300会根据尚未测试的功能测试项去要求相对应的测试模块实施测试的方式来平行多工(多通道)测试全部的受测装置120_1～120_4。进一步来说，受测装置120_1、120_2、120_3与120_4中尚未测试的项目,程序会自动切换至未测的设备以进行测试。关于后续的测试周期，透过上述实施例的工作机制，本领域的技术人员应可理解，在此不再赘述。承上述，本揭露内容能够将多种测试功能整合于单一机台以减少机台数量、电源使用量与工作面积，进而节省生产测试成本、测试时间与人力。在一例示性实施例中，生产测试成本能够节省30%，测试时间能够节省20%。
〔平行多工测试方法的一实施例〕
请参照图5，图5为根据本发明实施例的平行多工测试方法的流程图。本实施例所述的方法可以在图1或图3所示平行多工测试100或300上执行，因此请一并照图1～图4以利理解。而平行多工测试方法包括以下步骤：透过中央处理单元，根据固件来判断受测装置中尚未测试的项目并且传送至少一指示信号以进行测试(步骤S510)。透过N个功能测试模块，根据指示信号来与相对应的受测装置进行对应的功能测试，每一个功能测试模块具有不同的测试功能(步骤S520)。在测试周期的时间槽，平行多工测试***根据固件寻找相对应的功能测试模块对受测装置进行对应的功能测试，以使全部的受测装置同时透过不同的测试通道来进行不同的功能测试，其中N为大于1的正整数(步骤S530)；以及，在测试周期的另一时间槽，中央处理单元根据固件来判断受测装置中尚未测试的项目并且传送指示信号至对应的功能测试模块，以发出测试信号经过测试通道来测试对应的受测装置(步骤S540)。
关于平行多工测试***的平行多工测试方法的各步骤的相关细节在上述图1～图4实施例已详细说明，在此恕不赘述。在此须说明的是，图5实施例的各步骤仅为方便说明的须要，本发明实施例并不以各步骤彼此间的顺序作为实施本发明各个实施例的限制条件。
〔实施例的可能功效〕
综上所述，本发明实施例所提出的平行多工测试***及其方法，能够整合多个测试功能于单一机台以减少机台数量，进而节省生产测试成本、测试时间、人力。
以上所述仅为本发明的实施例，其并非用以局限本发明的专利范围。
综上所述，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明。本发明所属技术领域中的技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰。因此，本发明的保护范围当视所附的权利要求所界定者为准。

Claims (10)

1.一种平行多工测试***，用于以N个测试信号透过N个测试通道对N个隔离箱内的N个受测装置进行测试，其特征在于，该平行多工测试***包括：
一中央处理单元，根据一固件来判断该些受测装置中尚未测试的项目并且传送至少一指示信号以进行测试；以及
N个功能测试模块，电性连接该中央处理单元，该些功能测试模块根据该指示信号来与相对应的该受测装置进行对应的功能测试，每一该些功能测试模块具有不同的测试功能，
其中在一测试周期的一时间槽，该平行多工测试***根据该固件寻找相对应的该些功能测试模块对该些受测装置进行对应的功能测试，以使全部的该些受测装置同时透过不同的该些测试通道来进行不同的功能测试，其中N为大于1的正整数，
其中在该测试周期的另一时间槽，该中央处理单元根据该固件来判断该些受测装置中尚未测试的项目并且传送该指示信号至对应的该些功能测试模块，以发出该些测试信号经过该些测试通道来测试对应的该些受测装置。
2.如权利要求1所述的平行多工测试***，其中该平行多工测试***包括：
一射频分配器；
一射频测试模块，包括一向量信号分析器与一向量信号产生器，该射频测试模块电性连接该中央处理单元，该射频测试模块根据该指示信号来决定是否与相对应的该受测装置进行一射频功能测试，其中该射频测试模块透过该射频分配器来进行该射频功能测试；
一影音测试模块，电性连接该中央处理单元，该影音测试模块根据该指示信号来决定是否与相对应的该受测装置进行一影音功能测试，其中该影音测试模块透过一高清晰度多媒体介面切换器来进行该影音功能测试；
一电荷耦合元件；
一红外线遥控模块；以及
一控制器，电性连接该中央处理单元，该控制器根据该指示信号来决定是否与相对应的该受测装置进行一光学功能测试，其中该控制器透过该电荷耦合元件与该红外线遥控模块来进行该光学功能测试，
当在该测试周期，该射频测试模块、该影音测试模块与该控制器根据该指示信号来平行多工地对该些受测装置进行该射频功能测试、该影音功能测试与该光学功能测试。
3.如权利要求2所述的平行多工测试***，其中该向量信号分析器用以分析对应的该受测装置的一发送器所传送的该测试信号，并且该向量信号产生器用以产生一射频信号且传送至对应的该受测装置的一接收器。
4.如权利要求2所述的平行多工测试***，其中该测试周期具有一时间槽，在该时间槽该射频测试模块、该影音测试模块与该控制器根据该指示信号分别透过其对应的该测试通道来同时对相对应的该受测装置进行功能测试。
5.如权利要求2所述的平行多工测试***，其中该平行多工测试***还包括：
一射频切换器，电性连接该向量信号分析器、该向量信号产生器与该中央处理单元；以及
一射频多工器，电性连接该射频切换器与该中央处理单元，该射频多工器根据该指示信号来决定对相对应的该受测装置进行该射频功能测试，
其中当该射频切换器根据该指示信号来决定对相对应的该受测装置的一发送器进行该射频功能测试时，则该平行多工测试***透过该射频分配器、该射频多工器、该射频切换器与该向量信号分析器来对该受测装置的该发送器进行射频信号分析，
其中当该射频切换器根据该指示信号来决定对相对应的该受测装置的一接收器进行该射频功能测试时，则该平行多工测试***透过该射频分配器、该射频多工器、该射频切换器与该向量信号产生器来对该受测装置的该接收器进行射频信号分析。
6.一种平行多工测试方法，用于一平行多工测试***，该平行多工测试***用于以N个测试信号透过N个测试通道对N个隔离箱内的N个受测装置进行测试，该平行多工测试***包括一中央处理单元与N个功能测试模块，该些功能测试模块电性连接该中央处理单元，其中每一该些功能测试模块具有不同的测试功能并且N为大于1的正整数，其特征在于，该平行多工测试方法包括：
透过该中央处理单元，根据一固件来判断该些受测装置中尚未测试的项目并且传送至少一指示信号以进行测试；
透过N个功能测试模块，根据该指示信号来与相对应的该受测装置进行对应的功能测试，每一该些功能测试模块具有不同的测试功能；
在一测试周期的一时间槽，该平行多工测试***根据该固件寻找相对应的该些功能测试模块对该些受测装置进行对应的功能测试，以使全部的该些受测装置同时透过不同的该些测试通道来进行不同的功能测试，其中N为大于1的正整数；以及
在测试周期的另一时间槽，中央处理单元根据该固件来判断该些受测装置中尚未测试的项目并且传送该指示信号至对应的该些功能测试模块，以发出该些测试信号经过该些测试通道来测试对应的该些受测装置。
7.如权利要求6所述的平行多工测试方法，其中该些功能测试模块包括：
一射频分配器；
一射频测试模块，包括一向量信号分析器与一向量信号产生器，该射频测试模块电性连接该中央处理单元，该射频测试模块根据该指示信号来决定是否与相对应的该受测装置进行一射频功能测试，其中该射频测试模块透过该射频分配器来进行该射频功能测试；
一影音测试模块，电性连接该中央处理单元，该影音测试模块根据该指示信号来决定是否与相对应的该受测装置进行一影音功能测试，其中该影音测试模块透过一高清晰度多媒体介面切换器来进行该影音功能测试；
一电荷耦合元件；
一红外线遥控模块；以及
一控制器，电性连接该中央处理单元，该控制器根据该指示信号来决定是否与相对应的该受测装置进行一光学功能测试，其中该控制器透过该电荷耦合元件与该红外线遥控模块来进行该光学功能测试，
当在该测试周期，该射频测试模块、该影音测试模块与该控制器根据该指示信号来循序地对该些受测装置进行该射频功能测试、该影音功能测试与该光学功能测试。
8.如权利要求7所述的平行多工测试方法，其中该向量信号分析器用以分析对应的该受测装置的一发送器所传送的该测试信号，并且该向量信号产生器用以产生一射频信号且传送至对应的该受测装置的一接收器。
9.如权利要求7所述的平行多工测试方法，其中该测试周期具有一时间槽，在该时间槽该射频测试模块、该影音测试模块与该控制器根据该指示信号分别透过其对应的该测试通道来同时与相对应的该受测装置进行功能测试。
10.如权利要求7所述的平行多工测试方法，其中该平行多工测试***还包括：
一射频切换器，电性连接该向量信号分析器、该向量信号产生器与该中央处理单元；以及
一射频多工器，电性连接该射频切换器与该中央处理单元，该射频多工器根据该指示信号来决定与相对应的该受测装置进行该射频功能测试，
其中当该射频切换器根据该指示信号来决定与相对应的该受测装置的一发送器进行该射频功能测试时，则该平行多工测试***透过该射频分配器、该射频多工器、该射频切换器与该向量信号分析器来对该受测装置的该发送器进行射频信号分析，
其中当该射频切换器根据该指示信号来决定与相对应的该受测装置的一接收器进行该射频功能测试时，则该平行多工测试***透过该射频分配器、该射频多工器、该射频切换器与该向量信号产生器来对该受测装置的该接收器进行射频信号分析。
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