CN104901750B - 电路板及其多功能射频测试座 - Google Patents

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Abstract

一种多功能射频测试座，用于射频性能测试或基带调试时的测试信号输出，包括基座、绝缘层、输入端、输出端和中心导体，该基座为一由导电金属材料制成的两端开口且中空的圆柱形凸台结构，该基座内壁及底端上设置有绝缘层，该输入端从该基座的底端引入，并沿该基座内壁上的绝缘层垂直向上延伸一段距离后水平伸出，构成一悬臂，该输出端与该输入端相互对称地设置，该输出端的悬臂下端设有一凸点，该中心导体为一与该基座同圆心的圆形金属片，其一端与该输入端的悬臂连接，另一端在该输入端的悬臂的弹力作用下与该输出端上的凸点弹性接触。另，本发明还提供一种应用该多功能射频测试座的电路板。该多功能射频测试座提升了该电路板的空间利用率。

Description

电路板及其多功能射频测试座
技术领域
本发明涉及射频通信领域，尤其涉及一种电路板及其多功能射频测试座。
背景技术
随着移动通信终端产品的超薄化和大屏化发展，在产品有限的内部空间中需要容置电池、电路板、显示屏、天线等众多功能性模块，要保证尽量大的电池容量，就意味着在现有的设计空间中，留给电路板的空间越来越小，如何在有限的电路板空间上集成更多的功能是目前移动通信终端产品设计中需要考虑的问题。为方便调试，在电路板电路布局时，一般会预留较多数量的调试点，用于产线调试，所述调试点的存在无疑会占用一部分的电路板面积，不利于有限空间下的电路布局。此外，为方便进行射频性能测试，电路板上还预留有射频测试座。所述调试点和射频测试座的设置均是为了方便产线调试，因此不能去除，为了节省电路板布局空间，需要对所述调试点和射频测试座的布局进行优化。
发明内容
鉴于以上情况，有必要提供一种多功能射频测试座。
另，还有必要提供一种应用该多功能射频测试座的电路板。
一种多功能射频测试座，用于无线终端产品射频性能测试或基带调试时的测试信号输出，该多功能射频测试座包括基座、绝缘层、输入端、输出端和中心导体，该基座为一由导电金属材料制成的两端开口且中空的圆柱形凸台结构，该基座内壁及底端上设置有绝缘层，该输入端从该基座的底端引入，并沿该基座内壁上的绝缘层垂直向上延伸一段距离后水平伸出，构成一悬臂，该输出端与该输入端相互对称地设置，该输出端的悬臂下端设有一凸点，该中心导体为一与该基座同圆心的圆形金属片，其一端与该输入端的悬臂连接，另一端在该输入端的悬臂的弹力作用下与该输出端上的凸点弹性接触。
一种电路板，包括射频功率放大器和基带芯片，该电路板还包括多功能射频测试座，该多功能射频测试座包括基座、绝缘层、输入端、输出端和中心导体，该基座为一由导电金属材料制成的两端开口且中空的圆柱形凸台结构，该基座内壁及底端上设置有绝缘层，该输入端从该基座的底端引入，并沿该基座内壁上的绝缘层垂直向上延伸一段距离后水平伸出，构成一悬臂，该输出端与该输入端相互对称地设置，该输出端的悬臂下端设有一凸点，该中心导体为一与该基座同圆心的圆形金属片，其一端与该输入端的悬臂连接，另一端在该输入端的悬臂的弹力作用下与该输出端上的凸点弹性接触。
所述多功能射频测试座通过将所述基座作为基带调试信号的输出点，有效减少了单独基带调试点的存在，提升了该电路板的空间利用率。
附图说明
图1为本发明较佳实施例的多功能射频测试座的俯视图。
图2为图1所示多功能射频测试座的II-II剖面图。
图3为本发明较佳实施例的电路板的原理框图。
主要元件符号说明
射频测试座 100
电路板 200
基座 10
容置空间 11
绝缘层 20
输入端 30
输出端 40
凸点 41
中心导体 50
电容 C
射频功率放大器 60
输出端 PA_OUT
基带芯片 70
调试接口 Debug
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1，本发明较佳实施例提供一种多功能射频测试座100，该射频测试座100设置于无线终端产品的电路板上，可兼容射频性能测试以及基带调试功能，用于无线终端产品射频性能测试或基带调试时的测试信号输出。
请结合参阅图2，该射频测试座100包括基座10、绝缘层20、输入端30、输出端40和中心导体50。该基座10为一由导电金属材料制成的两端开口且中空的圆柱形凸台结构，其顶端直径小于底端直径，从而在该基座10底端内部形成一较大的容置空间11。该基座10内壁及底端上设置有绝缘层20。该输入端30为一金属导电片，该输入端30从该基座10底端引入该容置空间11，并沿该基座10内壁上的绝缘层20垂直向上延伸一段距离后水平伸出，构成一悬臂。该输出端40与该输入端30相互对称地设置于该容置空间11内，并从该基座10底端引出，该输出端40的悬臂下端设有一凸点41。该中心导体50为一圆形金属片，其一端与该输入端30的悬臂连接，另一端在该输入端30的悬臂的弹力作用下与该输出端40上的凸点41弹性接触，该中心导体50与该基座10同圆心设置。可以理解，对于高频信号而言，该基座10和该中心导体50之间等效为一电容；而对于低频信号，该基座10和该中心导体50之间等效为开路。
请结合参阅图3，本发明还提供一种应用该多功能射频测试座的电路板200，该电路板200包括多功能射频测试座100、射频功率放大器60和基带芯片70。在对该电路板200进行射频性能测试时，该多功能射频测试座100的中心导体50与该射频功率放大器60的射频输出端PA_OUT连接，用于输出射频测试信号，该基座10通过一电容C接地，根据电容通交流阻直流、通高频阻低频的特性，在射频性能测试时，该基座10即为射频信号的参考地。当射频测试插头***该多功能射频测试座100时，射频测试插头的探针顶开该中心导体50与该多功能射频测试座100的输出端40的连接，从而使射频测试信号从该中心导体50输出。在对该电路板200进行基带调试时，该基座10与该基带芯片70的调试接口Debug连接，对于低频的调试信号，该基座10与地之间的电容C相当于开路，因此，该基座10即为基带信号的调试点，用于输出基带调试信号。
所述多功能射频测试座100通过合理利用该基座10，实现基带芯片调试的功能，有效减少了单独调试点的存在，提升了电路板200的空间利用率。
以上所述，仅为本发明的较佳实施例，并非是对本发明作任何形式上的限定。另外，本领域技术人员还可在本发明精神内做其它变化，当然，这些依据本发明精神所做的变化，都应包含在本发明所要求保护的范围之内。

Claims (5)

1.一种多功能射频测试座，用于无线终端产品射频性能测试或基带调试时的测试信号输出，其特征在于：该多功能射频测试座包括基座、绝缘层、输入端、输出端和中心导体，该基座为一由导电金属材料制成的两端开口且中空的圆柱形凸台结构，该基座内壁及底端上设置有绝缘层，该输入端从该基座的底端引入，并沿该基座内壁上的绝缘层垂直向上延伸一段距离后水平伸出，构成一悬臂，该输出端与该输入端相互对称地设置，该输出端的悬臂下端设有一凸点，该中心导体为一与该基座同圆心的圆形金属片，其一端与该输入端的悬臂连接，另一端在该输入端的悬臂的弹力作用下与该输出端上的凸点弹性接触，当所述多功能射频测试座用于射频性能测试时，该中心导体为射频性能测试点，用于输出射频测试信号，该基座为射频测试信号的参考地，当所述多功能射频测试座用于基带调试时，该基座为基带调试点，用于输出基带调试信号。
2.如权利要求1所述的多功能射频测试座，其特征在于：所述基座通过一电容接地。
3.一种电路板，包括射频功率放大器和基带芯片，其特征在于：该电路板还包括如权利要求1-2任意一项所述的多功能射频测试座。
4.如权利要求3所述的电路板，其特征在于：所述射频功率放大器包括射频输出端，该射频输出端与所述多功能射频测试座的输入端连接。
5.如权利要求3所述的电路板，其特征在于：所述基带芯片包括调试接口，该调试接口与所述多功能射频测试座的基座连接。
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