CN104834428B - 触控点修正方法及应用其的电磁式触控面板 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种触控点修正方法及应用其的电磁式触控面板，该触控点修正方法包括以下步骤。首先，检测数条直向电极线的第一直向基准线具有一最大能量。然后，检测位于第一直向基准线右侧且感应到能量的此些直向电极线的一右侧数量。然后，检测位于直向基准线左侧且感应到能量的此些直向电极线的一左侧数量。然后，以右侧数量与左侧数量中最大者所对应的一侧作为一倾斜侧，并定义第一直向基准线往倾斜侧的方向为一倾斜方向。然后，检测位于倾斜侧的此些直向电极线的一第二直向基准线具有一次大能量。然后，根据次大能量与最大能量的比值，将感应点的位置往倾斜方向的反方向修正一修正量。

Description

触控点修正方法及应用其的电磁式触控面板
技术领域
本发明是有关于一种触控点修正方法及应用其的触控装置，且特别是有关于一种触控点修正方法及应用其的电磁式触控装置。
背景技术
由于握笔的姿势，通常导致触控笔相对电磁感应式触控面板倾斜，如此造成电磁感应式触控面板的感应点与操作者实际上所欲的触控点之间的偏差过大。因此，如何修正电磁感应式触控面板的感应点是本技术领域业者努力的目标之一。
发明内容
本发明有关于一种触控点修正方法及应用其的电磁式触控装置，一实施例中，可改善触控面板的感应点与操作者实际上所欲的触控点之间的偏差过大的问题。
根据本发明的一实施例，提出一种触控点修正方法。触控点修正方法包括以下步骤。回应一触控行为，一电磁式触控面板感应一感应点，其中电磁式触控装置包括数条直向电极线；检测该些直向电极线的一第一直向基准线具有第一最大能量；检测位于第一直向基准线右侧且感应到能量的该些直向电极线的一右侧数量；检测位于第一直向基准线左侧且感应到能量的该些直向电极线的一左侧数量；以右侧数量与左侧数量中最大者所对应的一侧作为一第一倾斜侧，并定义第一直向基准线往第一倾斜侧的方向为一第一倾斜方向；检测位于第一倾斜侧的该些直向电极线的一第二直向基准线具有一第一次大能量；以及，根据第一次大能量与第一最大能量的比值，将感应点的位置往第一倾斜方向的反方向修正一第一修正量。
根据本发明的另一实施例，提出一种电磁式触控装置。电磁式触控装置包括一显示面板及一电磁式触控面板。电磁式触控面板与显示面板相对配置且包括数条直向电极线及处理单元。直向电极线用以回应一触控行为，而感应一感应点。处理单元用以：检测该些直向电极线的一第一直向基准线具有第一最大能量；检测位于第一直向基准线右侧且感应到能量的该些直向电极线的一右侧数量；检测位于第一直向基准线左侧且感应到能量的该些直向电极线的一左侧数量；以右侧数量与左侧数量中最大者所对应的一侧作为一第一倾斜侧，并定义第一直向基准线往第一倾斜侧的方向为一第一倾斜方向；检测位于第一倾斜侧的该些直向电极线的一第二直向基准线具有一第一次大能量；以及，根据第一次大能量与第一最大能量的比值，将感应点的位置往第一倾斜方向的反方向修正一第一修正量。
为了对本发明的上述及其他方面有更佳的了解，下文特举较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下：
附图说明
图1绘示依照本发明一实施例的触控显示装置的分解图。
图2绘示依照本发明一实施例的触控点修正方法的流程图。
图3A至3C绘示触控笔对图1的触控显示装置进行触控的示意图。
图4绘示图1的电磁式触控面板沿XY平面的俯视图。
图5A绘示触控笔相对Z轴往右倾斜的修正表。
图5B绘示触控笔相对Z轴往左倾斜的修正表。
图6A绘示触控笔相对Z轴往下倾斜的修正表。
图6B绘示触控笔相对Z轴往上倾斜的修正表。
图7绘示图4的感应点的位置修正至触控点的示意图。
图8绘示依照本实施例的触控点修正方法的测试结果表。
图9A绘示依照本发明另一实施例的触控笔对触控显示装置进行触控的示意图。
图9B绘示图9A的感应点的位置修正至触控点的示意图。
其中，附图标记：
100：触控显示装置 110：显示面板
120：电磁式触控面板 121：直向电极线
121’：第一直向基准线 1211’：第二直向基准线
122’：横向电极线 1221’：第一横向基准线
122b：第二横向基准线 123：处理单元
130：触控笔 131：信号发送器
A1：角度 A11：第一倾斜角度
A12：第二倾斜角度 D1：第一倾斜方向
D2：第二倾斜方向 H1：距离
P1：感应点 P2：触控点
R1：第一能量比值
R2：第二能量比值
T11、T12、T21、T22：修正表
S110～S180：步骤
Δx、Δy、Δx+Δx'、Δy+Δy'：修正量
具体实施方式
请参照图1，其绘示依照本发明一实施例的触控显示装置的分解图。触控显示装置100包括显示面板110及电磁式触控面板120。显示面板110例如是电泳式显示器、胆固醇液晶显示器、液晶显示器、双稳态显示器、多稳态显示器、有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)显示器、发光二极管(Light-Emitting Diode,LED)显示器或其它种类显示面板。
电磁式触控面板120包括数条直向电极线121、数条横向电极线122及处理单元123。直向电极线121例如是沿Y轴向延伸，而横向电极线122例如是沿X轴向延伸。处理单元123电性连接于直向电极线121及横向电极线122，以处理直向电极线121及横向电极线122感应到的感应点的信号。
请参照图2，其绘示依照本发明一实施例的触控点修正方法的流程图。
步骤S110中，请同时参照图3A至3C，其绘示触控笔对图1的触控显示装置进行触控的示意图。如图3A(为了清楚表示，未绘示显示面板110)所示，回应一触控行为，电磁式触控面板120的直向电极线121及横向电极线122感应到一感应点P1。本实施例中，触控行为例如是触控笔130施加压力于触控显示装置100的行为。触控笔130可以是主动式触控笔或被动式触控笔，本实施例以主动式触控笔为例说明。触控笔130包括一信号发送器131，信号发送器131例如是无线射频(RFID)发送器。信号发送器131设于触控笔130的内部，且与笔尖相距一距离H1，此距离H1大于1毫米，例如是介于7毫米至12毫米之间，然本发明实施例不限制距离H1的值。
当触控笔130接触触控显示装置100时，电磁式触控面板120的直向电极线121及横向电极线122感应到信号发送器131所发送的无线信号，而分别感应出大小不同的电磁能，其中感应点P1为感应到最大电磁能的座标点。由于触控笔130相对触控显示装置100的Z轴向倾斜一角度A1且信号发送器131与触控笔130笔尖相距一距离H1，因此感应点P1并非触控笔130笔尖的座标点，即，感应点P1并非操作者所欲的触控点。然而，透过本发明实施例的修正方法，可将感应点P1修正至接近触控笔130笔尖的位置，此将于后续步骤S120中描述。
此外，握笔的姿势通常会让触控笔130相对Z轴倾斜。例如，如图3B所示，角度A1投影至X-Z平面的角度为第一倾斜角度A11，本实施例的触控笔130以相对Z轴向往右倾斜(接近+X轴的方向)为例说明。如图3C所示，角度A1投影至Y-Z平面的角度为第二倾斜角度A12，本实施例的触控笔130以相对Z轴向往下倾斜(接近-Y轴的方向)为例说明。另一实施例中，触控笔130的倾斜方式可不受图3A至3C所限制，只要触控笔130相对Z轴是倾斜的，皆可采用本发明实施例的触控点修正方法。
步骤S120中，请同时参照图4，其绘示图1的电磁式触控面板沿XY平面的俯视图。由于直向电极线121的第一直向基准线121’最靠近感应点P1，因此处理单元123(绘示于图1)检测到第一直向基准线121’具有第一最大能量。直向电极线121包括直向电极线1211及1212，其中直向电极线1211位于第一直向基准线121’右侧，而直向电极线1212位于第一直向基准线121’左侧。相似地，由于横向电极线122的第一横向基准线122’最靠近感应点P1，因此处理单元123检测到第一横向基准线122’具有第二最大能量。横向电极线122包括横向电极线1221及1222，其中横向电极线1221位于第一横向基准线122’下侧，而横向电极线1222位于第一横向基准线122’上侧。
步骤130中，如图4所示，由于触控笔130左、右倾斜方向不同，因此位于第一直向基准线121’右侧且感应到电磁能的直向电极线1211条数与位于第一直向基准线121’左侧且感应到电磁能的直向电极线1212的条数也会不同。本步骤中，处理单元123检测位于第一直向基准线121’右侧且有感应到电磁能的直向电极线1211的右侧数量，以及检测位于第一直向基准线121’左侧且有感应到电磁能的直向电极线1212的左侧数量，然后藉由以下步骤S140判断触控笔130是右倾或左倾。
步骤140中，如图4所示，处理单元123以右侧数量与左侧数量中最大者所对应的一侧作为一第一倾斜侧，并定义第一直向基准线121’往第一倾斜侧的方向为一第一倾斜方向。本实施例中，由于右侧数量大于左侧数量，因此处理单元123判断触控笔130是右倾，在此情况下，第一倾斜方向D1系往+X轴方向。另一实施例中，若左侧数量大于右侧数量，处理单元123据以判断触控笔130是左倾，在此情况下，第一倾斜方向D1系往-X轴方向。
步骤150中，如图4所示，由于触控笔130的上、下倾斜方向不同，因此位于第一横向基准线122’下侧且感应到电磁能的横向电极线1221的条数与位于第一横向基准线122’上侧且感应到电磁能的横向电极线1222的条数也会不同。本步骤中，处理单元123检测位于第一横向基准线122’下侧且有感应到电磁能的横向电极线1221的下侧数量，以及检测位于第一横向基准线122’上侧且有感应到电磁能的横向电极线1222的上侧数量，然后藉由以下步骤S160判断触控笔130是上倾或下倾。
步骤S160中，如图4所示，处理单元123以下侧数量与上侧数量中最大者所对应的一侧作为一第二倾斜侧，并定义第一横向基准线122’往第二倾斜侧的方向为一第二倾斜方向。本实施例中，由于下侧数量大于上侧数量，因此处理单元123判断触控笔130是下倾，在此情况下，第二倾斜方向D2系往-Y轴方向。另一实施例中，若上侧数量大于下侧数量，处理单元123据以判断触控笔130是上倾，在此情况下，第二倾斜方向D2系往+Y轴方向。
步骤S170中，愈接近第一直向基准线121’的直向电极线1211感应到愈多的能量；反之，愈远离第一直向基准线121’的直向电极线1211感应到愈少的能量。由于位于第一倾斜侧(本实施例为第一直向基准线121’右侧)的此些直向电极线1211的第二直向基准线1211’离第一直向基准线121’最近，因此处理单元123检测到第二直向基准线1211’具有一第一次大能量。此第一次大能量小于上述第一最大能量。相似地，处理单元123检测到位于第二倾斜侧(本实施例为第一横向基准线122’的下侧)的此些横向电极线1221的第二横向基准线1221’具有一第二次大能量，此第二次大能量小于上述第二最大能量。
步骤S180中，请同时参照图5A至7所示，其中图5A绘示触控笔相对Z轴往右倾斜的修正表，图5B绘示触控笔相对Z轴往左倾斜的修正表，图6A绘示触控笔相对Z轴往下倾斜的修正表，图6B绘示触控笔相对Z轴往上倾斜的修正表，而图7绘示图4的感应点的位置修正至触控点的示意图。图5A的修正表T11、图5B的修正表T12、图6A的修正表T21及图6B的修正表T22以信号发送器131相距触控笔130的笔尖约5～7毫米为例所作的修正表。
如图7所示，由于本实施例的触控笔130相对Z轴往右倾斜为例说明，因此处理单元123根据图5A的修正表T11的第一能量比值R1与第一修正权重的对应关系，把感应点P1沿第一倾斜方向D1的反方向(例如是往-X轴方向)修正第一修正量Δx。例如，以第一能量比值R1为0.842(图5A)来说，其对应的第一修正权重为0.75，则第一修正量Δx为修正基值与数值0.75的积，其中修正基值例如是400个像素或其它合适像素量。又例如，当第一能量比值R1为0.864(图5A)来说，其对应的第一修正权重为0.8，则第一修正量Δx为同一修正基值与数值0.8的积。此外，每个倾斜角度的第一修正权重的值小于1，其范围例如是介于约0.7至约0.9之间的任一数值或介于其它数值范围的任一数值，而修正基值也不限于像素量，其可为长度单位，如毫米。另一实施例中，当触控笔130相对Z轴左倾时，第一倾斜方向D1为-X轴方向，则处理单元123可参考图5B的修正表T12沿第一倾斜方向D1的反方向(即往+X轴方向)修正感应点P1的位置。
相似地，如图7所示，由于本实施例的触控笔130相对Z轴往下倾斜为例说明，因此处理单元123根据图6A的修正表T21的第二能量比值R2与第二修正权重的对应关系，把感应点P1沿第二倾斜方向D2的反方向(例如是往+Y轴方向)修正第二修正量Δy。例如，以第二能量比值R2为0.826(图6A)举例来说，其对应的第二修正权重为0.75，则第二修正量Δy为修正基值与数值0.75的积，其中修正基值例如是400个像素或其它合适像素量。又例如，当第二能量比值R2为0.767(图6A)来说，其对应的第一修正权重为0.8，则第二修正量Δy为同一修正基值与数值0.8的积。此外，每个倾斜角度的第二修正权重的值小于1，其范围例如是介于约0.7至约0.9之间的任一数值或介于其它数值范围的任一数值。另一实施例中，当触控笔130相对Z轴往上倾斜时，处理单元123可参考图6B的修正表T22沿第二倾斜方向D2的反方向(即往-Y轴方向)修正感应点P1的位置。
如图7所示，在感应点P1往第一倾斜方向D1的反方向(本实施例为往-X轴方向)修正第一修正量Δx，且沿第二倾斜方向D2的反方向(本实施例为往+Y轴方向)修正第二修正量Δy后，得到触控点P2的座标。此触控点P2系接近或甚至重合于触控笔130的笔尖的座标点。
请参照图8，其绘示依照本实施例的触控点修正方法的测试结果表。表中的“差值”指的是，倾斜时触控笔的触控点与平行Z轴(倾斜角度为0度)的触控笔的触控点之间的像素量差。以往第一倾斜方向D1的反方向(例如是往-X轴方向)修正来说，在未采用本发明实施例的触控点修正方法的对照组中，倾斜时触控笔的触控点与平行Z轴的触控笔的触控点的间的差值系发散(例如，右倾10度时，差值约61个像素量；右倾20度时，差值大幅发散至91个像素量)。相较于此，本发明实施例的倾斜时触控笔的触控点P2与平行Z轴的触控笔的触控点P2之间的差值系收敛(例如，右倾10度时，差值约51个像素量；右倾20度时，差值收敛至24个像素量)，且差值也较小。可见，本发明实施例的触控点修正方法可将感应点修正至接近或甚至重合于触控笔的笔尖。此外，以往第二倾斜方向D2的反方向的修正可获得相似的功效，容此不再赘述。
图9A绘示依照本发明另一实施例的触控笔对触控显示装置进行触控的示意图，而图9B绘示图9A的感应点的位置修正至触控点的示意图。本实施例中，触控笔130的笔尖与触控显示装置100相隔一距离H2的情况下，电磁式触控面板120即产生感应点P1。在此状况下，感应点P1沿第一倾斜方向D1的反方向修正第一修正量Δx+Δx'且沿第二倾斜方向D2的反方向修正第二修正量系Δy+Δy'，其中Δx'及Δy'系触控笔130的笔尖从悬空状态落下至接触到触控显示装置100的补偿量。此外，只要是悬空即可，本发明实施例不限定上述距离H2的值。
综上所述，虽然本发明已以较佳实施例公开如上，但其并非用以限定本发明。本发明所属技术领域的技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与修改。因此，本发明的保护范围当视后附的权利要求书保护范围所界定者为准。

Claims (12)

1.一种触控点修正方法，其特征在于，包括：
回应一触控行为，一电磁式触控面板感应一感应点，其中该电磁式触控装置包括多条直向电极线；
检测该些直向电极线的一第一直向基准线具有第一最大能量；
检测位于该第一直向基准线右侧且感应到能量的该些直向电极线的一右侧数量；
检测位于该第一直向基准线左侧且感应到能量的该些直向电极线的一左侧数量；
以该右侧数量与该左侧数量中最大者所对应的一侧作为一第一倾斜侧，并定义该第一直向基准线往该第一倾斜侧的方向为一第一倾斜方向；
检测位于该第一倾斜侧的该些直向电极线的一第二直向基准线具有一第一次大能量；以及
根据该第一次大能量与该第一最大能量的比值，将该感应点的位置往该第一倾斜方向的反方向修正一第一修正量；
其中，该第一修正量是一修正基值与一修正权重的积，该修正权重与一触控笔的倾斜角度呈正比。
2.如权利要求1所述的触控点修正方法，其特征在于，该触控行为是接触式触控行为。
3.如权利要求1所述的触控点修正方法，其特征在于，该触控行为是非接触式触控行为。
4.如权利要求1所述的触控点修正方法，其特征在于，该触控行为是由该触控笔所产生。
5.如权利要求1所述的触控点修正方法，其特征在于，该修正基值是像素量。
6.如权利要求1所述的触控点修正方法，其特征在于，该电磁式触控装置包括多条横向电极线；该触控点修正方法更包括:
检测该些横向电极线的一第一横向基准线具有一第二最大能量；
检测位于该第一横向基准线上侧且感应到能量的该些横向电极线的一上侧数量；
检测位于该第一横向基准线下侧且感应到能量的该些横向电极线的一下侧数量；
以该上侧数量与该下侧数量最大者所对应的一侧作为一第二倾斜侧，并定义该第一横向基准线往该第二倾斜侧的方向为一第二倾斜方向；
检测位于该第二倾斜侧的该些横向电极线的一第二横向基准线具有一第二次大能量；以及
根据该第二次大能量与该第二最大能量的比值，将该感应点往该第二倾斜方向的反方向修正一第二修正量。
7.一种电磁式触控面板，其特征在于，包括：
多条直向电极线，用以回应一触控行为，而感应一感应点；以及
一处理单元，用以：
检测该些直向电极线的一第一直向基准线具有第一最大能量；
检测位于该第一直向基准线右侧且感应到能量的该些直向电极线的一右侧数量；
检测位于该第一直向基准线左侧且感应到能量的该些直向电极线的一左侧数量；
以该右侧数量与该左侧数量中最大者所对应的一侧作为一第一倾斜侧，并定义该第一直向基准线往该第一倾斜侧的方向为一第一倾斜方向；
检测位于该第一倾斜侧的该些直向电极线的一第二直向基准线具有一第一次大能量；及
根据该第一次大能量与该第一最大能量的比值，将该感应点的位置往该第一倾斜方向的反方向修正一第一修正量；计算一修正基值与一修正权重的积，并以该积做为该第一修正量，其中该修正权重与一触控笔的倾斜角度呈正比。
8.如权利要求7所述的电磁式触控面板，其特征在于，该触控行为是接触式触控行为。
9.如权利要求7所述的电磁式触控面板，其特征在于，该触控行为是非接触式触控行为。
10.如权利要求7所述的电磁式触控面板，其特征在于，该触控行为由该触控笔所产生。
11.如权利要求7所述的电磁式触控面板，其特征在于，该修正基值是像素量。
12.如权利要求7所述的电磁式触控面板，其特征在于，该电磁式触控面板还包括多条横向电极线；该处理单元还用以：
检测该些横向电极线的一第一横向基准线具有一第二最大能量；
检测位于该第一横向基准线上侧的感应到能量的该些横向电极线的一上侧数量；
检测位于该第一横向基准线下侧的感应到能量的该些横向电极线的一下侧数量；
以该上侧数量与该下侧数量最大者所对应的一侧作为一第二倾斜侧，并定义该第一横向基准线往该第二倾斜侧的方向为一第二倾斜方向；
检测位于该第二倾斜侧的该些横向电极线的一第二横向基准线具有一第二次大能量；以及
根据该第二次大能量与该第二最大能量的比值，将该感应点往该第二倾斜方向的反方向修正一第二修正量。
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