CN104820304A - 液晶特性测试装置和测试方法以及显示面板及其制造方法 - Google Patents

Abstract

本发明的实施例提供一种液晶特性测试装置和测试方法以及显示面板及其制造方法，属于显示器技术领域，用于使液晶显示设备内的液晶特性测试更加准确，该液晶特性测试装置包括：测试电极、引线和测试元件组，测试电极设置于显示面板的封框胶外侧，测试元件组设置于显示面板的布线区域，引线穿过封框胶电连接测试电极和测试元件组，测试电极包括：第一电极和第二电极，引线包括：第一引线和第二引线；测试元件组包括：第一透明电极图案、第二透明电极图案以及绝缘结构第一电极通过第一引线电连接第一透明电极图案，第二电极通过第二引线电连接第二透明电极图案。本发明的实施例用于显示器的制造。

Description

液晶特性测试装置和测试方法以及显示面板及其制造方法

技术领域

本发明涉及显示器技术领域，尤其涉及一种液晶特性测试装置和测试方法以及显示面板及其制造方法。

背景技术

在液晶显示器(英文全称：Liquid Crystal Display，简称：LCD)的制造过程中，经常会有因液晶原材料污染及制造工艺对液晶的污染造成的产品不良，及时对液晶特性的检测可以准确分析不良原因，并提出解决方案，所以液晶特性的检测可以提高产品质量、节约生产成本，对生产具有非常重要的意义。

评价液晶特性的主要参数有：电压保持率(英文全称：VoltageHolding Radio，简称：VHR)、离子浓度(英文全称：Ion Density)和残留直流电压(英文全称：Residual Direct Current，简称：RDC)。目前对液晶特性的检测方式为：在实验室模拟生产线的生产条件制作小型液晶测试盒(英文名称：Mini cell)，对该小型液晶测试盒的液晶特性进行测试，获取VHR、离子浓度、RDC等参数，最后根据这些参数对生产线上的液晶显示设备内的液晶特性进行评价。但是，由于实验室无法完全模拟生产线的环境机身产设备，且生产线上的人为污染在实验室也无法模拟，所以用实验室制作的小型液晶测试盒的内液晶的特性参数评价生产线上的液晶显示设备内的液晶特性缺乏准确性。综上所述，如何使液晶显示设备内的液晶特性进行测试更加准确是本领域技术人员亟需解决的问题。

发明内容

本发明的实施例提供一种液晶特性测试装置和方法以及显示面板和制造方法，用于接对液晶显示设备内的液晶特性进行测试。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

第一方面，提供一种液晶特性测试装置，用于对液晶显示面板内的液晶的特性进行测试，所述液晶显示面板的公共电极和像素电极位于液晶层的同一侧，包括：设置于所述液晶显示面板的阵列基板上的测试电极、引线和测试元件组(英文全称：Test Element Group，简称：TEG)，所述测试电极设置于所述显示面板的封框胶外侧，所述测试元件组设置于所述显示面板的布线区域，所述引线穿过封框胶电连接所述测试电极和测试元件组；

所述测试电极包括：第一电极和第二电极；所述引线包括：第一引线和第二引线；所述测试元件组包括：第一透明电极图案、第二透明电极图案以及位于所述第一透明电极图案和第二透明电极图案之间的绝缘结构；

所述第一电极通过第一引线电连接所述第一透明电极图案，用于通过第一引线对所述第一透明电极图案加载电信号；

所述第二电极通过第二引线电连接所述第二透明电极图案，用于通过第二引线对所述第二透明电极图案加载电信号。

可选的，所述第一透明电极图案为面状透明电极图案，所述第二透明电极图案为梳齿状透明电极图案。

可选的，所述第一透明电极图案的面积大于所述像素电极的面积，所述第二透明电极图案的面积大于所述像素电极的面积。

可选的，所述第二透明电极图案的梳齿宽度与所述像素电极的宽度相同，所述第二透明电极图案的梳齿延伸方向与所述像素电极的延伸方向相同。

可选的，封框胶区域的所述第一引线和所述第二引线上设置有缝隙。

可选的，位于所述第一透明电极图案和所述第二透明电极图案之间的所述绝缘结构包括：第一绝缘结构和第二绝缘结构；

所述第一电极包括：第一金属结构和第三透明电极图案，所述第一金属结构通过过孔与所述第三透明电极图案电连接；

所述第二电极包括：第二金属结构和第四透明电极图案，所述第二金属结构通过过孔与所述第四透明电极图案电连接；

所述第一绝缘结构与所述显示面板的栅绝缘层同层制作，述第二绝缘结构与所述显示面板的源漏绝缘层同层制作，所述第一金属结构与所述第一引线同层制作，所述第二金属结构与所述第二引线同层制作，第三透明电极图案、第四透明电极图案与所述第二透明电极图案同层制作。

可选的，所述第一透明电极图案与所述公共电极同层制作，所述第一引线、所述第一金属结构与所述显示面板的栅金属层同层制作，所述第二引线、所述第二金属结构与所述显示面板的源漏金属层同层制作，所述第二透明电极图案、所述第三透明电极图案、所述第四透明电极图案与所述像素电极同层制作。

第二方面，提供一种应用于第一方面任一项所述的液晶特性测试装置的液晶特性测试方法，包括：

通过第一电极对第一透明电极图案加载第一电信号，通过第二电极对第二透明电极图案加载第一电信号；所述第一电极与第一透明电极图案通过第一引线电连接，所述第二电极与第二透明电极图案通过第二引线电连接；

加载第一电信号的第一透明电极图案和加载第二电信号的第二透明电极图案之间产生电场；

所述电场使所述液晶层的液晶分子发生偏转；

通过检测所述液晶分子的偏转特性获取液晶特性。

第三方面，提供一种液晶显示面板，包括第一方面任一项所述的液晶特性测试装置。

第四方面，提供一种液晶显示面板的制造方法，包括：

在衬底基板上形成第一透明电极材料层，并通过构图工艺在所述第一透明电极材料层上形成公共电极和第一透明电极图案；

在形成有公共电极的和第一透明电极图案的衬底基板上形成第一金属材料层，并通过构图工艺在所述第一金属材料层上形成栅电极、栅线、第一引线和第一金属结构，所述第一引线电连接所述第一透明电极图案和第一金属结构；

制作覆盖所述栅电极、栅线、第一引线和第一金属结构的第一绝缘层；

在所述第一绝缘层上形成半导体有缘层；

在形成有半导体有缘层的衬底基板上形成第二金属材料层，并通过构图工艺在所述第二金属材料层上形成源电极、漏电极、数据线、第二引线和第二金属结构，所述第二引线电连接所述第二金属结构；

制作覆盖所述源电极、漏电极、数据线、第二引线和第二金属结构的第二绝缘层；

制作第一过孔、第二过孔、第三过孔和第四过孔；

第二绝缘层上形成第二透明电极材料层，并通过构图工艺在所述第二透明电极材料层上形成像素电极、第二透明电极图案、第二透明电极图案、所述第三透明电极图案、所述第四透明电极图案；所述像素电极通过第一过孔与所述漏电极电连接，所述第二透明电极图通过所述第二过孔与第二引线电连接，所述第一金属结构通过第三过孔与所述第三透明电极图案电连接，所述第二金属结构通过第四过孔与所述第四透明电极图案电连接。

本发明的实施例提供的液晶特性测试装置包括设置于所述液晶显示面板的阵列基板上的测试电极、引线和测试元件组，所述测试电极设置于所述显示面板的封框胶外侧，所述测试元件组设置于所述显示面板的布线区域，所述引线穿过封框胶电连接所述测试电极和测试元件组，测试元件组包括：第一透明电极图案、第二透明电极图案以及位于第一透明电极图案和第二透明电极图案之间的绝缘层；测试电极包括第一电极和第二电极，引线包括第一引线和第二引线，第一电极通过第一引线电连接所述第一透明电极图案，第二电极通过第二引线电连接第二透明电极图案，所以可以在进行液晶特性测试时，通过第一电极和第二电极分别对第一透明电极图案和第二透明电极图案加载电信号，使第一透明电极图案与第二透明电极图案之间产生电场，进而使液晶产生偏转，并通对液晶偏转的检测获取液晶特性，本发明的实施例可以直接对液晶显示设备内的液晶特性进行测试，所以可以使液晶特性测试更加准确。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的液晶特性测试装置示意性结构图；

图2为本发明实施例提供的图1中A-A’垂直截面的剖面图；

图3为本发明实施例提供的封框胶区域的第一引线和第二引线的示例性结构图；

图4为本发明实施例提供的TEG的示意性结构图；

图5为本发明实施例提供的第一电极的示意性结构图；

图6为本发明实施例提供的第二电极的示意性结构图；

图7为本发明实施例提供的液晶特性测试方法的步骤流程图；

图8为本发明实施例提供的液晶显示面板的制造方法的步骤流程图。

附图标记：

10-封框胶；

1-测试电极；

11-第一电极；

111-第一金属结构；

112第三透明电极图案；

12-第二电极；

121-第二金属结构；

122第四透明电极图案；

2-引线；

21-第一引线；

22-第二引线；

3-TEG；

31-第一透明电极图案；

32-第二透明电极图案；

33-绝缘结构；

331-第一绝缘结构；

332-第二绝缘结构。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例中的“上”、“下”以制造阵列基板时的先后顺序为准，例如，在上的图案是指相对在后形成的图案，在下的图案是指相对在先形成的图案。

本发明的实施例提供一种液晶特性测试装置，用于对液晶显示面板内的液晶的特性进行测试，该液晶显示面板的公共电极和像素电极位于液晶层的同一侧。

需要说明的是，公共电极和像素电极位于液晶层的同一侧的显示装置包括主要包括：平面转换(英文全称：In Plane Switching，简称：IPS)模式显示装置和边缘场开关(英文全称：Fringe FieldSwitching，简称：FFS)模式显示装置。IPS技术以及FFS技术，均属于LCD面板广视角技术的一种，且IPS及FFS技术及原理上相近，都为通过位于液晶层同一侧的像素电极和公共电极产生电场平面，使液晶盒内液晶分子能够产生旋转，但IPS和FFS技术又有本质的不同。IPS技术将像素电极和公共电极在阵列基板的同一层间隔排列，因此IPS模式显示装置的施加电场方式是水平的，而FFS技术与IPS技术虽然同属于平面控制模式宽视角技术。但它首先是将IPS的不透明金属电极改为透明电极以增加透光率，另一方面，像素电极和公共电极不再间隔排列，而是将公共电极和像素电极通过绝缘层分离重叠排列，可大大缩小像素电极的宽度和间距，这样通电时，在电场作用下电极间和电极上的液晶分子均在平行于面板的面内旋转，保证在各个方向上光均穿过液晶分子的短轴，没有方向依赖性而扩大视角。FFS技术在实现宽视角的前提下，同时实现了高透光效率、高对比度、高亮度、低色差等优良特性。目前FFS模式显示装置能同时实现高穿透性与大视角等要求，因此备受相关业者高度重视。

具体的，参照图1所示，该液晶特性测试装置包括：设置于液晶显示面板的阵列基板上的测试电极1、引线2和TEG 3，测试电极1设置于显示面板的封框胶10外侧，TEG 3设置于显示面板的布线区域，引线2穿过封框胶10电连接测试电极1和TEG 3；

测试电极1包括：第一电极11和第二电极12；引线2包括：第一引线21和第二引线22。

进一步的，参照图2所示，其中，图2为沿图1中A-A’垂直截面的剖面图，TEG 3包括：第一透明电极图案31、第二透明电极图案32以及位于第一透明电极图案31和第二透明电极图案32之间的绝缘结构33。示例性的，第一透明电极图案为面状图案，第二透明电极图案为梳齿状透明电极图案。

第一电极11通过第一引线21电连接第一透明电极图案31，用于通过第一引线21对第一透明电极图案31加载电信号；

第二电极12通过第二引线22电连接第二透明电极图案32，用于通过第二引线22对第二透明电极图案32加载电信号。

其中，布线区域通常包括源漏极驱动布线区域和栅极驱动布线区域，本发明对此不做限定。此外布线区域位于封框胶以内，即显示装置在布线区域垂直显示面板的方向上包含液晶。

示例性的，第一透明电极可以为铟锡氧化物(英文全称：IndiumTin Oxide，简称:ITO)或石墨烯，同样,第二透明电极也可以为ITO或石墨烯等。

本发明的实施例提供的液晶特性测试装置包括设置于液晶显示面板的阵列基板上的测试电极、引线和TEG，测试电极设置于显示面板的封框胶外侧，TEG设置于显示面板的布线区域，引线穿过封框胶电连接测试电极和TEG，TEG包括：第一透明电极图案、第二透明电极图案以及位于第一透明电极图案和第二透明电极图案之间的绝缘层；测试电极包括第一电极和第二电极，引线包括第一引线和第二引线，第一电极通过第一引线电连接第一透明电极图案，第二电极通过第二引线电连接第二透明电极图案，所以可以在进行液晶特性测试时，通过第一电极和第二电极分别对第一透明电极图案和第二透明电极图案加载电信号，使第一透明电极图案与第二透明电极图案之间产生电场，进而使液晶产生偏转，并通对液晶偏转的检测获取液晶特性，本发明的实施例可以直接对液晶显示设备内的液晶特性进行测试，所以可以使液晶特性测试更加准确。另外一方面，上述实施例提供的液晶特性测试装置中的TEG距离封框胶很近，所以可以更好的评价各材料中含有杂质时的析出物。

可选的，第一透明电极图案的面积大于像素电极的面积，第二透明电极图案的面积大于像素电极的面积。设置第一透明电极图案的面积大于像素电极的面积并且设置第二透明电极图案的面积大于像素电极的面积可以在液晶特性测试时放大实际的测试信号，最大化降低测试串扰，进而可以增加测试准确性。

进一步可选的，第二透明电极图案的梳齿宽度与像素电极的宽度相同，第二透明电极图案的梳齿延伸方向与像素电极的延伸方向相同。通过使第二透明电极图案的梳齿宽度与像素电极的宽度相同，并且使第二透明电极图案的梳齿延伸方向与像素电极的延伸方向相同，可以使第二透明电极图案与像素电极的形状更加接近，进而可以更真实的模拟像素电极，因此可以提高液晶特性测试的准确性。

示例性的，参照图3所示，封框胶10区域的第一引线21和第二引线22上设置有缝隙。在封框胶区域的第一引线和第二引线上设置缝隙，光可从第一引线以及第二引线上的缝隙透过，从而保证封框胶通过紫外线(英文全称：ultraviolet，简称：UV)固化，避免了因光线无法通过第一引线和第二引线造成的封框胶无法固化。

示例性的，参照图4所示，其中，图4为沿图1中A-A’垂直截面的剖面图，位于第一透明电极图案31和第二透明电极图案32之间的绝缘结构33包括：第一绝缘结构331和第二绝缘结构332；

参照图5所示，其中，图5为沿图1中B-B’垂直截面的剖面图，第一电极11包括：第一金属结构111和第三透明电极图案112，第一金属结构111通过过孔与第三透明电极图案112电连接；

参照图6所示，其中，图6为沿图1中C-C’垂直截面的剖面图，第二电极12包括：第二金属结构121和第四透明电极图案122，第二金属结构121通过过孔与第四透明电极图案122电连接。

其中，第一绝缘结构与显示面板的栅绝缘层同层制作，述第二绝缘结构与显示面板的源漏绝缘层同层制作，第一金属结构与第一引线同层制作，第二金属结构与第二引线同层制作，第三透明电极图案、第四透明电极图案与第二透明电极图案同层制作。

上述实施例提的液晶特性测试装置中，第一绝缘结构与显示面板的栅绝缘层同层制作，述第二绝缘结构与显示面板的源漏绝缘层同层制作，第一金属结构与第一引线同层制作，第二金属结构与第二引线同层制作，第三透明电极图案、第四透明电极图案与第二透明电极图案同层制作可以简化液晶特性测试装置的制作工艺流程。

进一步的，第一透明电极图案与公共电极同层制作，第一引线、第一金属结构与显示面板的栅金属层同层制作，第二引线、第二金属结构与显示面板的源漏金属层同层制作，第二透明电极图案、第三透明电极图案、第四透明电极图案与像素电极同层制作。

上述实施例提的液晶特性测试装置中，第一透明电极图案与公共电极同层制作，第一引线、第一金属结构与显示面板的栅金属层同层制作，第二引线、第二金属结构与显示面板的源漏金属层同层制作，第二透明电极图案、第三透明电极图案、第四透明电极图案与像素电极同层制作，所以液晶特性测试装置中各个结构均可以与显示面板的阵列基板上的结构同层制作形成，而无需增加新的工艺流程来制作液晶特性测试装置，所以上述实施例可以进一步简化液晶特性测试装置的制作工艺流程。

本发明一实施例提供一种应用于上述任一实施例提供的液晶特性测试装置的液晶特性测试方法。具体的，参照图7所示，该方法包括：

S701、通过第一电极对第一透明电极图案加载第一电信号，通过第二电极对第二透明电极图案加载第一电信号；第一电极与第一透明电极图案通过第一引线电连接，第二电极与第二透明电极图案通过第二引线电连接。

示例性的，第一电信号可以为液晶显示面板的公共电极电压，第二电信号可以为液晶显示面板的像素电极为高电平时的电压，当然第一电信号和第二电信号还可以为其他电信号，本文在此不对第一电信号和第二电信号做限定，以第一透明电极图案和第二透明电极图案之间可以产生用于测试的电场即可。

S702、加载第一电信号的第一透明电极图案和加载第二电信号的第二透明电极图案之间产生电场。

S703、电场使液晶层的液晶分子发生偏转。

S704、通过检测液晶分子的偏转特性获取液晶特性。

本发明的实施例提供的液晶特性测试方法，首先通过第一电极对第一透明电极图案加载第一电信号，通过第二电极对第二透明电极图案加载第二电信号，从而使加载第一电信号的第一透明电极图案和加载第二电信号的第二透明电极图案产生电场，然后再通过电场使液晶分子发生偏转，最后通过检测液晶分子的偏转特性获取液晶特性，所以本发明的实施例可以以本发明的实施例可以直接对液晶显示面板内的液晶特性进行测试。

本发明的实施例提供一种液晶显示面板，该液晶显示面板包括上述任一实施例提供的液晶特性测试装置。该液晶测试装置可以为显示装置可以为液晶显示器、液晶电视、数码相机、手机、平板电脑等任何具有显示功能的产品或者部件。

本发明的实施例提供的液晶特显示面板中的液晶特性测试装置包括设置于液晶显示面板的阵列基板上的测试电极、引线和TEG，测试电极设置于显示面板的封框胶外侧，TEG设置于显示面板的布线区域，引线穿过封框胶电连接测试电极和TEG，TEG包括：第一透明电极图案、第二透明电极图案以及位于第一透明电极图案和第二透明电极图案之间的绝缘层；测试电极包括第一电极和第二电极，引线包括第一引线和第二引线，第一电极通过第一引线电连接第一透明电极图案，第二电极通过第二引线电连接第二透明电极图案，所以可以在进行液晶特性测试时，通过第一电极和第二电极分别对第一透明电极图案和第二透明电极图案加载电信号，使第一透明电极图案与第二透明电极图案之间产生电场，进而使液晶产生偏转，并通对液晶偏转的检测获取液晶特性，本发明的实施例可以直接对液晶显示设备内的液晶特性进行测试，所以可以使液晶特性测试更加准确。

本发明一实施例提供一种液晶显示面板的制造方法，该液晶显示面板的制造方法用于制作上述实施例提供的液晶显示面板。需要说明的是该液晶显示面板的制造方法中用到的构图工艺通常包括清洗、成膜、光刻胶涂覆、曝光、显影、刻蚀、光刻胶剥离等工序；对于金属层通常采用物理气相沉积方式(例如：磁控溅射法)成膜，通过湿法刻蚀形成图形，而对于非金属层通常采用化学气相沉积方式成膜，通过干法刻蚀形成图形。当然步骤下述中，除了可采用上述构图工艺形成各个结构外还可以通过纳米压印、光衍射干刻、电子束直写等构图工艺形成，本文在此不作限定。具体的，参照图8所示，该液晶显示面板的制造方法包括：

S801、在衬底基板上形成第一透明电极材料层，并通过构图工艺在第一透明电极材料层上形成公共电极和第一透明电极图案。

S802、在形成有公共电极的和第一透明电极图案的衬底基板上形成第一金属材料层，并通过构图工艺在第一金属材料层上形成栅电极、栅线、第一引线和第一金属结构，第一引线电连接第一透明电极图案和第一金属结构。

S803、制作覆盖栅电极、栅线、第一引线和第一金属结构的第一绝缘层。

S804、在第一绝缘层上形成半导体有缘层。

S805、在形成有半导体有缘层的衬底基板上形成第二金属材料层，并通过构图工艺在第二金属材料层上形成源电极、漏电极、数据线、第二引线和第二金属结构，第二引线电连接第二金属结构。

S806、制作覆盖源电极、漏电极、数据线、第二引线和第二金属结构的第二绝缘层。

S807、制作第一过孔、第二过孔、第三过孔和第四过孔。

S808、在第二绝缘层上形成第二透明电极材料层，并通过构图工艺在第二透明电极材料层上形成像素电极、第二透明电极图案、第二透明电极图案、第三透明电极图案、第四透明电极图案；像素电极通过第一过孔与漏电极电连接，第二透明电极图通过第二过孔与第二引线电连接，第一金属结构通过第三过孔与第三透明电极图案电连接，第二金属结构通过第四过孔与第四透明电极图案电连接。

上述实施例提供的液晶显示面板的制造方法，在制作液晶显示面板的阵列基板的同时制作液晶特性测试装置，从而可以对液晶显示面板的液晶特性进行测试，使液晶特性测试更加准确，且液晶特性测试装置的各结构均与液晶显示面板的阵列基板同层制作形成，即不用额外增加构图工艺即可制作上述实施例所提供的液晶显示面板，所以本发明实施例提供的液晶显示面板的制造方法可以节省液晶显示面板制作的工艺流程。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种液晶特性测试装置，用于对液晶显示面板内的液晶特性进行测试，所述液晶显示面板的公共电极和像素电极位于液晶层的同一侧，其特征在于，包括：设置于所述液晶显示面板的阵列基板上的测试电极、引线和测试元件组，所述测试电极设置于所述显示面板的封框胶外侧，所述测试元件组设置于所述显示面板的布线区域，所述引线穿过封框胶电连接所述测试电极和测试元件组；

所述测试电极包括：第一电极和第二电极；所述引线包括：第一引线和第二引线；所述测试元件组包括：第一透明电极图案、第二透明电极图案以及位于所述第一透明电极图案和第二透明电极图案之间的绝缘结构；

所述第一电极通过第一引线电连接所述第一透明电极图案，用于通过第一引线对所述第一透明电极图案加载电信号；

所述第二电极通过第二引线电连接所述第二透明电极图案，用于通过第二引线对所述第二透明电极图案加载电信号。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一透明电极图案为面状透明电极图案，所述第二透明电极图案为梳齿状透明电极图案。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述第一透明电极图案的面积大于所述像素电极的面积，所述第二透明电极图案的面积大于所述像素电极的面积。

4.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述第二透明电极图案的梳齿宽度与所述像素电极的宽度相同，所述第二透明电极图案的梳齿延伸方向与所述像素电极的延伸方向相同。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，封框胶区域的所述第一引线和所述第二引线上设置有缝隙。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，位于所述第一透明电极图案和所述第二透明电极图案之间的所述绝缘结构包括：第一绝缘结构和第二绝缘结构；

所述第一电极包括：第一金属结构和第三透明电极图案，所述第一金属结构通过过孔与所述第三透明电极图案电连接；

所述第二电极包括：第二金属结构和第四透明电极图案，所述第二金属结构通过过孔与所述第四透明电极图案电连接；

其中，所述第一绝缘结构与所述显示面板的栅绝缘层同层制作，述第二绝缘结构与所述显示面板的源漏绝缘层同层制作，所述第一金属结构与所述第一引线同层制作，所述第二金属结构与所述第二引线同层制作，第三透明电极图案、第四透明电极图案与所述第二透明电极图案同层制作。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一透明电极图案与所述公共电极同层制作，所述第一引线、所述第一金属结构与所述显示面板的栅金属层同层制作，所述第二引线、所述第二金属结构与所述显示面板的源漏金属层同层制作，所述第二透明电极图案、所述第三透明电极图案、所述第四透明电极图案与所述像素电极同层制作。

8.一种应用于权利要求1-7任意一项所述的液晶特性测试装置的液晶特性测试方法，其特征在于，包括：

通过第一电极对第一透明电极图案加载第一电信号，通过第二电极对第二透明电极图案加载第一电信号；所述第一电极与第一透明电极图案通过第一引线电连接，所述第二电极与第二透明电极图案通过第二引线电连接；

加载第一电信号的第一透明电极图案和加载第二电信号的第二透明电极图案之间产生电场；

所述电场使所述液晶层的液晶分子发生偏转；

通过检测所述液晶分子的偏转特性获取液晶特性。

9.一种液晶显示面板，其特征在于，包括权利要求1-7任一项所述的液晶特性测试装置。

10.一种液晶显示面板的制造方法，其特征在于，包括：

在衬底基板上形成第一透明电极材料层，并通过构图工艺在所述第一透明电极材料层上形成公共电极和第一透明电极图案；

在形成有公共电极的和第一透明电极图案的衬底基板上形成第一金属材料层，并通过构图工艺在所述第一金属材料层上形成栅电极、栅线、第一引线和第一金属结构，所述第一引线电连接所述第一透明电极图案和第一金属结构；

制作覆盖所述栅电极、栅线、第一引线和第一金属结构的第一绝缘层；

在所述第一绝缘层上形成半导体有缘层；

在形成有半导体有缘层的衬底基板上形成第二金属材料层，并通过构图工艺在所述第二金属材料层上形成源电极、漏电极、数据线、第二引线和第二金属结构，所述第二引线电连接所述第二金属结构；

制作覆盖所述源电极、漏电极、数据线、第二引线和第二金属结构的第二绝缘层；

制作第一过孔、第二过孔、第三过孔和第四过孔；

在第二绝缘层上形成第二透明电极材料层，并通过构图工艺在所述第二透明电极材料层上形成像素电极、第二透明电极图案、第二透明电极图案、所述第三透明电极图案、所述第四透明电极图案；所述像素电极通过第一过孔与所述漏电极电连接，所述第二透明电极图通过所述第二过孔与第二引线电连接，所述第一金属结构通过第三过孔与所述第三透明电极图案电连接，所述第二金属结构通过第四过孔与所述第四透明电极图案电连接。