CN104793372B - 不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法，该方法中上位机通过网络连接图形发生器和液晶模组制造执行***服务器，用户通过外部文本编辑工具根据特定的格式编辑缺陷等级初始化文件，实现在线模式下的液晶模组缺陷等级判定功能，上位机程序通过解析用户自定义编辑的缺陷等级初始化文件，把适合当前产线的缺陷等级及缺陷代码显示给用户，供用户选择，不再由上位机程序内部写入，降低了上位机程序的代码量。

Description

不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法
技术领域
本发明涉及液晶模组测试技术领域，具体地指一种不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法。
背景技术
目前，由于不同产线的液晶模组的缺陷等级判断模式各不相同，同一种等级的缺陷类型(Category)、缺陷名称(Defect)和缺陷描述(Description)也各不相同，所以都需要特定的缺陷等级判断模式与之对应，现有方法用上位机程序内部代码根据宏定义完成不同缺陷等级的兼容，这种方法存在以下几个方面的弊端：
(1)上位机程序内部代码的代码量巨大，维护不方便；
(2)不同液晶模组产线需要对应特定版本的上位机程序，不方便管理；
(3)应用环境多，上位机程序需要频繁改动。
发明内容
本发明的目的就是要提供一种不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法，该方法能解决目前为了应对产线差异而频繁修改上位机程序的问题,本发明能灵活兼容各种产线的缺陷等级判断模式需求，减少上位机程序的代码量。
为实现此目的，本发明所设计的一种不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法，其特征在于，它包括如下步骤：
步骤1：在上位机上层应用软件的***配置初始化文件中根据当前液晶模组的尺寸及信号类型，配置当前液晶模组所需的缺陷等级，然后在上位机上层应用软件的缺陷等级文件夹下，通过外部文本编辑工具编辑与上述当前液晶模组产线所需缺陷等级对应的缺陷等级初始化文件，再将当前液晶模组产线所需缺陷等级与对应的缺陷等级初始化文件通过文件名匹配的形式进行匹配；
步骤2：在上位机外部文本编辑工具中对上述生成的缺陷等级初始化文件进行编辑，上述缺陷等级初始化文件编辑过程采用如下的分级阵列编辑模式；
由于缺陷等级由缺陷类型、缺陷名称和缺陷描述这三级组成，所以缺陷等级初始化文件分为对应的三级界面进行编辑，其中的第一级界面为缺陷类型编辑界面，第二级界面为缺陷名称编辑界面，第三级界面为缺陷描述编辑界面；
步骤3：在上位机外部文本编辑工具中将上述缺陷类型编辑界面中的长度键值内的行数和列数根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》进行设置，长度键值内的行数和列数表示缺陷类型的矩阵，同时，根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》对缺陷类型编辑界面中的矩阵键值及该矩阵键值对应的缺陷类型进行设置；
步骤4：在上述缺陷名称编辑界面中，根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》设置上述缺陷类型编辑界面内的每个缺陷类型所对应的缺陷名称，同时，在缺陷名称编辑界面的长度键值内设置上述每个缺陷类型所对应缺陷名称的矩阵行数和列数；
步骤5：在上述缺陷描述编辑界面中，根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》设置上述缺陷名称编辑界面内每个缺陷名称对应的缺陷描述；
步骤6：在上位机上层应用软件的缺陷等级判定界面中，上位机程序根据当前液晶模组的配置初始化文件中设置的缺陷等级，显示出当前液晶模组所需的缺陷等级，上位机解析步骤2～5编辑的缺陷等级初始化文件中的编辑内容，并找出当前液晶模组所需缺陷等级所对应的缺陷等级初始化文件编辑内容，供用户选择。
本发明的有益效果为：
1、减少上位机程序代码量；
以前的缺陷代码信息是在上位机上层应用程序中以添加代码方式实现，每当增加新的缺陷代码信息，就要在上位机上层应用程序中以添加代码，而本发明只需在缺陷等级初始化文件中完成新缺陷代码信息的添加，无需修改上层应用程序代码，减少代码量。
2、减少上位机程序版本数量，方便管理；
以前的缺陷代码信息是在上位机上层应用程序中以添加代码方式实现，每当增加新的缺陷代码信息，就要在上位机上层应用程序中以添加代码，而本发明只需在缺陷等级初始化文件中完成新缺陷代码信息的添加，无需修改上层应用程序代码，减少版本数量。
3、初始化文件可扩展性强。
如果需要其他形式的缺陷代码信息，只需在初始化文件里添加新的键值，在上层添加新的解析方法即可。
附图说明
图1为本发明应用环境的设备结构框图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步的详细说明：
本发明所基于的设备如图1所示，包括依次连接的液晶模组制造执行***服务器、上位机、图形发生器和液晶模组。本方案可以通过人工自定义编辑修正代码初始化文件，把以前上位机程序内部所做的工作移到外部初始化文件，快速修改修正代码，灵活便捷。
本发明的方案为上位机通过网络连接图形发生器和液晶模组制造执行***服务器(MES，manufacturing execution system)，用户通过外部文本编辑工具根据特定的格式编辑缺陷等级初始化文件，实现在线模式下的液晶模组缺陷等级判定功能，上位机程序通过解析用户自定义编辑的缺陷等级初始化文件，把适合当前产线的缺陷等级及缺陷代码显示给用户，供用户选择，不再由上位机程序内部写入，降低了上位机程序的代码量。
不同产线液晶模组的缺陷等级判定的具体方法，包括如下步骤：
步骤1：在上位机上层应用软件的***配置初始化文件中根据当前液晶模组的尺寸及信号类型，配置当前液晶模组所需的缺陷等级，然后在上位机上层应用软件的缺陷等级(DefectCode)文件夹下，通过外部文本编辑工具(如UltraEdit文本编辑器，windows自带的记事本工具等)编辑与上述当前液晶模组产线所需缺陷等级对应的缺陷等级初始化文件，再将当前液晶模组产线所需缺陷等级与对应的缺陷等级初始化文件通过文件名匹配的形式进行匹配(对于不同的液晶模组生产线和不同类型的液晶模组只需配置对应的缺陷等级即可，无需修改上层应用程序代码，减少了代码量)；
步骤2：在上位机外部文本编辑工具中对上述生成的缺陷等级初始化文件进行编辑，上述缺陷等级初始化文件编辑过程采用如下的分级阵列编辑模式；
由于缺陷等级由缺陷类型(Category)、缺陷名称(Defect)和缺陷描述(Description)这三级组成，所以缺陷等级初始化文件分为对应的三级界面进行编辑，其中的第一级界面为缺陷类型编辑界面，第二级界面为缺陷名称编辑界面，第三级界面为缺陷描述编辑界面；
步骤3：在上位机外部文本编辑工具中将上述缺陷类型编辑界面中的长度键值内的行数和列数根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》进行设置，长度键值内的行数和列数表示缺陷类型的矩阵，同时，根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》对缺陷类型编辑界面中的矩阵键值及该矩阵键值对应的缺陷类型进行设置；
步骤4：在上述缺陷名称编辑界面中，根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》设置上述缺陷类型编辑界面内的每个缺陷类型所对应的缺陷名称，同时，在缺陷名称编辑界面的长度键值内设置上述每个缺陷类型所对应缺陷名称的矩阵行数和列数；
步骤5：在上述缺陷描述编辑界面中，根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》设置上述缺陷名称编辑界面内每个缺陷名称对应的缺陷描述，如“Matrix(1,1)＝黑Gap:MG01”表示第1行第1列的缺陷描述(Description)为”黑Gap:MG01”；
步骤6：在上位机上层应用软件的缺陷等级判定界面中，上位机程序根据当前液晶模组的配置初始化文件中设置的缺陷等级，显示出当前液晶模组所需的缺陷等级，上位机解析步骤2～5编辑的缺陷等级初始化文件中的编辑内容，并找出当前液晶模组所需缺陷等级所对应的缺陷等级初始化文件编辑内容，供用户选择；
步骤7：上位机记录步骤6中用户选择的缺陷等级初始化文件编辑内容，并将步骤6中用户选择的缺陷等级初始化文件编辑内容上传给液晶模组制造执行***服务器。
上述技术方案的步骤7中，将用户选择的缺陷等级初始化文件编辑内容通过数据包协议传给液晶模组制造执行***服务器。该液晶模组制造执行***服务器用于存档所有液晶模组的测试数据，并跟踪液晶模组的生产进度，库存情况和工作进度。
上述技术方案中，所述步骤3中长度键值内的行数和列数设置为Length＝5,1，表示一级界面有5行1列个缺陷类型，缺陷类型编辑界面中的矩阵键值及该矩阵键值对应的缺陷类型设置为Matrix h(1,1)＝Mura”表示第1行第1列的缺陷类型为彩晕。
上述技术方案中，所述步骤4中，在缺陷类型为彩晕处设置Mura这个缺陷类型对应的缺陷名称，在缺陷类型彩晕后面的长度键值内设置缺陷名称Mura在缺陷类型矩阵中对应的行数和列数，如“Matrix(1,1)＝Gap”表示第1行第1列的缺陷名称(Defect)为”Gap(间隙)”。
上述步骤6和步骤7的操作在上位机上层应用软件和图形发生器以及液晶模组制造执行***服务器内共同完成。
本方案可以通过人工自定义编辑缺陷等级初始化文件，把以前上位机程序内部所做的工作移到外部初始化文件，快速修改缺陷等级及缺陷代码，灵活便捷。
本说明书未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。

Claims (4)

1.一种不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法，其特征在于，它包括如下步骤：
步骤1：在上位机上层应用软件的***配置初始化文件中根据当前液晶模组的尺寸及信号类型，配置当前液晶模组所需的缺陷等级，然后在上位机上层应用软件的缺陷等级文件夹下，通过外部文本编辑工具编辑与上述当前液晶模组产线所需缺陷等级对应的缺陷等级初始化文件，再将当前液晶模组产线所需缺陷等级与对应的缺陷等级初始化文件通过文件名匹配的形式进行匹配；
步骤2：在上位机外部文本编辑工具中对生成的上述缺陷等级初始化文件进行编辑，上述缺陷等级初始化文件编辑过程采用如下的分级阵列编辑模式；
由于缺陷等级由缺陷类型、缺陷名称和缺陷描述这三级组成，所以缺陷等级初始化文件分为对应的三级界面进行编辑，其中的第一级界面为缺陷类型编辑界面，第二级界面为缺陷名称编辑界面，第三级界面为缺陷描述编辑界面；
步骤3：在上位机外部文本编辑工具中将上述缺陷类型编辑界面中的长度键值内的行数和列数根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》进行设置，长度键值内的行数和列数表示缺陷类型的矩阵，同时，根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》对缺陷类型编辑界面中的矩阵键值及该矩阵键值对应的缺陷类型进行设置；
步骤4：在上述缺陷名称编辑界面中，根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》设置上述缺陷类型编辑界面内的每个缺陷类型所对应的缺陷名称，同时，在缺陷名称编辑界面的长度键值内设置上述每个缺陷类型所对应缺陷名称的矩阵行数和列数；
步骤5：在上述缺陷描述编辑界面中，根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》设置上述缺陷名称编辑界面内每个缺陷名称对应的缺陷描述；
步骤6：在上位机上层应用软件的缺陷等级判定界面中，上位机程序根据当前液晶模组的配置初始化文件中设置的缺陷等级，显示出当前液晶模组所需的缺陷等级，上位机解析步骤2～5编辑的缺陷等级初始化文件中的编辑内容，并找出当前液晶模组所需缺陷等级所对应的缺陷等级初始化文件编辑内容，供用户选择；
步骤7：上位机记录步骤6中用户选择的缺陷等级初始化文件编辑内容，并将步骤6中用户选择的缺陷等级初始化文件编辑内容上传给液晶模组制造执行***服务器；
步骤6和步骤7的操作在上位机上层应用软件和图形发生器以及液晶模组制造执行***服务器内共同完成。
2.根据权利要求1所述的不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法，其特征在于：所述步骤7中，将用户选择的缺陷等级初始化文件编辑内容通过数据包协议传给液晶模组制造执行***服务器。
3.根据权利要求1所述的不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法，其特征在于：所述步骤3中长度键值内的行数和列数设置为Length＝5,1，表示一级界面有5行1列个缺陷类型，缺陷类型编辑界面中的矩阵键值及该矩阵键值对应的缺陷类型设置为Matrix h(1,1)＝Mura”表示第1行第1列的缺陷类型为彩晕。
4.根据权利要求1所述的不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法，其特征在于：所述步骤4中，在缺陷类型为彩晕处设置Mura这个缺陷类型对应的缺陷名称，在缺陷类型彩晕后面的长度键值内设置缺陷名称Mura在缺陷类型矩阵中对应的行数和列数。
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