发明内容
有必要提供一种使用方便测试显卡的金手指的测试装置。
一种显卡测试装置,用于测试一显卡两侧的金手指,该显卡测试装置包括一安装架、设于该安装架相对的两侧的一第一框体及一第二框体、滑动地设于该安装架与该第一框体之间的一第一滑动件、滑动地设于该安装架与该第二框体之间的一第二滑动件及一驱动该第一滑动件及第二滑动件滑动的驱动组件,该安装架开设一插接槽,该安装架于该插接槽相对的两内侧壁分别设有若干正对这些金手指侧的引脚,该第一框体沿该第一滑动件滑动的方向设有一导电的第一连接条,该第一连接条延伸出该第一框体而形成第一连接端,该第二框体沿该第二滑动件滑动的方向设有一导电的第二连接条,该第二连接条延伸出该第二框体而形成第二连接端,该第一滑动件及第二滑动件分别包括一导电弹片,第一滑动件的导电弹片的两端可滑动地接触一引脚及第一连接条,第二滑动件的导电弹片的两端可滑动地接触一引脚及第二连接条。
相较现有技术,本发明显卡测试装置的第一连接端通过第一滑动件电性连接于该安装架一侧的引脚,该第二连接端通过第二滑动件电性连接于该安装架另一侧的引脚,该驱动组件驱动该第一滑动件及第二滑动件滑动地连接安装架两侧的引脚,示波器的探针连接于该第一连接端及第二连接端,能方便地测试显卡对应的金手指的。
具体实施方式
请参阅图1,本发明显卡测试装置100的较佳实施方式用以测试一显卡300(参阅图10),该显卡300包括一板体302、设于该板体302下部的一插接部303及设于该插接部303相对的两侧的若干金手指305。该显卡测试装置100包括一安装架20、一长方形的第一框体30、一长方形的第二框体40、一第一滑动件50、一第二滑动件60及一驱动组件70。
请参阅图2,该安装架20包括一长方形的安装板21、凸设于该安装板21顶部并沿该安装板21的长度方向延伸的一定位条22、凸设于该安装板21底部的一插接板23、设于该安装板21前端的一连接部25及自该安装板21的后端底部的两侧垂直向外凸设的两支撑板26。该定位条22、连接部25及两支撑板26围成相对的两收容槽27。该定位条22的顶面沿该安装板21的长度方向开设一插接槽221。该安装板21于该插接槽221的两内侧壁设有若干金属的引脚222,且每一引脚222贯通该插接槽221与对应的收容槽27并延伸至插接板23。该连接部25的中部开设贯通左、右两侧面的一定位槽251,该连接部25的前端面的中部开设贯通该定位槽251的一安装槽252,该连接部25后端的中部开设贯通定位槽251及对应的收容槽27的缺口255。该安装板21的后端的两侧分别开设两螺孔215,该连接部25的两侧于该安装槽252的两侧分别开设一螺孔256,该连接部25的前端面于该安装槽252的两侧开设两螺孔257。该连接部25于该安装槽252相对的两内壁的中部开设两相对缺口258。该安装架20还包括一凸设于该连接部25的接地端29。
请参阅图3,该第一框体30包括一长方形的外板31、自该外板31后部的边缘垂直向内凸设一U形的凸缘32、自该外板31前部垂直向内凸设一卡块33及一导电的第一连接条35。该外板31、凸缘32及卡块33围成一滑槽36。该卡块33与凸缘32之间开设一贯通该滑槽36的入口37。该第一连接条35沿该外板31的长度方向固定于该外板31的内壁上且连通该滑槽36。该第一连接条35的一端延伸出该外板31的前端而形成一第一连接端351。该卡块33的中部开设一平行该第一连接条35的轴孔331。该外板31后端的凸缘32开设一正对该轴孔331的旋转孔311。该外板31两侧的凸缘32开设贯通该滑槽36及入口37的两导槽314。该外板31的前端及后端分别开设两通孔312。该外板31的中部沿其长度方向开设若干贯通该滑槽36的显示孔315。本实施方式中,该第一连接条35为一金属条。
请参阅图4,该第二框体40的结构与第一框体30的结构相同,该第二框体40包括一长方形的外板41、一凸缘42、一卡块43及一导电的第二连接条45。该外板41、凸缘42及卡块43围成一滑槽46。该卡块43与凸缘42之间开设一贯通该滑槽46的入口47。该第二连接条45沿该外板41的长度方向固定于该外板41的内壁上且连通该滑槽46。该第二连接条45的一端延伸出该外板41的前端而形成一第二连接端451。该卡块43的中部开设一平行该第二连接条45的轴孔431。该外板41两侧的凸缘42开设贯通该滑槽46及入口47的两导槽414。该外板41后端的凸缘42开设一正对该轴孔431的旋转孔411。该外板41的前端及后端分别开设两通孔412。本实施方式中,该第二连接条45为一金属条。
请参阅图5,该第一滑动件50包括一连接块51、自该连接块51的上、下两端向外延伸的两相对的导滑块52及设于该连接块51的导电弹片55。该导电弹片55的两端分别延伸出该连接块51的左右两侧而形成两弹性的接触部。该连接块51前侧的中部开设一穿通后侧的螺孔512。该连接块51的右侧面于该导电弹片55正下端设有一标识56。
请参阅图6,该第二滑动件60的结构与第一滑动件50的结构相同,该第二滑动件60包括一连接块61、自该连接块61的上、下两端向外延伸的两相对的导滑块62及设于该连接块61的导电弹片65。该导电弹片65的两端分别延伸出该连接块61的左右两侧而形成两弹性的接触部。该连接块61前侧的中部开设一穿通后侧的螺孔612。该第一滑动件50的螺孔512与该第二滑动件60的螺孔612相同。
请参阅图7,该驱动组件70包括两螺杆71、一上定位板72、一下定位板73及一操作件75。该操作件75包括一操作部751、自该操作部751向后延伸的一调节杆752及套设于该调节杆752上的第一齿轮755每一螺杆71包括一螺纹杆712、设于该螺纹杆712前端的一第二齿轮713及一设于该第二齿轮713后端的旋转部715。该上定位板72的中部开设一通孔721,该上定位板72的底部开设一收容口722。该下定位板73的中部开设一通孔731,该上定位板72的顶部开设一收容口732。
请参阅图8及图9,组装时,将操作件75的第一齿轮755收容于该安装架20的定位槽251内,使该操作件75的调节杆752可旋转地收容于该缺口258内且该操作件75的操作部751外露于该连接部25。将上定位板72紧贴该连接部25的前端使该调节杆752的上侧收容于该收容口722内且通孔721正对该连接部25的相应的螺孔257,一螺钉穿过该通孔721锁固于该螺孔257内。将下定位板73紧贴该连接部25的前端使该调节杆752的下侧收容于收容口732内且通孔731正对相应的螺孔257,一螺钉穿过该通孔731锁固于该螺孔257内。将第一滑动件50自该入口37可滑动地装设于第一框体30的滑槽36内使第一滑动件50的两导滑块52滑动地收容于导槽314内,且第一滑动件50的导电弹片55的其中一接触部滑动地抵接该第一连接条35,该第一滑动件50的标识56通过显示孔315能观察到。将其中一螺杆71的螺纹杆712该自该第一框体30的前端穿过轴孔331,并内螺过该第一滑动件50的螺孔512后,可旋转地***旋转孔311内。将第二滑动件60自该入口47可滑动地装设于第二框体40的滑槽46内使第二滑动件60的两导滑块62滑动地收容于导槽414内,且第二滑动件60的导电弹片65的其中一接触部滑动地抵接该第二连接条45。将另一螺杆71的螺纹杆712该自该第二框体40的前端穿过轴孔431,并螺过该第二滑动件60的螺孔612后,可旋转地***旋转孔411内。旋转两螺杆71使该第一滑动件50与对应的第二齿轮713之间的距离等于该第二滑动件60与对应的卡块第二齿轮713之间的距离。将该第一框体30收容于该安装架20的右侧的收容槽27内,使该螺杆71的第二齿轮713收容于该安装架20的定位槽251内并啮合于该操作件75的第一齿轮755,且螺纹杆712可旋转地收容于对应的缺口255内。此时,该第一框体30的通孔312正对该安装架20的螺孔256及螺孔215,若干螺钉穿过通孔312锁固于对应的螺孔256及螺孔215内。该第一框体30的显示孔315正对该安装架20的引脚222。将该第二框体40收容于该安装架20的左侧的收容槽27内,使该螺杆71的第二齿轮713收容于该安装架20的定位槽251内并啮合于该操作件75的第一齿轮755,且螺纹杆712可旋转地收容于对应的缺口255内。此时,该第二框体40的通孔412正对该安装架20的螺孔256及螺孔215,若干螺钉穿过通孔412锁固于对应的螺孔256及螺孔215内。旋转该操作件75可使该第一滑动件50及第二滑动件60同步滑动。
请参阅图10,使用时,将显卡300的插接部303***该显卡测试装置100的插接槽221内,使金手指305紧贴该安装架20的引脚222。将插接有显卡300的显卡测试装置100的插接板23***一电路板的连接器上。提供一示波器(图中未示),将该示波器的接地端连接于该显卡测试装置100的接地端29,将该示波器的两个测试端分别连接于该第一框体30的第一连接端351及第二框体40的第二连接端451。旋动该操作部751使该第一齿轮755旋转而驱动该两第二齿轮713同时旋转,该两螺杆71旋转而带动该第一滑动件50及第二滑动件60沿对应的螺纹杆712一并滑动,且该操作部751旋转一周能使第一滑动件50及第二滑动件60滑动的距离等于相邻的两引脚222之间的距离。该第一连接端351通过第一连接条35、导电弹片55及对应的引脚222电性连接于对应的金手指305,该第二连接端451通过第二连接条45、导电弹片65及对应的引脚222电性连接于对应的金手指305。此时,示波器可显示出该显卡300的对应金手指305的波形及电压值。通过该第一框体30上的显示孔315可观察到该第一滑动件50的标识56的位置,从而能确定该显卡测试装置100正在测量显卡300的金手指305的位置。