CN104730479A - 电流传感器的检测装置和方法 - Google Patents

Abstract

本发明提出一种电流传感器的检测装置和方法。检测装置包括：导体，穿插在待测电流传感器的磁环内；测试电流生成器，用于生成测试电流，并将测试电流施加在导体之上，以使待测电流传感器通过霍尔芯片对测试电流生成的磁场感应，从而生成输出电压；控制器，与待测电流传感器的输出端相连接，用于接收待测电流传感器生成的输出电压，并根据输出电压对待测电流传感器进行检测。本发明实施例的电流传感器的检测装置，通过将测试电流施加在导体上，使控制器根据霍尔芯片对测试电流生成的磁场感应而生成的输出电压，对待测电流传感器进行检测，提高了检测的准确性和可靠性，使检测电流传感器时更加简便、智能化，有效地减少了电流传感器不良品的漏检。

Description

电流传感器的检测装置和方法

技术领域

本发明涉及电流传感器技术领域，特别涉及一种电流传感器的检测装置和方法。

背景技术

目前，检测电流传感器是否为良品的方法主要通过检测内嵌在电流传感器磁芯缝隙中的霍尔芯片是否被压弯来实现。首先，给被测的电流传感器提供+/-15V的工作电压，其次用磁性螺丝刀调节电流传感器中的电位器（例如电阻值为200k欧姆的电位器），观看万用表的读数是否有正负输出。如果输出值不在±20mv范围内，将其调节至±20mv以内。然后将磁性螺丝刀***磁芯气隙内，即霍尔芯片的两侧，使霍尔芯片对磁性螺丝刀的磁场产生感应。此时，观看万用表上的数值是否在±10mv以内。当电流传感器处于静态工作时，用磁性螺丝刀当作一块磁铁，在电流传感器中的霍尔芯片处加一磁场。如果万用表读数超过±10mv，说明电流传感器中的霍尔芯片被压弯，则可判定该电流传感器为不良品；如果万用表读数在±10mv以内，则可判定该电流传感器为良品。

现有技术中存在的缺点是，上述的测试方法通过人工操作进行测试，可能会产生误差，导致准确性非常差。具体而言，当霍尔芯片所在位置处于磁芯气隙中磁场强度最强的位置时，可以粗略地反应出电流传感器的静态输出，并不能准确的检测出霍尔芯片是否被压弯。当霍尔芯片所在的位置并不是处于磁芯气隙中磁场强度最强的位置时，霍尔芯片两侧的磁场不平衡，所以电流传感器的静态输出超出范围。因此，当霍尔芯片所在的位置并不是处于磁芯气隙中磁场强度最强的位置时，现有的测试方法并不适用，无法准确地检测霍尔芯片是否被压弯。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决上述技术问题。

为此，本发明的第一个目的在于提出一种电流传感器的检测装置，通过测试电流生成器生成测试电流，并将该测试电流施加在导体上，控制器接收待测电流传感器生成的输出电压，并根据输出电压对待测电流传感器进行检测，提高了检测的准确性和可靠性，使得检测电流传感器时更加简便、智能化，有效地减少了电流传感器不良品的漏检。

本发明的第二个目的在于提出一种电流传感器的检测方法。

为达上述目的，根据本发明第一方面实施例提出了一种电流传感器的检测装置，包括：导体，所述导体穿插在待测电流传感器的磁环内；测试电流生成器，用于生成测试电流，并将所述测试电流施加在所述导体之上，以使所述待测电流传感器通过霍尔芯片对所述测试电流生成的磁场感应，从而生成输出电压；以及控制器，所述控制器与所述待测电流传感器的输出端相连接，用于接收所述待测电流传感器生成的输出电压，并根据所述输出电压对所述待测电流传感器进行检测。

本发明实施例的电流传感器的检测装置，通过测试电流生成器生成测试电流，并将该测试电流施加在导体上，控制器接收待测电流传感器生成的输出电压，并根据输出电压对待测电流传感器进行检测，提高了检测的准确性和可靠性，使得检测电流传感器时更加简便、智能化，有效地减少了电流传感器不良品的漏检。

本发明第二方面实施例提供了一种电流传感器的检测方法，包括以下步骤：将导体穿插在待测电流传感器的磁环内，并将测试电流生成器生成的测试电流施加在所述导体之上，以使所述待测电流传感器通过霍尔芯片对所述测试电流生成的磁场感应，从而生成输出电压，使所述待测电流传感器生成输出电压；控制与所述导体相连的所述测试电流生成器生成的测试电流；采集所述待测电流传感器生成的输出电压；根据所述输出电压对所述待测电流传感器进行检测。

本发明实施例的检测方法，通过对测试电流生成器电源的控制，使对待测电流传感器进行检测时，实现了控制测试电流生成器的自动开启或关闭，有效地防止了电路短接，提高了检测时的安全性；并通过对测试电流生成器生成的测试电流的自动调整，代替了手动旋钮调整测试电流，为检测提供了便利，而且提高了检测的准确性。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为根据本发明一个实施例的电流传感器的检测装置的结构示意图；

图2为根据本发明一个实施例的待测电流传感器的模型图；

图3为根据本发明一个具体实施例的电流传感器的检测装置的结构示意图；

图4为根据本发明一个实施例的电源控制模块的电路图；

图5为根据本发明一个实施例的电流调整模块的电路图；

图6为根据本发明另一个实施例的电流传感器的检测装置的结构示意图；

图7为根据本发明一个实施例的电流传感器的检测方法的流程图；

图8为根据本发明一个具体实施例的电流传感器的检测方法的流程图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

下面参考附图描述根据本发明实施例的电流传感器的检测装置和方法。

为使检测电流传感器的检测结果更加准确、更加可靠，本发明提出一种电流传感器的检测装置。

图1为根据本发明一个实施例的电流传感器的检测装置的结构示意图。

图2为根据本发明一个实施例的待测电流传感器的模型图。

如图1所示，根据本发明实施例的电流传感器的检测装置，包括：导体100、测试电流生成器200和控制器300。如图2所示，待测电流传感器可分为三部分，霍尔芯片10、磁芯20和磁芯气隙30。

导体100穿插在待测电流传感器的磁环内。其中，导体100可为铜条或者导线。

测试电流生成器200用于生成测试电流，并将测试电流施加在导体100之上，以使待测电流传感器通过霍尔芯片对测试电流生成的磁场感应，从而生成输出电压。

在本发明的实施例中，当测试电流生成器200将测试电流施加在导体100之上时，在导体100的周围生成一个磁场，该磁场分布在待测电流传感器的磁环内，以使待测电流传感器磁芯气隙30中的霍尔芯片10对导体100通以测试电流而生成的磁场产生感应，从而生成输出电压。其中，测试电流生成器200可为直流稳压电源。

控制器300与待测电流传感器的输出端相连接，用于接收待测电流传感器生成的输出电压，并根据输出电压对待测电流传感器进行检测。

在本发明的实施例中，以电流最大量程为100A（安培，电流单位）的待测电流传感器为例，在满量程的情况下，输出的电压为4V（伏特，电压单位）。因此，当测试电流为10A时，待测电流传感器输出的电压应为400mv（毫伏，1000mv=1v）。如果在测试电流上升到10A的时候，待测电流传感器输出的电压大于400mv，则说明待测电流传感器磁芯气隙30中的霍尔芯片10没有被压弯，由此可检测出待测电流传感器为良品。如果在测试电流上升到10A的时候，待测电流传感器输出的电压小于400mv，将对应的满量程电位器调节至最大值，如果仍小于400mv，则说明待测电流传感器磁芯气隙30中的霍尔芯片10被压弯，由此可检测出待测电流传感器为不良品。

本发明实施例的电流传感器的检测装置，通过测试电流生成器生成测试电流，并将该测试电流施加在导体上，控制器接收待测电流传感器生成的输出电压，并根据输出电压对待测电流传感器进行检测，提高了检测的准确性和可靠性，使得检测电流传感器时更加简便、智能化，有效地减少了电流传感器不良品的漏检。

图3为根据本发明一个具体实施例的电流传感器的检测装置的结构示意图。

如图3所示，根据本发明实施例的电流传感器的检测装置，包括：导体100、测试电流生成器200和控制器300。其中，控制器300，具体包括：电源控制模块310、电流调整模块320、第一采集模块330和检测模块340。

电源控制模块310用于控制测试电流生成器200的开启或关闭，也可以控制具有待测电流传感器的产品的电源的开启或关闭。图4为根据本发明一个实施例的电源控制模块的电路图。如图4所示，J1为一个电源连接器，J1的接口1与正电源VCC_15V相连，J1的接口4与负电源VCC_-15V相连，J1的接口2、3接地。正电源VCC_15V与两个并联的高精度采样电阻R1和R29的左端相连，高精度采样电阻R1和R29的左端还与输入电阻R2的上端相连，输入电阻R2的下端与电阻R4的上端相连，电阻R4的下端接地，输入电阻R2的下端还与运算放大器U12A的输入端正极相连，高精度采样电阻R1和R29的右端与输入电阻R3的上端相连，输入电阻R3的下端与运算放大器U12A的输入端负极相连，输入电阻R3的下端还与电阻R5的左端相连，电阻R5的右端与输出端PCM+相连，运算放大器U12A的上端与正电源VCC_15V相连，运算放大器U12A的下端接地，运算放大器U12A的右端与输出端PCM+相连，高精度采样电阻R1和R29的右端还与三极管P1的左端相连，三极管P1的左端还与电阻R23的左端相连，电阻R23的右端与三极管P1的下端相连，电阻R23的右端还与电阻R13的上端相连，电阻R13的下端与三极管Q9A的上端相连，三极管Q9A的下端接地，电源开关PW+_SW_ON/OFF与电阻R12的左侧连接，电阻R12的右侧与三极管Q9A的左侧连接，三极管P1的右端与输出正电源15V相连。负电源VCC_-15V与两个并联的高精度采样电阻R15和R30的左端相连，高精度采样电阻R15和R30的左端与输入电阻R16的下端相连，高精度采样电阻R15和R30的右端与输入电阻R17的下端相连，输入电阻R16的上端与运算放大器U12B的输入端负极相连，输入电阻R17的上端与运算放大器U12B的输入端正极相连，电阻R18的左端与负电源VCC_-15V相连，电阻R18的右端与运算放大器U12B的输入端正极相连，运算放大器U12B的上端接地，运算放大器U12B的下端与负电源VCC_-15V相连，运算放大器U12B的右端与输出端PCM-相连，高精度采样电阻R15和R30的右端还与电阻R8的下端、电阻R21的下端、三极管Q3A的下端相连，电阻R8的上端与电阻R6的右端、三极管Q10A的左端相连，电阻R6的左端与电源开关PW-_SW_ON/OFF相连，三极管Q10A的下端接地，三极管Q10A的上端与电阻R10的下端、电阻R14的左端相连，电阻R10的上端与VCC_5V相连，电阻R14的右端与电阻R20、三极管Q2A的左端相连，VCC_5V还与电阻R20的右端、三极管Q2A的上端相连，三极管Q2A的下端与电阻R24的左端相连，电阻R24的右端与电阻R21的上端、三极管Q3A的左端相连，三极管Q3A的上端与输出负电源-15V相连，三极管Q3A的上端还与电阻R22的下端相连，电阻R22的上端接地。其工作原理为，运算放大器U12A将两个高精度采样电阻R1和R29两端的电势差放大，并输出至输出端PCM+。对输出端PCM+的输出电压进行运算，根据运算出的高低电平，对前段电路是否短接进行判断。如果输出为高电平表示前段的电路无短接现象；如果输出为低电平表示前段的电路发生了短接现象。电源开关PW+_SW_ON/OFF用于判断输出端PCM+输出的高低电平，如果电源开关PW+_SW_ON/OFF接收到的是高电平，那么三极管Q9A导通，然后触发三极管P1导通，则输出正电源15V；如果电源开关PW+_SW_ON/OFF接收到的是低电平，那么正电源通路将关闭。运算放大器U12B将两个高精度采样电阻R15和R30两端的电势差放大，并输出至输出端PCM-。对输出端PCM-的输出电压进行运算，根据运算出的高低电平，对前段电路是否短接进行判断。如果输出为高电平表示前段的电路无短接现象；如果输出为低电平表示前段的电路发生了短接现象。电源开关PW-_SW_ON/OFF用于判断PCM-输出的高低电平，如果电源开关PW-_SW_ON/OFF接收到的是高电平，那么三极管Q10A导通，然后触发三极管Q2A和Q3A导通，则输出负电源-15V；如果电源开关PW-_SW_ON/OFF接收到的是低电平，那么负电源通路将关闭。

电流调整模块320用于调整测试电流生成器生成的测试电流的电流值。

在本发明的实施例中，测试电流生成器200具有调整电流的旋钮，用于手动调整测试电流的电流值。而电流调整模块320的作用是代替调整旋钮，对测试电流的电流值进行自动调整。图5为根据本发明一个实施例的电流调整模块的电路图。具体地，如图5所示，COMS双向模拟开关具有三个地址位：A、B、C；使能端INH；GND端；八个输入通道S1、S2、S3、S4、S5、S6、S7、S8；公共输出端COM；正极VDD和负极VSS。其中，GND端为接地端，使能端INH也始终接地，负极VSS与负电源VCC_-5V相连，正极VDD与正电源VCC_5V相连，电容C21的上端与负电源VCC_-5V相连，电容C21的下端接地，电容C16的左端与正电源VCC_5V相连，电容C16的右端接地，公共输出端COM与测试电流生成器200的旋钮相连。输入通道S1与电阻R43的下端、公共地DC_PW_-相连，输入通道S2与电阻R36的下端相连，输入通道S3与电阻R34的下端相连，输入通道S4与电阻R33的下端相连，输入通道S5与电阻R32的右端相连，输入通道S6与电阻R31的右端相连，输入通道S7与电阻R28的右端相连，输入通道S8与电阻R28的左端、电阻R27的左端相连，电阻R27与控制电源端DC_PW_+相连。其中，电阻R28、R31、R32、R33、R34、R36、R43依次串联，且电阻值相等。

表1为根据本发明一个实施例的COMS双向模拟开关的三个地址位的真值表。

表1

A	B	C	INH	开关条件
					0	0	0	0	1
0	0	1	0	2
					0	1	0	0	3
0	1	1	0	4
					1	0	0	0	5
1	0	1	0	6
					1	1	0	0	7
1	1	1	0	8

如表1所示，当A、B、C的值均为0时，输入通道S1与公共输出端COM接通；当A的值为0、B的值为0、C的值为1时，输入通道S2与COM端接通，以此类推。由于，电阻阵中R28、R31、R32、R33、R34、R36、R43的电阻值相等，所以依次选择输入通道时，测试电流的变化是等差的，从而实现测试电流的自动调整。

第一采集模块330用于采集待测电流传感器生成的输出电压。

在本发明的实施例中，当测试电流施加在导体100上时，待测电流传感器通过霍尔芯片10对测试电流生成的磁场感应，从而生成输出电压。控制器300中的第一采集模块300采集该输出电压，以使根据该输出电压对待测电流传感器进行检测。

检测模块340用于根据输出电压对待测电流传感器进行检测。

在本发明的实施例中，以电流最大量程为100A（安培，电流单位）的待测电流传感器为例，在满量程的情况下，输出的电压为4V（伏特，电压单位）。因此，当测试电流为10A时，待测电流传感器输出的电压应为400mv（毫伏，1000mv=1v）。如果在测试电流上升到10A的时候，待测电流传感器输出的电压大于400mv，则说明待测电流传感器磁芯气隙30中的霍尔芯片10没有被压弯，由此可检测出待测电流传感器为良品。如果在测试电流上升到10A的时候，待测电流传感器输出的电压小于400mv，将对应的满量程电位器调节至最大值，如果扔小于400mv，则说明待测电流传感器磁芯气隙30中的霍尔芯片10被压弯，由此可检测出待测电流传感器为不良品。

本发明实施例的电流传感器的检测装置，通过在控制器中加入电源控制模块，使对待测电流传感器进行检测时，实现了控制测试电流生成器的自动开启或关闭，有效地防止了电路短接，提高了检测时的安全性；通过电流调整模块，实现了对测试电流生成器生成的测试电流的自动调整，代替了手动旋钮调整测试电流，为检测提供了便利，而且提高了检测的准确性。

图6为根据本发明另一个实施例的电流传感器的检测装置的结构示意图。

如图6所示，根据本发明实施例的电流传感器的检测装置，包括：导体100、测试电流生成器200、控制器300和报警器400。其中，控制器300，具体包括：电源控制模块310、电流调整模块320、第一采集模块330、检测模块340、第二采集模块350和回路自检模块360。

具体地，第二采集模块350用于采集导体回路的电流和导体两端的电压。

在本发明的实施例中，通过采集导体100回路的电流和导体100两端的电压，以使检测装置能够进行自检，保证检测的正常进行。

回路自检模块360用于检测第二采集模块采集的导体回路的电流和导体两端的电压。

在本发明的实施例中，检测装置在检测待测电流传感器时，与此同时，回路自检模块360对导体100回路的电流和导体100两端的电压也进行自检，防止导体100回路出现电源短接现象。

报警器400用于当导体回路的电流小于测试电流，或导体两端的电压不为预设电压时，发出警告信息。举例来说，当测试电流生成器200生成的测试电流为10A时，导体100回路电流也应为10A，而导体100两端的电压也为对应的固定值。如果导体100回路电流小于10A或者导体100两端的电压不为对应的固定值时，报警器400发出警告信息。

本发明实施例的电流传感器的检测装置，通过回路自检模块对检测装置进行自检，保证检测的正常进行。当导体回路的电流或导体两端的电压不符合要求时，及时进行报警，有效地切断电源，避免待测电流传感器被烧毁，提高了检测时的安全性。

为实现控制测试电流生成器的自动开启或关闭，并对测试电流生成器生成的测试电流进行自动调整，有效地防止电路短接，提高检测时的安全性以及准确性，本发明提出一种电流传感器的检测方法。

图7为根据本发明一个实施例的电流传感器的检测方法的流程图。

如图7所示，根据本发明一个实施例的电流传感器的检测方法，包括以下步骤：

S701，将导体穿插在待测电流传感器的磁环内，并将测试电流生成器生成的测试电流施加在导体之上，使待测电流传感器生成输出电压。

在本发明的实施例中，将导体穿插在待测电流传感器的磁环内，以使待测电流传感器中的霍尔芯片对施加在导体之上的测试电流生成的磁场产生感应，从而生成输出电压。其中，导体可为铜条或者导线，测试电流生成器可为直流稳压电源。

S702，调整测试电流生成器生成的测试电流。

在本发明的实施例中，对测试电流的电流值进行自动调整。图5为根据本发明一个实施例的电流调整模块的电路图。具体地，如图5所示，电阻阵的一端与测试电流生成器的控制电源端DC_PW_+相连接，电阻阵的另一端与测试电流生成器的公共地DC_PW_-相连接，COMS双向模拟开关的COM口与测试电流生成器的旋钮相连接。其中，COMS双向模拟开关具有三个地址位：A、B、C；一个使能端INH（始终为0）；八个输入通道S1、S2、S3、S4、S5、S6、S7、S8和一个公共输出端COM。

表1为根据本发明一个实施例的COMS双向模拟开关的三个地址位的真值表。

表1

A	B	C	INH	开关条件
					0	0	0	0	1
0	0	1	0	2
					0	1	0	0	3
0	1	1	0	4
					1	0	0	0	5
1	0	1	0	6
					1	1	0	0	7
1	1	1	0	8

如表1所示，当A、B、C的值均为0时，输入通道S1与公共输出端COM接通；当A的值为0、B的值为0、C的值为1时，输入通道S2与COM端接通，以此类推。由于，电阻阵中R28、R31、R32、R33、R34、R36、R43的电阻值相等，所以依次选择输入通道时，测试电流的变化是等差的，从而实现测试电流的自动调整。

S703，采集待测电流传感器生成的输出电压。

在本发明的实施例中，当测试电流施加在导体上时，待测电流传感器通过霍尔芯片对测试电流生成的磁场感应，从而生成输出电压。通过采集装置采集该输出电压，以使根据该输出电压对待测电流传感器进行检测。

S704，根据输出电压对待测电流传感器进行检测。

在本发明的实施例中，以电流最大量程为100A（安培，电流单位）的待测电流传感器为例，在满量程的情况下，输出的电压为4V（伏特，电压单位）。因此，当测试电流为10A时，待测电流传感器输出的电压应为400mv（毫伏，1000mv=1v）。如果在测试电流上升到10A的时候，待测电流传感器输出的电压大于400mv，则说明待测电流传感器磁芯气隙中的霍尔芯片没有被压弯，由此可检测出待测电流传感器为良品。如果在测试电流上升到10A的时候，待测电流传感器输出的电压小于400mv，将对应的满量程电位器调节至最大值，如果扔小于400mv，则说明待测电流传感器磁芯气隙中的霍尔芯片被压弯，由此可检测出待测电流传感器为不良品。

本发明实施例的电流传感器的检测方法，通过对测试电流生成器电源的控制，使对待测电流传感器进行检测时，实现了控制测试电流生成器的自动开启或关闭，有效地防止了电路短接，提高了检测时的安全性；并通过对测试电流生成器生成的测试电流的自动调整，代替了手动旋钮调整测试电流，为检测提供了便利，而且提高了检测的准确性。

为使检测装置检测电流传感器的同时，能够对自身回路进行自检，避免待测电流传感器被烧毁，提高检测时的安全性，本发明提出一种电流传感器的检测方法。

图8为根据本发明一个具体实施例的电流传感器的检测方法的流程图。

如图8所示，根据本发明一个实施例的电流传感器的检测方法，包括以下步骤：

S801，将导体穿插在待测电流传感器的磁环内，并将测试电流生成器生成的测试电流施加在导体之上，使待测电流传感器生成输出电压。

在本发明的实施例中，将导体穿插在待测电流传感器的磁环内，以使待测电流传感器中的霍尔芯片对施加在导体之上的测试电流生成的磁场产生感应，从而生成输出电压。其中，导体可为铜条或者导线，测试电流生成器可为直流稳压电源。

S802，调整与导体相连的测试电流生成器生成的测试电流。

在本发明的实施例中，对测试电流的电流值进行自动调整。图5为根据本发明一个实施例的电流调整模块的电路图。具体地，如图5所示，电阻阵的一端与测试电流生成器的控制电源端DC_PW_+相连接，电阻阵的另一端与测试电流生成器的公共地DC_PW_-相连接，COMS双向模拟开关的COM口与测试电流生成器的旋钮相连接。其中，COMS双向模拟开关具有三个地址位：A、B、C；一个使能端INH（始终为0）；八个输入通道S1、S2、S3、S4、S5、S6、S7、S8和一个公共输出端COM。表1为根据本发明一个实施例的COMS双向模拟开关的三个地址位的真值表。

表1

A	B	C	INH	开关条件
					0	0	0	0	1
0	0	1	0	2
					0	1	0	0	3
0	1	1	0	4
					1	0	0	0	5
1	0	1	0	6
					1	1	0	0	7
1	1	1	0	8

如表1所示，当A、B、C的值均为0时，输入通道S1与公共输出端COM接通；当A的值为0、B的值为0、C的值为1时，输入通道S2与COM端接通，以此类推。由于，电阻阵中R28、R31、R32、R33、R34、R36、R43的电阻值相等，所以依次选择输入通道时，测试电流的变化是等差的，从而实现测试电流的自动调整。

S803，采集导体回路的电流和导体两端的电压。

S804，检测导体回路的电流和导体两端的电压。

在本发明的实施例中，在检测待测电流传感器时，与此同时，检测装置也对自身的导体回路的电流和导体两端的电压进行自检，防止导体回路出现电源短接现象。举例来说，当测试电流生成器生成的测试电流为10A时，导体回路电流也应为10A，而导体两端的电压也为对应的固定值。如果导体回路电流小于10A或者导体两端的电压不为对应的固定值时，发出警告信息。

本发明实施例的电流传感器的检测方法，通过回路自检模块对检测装置进行自检，保证检测的正常进行。当导体回路的电流或导体两端的电压不符合要求时，及时进行报警，有效地切断电源，避免待测电流传感器被烧毁，提高了检测时的安全性。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行***、装置或设备（如基于计算机的***、包括处理器的***或其他可以从指令执行***、装置或设备取指令并执行指令的***）使用，或结合这些指令执行***、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行***、装置或设备或结合这些指令执行***、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例（非穷尽性列表）包括以下：具有一个或多个布线的电连接部（电子装置），便携式计算机盘盒（磁装置），随机存取存储器（RAM），只读存储器（ROM），可擦除可编辑只读存储器（EPROM或闪速存储器），光纤装置，以及便携式光盘只读存储器（CDROM）。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行***执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列（PGA），现场可编程门阵列（FPGA）等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。

此外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同限定。

Claims (10)

1.一种电流传感器的检测装置，其特征在于，包括：

导体，所述导体穿插在待测电流传感器的磁环内；

测试电流生成器，用于生成测试电流，并将所述测试电流施加在所述导体之上，以使所述待测电流传感器通过霍尔芯片对所述测试电流生成的磁场感应，从而生成输出电压；以及

控制器，所述控制器与所述待测电流传感器的输出端相连接，用于接收所述待测电流传感器生成的输出电压，并根据所述输出电压对所述待测电流传感器进行检测。

2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述控制器具体包括：

电源控制模块，用于控制所述测试电流生成器的开启或关闭；

电流调整模块，用于调整所述测试电流生成器生成的所述测试电流的电流值；

第一采集模块，用于采集所述待测电流传感器生成的输出电压；以及

检测模块，用于根据所述输出电压对所述待测电流传感器进行检测。

3.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述控制器具体还包括：

第二采集模块，用于采集所述导体回路的电流和所述导体两端的电压；

回路自检模块，用于检测所述第二采集模块采集的所述导体回路的电流和所述导体两端的电压。

4.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，还包括：

报警器，用于当所述导体回路的电流小于所述测试电流，或所述导体两端的电压不为预设电压时，发出警告信息。

5.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述导体为铜条或导线。

6.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述测试电流生成器为直流稳压电源。

7.一种电流传感器的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

将导体穿插在待测电流传感器的磁环内，并将测试电流生成器生成的测试电流施加在所述导体之上，以使所述待测电流传感器通过霍尔芯片对所述测试电流生成的磁场感应，从而生成输出电压；

调整所述测试电流生成器生成的测试电流；

采集所述待测电流传感器生成的输出电压；以及

根据所述输出电压对所述待测电流传感器进行检测。

8.如权利要求7所述的检测方法，其特征在于，还包括以下步骤：

采集所述导体回路的电流和所述导体两端的电压；

检测所述导体回路的电流和所述导体两端的电压；

当所述导体回路的电流小于所述测试电流，或所述导体两端的电压不为预设电压时，发出警告信息。

9.如权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述导体为铜条或导线。

10.如权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述测试电流生成器为直流稳压电源。