CN104700760B - 显示面板、检测电路与其检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种显示面板包含栅极线、数据线、第一测试垫、第二测试垫以及开关电路。栅极线用以自第一节点接收栅极驱动信号。数据线用以自第二节点接收数据信号。第一测试垫用以经由第一预留导线与第一传输路径中之一者传输栅极驱动信号至第一节点。第二测试垫用以经由第二预留导线与第二传输路径中之一者提供数据信号至第二节点。开关电路用以根据控制信号使第一传输路径选择性地连接至第一节点，并使第二传输路径选择性地连接至第二节点。第一测试垫经由第一预留导线连接至第一节点，且第二测试垫经由第二预留导线连接至第二节点。

Description

显示面板、检测电路与其检测方法
技术领域
本案是有关于一种显示面板，且特别是有关于具有检测电路的显示面板与其检测方法。
背景技术
随着电子商品市场的蓬勃发展，对于显示面板的需求越来越多。为了能够提升良率，在制造时通常会在显示面板中加入检测机制。
然而，目前的检测机制中，通常具有较大的导通阻抗，故必须采用具有较高电压电平的测试信号进行测试，以维持一定的驱动能力。另外，在检测机制与显示面板断开后，当显示面板还需要后续的检测时，无法有效地再度通过检测机制重新进行检测，造成后续的不便。
发明内容
为了解决上述问题，本发明内容的一态样提供了一种显示面板。显示面板包含栅极线、数据线、第一测试垫、第二测试垫以及开关电路。栅极线用以自第一节点接收栅极驱动信号。数据线用以自第二节点接收数据信号。第一测试垫用以经由第一预留导线与第一传输路径中之一者传输栅极驱动信号至第一节点。第二测试垫用以经由第二预留导线与第二传输路径中之一者提供数据信号至第二节点。开关电路用以根据控制信号使第一传输路径选择性地连接至第一节点，并使第二传输路径选择性地连接至第二节点。第一测试垫经由第一预留导线连接至第一节点，且第二测试垫经由第二预留导线连接至第二节点。
本发明内容的另一态样提供了一种检测电路。检测电路用以测试显示面板，且检测电路包含第一测试垫、第二测试垫、第一开关以及第二开关。第一开关的第一端经由第一预留导线与第一传输路径中任一者耦接至第一测试垫与显示面板，第一开关的第二端经由第一预留导线与第一传输路径中任一者耦接至第一开关的第一端与显示面板，且第一开关的控制端用以接收控制信号。 第二开关的第一端经由第二预留导线与第二传输路径中任一者连接至第二测试垫与显示面板，第二开关的第二端经由第二预留导线与第二传输路径中任一者连接至第二开关的第一端与显示面板，且第二开关的控制端用以接收控制信号。前述的第一预留导线与第一传输路径具有部分重叠，且第二预留导线与第二传输路径具有部分重叠。
本发明内容的又一态样提供了一种检测方法。检测方法适用于显示面板，检测方法包含下列步骤：提供第一预留导线至第一测试垫，并提供第二预留导线至第二测试垫；经由第一开关提供第一传输路径至第一测试垫，并经由第二开关提供第二传输路径至第二测试垫，其中第一预留导线与第一传输路径具有部分重叠，且第二预留导线与第二传输路径具有部分重叠；自第一测试垫经由第一预留导线传输栅极驱动信号至显示面板，并自第二测试垫经由第二预留导线传输数据信号至显示面板，以进行第一次画面检测；经由激光切割方式断开第一预留导线与第二预留导线；根据控制信号导通第一开关与第二开关；以及自第一测试垫经由第一传输路径传输栅极驱动信号至显示面板，并自第二测试垫经由第二传输路径传输数据信号至该显示面板，以进行第二次画面检测。
综上所述，本发明内容所示的显示面板、检测电路与其检测方法可藉由预留导线达到低导通阻抗，以确保画面检测时的测试信号不会失真。检测电路可藉由额外的控制信号VC再次对显示面板进行检测，使得检测的方便性得以改善。另外，检测电路可在不用额外的绕线下设置于显示面板中，故检测电路所使用的电路面积可大幅降低，以节省整体的成本。
附图说明
为让本发明内容的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附图式的说明如下：
图1为根据本发明内容的一实施例所绘示的一种显示面板的示意图；
图2A为根据本发明内容的一实施例所绘示的一种检测电路的示意图；
图2B为根据本发明内容的一实施例绘示图2A的检测电路中的预留导线经外部切割后的示意图图2A为根据本发明内容的一实施例所绘示的一种检测电路的示意图；以及
图3为根据本发明内容的一实施例所绘示的一种适用于显示面板的检测 方法的流程图。
其中，附图标记：
100：显示面板
120：影像显示区
122：像素阵列
124：像素
140：检测电路
100A：元件测试机
GL1～GLM：栅极线
DL1～DLN：数据线
VG[1]～VG[m]：栅极驱动信号
VD[1]～VD[n]：数据信号
200：检测电路
220、240：测试垫
221、241：预留导线
222、242：传输路径
260：开关电路
280：预定切割区域
N1、N2：节点
VC：控制信号
Q1、Q2：开关
221a、221b、241a、242b：区段
300：方法
S310、S320、S330、S340、S350、S360：步骤
具体实施方式
下文举实施例配合所附图式作详细说明，但所提供的实施例并非用以限制本发明所涵盖的范围，而结构操作的描述非用以限制其执行的顺序，任何由元件重新组合的结构，所产生具有均等功效的装置，皆为本发明所涵盖的范围。此外，图式仅以说明为目的，并未依照原尺寸作图。为使便于理解，下述说明 中相同元件将以相同的符号标示来说明。
关于本文中所使用的“第一”、“第二”、…等，并非特别指称次序或顺位的意思，亦非用以限定本发明，其仅仅是为了区别以相同技术用语描述的元件或操作而已。
另外，关于本文中所使用的“耦接”或“连接”，均可指二或多个元件相互直接作实体或电性接触，或是相互间接作实体或电性接触，亦可指二或多个元件相互操作或动作。
请参照图1，图1为根据本发明内容的一实施例所绘示的一种显示面板的示意图。如图1所示，显示面板100包含影像显示区120与检测电路140。
影像显示区120包含由多条数据线DL1～DLN与多条栅极线GL1～GLM配置而形成的像素阵列122与多个像素124，其中多个像素124配置于像素阵列122中。影像显示区可根据多个栅极驱动信号VG[1]～VG[m]以及多个数据信号VD[1]～VD[n]而显示不同影像。
检测电路140设置于影像显示区120的一侧，并耦接至元件测试机100A接收上述多个栅极驱动信号VG[1]～VG[m]以及多个数据信号VD[1]～VD[n]，并将其传送至影像显示区120，以测试影像显示区120是否能够正常显示影像。在测试完成后，检测电路140可通过外部切割方式断开与影像显示区120的连接，以使影像显示区120可开始经由面板驱动器(未绘示)驱动而显示影像。当影像显示区120还需要进一步地测试时，检测电路140可根据控制信号VC而重新连接至影像显示区120，以进行后续的检测操作。
以下段落将提出各个实施例，来说明上述检测电路140的功能与应用，但本发明并不仅以下所列的实施例为限。
请参照图2A，图2A为根据本发明内容的一实施例所绘示的一种检测电路的示意图。如图2A所示，检测电路200包含测试垫220、测试垫240与开关电路260。
为简化说明，以下仅以单一栅极线GLM与单一数据线DLN为例进行说明检测电路200的相关操作，其中栅极线GLM耦接至节点N1以接收栅极驱动信号VG[m]，且数据线DLN耦接至节点N2以接收数据信号VD[n]。
测试垫220耦接至元件测试机(未绘示)，以接收栅极驱动信号VG[m]，并用以经由预留导线221与传输路径222中之一者传输栅极驱动信号VG[m]至 节点N1。测试垫240耦接至元件测试机，以接收数据信号VD[n]，并用以经由预留导线241与传输路径242中之一者传输数据信号VD[n]至节点N2。
开关电路260耦接至节点N1、节点N2、测试垫220以及测试垫240。开关电路260用以根据控制信号VC而使传输路径222选择性地连接至节点N1，并使传输路径242选择性地连接至节点N2。
于一些实施例中，如图2A所示，开关电路260包含开关Q1与开关Q2。开关Q1耦接于测试垫220与节点N1之间，并设置以根据控制信号VC选择性地导通。开关Q2耦接于测试垫240与节点N2之间，并设置以根据控制信号VC选择性地导通。
具体而言，如图2A所示，传输路径222与传输路径242各自包含第一段导线与第二段导线。开关Q1的第一端可经由预留导线221与传输路径222的第一段导线中的任一者耦接于测试垫220以接收栅极驱动信号VG[m]，开关Q1的第二端耦接于节点N1，并可经由预留导线221与传输路径222的第二段导线中的任一者耦接至开关Q1的第一端，且开关Q1的控制端用以接收控制信号VC。开关Q2的第一端耦接于测试垫240以接收数据信号VD[n]，开关Q2的第二端可经由预留导线241与传输路径242的第一段导线中的任一者耦接于节点N2，并同时经由预留导线241与传输路径242的第二段导线中的任一者耦接至开关Q2的第一端，且开关Q2的控制端用以接收控制信号VC。
藉由上述设置方式，开关Q1的第一端与其第二端可通过预留导线221相互耦接，且开关Q2的第一端与其第二端可通过预留导线241相互耦接。于一些实施例中，预留导线221与传输路径222之间具有部分重叠，且预留导线241与传输导线242之间具有部分重叠。也就是说，在一些实施例中，在布局上，预留导线221与传输路径222的第一段导线与第二段导线可由同一导线实现，且预留导线241与传输路径242的第一段导线与第二段导线可由同一导线实现。
于各个实施例中，前述的预留导线221、预留导线241、传输路径241以及传输路径242皆可设置于影像显示区120的同一侧。换言之，检测电路200可在不用额外的绕线下设置于显示面板100中，以降低检测电路200所使用的电路面积。
如图2A所示，测试垫220可经由预留导线221直接耦接至节点N1以及 栅极线GLM，且测试垫240可经由预留导线241直接耦接至节点N2以及数据线DLN。如此一来，于初次测试时，栅极驱动信号VG[m]的传递路径所对应的导通阻抗以及数据信号VD[n]的传递路径所对应的导通阻抗皆得以降低，以确保栅极驱动信号VG[m]与数据信号VD[n]被传输时不会失真，并足以驱动显示面板。
请参照图2B，图2B为根据本发明内容的一实施例绘示图2A的检测电路中的预留导线经外部切割后的示意图。
如先前图2A所示，藉由预先布局的方式，预留导线221与预留导线241可在开关电路260的下侧大致形成预定切割区域280。在预定切割区域280内，预留导线221与预留导线241与开关Q1与开关Q2的连接状态可被外部切割方式(例如：激光)断开。
例如，当预留导线221对应的导线在预定切割区域280内经由激光切割后，开关Q1的第一端与其第二端无法在通过预留导线221而互相耦接。同样地，当预留导线241对应的导线在预定切割区域280内经由激光切割后，开关Q2的第一端与其第二端无法通过预留导线241而互相耦接。如此一来，检测电路200无法直接传输栅极驱动信号VG[m]与数据信号VD[m]至节点N1与节点N2，进而使前述的影像显示区120可开始经由面板驱动器(未绘示)驱动而显示影像。
再者，于一些实施例中，如图2B所示，藉由预先布局的方式，预留导线221对应的导线在预定切割区域280内可至少存在区段221a与区段221b，且预留导线241对应的导线在预定切割区域280内可至少存在区段241a与区段241b，其中区段221a与区段221b彼此互相平行，且区段241a与区段241b彼此互相平行。如此一来，只要区段221a与区段221b中至少一者能被激光切割，开关Q1的第一端与其第二端的连接状态即可断开。同样地，只要区段241a与区段241b中至少一者能被激光切割，开关Q2的第一端与其第二端的连接状态即可断开。藉由上述方式，可确保外部切割的操作正确性得以提升，以确保影像显示区120后续可正确地经由面板驱动器(未绘示)驱动。
如图2B所示，若当影像显示区120还需要进一步地测试时，开关Q1与开关Q2可在控制信号VC为高电位时导通。如此一来，测试垫220可藉由传输路径222传输栅极驱动信号VG[m]至节点N1，且测试垫240可藉由传输路 径242传输数据信号VD[n]至节点N2，以进行后续的影像检测操作。
藉由传输路径222以及传输路径242，显示面板100可根据实际需求而藉由检测电路200重复地进行影像检测。藉由切换控制信号VC，显示面板100亦可在检测后重新改由面板驱动器进行驱动。
图3为根据本发明内容的一实施例所绘示的一种适用于显示面板的检测方法的流程图。为方便说明，请一并参照图2A、图2B与图3，检测方法300的操作将搭配图2A与图2B中的检测电路200进行说明。
如图3所示，检测方法300包含步骤S310、步骤S320、步骤S330、步骤S340、步骤S350以及步骤S360。于步骤S310中，提供预留导线221至测试垫220，并提供预留导线241至测试垫240。
于步骤S320中，经由开关Q1提供传输路径222至测试垫220，并经由开关Q2提供传输路径242至测试垫240，其中预留导线221与传输路径222具有部分重叠，且预留导线241与传输路径242具有部分重叠。
于步骤S330中，自测试垫220经由预留导线221传输栅极驱动信号VG[m]至显示面板100，并自传输路径242经由预留导线241传输数据信号VD[n]至显示面板100，以进行第一次画面检测。
例如，如图2A所示，测试垫220可同时经由预留导线221与传输路径222耦接至节点N1，且测试垫240可同时经由预留导线241与传输路径242耦接至节点N2。测试垫220与测试垫240可耦接至元件测试机(如图1所示的元件测试机100A)，以分别接收栅极驱动信号VG[m]以及数据信号VD[n]。如此，栅极驱动信号VG[m]可经由测试垫220与预留导线221传送至显示面板100中的栅极线GLM，且数据信号VD[n]可经由测试垫240与预留导线241传送至显示面板100中的数据线DLN。依此类推，多个栅极驱动信号VG[1]～VG[m]以及多个数据信号VD[1]～VD[n]可依序传送至显示面板100，以对显示面板100进行初次的画面检测。
请再次参照图3。于步骤S340中，经由激光切割方式断开预留导线221与预留导线241。于步骤S350中，开关Q1与开关Q2根据控制信号VC而导通。于步骤S360中，自测试垫220经由传输路径222传输栅极驱动信号VG[m]至显示面板100，且自测试垫240经由传输路径242传输数据信号VD[n]至显示面板100，以进行第二次画面检测。
例如，如图2B所示，预留导线221与预留导线241两者所对应的导线在预定切割区域280再经由激光切割后，测试垫220仅可经由开关Q1以及传输路径222耦接至节点N1，且测试垫240仅可经由开关Q2以及传输路径242耦接至节点N2。当控制信号VC切换为高电压电平时，开关Q1与开关Q2皆为导通。如此一来，测试垫220可自元件测试机(未绘示)接收栅极驱动信号VG[m]，并经由传输路径222将栅极驱动信号VG[m]传输至栅极线GLM。同样地，测试垫240可自元件测试机(未绘示)接收数据信号VD[n]，并经由传输路径242将数据信号VD[n]传输至数据线DLN，以对显示面板100再次进行画面检测。
综上所述，本发明内容所示的显示面板、检测电路与其检测方法可藉由预留导线达到低导通阻抗，以确保画面检测时的测试信号不会失真。检测电路可藉由额外的控制信号VC再次对显示面板进行检测，使得检测的方便性得以改善。另外，检测电路可在不用额外的绕线下设置于显示面板中，故检测电路所使用的电路面积可大幅降低，以节省整体的成本。
虽然本发明已以实施方式揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视后附的申请专利范围所界定者为准。

Claims (9)

1.一种显示面板，其特征在于，包含：
一栅极线，用以自一第一节点接收一栅极驱动信号；
一数据线，用以自一第二节点接收一数据信号；
一第一测试垫，用以经由一第一预留导线与一第一传输路径中之一者传输该栅极驱动信号至该第一节点；
一第二测试垫，用以经由一第二预留导线与一第二传输路径中之一者提供该数据信号至该第二节点；以及
一开关电路，用以根据一控制信号使该第一传输路径选择性地连接至该第一节点，并使该第二传输路径选择性地连接至该第二节点，
其中该第一测试垫经由该第一预留导线连接至该第一节点，且该第二测试垫经由该第二预留导线连接至该第二节点，该第一预留导线与该第一传输路径具有部分重叠，且该第二预留导线与该第二传输路径具有部分重叠。
2.根据权利要求1的显示面板，其特征在于，该第一测试垫经由该第一预留导线直接连接至该栅极线，且该第二测试垫经由该第二预留导线直接连接至该数据线。
3.根据权利要求1的显示面板，其特征在于，该开关电路包含：
一第一开关，耦接于该第一测试垫与该第一节点之间，并用以根据该控制信号选择性地导通；以及
一第二开关，耦接于该第二测试垫与该第二节点之间，并用以根据该控制信号选择性地导通。
4.根据权利要求3的显示面板，其特征在于，该第一开关的一第一端耦接于该第一测试垫，以接收该栅极驱动信号，该第一开关的一第二端耦接至该第一节点，并经由该第一预留导线耦接至该第一开关的该第一端，且该第一开关的一控制端用以接收该控制信号。
5.根据权利要求3的显示面板，其特征在于，该第二开关的一第一端耦接于该第二测试垫，以接收该数据信号，该第二开关的一第二端耦接至该第二节点，并经由该第二预留导线耦接至该第二开关的该第一端，且该第二开关的一控制端用以接收该控制信号。
6.一种检测电路，用以测试一显示面板，其特征在于，该检测电路包含：
一第一测试垫；
一第二测试垫；
一第一开关，其中该第一开关的一第一端经由一第一预留导线与一第一传输路径中任一者耦接至该第一测试垫与该显示面板，该第一开关的一第二端经由该第一预留导线与该第一传输路径中任一者耦接至该第一开关的该第一端与该显示面板，且该第一开关的一控制端用以接收一控制信号；以及
一第二开关，其中该第二开关的一第一端经由一第二预留导线与一第二传输路径中任一者连接至该第二测试垫与该显示面板，该第二开关的一第二端经由该第二预留导线与该第二传输路径中任一者连接至该第二开关的该第一端与该显示面板，且该第二开关的一控制端用以接收该控制信号；
其中该第一预留导线与该第一传输路径具有部分重叠，且该第二预留导线与该第二传输路径具有部分重叠。
7.根据权利要求6的检测电路，其特征在于，该显示面板具有一显示区，且该第一预留导线、该第二预留导线、该第一传输路径与该第二传输路径皆设置于该显示区的一侧。
8.根据权利要求6的检测电路，其特征在于，该显示面板包含一栅极线与一数据线，其中该第一开关的该第二端耦接至该栅极线，且该第二开关的该第二端耦接至该数据线。
9.一种检测方法，适用于一显示面板，其特征在于，该检测方法包含：
提供一第一预留导线至一第一测试垫，并提供一第二预留导线至一第二测试垫；
经由一第一开关提供一第一传输路径至该第一测试垫，并经由一第二开关提供一第二传输路径至该第二测试垫，其中该第一预留导线与该第一传输路径具有部分重叠，且该第二预留导线与该第二传输路径具有部分重叠；
自该第一测试垫经由该第一预留导线传输一栅极驱动信号至该显示面板，并自该第二测试垫经由一第二预留导线传输一数据信号至该显示面板，以进行一第一次画面检测；
经由一激光切割方式断开该第一预留导线与该第二预留导线；
根据一控制信号导通该第一开关与该第二开关；以及
自该第一测试垫经由该第一传输路径传输该栅极驱动信号至该显示面板，并自该第二测试垫经由该第二传输路径传输该数据信号至该显示面板，以进行一第二次画面检测。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105590572A (zh) * 2015-12-21 2016-05-18 上海中航光电子有限公司 一种显示装置和显示测试方法
CN105655350B (zh) * 2016-01-04 2018-12-21 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板、显示装置、制作方法和测试方法
KR102488272B1 (ko) * 2016-10-24 2023-01-13 엘지디스플레이 주식회사 게이트 구동 회로를 가지는 표시패널
CN108768372B (zh) * 2018-05-04 2022-04-22 京东方科技集团股份有限公司 一种按键电路、印制电路板以及显示装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101609635A (zh) * 2009-07-24 2009-12-23 友达光电（苏州）有限公司 液晶面板测试模组及液晶面板失效模式分析方法
CN102621721A (zh) * 2012-04-10 2012-08-01 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板、液晶模组及厘清其画面不良的原因的方法
CN102636928A (zh) * 2012-04-16 2012-08-15 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板配线区线路结构及液晶显示面板测试方法
CN103208264A (zh) * 2013-04-01 2013-07-17 友达光电(厦门)有限公司 一种用于阵列基板行驱动线路的测试方法
CN103280173A (zh) * 2012-09-28 2013-09-04 武汉天马微电子有限公司 液晶显示面板的检测装置及其检测方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100439978C (zh) * 2003-03-07 2008-12-03 友达光电股份有限公司 液晶显示面板的测试方法及其设备
TWI280434B (en) * 2003-08-25 2007-05-01 Au Optronics Corp Display panel with open/short test design
TWI333094B (en) * 2005-02-25 2010-11-11 Au Optronics Corp System and method for display testing
US9324252B2 (en) * 2012-04-16 2016-04-26 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Wiring structure of wiring area on liquid crystal displaying panel and testing method of liquid crystal displaying panel
CN103513477B (zh) * 2012-06-26 2018-03-09 富泰华工业（深圳）有限公司 液晶显示器及其检测方法
KR101943000B1 (ko) * 2012-09-14 2019-01-28 엘지디스플레이 주식회사 검사회로를 포함하는 액정표시장치 및 이의 검사방법

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101609635A (zh) * 2009-07-24 2009-12-23 友达光电（苏州）有限公司 液晶面板测试模组及液晶面板失效模式分析方法
CN102621721A (zh) * 2012-04-10 2012-08-01 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板、液晶模组及厘清其画面不良的原因的方法
CN102636928A (zh) * 2012-04-16 2012-08-15 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板配线区线路结构及液晶显示面板测试方法
CN103280173A (zh) * 2012-09-28 2013-09-04 武汉天马微电子有限公司 液晶显示面板的检测装置及其检测方法
CN103208264A (zh) * 2013-04-01 2013-07-17 友达光电(厦门)有限公司 一种用于阵列基板行驱动线路的测试方法

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