CN104678197A - 测试电路 - Google Patents

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CN104678197A
CN104678197A CN201310624328.6A CN201310624328A CN104678197A CN 104678197 A CN104678197 A CN 104678197A CN 201310624328 A CN201310624328 A CN 201310624328A CN 104678197 A CN104678197 A CN 104678197A
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China
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usb
test
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chip
test circuit
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Inventor
吴凡
李盈政
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Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd
Chiun Mai Communication Systems Inc
Original Assignee
Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd
Chiun Mai Communication Systems Inc
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Abstract

本发明提供一种测试电路,其包括USB接口、USB功能模块及测试功能模块,该USB接口包括电源引脚和识别引脚,该USB功能模块及测试功能模块均电性连接至USB接口的识别引脚,该USB功能模块及测试功能模块均电性连接至USB接口的识别引脚,该USB功能模块用于根据识别引脚的电位控制电子装置是否进入OTG功能,该测试功能模块用于根据识别引脚的电位控制电子装置是否进入测试模式。该测试电路可快速地进入测试模式,提高生产效率,且设计成本低。

Description

测试电路
技术领域
本发明涉及一种测试电路,尤其涉及一种快速启动的测试电路。
背景技术
随着社会的发展,智能手机越来越普及,制造商在生产智能手机时都需要进行产品质量检测,然而由于智能手机在开机时需要加载***软件导致开机时间过长,从而导致产品检测时间耗费很长时间,严重影响产能。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种可快速进入启动的测试电路。
一种测试电路,其包括USB接口、USB功能模块及测试功能模块,该USB接口包括电源引脚和识别引脚,该USB功能模块及测试功能模块均电性连接至USB接口的识别引脚,该USB功能模块用于根据识别引脚的电位控制电子装置是否进入OTG功能,该测试功能模块用于根据识别引脚的电位控制电子装置是否进入测试模式。
上述的测试电路通过USB接口的识别引脚的高电平或低电平的电位信号,以控制电子装置进入测试模式或OTG功能。该测试电路可快速地进入测试模式,提高生产效率,且设计成本低。
附图说明
图1为本发明较佳实施方式的测试电路的电路图。
图2为图1所述测试电路在进入测试模式时的电路图。
图3为图1所述测试电路在进入OTG功能时的电路图。
主要元件符号说明
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1,本发明的较佳实施方式提供一种测试电路100,其可应用于手机、平板电脑、个人数字助理(Personal Digital Assistant,PDA)等电子装置,使得电子装置进入快速启动的测试模式。
该测试电路100包括通用串行总线(Universal Serial Bus,USB)接口10、USB功能模块30及测试功能模块50。
该USB接口10包括电源引脚VBUS和识别引脚ID。请参阅图3,当电子装置通过该USB接口10与外界设备连接以实现数据传输时,即进入OTG(On-The-Go)功能时,此时该USB接口10的识别引脚ID接地处理。请参阅图2,当电子装置进入测试模式时,将该USB接口10的电源引脚VBUS与识别引脚ID电性连接。在通用的USB接口中,电源引脚VBUS的电压为5V。
该USB功能模块30与USB接口10电性连接,以通过该USB接口10实现与外界设备的数据传输。该USB功能模块30包括二极管D及USB芯片31。该二极管D的阴极与USB接口10的识别引脚ID电性连接,同时该二极管D的阴极通过一电容C接地。该二极管D的阳极电性连接于USB芯片31。该USB芯片31设有侦测引脚IDDIG,当该侦测引脚IDDIG电压为高电平时,该USB芯片31不工作,当该侦测引脚IDDIG的电位拉低为低电平时,该USB芯片31进入OTG功能。在本实施方式中,该侦测引脚IDDIG初始电压为1.8V。低电平是指电压小于0.54V。当该二极管D的阴极接地时,该侦测引脚IDDIG引脚的电位被拉低至二极管D的导通电压0.3V,为低电平,故USB芯片31工作,进入OTG功能。
该测试功能模块50包括测试芯片51、场效应管Q、第一电阻R1、第二电阻R2及第三电阻R3。该场效应管Q为增强型的金属氧化物半导体场效应管,其包括栅极g、源极s及漏极d。该栅极g通过第一电阻R1与USB接口10的识别引脚ID电性连接,同时该栅极g通过第二电阻R2接地,该源极s接地处理,该漏极d通过第三电阻R3连接至一电源VCC。该测试芯片51电性连接至场效应管Q与第三电阻R3之间的节点。当该场效应管Q截止时,该测试芯片51通过第三电阻R3与电源VCC电性连接,该测试芯片51接收一高电平信号,则该测试芯片51不工作;当该场效应管Q导通时,该测试芯片51接收一低电平信号,则该测试芯片51工作,进入测试模式。第一电阻R1及第二电阻R2起的是分压作用,使的场效应管Q的栅极g得到合适的偏置电压。
下面进一步说明该测试电路100的工作原理,请参阅图2,当需要进入测试模式时,将USB接口10的电源引脚VBUS与识别引脚ID连接,例如,通过一连接器将USB接口10的电源引脚VBUS与识别引脚ID连接,此时该场效应管Q接收识别引脚ID上的高平信号后导通,使得测试芯片51接收低电平信号,从而该测试芯片51工作,即进入测试模式。另一方面,由于连接至识别引脚ID的二极管D的阴极电压为5V,而阳极电压为1.8V,该二极管D截止,故不会进入OTG功能。
请参阅图3,当需要进入OTG功能时,该USB接口10的识别引脚ID接地,例如,通过一USB数据线将该USB接口10的识别引脚ID接地,连接至识别引脚ID的二极管D的阴极接地,该USB芯片31的侦测引脚IDDIG由高电平拉低至低电平,使得该USB芯片31进入OTG功能。另一方面,该场效应Q的栅极g为低电平,该场效应管Q截止,该测试芯片51不工作,不会进入测试模式。
本发明的测试电路100通过USB接口10的识别引脚ID连接测试功能模块50,并通过将电源引脚VBUS与识别引脚ID连接,以利用电源引脚VBUS的电位启动该测试功能模块50的测试芯片51工作。同时将USB芯片31与识别引脚ID之间加入二极管D,使得测试模式和OTG功能不会互相干扰。该测试电路100可快速地进入测试模式,提高生产效率,且设计成本低。

Claims (8)

1.一种测试电路,其包括通用串行总线(Universal Serial Bus,USB)接口,该USB接口包括电源引脚和识别引脚,其特征在于:该测试电路还包括USB功能模块及测试功能模块,该USB功能模块及测试功能模块均电性连接至USB接口的识别引脚,该USB功能模块根据识别引脚的电位控制电子装置是否进入OTG(On-The-Go)功能,该测试功能模块根据识别引脚的电位控制电子装置是否进入测试模式。
2.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于:所述测试功能模块包括测试芯片、场效应管、第一电阻、第二电阻及第三电阻,该场效应管包括栅极,源极及漏极,该栅极通过第一电阻与USB接口的识别引脚电性连接,该栅极通过第二电阻接地,该源极接地处理,该漏极通过第三电阻连接至一电源,该测试芯片电性连接至场效应管与第三电阻之间的节点。
3.如权利要求2所述的测试电路,其特征在于:当所述USB接口的识别引脚为高电平时,所述场效应管导通,所述测试芯片工作。
4.如权利要求2所述的测试电路,其特征在于:当所述USB接口的识别引脚为低电平时,所述场效应管截止,所述测试芯片不工作。
5.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于:所述USB功能模块包括USB芯片和二极管,该二极管的阴极与USB接口的识别引脚电性连接,该二极管的阳极电性连接于USB芯片。
6.如权利要求5所述的测试电路,其特征在于:所述USB芯片设有侦测引脚,该侦测引脚初始为高电平,此时该USB芯片不工作,当该侦测引脚的电位拉低为低电平时,该USB芯片进入OTG功能。
7.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于:所述USB接口的识别引脚接地时,电子装置进入OTG功能。
8.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于:所述USB接口的识别引脚和电源引脚电性连接,电子装置进入测试模式。
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