CN104637502A - 光盘装置、控制方法、控制程序以及信息存储介质 - Google Patents

Abstract

此处公开了一种能够读出存储在光盘介质中的信息的光盘装置，所述光盘装置包括：发射光的发光设备；把发光设备所发射的光会聚在光盘介质上的物镜；以及控制部分，其执行控制，以在从光盘介质读出信息的操作中，相对发光设备所发射的光的光轴位置位移物镜的中心位置。

Description

光盘装置、控制方法、控制程序以及信息存储介质

技术领域

本技术涉及一种用于读出光盘介质上记录的信息的光盘装置、光盘装置的控制方法、光盘装置的控制程序、以及用于存储控制程序的信息存储介质。光盘介质的示例是压缩盘(CD)、数字通用盘(DVD)和Blue-ray Disc(蓝光盘)(注册商标)。

例如，诸如CD、DVD和蓝光盘(BD)的各种光盘介质用作信息存储介质。为了从信息存储介质读出信息，提供了一种具有用于将光发射至光盘介质并检测介质所反射的光的光学拾取器的光盘装置(参见诸如日本专利No.4769150的文献)。

背景技术

当长时间使用光盘装置时，空气中的尘土、香烟焦油等会粘在光***上，导致光透射系数降低，于是，在某些情况下，所反射的光的所测量的信号电平也会降低。因此，在从光盘介质读出信息的操作中，担心会产生读取错误。

于是，希望提供一种即使在低信号电平的情况下也能够继续进行从光盘介质读出信息的操作的光盘装置、一种光盘装置控制方法、一种用于光盘装置的控制程序以及一种用于存储控制程序的信息存储介质。

根据本技术的光盘装置为一种能够读出存储在光盘介质中的信息的光盘装置。所述光盘装置包括发射光的发光设备和把发光设备所发射的光会聚在光盘介质上的物镜。所述光盘装置还包括执行控制的控制部分，在从光盘介质读出信息的操作中，其相对发光设备所发射的光的光轴位置位移物镜的中心位置。

根据本技术的控制方法为一种能够读出存储在光盘介质中的信息的光盘装置的控制方法。所述光盘装置包括发射光的发光设备和把发光设备所发射的光会聚在光盘介质上的物镜。所述方法包括执行这样的控制：在从光盘介质读出信息的操作中，相对发光设备所发射的光的光轴位置位移物镜的中心位置。

根据本技术的程序为一种用于控制能够读出存储在光盘介质中的信息的光盘装置的程序。所述光盘装置包括发射光的发光设备和把发光设备所发射的光会聚在光盘介质上的物镜。所述用于计算机的程序包括执行这样的控制：在从光盘介质读出信息的操作中，相对发光设备所发射的光的光轴位置位移物镜的中心位置。

可以把所述程序存储在能够由计算机读取的信息存储介质中。

根据本技术的信息存储介质为一种能够由计算机读取的并且用于存储用于控制能够读出存储在光盘介质中的信息的光盘装置的程序的介质。所述光盘装置包括发射光的发光设备和把发光设备所发射的光会聚在光盘介质上的物镜。所述用于计算机的程序包括执行这样的控制：在从光盘介质读出信息的操作中，相对发光设备所发射的光的光轴位置位移物镜的中心位置。

附图说明

图1是示出根据本技术的实施例的光盘装置的典型配置的框图；

图2是示出根据本技术的实施例的光盘装置中采用的光学拾取器的典型内部配置的概略图；

图3是示出扫描操作中物镜的移动的模型的图；

图4是示出通过使用小波长光进行扫描操作而获得的典型PI信号波形的图；

图5是示出在BD上通过使用大波长光进行扫描操作而获得的典型PI信号波形的图；

图6是示出在CD上通过使用大波长光进行扫描操作而获得的典型PI信号波形的图；

图7是示出根据本技术的实施例的由光盘装置进行的类型确定处理的流程的流程图；

图8A是示出在信号质量不恶化的情况下视野与抖动特性的图；

图8B是示出在信号质量恶化的情况下视野与抖动特性的图；

图9A是示出在正常条件下光学***与物镜之间的相对位置关系的图；

图9B是示出在光轴偏移(shift)控制下光学***与物镜之间的相对位置关系的图；以及

图10是示出在光轴偏移控制下处理的典型流程的流程图。

具体实施方式

以下描述通过参考附图来说明本技术的实施例的细节。

根据本技术的实施例的光盘装置1是用于读出存储在光盘介质中的信息的光盘装置。如图1中所示，光盘装置1包括介质支持部分11、主轴电机12、光学拾取器13、进给电机15、驱动电路16、信号输出电路17、伺服信号处理部分18、记录信号处理部分19和控制部分20。

用作由光盘装置1进行的信息读取操作的对象的光盘介质M包括叠层，诸如用于存储信息的数据记录层和用于在两侧保护数据记录层的保护层。在以下描述中，数据记录层的表面称为信号表面。应注意，光盘介质M可以包括多个数据记录层。光盘装置1也可以被配置为不仅能够读出存储在光盘介质M上的信息、而且还能够将信息写入到光盘介质M上。另外，在此实施例的情况下，光盘装置1被配置为能够读出存储在至少两种类型的光盘介质M(即，CD和BD)上的信息。

介质支持部分11支持光盘介质M，以便可以旋转光盘介质M。另外，介质支持部分11通过使用从主轴电机12传送的动力来旋转光盘介质M。

光学拾取器13将激光照射至光盘介质M，并检测在发射光的反射中由光盘介质M反射的光，从而输出表示由此检测的反射光的信号。具体地，在此实施例的情况下，光学拾取器13被配置为能够发射具有用于不同类型的光盘介质M的多个波长的激光。图2是示出光学拾取器13的典型内部配置的概略图。此图中所示的典型配置包括第一发光设备31、第二发光设备32、光学***33、物镜34、焦点检测器35和物镜驱动部分36。

第一发光设备31和第二发光设备32各自是用于输出激光的半导体激光设备。第一发光设备31发射具有用于CD的第一波长的光，而第二发光设备32发射具有用于BD的第二波长的光。应注意，具有第一波长的光是具有780nm波长的红外光，而具有第二波长的光是具有小于第一波长的405nm波长的蓝光。在以下描述中，为了方便起见，将具有第一波长的光称为大波长光，而将具有第二波长的光称为小波长光。

光学***33包括多个光学组件，诸如偏振光分束器、启动镜和多个透镜。光学拾取器13包括用于将由第一发光设备31和第二发光设备32发射的光引导至物镜34的光路。另外，光学拾取器13还包括用于将反射光引导至稍后描述的焦点检测器35的另一光路。反射光是由光盘介质M反射且通过物镜34透射的光。由第一发光设备31和第二发光设备32发射的光通过光学***33传播至物镜34，并且在被照射至光盘介质M之前由物镜34会聚。

在通过物镜34透射之后，由光盘介质M反射的光由光学***33引导至焦点检测器35。焦点检测器35包括多个光接收设备。当光盘介质M所反射的光到达这些光接收设备时，焦点检测器35输出根据光接收设备所接收的光的强度的信号作为输出信号。

物镜驱动部分36被配置为包括致动器，并且用于在光盘介质M的径向方向和垂直于光盘介质M的表面的方向上移动物镜34。在以下方向中，径向方向称为跟踪(tracking)方向，而垂直于光盘介质M的表面的方向称为聚焦方向。通过物镜驱动部分36在聚焦方向上移动物镜34，可以改变从物镜34到光盘介质M的表面的距离。

进给电机15在跟踪方向上移动整个光学拾取器13。通过进给电机15以此方式驱动整个光学拾取器13，可以将光学拾取器13从接近于光盘介质M的中心的位置移动至接近于光盘介质M的最外周的位置。

根据从伺服信号处理部分18接收的控制信号，驱动电路16输出用于驱动主轴电机12、进给电机15和物镜驱动部分36的驱动信号。根据从驱动电路16接收的驱动信号，主轴电机12的旋转速度改变以控制光盘介质M的旋转速度。另外，根据从驱动电路16接收的驱动信号，物镜驱动部分36和进给电机15被驱动以控制物镜34与介质旋转轴之间的距离以及物镜34与介质表面之间的距离。

例如，信号输出电路17、伺服信号处理部分18、记录信号处理部分19和控制部分20典型地由模拟电路、A/D转换器、数字信号处理器(DSP)和微机实施。模拟电路是用于处理由光学拾取器13输出的模拟信号的电路。A/D转换器是用于将模拟信号转换为数字信号的转换器。DSP是用于处理数字信号的处理器。

基于由焦点检测器35输出的模拟信号，信号输出电路17输出各种信号。更具体地说，信号输出电路17对通过以预定增益(放大系数)放大由每个光接收设备输出的光而获得的经放大信号进行处理，以便输出包括聚焦错误信号(FE信号)、跟踪错误信号(TE信号)和用于数据再生的RF信号的信号。聚焦错误信号是表示光盘介质M的信号表面与物镜34的焦点位置之间的聚焦方向偏移的信号。跟踪错误信号是表示物镜34的焦点位置与光盘介质M的轨道位置之间的跟踪方向偏移的信号。另外，信号输出电路17还输出通过放大由多个光接收设备输出的信号并加总经放大信号而获得的进站(pull-in)信号(PI信号)。

基于诸如由信号输出电路17输出的PI信号、FE信号和TE信号的信号，伺服信号处理部分18生成用于伺服控制的各种信号并将所生成的信号输出至控制部分20。另外，根据从控制部分20接收的命令，伺服信号处理部分18向驱动电路16输出用于驱动物镜驱动部分36、进给电机15和主轴电机12的控制信号。

具体地，伺服信号处理部分18根据从控制部分20接收的命令进行伺服控制。更具体地说，当从控制部分20接收用以开始伺服控制的命令时，伺服信号处理部分18根据从信号输出电路17接收的FE信号，输出用于控制物镜驱动部分36的控制信号，以便进行用于在聚焦方向上调整物镜34的位置的聚焦伺服控制。由此，可以维持物镜34的焦点匹配光盘介质M的信号表面的状态。另外，伺服信号处理部分18根据从信号输出电路17接收的TE信号，输出用于控制物镜驱动部分36的控制信号，以便进行用于在跟踪方向上改变物镜34的位置的跟踪伺服控制。由此，可以驱动物镜34以使得相对于介质表面移动，使得物镜34的焦点总是跟随数据记录层中的轨道(track)。这样，伺服信号处理部分18进行伺服控制，以控制物镜34相对于光盘介质M的表面的位置。由此，可以维持光学拾取器13能够从光盘介质M读出信息的状态，从而，在此状态中，读出信息。

基于由信号输出电路17输出的RF信号，记录信号处理部分19解调表示记录在光盘介质M上的信息的数字信号，并将解调的结果输出至控制部分20。另外，记录信号处理部分19还计算精度的评估值(诸如RF振幅和抖动值)以使用光学拾取器13从光盘介质M读出信息，并将评估值输出至控制部分20。

控制部分20典型地被配置为具有微机，并包括执行模块和存储设备。控制部分20中采用的存储设备用于存储待执行程序和各种参数。控制部分20中采用的执行模块根据存储设备中存储的程序进行处理。更具体地说，控制部分20确定光盘装置1中设置的光盘介质M的类型。

另外，控制部分20连接至诸如个人计算机、家用游戏机单元或视频解码器的主机。根据由主机产生的请求，控制部分20将用于驱动进给电机15和物镜驱动部分36的指令输出至伺服信号处理部分18，以便将物镜34的焦点移动至光盘介质M上的期望位置(物镜34的焦点是从光盘介质M读出信息的位置)。另外，控制部分20还将用于改变主轴电机12的旋转速度的指令输出至伺服信号处理部分18，以便调整光盘介质M的旋转速度。于是，在此状态中，控制部分20将经调制信号输出至主机。经调制信号是作为从光盘介质M读出的信号的解调结果、由记录信号处理部分19生成的信号。

确定光盘介质的类型的处理

以下描述说明根据此实施例的光盘装置1进行的用以确定光盘介质M的类型的处理的具体示例。例如，当光盘介质M被重新设置在光盘装置1上时、或者当光盘装置1的电源被接通时，由光盘装置1进行用以确定光盘介质M的类型的处理。另外，用于确定光盘介质M的类型的此处理由控制部分20通过根据存储设备中存储的程序控制各部分来实施。这些程序也可以表现为存储在可以被各种计算机读取的信息存储介质中的程序。

首先，以与现有光盘装置相同的方式，控制部分20测量从光盘介质M的介质表面到信号表面的距离L，以便确定光盘介质M的类型。更具体地说，在让第二发光设备32发射小波长光的同时，控制部分20控制物镜驱动部分36，从而物镜34以恒定速度在聚焦方向上移动。移动的聚焦方向可以是物镜34靠近光盘介质M的介质表面的方向、或者物镜34远离光盘介质M的介质表面的方向。在此情况下，假设移动的聚焦方向为物镜34靠近光盘介质M的介质表面的方向。在以下描述中，用以以此方式以恒定速度在该方向上将物镜34移动至光盘介质M的操作称为扫描(sweep)操作。图3是示出扫描操作中物镜34相对于光盘介质M的移动的模型的图。

在扫描操作中，物镜34的焦点对于每一度通过光盘介质M的介质表面和信号表面。那时，由于从光盘介质M反射的光，在PI信号上出现峰值。在以下描述中，使用小波长光的类型确定处理称为一次(primary)类型确定处理。

图4是示出通过在输出小波长光的同时进行扫描操作而获得的典型PI信号波形的图(PI信号的波形表示PI信号沿时间轴的变化)。如图4中所示，在PI信号上出现两个峰值。两个峰值是介质表面反射信号S和信号表面反射信号T。介质表面反射信号S由介质表面上的反射导致，而信号表面反射信号T由信号表面上的反射导致。图中所示的标注Th1表示用于峰值检测的阈值(在以下描述中，用于峰值检测的阈值称为阈值Th1)。超过阈值Th1的各个PI信号峰值被检测为介质表面反射信号S和信号表面反射信号T。在扫描操作中，物镜34正以恒定速度靠近光盘介质M。因此，介质表面反射信号S的检测时刻t1与信号表面反射信号T的检测时刻t2之间的时间间隔△t对应于光盘介质M的介质表面与信号表面之间的距离L。如果可以计算距离L，则可以确定光盘介质M的类型。应注意，在一次类型确定处理中，使用小波长光替代大波长光。这是因为，如果使用大波长光，则焦点距离变得更长，从而，在具有短距离L的BD的情况下，介质表面反射信号S和信号表面反射信号T不再能彼此独立地被检测。

如果长期使用光盘装置1，则空气中的灰尘、香烟焦油等粘附到光学拾取器13的光学***33，使得光透射系数降低。结果，产生由焦点检测器35检测的信号的电平降低的现象。作为研究的结果，本技术的发明人已经发现如下事实：信号电平大大降低，特别是在使用小波长光的情况下。当这样的现象发生时，介质表面反射信号S的峰值电平不期望地变得低于阈值Th1，从而，在某些情况下，无法检测到介质表面反射信号S。为了解决此问题，在此实施例的情况下，如果在上述一次检测处理中无法检测到介质表面反射信号S，则进行使用大波长光的类型确定处理。在以下描述中，使用大波长光的类型确定处理称为二次类型确定处理。

如上所述，在通过使用大波长光在BD上进行的扫描操作中，因为BD的距离L相对短，所以介质表面反射信号S和信号表面反射信号T并未彼此分开，而是被检测为一个峰值。图5是示出在BD上通过使用大波长光进行扫描操作而获得的典型PI信号波形的图。如果如图中所示，在使用大波长光的扫描操作中仅检测到一个峰值，则光盘介质M被确定为BD。应注意，控制部分20可以被用作被配置为不仅基于峰值的数目、而且还基于所检测的峰值的信号电平确定光盘介质M的类型的部分。更具体地说，如果第一个所检测的峰值电平高于为BD预定的BD确定阈值Th2，则控制部分20可以确定光盘介质M是BD。在此情况下，将为BD预定的BD确定阈值Th2设置在通过将介质表面反射信号S的预期峰值电平乘以典型地为1.5的预定系数而获得的值，从而作为介质表面反射信号S单独出现的峰值不被错误地确定为由信号表面反射信号T导致的峰值。可以在光盘装置1的出厂(shipping)时设置为BD预定的BD确定阈值Th2。

相反，如果介质表面反射信号S和信号表面反射信号T可以在二次类型确定处理中被彼此独立地检测到，则控制部分20确定光盘介质M不是BD。图6是示出在CD上通过使用大波长光进行扫描操作而获得的典型PI信号波形的图。如果由介质表面反射信号S和信号表面反射信号T导致的峰值如图中所示均被检测到，则控制部分20确定光盘介质M不是BD。更具体地说，如果第一个所检测的峰值电平不高于为BD预定的BD确定阈值Th2，则控制部分20可以确定该峰值是由介质表面反射信号S导致的峰值，并且光盘介质M不是BD。此外，在此情况下，以与第一类型确定处理相同的方式，可以基于介质表面反射信号S的检测时刻t1和信号表面反射信号T的检测时刻t2，确定光盘介质M的类型。具体地，如果不仅为CD和BD、而且还为DVD及其它提供根据此实施例的光盘装置1，则在光盘介质M并非BD的情况下，控制部分20可以基于介质表面反射信号S的检测时刻t1和信号表面反射信号T的检测时刻t2，确定光盘介质M的类型。应注意，如前所述，如果长期使用光盘装置1，则信号电平降低，特别是在使用在小波长照射的光的操作中。因此，在使用小波长光的一次类型确定处理中，即使无法检测到介质表面反射信号S，也可以预期在二次类型确定处理中检测到介质表面反射信号S。

如上所述，首先，通过使用小波长光进行一次类型确定处理。然后，如果在一次类型确定处理中无法确定光盘介质M的类型，则通过使用大波长光进行二次类型确定处理。然而，类型确定不限于此处理次序。也就是说，从一开始，光盘装置1可以进行二次类型确定处理，以便确定光盘介质M的类型。

另外，即使以上述顺序进行一次类型确定处理和二次类型确定处理作为类型确定处理本身，获取要在类型确定中使用的PI信号波形的顺序也可以与进行一次类型确定处理和二次类型确定处理的顺序相反。下面参考图7说明在此情况下用以确定光盘介质M的类型的处理的实施过程。

可能存在由传感器(图中未示出)检测到某些物质存在在光学拾取器13上的情况。另外，可能存在介质支持部分11推断出某些介质被重新设置在介质支持部分11中的事实的情况。这是因为，当某些介质被重新设置在介质支持部分11中时，光盘托盘被打开、然后关闭。在这样的情况下，控制部分20通过进行以步骤S1开始的处理，确定重新设置的光盘介质M是否为为根据该实施例的光盘装置1提供的介质，其中，在步骤S1，通过使用大波长光执行扫描操作。然后，在步骤S2，控制部分20获得关于在扫描操作期间出现在PI信号的波形中的峰值的数目和峰值电平的信息。

然后，控制部分20进行一次类型确定处理。更具体地说，在步骤S3，控制部分20通过发射小波长光进行扫描操作。然后，类型确定处理的流程进行至步骤S4，以确定是否已经检测到介质表面反射信号S和信号表面反射信号T的两个相应峰值。如果已经检测到介质表面反射信号S和信号表面反射信号T两者，则类型确定处理的流程进行至步骤S5，在步骤S5，控制部分20基于介质表面反射信号S和信号表面反射信号T的检测时刻t1和t2确定光盘介质M的类型。

另一方面，如果在步骤S4进行的确定的结果指示仅检测到一个峰值，则控制部分20通过使用在步骤S2获得的信息进行二次类型确定处理。更具体地说，在步骤S6，控制部分20确定第一个所检测的峰值的电平是否高于BD确定阈值Th2。如果确定的结果指示第一个所检测的峰值的电平高于BD确定阈值Th2，则类型确定处理的流程进行至步骤S7，在步骤S7，控制部分20确定光盘介质M是BD。然后，结束类型确定处理。另一方面，如果确定的结果指示第一个所检测的峰值的电平不高于BD确定阈值Th2，则类型确定处理的流程进行至步骤S8，在步骤S8，控制部分20以与步骤S5相同的方式，基于在步骤S2获得的两个峰值的检测时刻t1和t2，确定光盘介质M的类型。

根据如上所述由该实施例提供的类型确定处理，基于在通过使用原本用于并非BD的光盘介质M的大波长光进行的扫描操作中检测的峰值的数目，光盘介质M被确定为BD或并非BD。因此，即使长期使用光盘装置1以使得信号电平降低，也可以在不放大信号且不减小阈值的情况下确定光盘介质M的类型。

信息读取操作中的信号质量恶化对策

以下描述说明由根据本实施例的光盘装置1在用以从光盘介质M读出信息的操作中采取的作为针对信号质量恶化的对策的对策。

如前所述，当长期使用光盘装置1时，信号恶化，特别是在发射小波长光的情况下。因此，在用以从光盘介质M读出信息的操作中，信号电平降低，使得在某些情况下产生读取错误。作为研究的结果，本技术的发明人已经发现如下事实：在所发射的光的强度尤其大的光轴附近，信号质量恶化的影响增大。图8A和图8B各自是在信号质量恶化的说明中引用的图。在每幅图中，横轴表示沿着光学***33的跟踪方向的视野，而纵轴表示在该位置的用以从光盘介质M读出信息的操作中获得抖动值。更具体地，图8A是示出在信号质量不恶化的情况下视野与抖动特性的图，而图8B是示出在信号质量由于长期使用而恶化的情况下视野与抖动特性的图。应注意，图8A和8B的每幅中所示的交替的长短线表示从光学***33发射的光通量的中心位置。在以下描述中，从光学***33发射的光通量的中心位置称为光轴位置C。

如图8A中所示，在初始出厂时的状态中，在光轴位置C，抖动值最低。这指示用以通过将物镜34的位置调整至光轴位置C读出信息的操作的质量是最高质量。另一方面，当信号质量恶化时，如图8B中所示，明显的是，其影响在光轴位置C附近呈现得最显著，而在从光轴位置C偏移的区域上没有显著影响。因此，在用以通过使用小波长光从BD读取信息的操作期间由信号质量恶化导致的读取错误的情况下，根据本实施例的光盘装置1在光轴与物镜34之间在跟踪方向上故意偏移相对位置，使得信号质量的恶化几乎没有影响。在以下描述中，此控制称为光轴偏移控制。

图9A和图9B各自是示出光学***33与物镜34之间的相对位置关系的图。图9A是示出在正常时间的典型位置关系的图。在此情况下，物镜34的中心与光轴位置C一致。图9B是示出在光轴偏移控制下光学***33与物镜34之间的位置关系的图。在此情况下，物镜驱动部分36在跟踪方向上将物镜34向光盘介质M的外周偏移△r。结果，信息的读取位置从光学***33的光轴位置C偏移了△r(信息的读取位置是物镜34的焦点位置)。因此，在图8B中所示的位置(C+△r)进行读取操作，使得可以减轻信号质量的恶化。在此情况下，将物镜34向着光盘介质M的外周侧偏移。然而，应注意，也可以将物镜34向着光盘介质M的内周侧偏移。另外，在此情况下，物镜34的移动距离与在执行跟踪伺服控制时物镜34移动的范围相比，具有大值。期望将移动距离设置在至少±0.1mm的典型值。

应注意，如果如上所述偏移物镜34相对于光学***33的位置，则也将作为入射到焦点检测器35的光的来自光盘介质M的反射光(点)的位置从焦点检测器35的中心偏移。然而，这样的点位置偏移可能是无意造成的。在此情况下，用于校正TE信号的技术已经可用。校正TE信号，使得TE信号正确地表示物镜34的焦点位置与光盘介质M的轨道(track)位置之间的偏移。通过应用这样的技术，即使根据光轴偏移控制故意地在跟踪方向上将物镜34的位置向着光轴位置C偏移，也可以获得消除了位置偏移的影响的TE信号。

一般地，如图8A中所示，设计光学拾取器13以使得当进行用以在光轴位置C读出信息的操作时读取质量最优。因此，如果物镜34相对于光学***33的位置无条件地偏移，则产生不期望的读取质量恶化。为了解决此问题，只有满足特定条件，根据此实施例的光盘装置1才进行上述光轴偏移控制。更具体地说，在所进行的确定光盘介质的类型的处理中，当确定从光盘介质获得的信号的电平不足时，进行光轴偏移控制。以下描述说明由根据本实施例的光盘装置1进行的光轴偏移控制的具体示例。通过参考图10说明该控制。很像类型确定处理，通过由控制部分20根据存储设备中存储的程序控制各部分来实施光轴偏移控制。这些程序还可以表现为可以由各种计算机读取的信息存储介质中存储的程序。

当控制部分20从主机接收作为用以读出信息的指令的指令时，首先，在步骤S11，控制部分20开始用以在物镜34被放置在基准位置的情况下读出信息的操作。基准位置是在跟踪伺服开始时间如图9A中所示物镜34与光轴位置C一致的位置。

在读取操作在此状态中正在正常地进行的同时，不需要执行光轴偏移控制。假设信号电平的降低导致在步骤S12的无法校正的读取错误。在此情况下，控制部分20确定是否要进行光轴偏移控制。更具体地说，在步骤S13，控制部分20确定是否可以当在正被读取的光盘介质M上执行如上所述的类型确定处理时、通过使用小波长光仅进行一次类型确定处理来确定光盘介质M的类型，或者是否可以通过进行一次类型确定处理和二次类型确定处理以确定光盘介质M是否为BD，来确定光盘介质M的类型。将标志存储在控制部分20中采用的存储设备中。该标志指示是否(以便执行这样的类型确定)可以当在光盘介质M上执行如上所述的类型确定处理时、通过也进行二次类型确定处理来确定光盘介质M的类型。控制部分20在确定是否也已经进行了二次类型确定处理时参照所存储的标志。

如果可以通过仅进行一次类型确定处理来确定光盘介质M的类型，则控制部分20推断出信号电平未降低。在此情况下，控制流程进行至步骤S14以便以与现有方法相同的方式进行错误处理。通常，控制部分20停止读取操作。另一方面，如果可以通过也进行二次类型确定处理来确定光盘介质M是否为BD，则进行光轴偏移控制。更具体地说，在步骤S15，控制部分20在跟踪方向上将物镜34的位置从基准位置移动预定距离+△r。应注意，物镜34的移动方向是朝向光盘介质M的最外周的方向。结果，以如同图9B中所示的位置关系的位置关系放置物镜34和光学***33。

如果在此状态中读取操作成功，则控制流程进行至步骤S16以照原样继续读取操作。另一方面，如果产生另一读取错误，则控制流程进行至步骤S17。此时，此时，在此步骤，控制部分20在跟踪方向上将物镜34的位置从基准位置移动预定距离-△r。也就是说，控制部分20在与在步骤S15进行的移动的方向相反的方向上将物镜34的位置移动相同距离(也就是说，控制部分20在向着光盘介质M的中心的方向上移动物镜34的位置)。如果在此状态中读取操作成功，则控制流程进行至步骤S16以照原样继续读取操作。如果读取操作失败，则即使已经在相反方向上移动物镜34，控制流程也进行至步骤S14以便以与现有方法相同的方式进行错误处理。

当在读取操作结束时将光盘介质M从光盘装置1移除时，控制部分20将上述物镜34的位置恢复至基准位置。这是因为，根据光盘介质M的类型，在某些情况下读取操作可能成功，并且，只要读取操作成功，就不需要进行光轴偏移控制。

应注意，当根据本实施例的光盘装置1正从光盘介质M读出信息时，物镜34的跟踪方向位置由两个参数确定，所述两个参数是跟踪伺服控制的偏离(offset)值、和表示光学***33相对于光轴位置C的位置的参数。总是将跟踪伺服控制的偏离值设置在0，而与前述光轴偏移控制无关。因此，以与现有光盘装置相同的方式，在跟踪伺服控制的执行中，控制物镜34的焦点位置跟随光盘介质M的轨道位置。根据光轴偏移控制，相对于基准位置，在光盘外周方向或光盘内周方向上，仅改变物镜34相对于光学***33的光轴位置C的位置。

根据上述根据本实施例的光盘装置1，当由信号电平的降低产生读取错误时，物镜34相对于光学***33的光轴的位置被偏移，使得可以预期避免所产生的信号电平降低的地方的读取操作继续。

以上描述已经说明了只有执行操作以从BD读出信息才进行的光轴偏移控制。然而，还要记住，很有可能当执行操作以从并非BD的光盘介质M读出信息时也获得相同效果。例如，当在发射用于BD的小波长光和具有相对大波长的其它光的操作中共享光学***33的一部分和/或物镜34时，获得相同效果。因此，光盘装置1可以在从另一类型的光盘介质M读出信息时也进行类似的光轴偏移控制。另外，以上描述已经说明了当在光盘介质M的外周或内周方向上偏移物镜34时也仅在一个阶段移动物镜34的情况。然而，如果甚至由一个阶段偏移产生读取错误，则可以进一步沿着更长距离移动物镜34。

另外，根据以上描述，光盘装置1根据在用以确定光盘介质M的类型的处理中是否已经执行了二次类型确定处理，确定是否进行光轴偏移控制。然而，类型确定处理不限于此技术。例如，光盘装置1可以在产生读取错误的情况下无条件地进行光轴偏移控制。作为替代，光盘装置1可以基于当重新设置光盘介质M时执行的初始处理中测量的各种类型的数据，确定是否进行光轴偏移控制。例如，光盘装置1可以基于在用以确定光盘介质M的类型的处理中测量的各种类型的数据，确定是否进行光轴偏移控制。更具体地说，例如，当介质表面反射信号S和/或信号表面反射信号T的峰值电平不高于预先确定的阈值时，光盘装置1可以进行光轴偏移控制。介质表面反射信号S和/或信号表面反射信号T的峰值电平是初始处理中测量的峰值电平。

如上所述，光学***33和物镜34被使用大波长光和小波长光的类型确定共享。然而，要注意，为大波长光提供的光学***33和物镜34可以分别不同于为小波长光提供的光学***33和物镜34。

在以上描述中，光盘装置1是用于从CD或BD读出信息的装置。除了CD和BD之外，光盘装置1还可以是用于从诸如DVD的另一光盘介质M读出信息的装置。在任一情况下，通过使用对于现有操作不合适的相对大波长的光以彼此独立地检测介质表面反射信号S和信号表面反射信号T，来确定盘的类型。最初，如果检测到信号表面反射信号T，则光盘介质M被确定为用于具有小波长的光的类型的光盘。因此，同样，如果无法通过使用具有小波长的光检测到介质表面反射信号S，则可以识别用于小波长的类型的光盘介质M。

本技术包含与于2013年11月8日向日本专利局提交的日本在先专利申请JP 2013-232292中公开的主题相关的主题，通过全文引用将其内容合并在此。

本领域技术人员应理解，根据设计需求和其它因素可以进行各种修改、组合、子组合和变更，只要它们在所附权利要求或其等价物的范围内即可。

Claims (7)

1.一种能够读出存储在光盘介质中的信息的光盘装置，所述光盘装置包含：

发射光的发光设备；

把所述发光设备所发射的光会聚在所述光盘介质上的物镜；以及

控制部分，其执行控制，以在从所述光盘介质读出信息的操作中，相对所述发光设备所发射的光的光轴位置位移所述物镜的中心位置。

2.根据权利要求1所述的光盘装置，其中，在产生信息读取错误的情况下，所述控制部分执行控制以位移所述物镜的中心位置。

3.根据权利要求1所述的光盘装置，其中，如果在确定所述光盘介质的类型的操作中从所述光盘介质获得的信号的电平被确定为不足时，所述控制部分执行控制以位移所述物镜的中心位置。

4.根据权利要求1所述的光盘装置，其中，所述控制部分执行控制，以通过沿所述光盘介质的径向方向位移所述物镜的中心位置来读出信息，如果还产生信息读取错误，则所述控制部分执行控制，以沿所述径向方向相反的方向位移所述物镜的中心位置。

5.一种能够读出存储在光盘介质中的信息的光盘装置的控制方法，所述光盘装置包括：

发射光的发光设备；以及

把所述发光设备所发射的光会聚在所述光盘介质上的物镜，

所述方法包含：

执行控制，以在从所述光盘介质读出信息的操作中，相对所述发光设备所发射的光的光轴位置位移所述物镜的中心位置。

6.一种用于控制能够读出存储在光盘介质中的信息的光盘装置的程序，所述光盘装置包括：

发射光的发光设备；以及

把所述发光设备所发射的光会聚在所述光盘介质上的物镜，

用于计算机的所述程序包含：

执行控制，以在从所述光盘介质读出信息的操作中，相对所述发光设备所发射的光的光轴位置位移所述物镜的中心位置。

7.一种能够由计算机读取并且用于存储用于控制光盘装置的程序的信息存储介质，所述光盘装置能够读出存储在光盘介质中的信息，并且所述光盘装置包括：

发射光的发光设备；以及

把所述发光设备所发射的光会聚在所述光盘介质上的物镜，

用于计算机的所述程序包含：

执行控制，以在从所述光盘介质读出信息的操作中，相对所述发光设备所发射的光的光轴位置位移所述物镜的中心位置。