CN104634883B - 一种具有融合峰基线调整功能的色谱工作站 - Google Patents

一种具有融合峰基线调整功能的色谱工作站 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种具有融合峰基线调整功能的色谱工作站,包括:初始基线单元,用于连接起点和落点形成预备基线;贯穿判断单元,用于判断是否存在基线贯穿,若是触发基线更新单元,若否触发基线调整单元;基线更新单元,用于在存在一个贯穿点时,从第一端点逐点向顶点靠近作为实验点,连接实验点与第二端点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿触发基线调整单元;第一端点为起点,第二端点为落点,顶点为第一个峰的顶点;或第一端点为落点,第二端点为起点,顶点为最后一个峰的顶点;基线调整单元,用于将最新形成的预备基线作为调整后的实际基线。本发明能够减小对待测样品的融合峰进行定量分析时的误差,提高定量分析的准确性,并且省事省力。

Description

一种具有融合峰基线调整功能的色谱工作站
技术领域
本发明涉及测试测量技术领域,特别是涉及一种具有融合峰基线调整功能的色谱工作站。
背景技术
目前业界的色谱仪都提供有色谱工作站,色谱工作站相当于一个上位机,一方面完成对下位机(即色谱仪)的控制,另一方面对下位机采集到的色谱数据进行分析处理,以达到对待测样品的定量分析。
对待测样品的定量分析主要依赖于样品对应谱峰的峰面积或者峰高。谱峰的峰面积是指谱峰与基线所围成的面积,谱峰的峰高是指谱峰顶点到基线的距离。所以基线的位置将直接影响谱峰的峰面积及峰高,进而影响对待测样品定量分析的准确性,准确确定基线至关重要。
按照分离度来划分,谱峰通常包括分离峰和融合峰这两种类型,分离峰是指两峰之间的分离度大于1.5的谱峰,分离峰为单一谱峰;融合峰是指峰与峰之间的分离度小于1.5的谱峰,融合峰包括两个或两个以上的谱峰。分离度是指两个相邻的谱峰的分离程度,是化学分析领域专有名词,也称分辨率。按照基线位置来划分,谱峰通常包括正峰和负峰这两种类型,正峰的顶点在基线以上,负峰的顶点在基线以下。
对于融合峰,如图1(a)所示,为正融合峰(即融合峰为正峰)的谱图示意图;如图1(b)所示,为负融合峰(即融合峰为负峰)的谱图示意图,图1(a)和图1(b)所示的融合峰均具有两个谱峰。谱峰与基线所围成区域的面积就是融合峰的峰面积。现有的色谱工作站一般在完成谱峰识别后自动确定基线,如图1(a)和图1(b)所示,连接融合峰的起点A和落点(又称终点)B直接形成基线。如果出现基线贯穿,工作站不进行自动调整,需要实验员手动调整。基线贯穿时,正融合峰谱图的某些数据点的位置低于预备基线的位置,负融合峰谱图的某些数据点的位置低于预备基线的位置,在谱图上,基线与融合峰具有除起点A和落点B以外的其他交点,如图1(a)和图1(b)中的交点C1、C2,交点C1、C2称之为贯穿点。
上述方法至少存在下述缺陷:
1、色谱工作站自动确定基线后,如果出现基线贯穿而不进行调整,那么计算出的谱峰的峰面积及峰高不准确,进而影响对待测样品定量分析的准确性。
2、如果出现基线贯穿后,由实验员手动进行基线调整,一方面,增加一个手动步骤,费时费力,给实验员的定量分析带来一定的麻烦;另一方面,手动确定谱峰的起点和落点的位置不准确,肯定会存在一定程度的误差,最终还会影响到定量分析的准确性。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种具有融合峰基线调整功能的色谱工作站,能够减小对待测样品的融合峰进行定量分析时的误差,提高定量分析的准确性;同时,解决手动调节基线费时费力的问题。
本发明提供了一种具有融合峰基线调整功能的色谱工作站,包括:
初始基线单元,用于连接融合峰的起点和落点,形成预备基线;
贯穿判断单元,用于判断所述融合峰与最新形成的预备基线之间是否存在基线贯穿,若是,则触发基线更新单元,若否,则触发基线调整单元;
基线更新单元,用于查找融合峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点时,从融合峰的第一端点开始,在融合峰上逐点向融合峰的一个顶点靠近作为实验点,连接所述实验点与融合峰的第二端点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,触发基线调整单元;其中,所述第一端点为起点,所述第二端点为落点,所述顶点为融合峰中第一个峰的顶点;或者,所述第一端点为落点,所述第二端点为起点,所述顶点为融合峰中最后一个峰的顶点;
基线调整单元,用于将最新形成的预备基线作为调整后的实际基线。
作为一个举例说明,本发明所述第一端点为所述起点,所述实验点为实验起点;所述基线更新单元用于查找融合峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点且所述贯穿点的位置在所述起点与所述第一个峰的顶点之间时,从所述起点开始,在融合峰上逐点向所述第一个峰的顶点递增作为实验起点,连接所述实验起点与落点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,触发基线调整单元。
作为一个举例说明,本发明所述第一端点为所述落点,所述实验点为实验落点;所述基线更新单元用于查找融合峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点且所述贯穿点的位置在所述落点与所述最后一个峰的顶点之间时,从所述落点开始,在融合峰上逐点递减作为实验落点,连接所述起点与实验落点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,触发基线调整单元。
作为一个举例说明,本发明所述基线更新单元还用于查找融合峰上的贯穿点,当存在两个贯穿点,且一个贯穿点的位置在所述起点与所述第一个峰的顶点之间,另一个贯穿点的位置在所述落点与所述最后一个峰的顶点之间时,获取融合峰上所述起点到所述第一个峰的顶点之间的第一极值点和所述落点到所述最后一个峰的顶点之间的第二极值点;连接第一极值点和第二极值点,形成新的预备基线,并触发贯穿判断单元。
作为一个举例说明,本发明所述融合峰为正峰时,所述第一极值点为融合峰上所述起点到所述第一个峰的顶点之间的最低点,所述第二极值点为融合峰上所述落点到所述最后一个峰的顶点之间的最低点。
作为一个举例说明,本发明所述融合峰为负峰时,所述第一极值点为融合峰上所述起点到所述第一个峰的顶点之间的最高点,所述第二极值点为融合峰上所述落点到所述最后一个峰的顶点之间的最高点。
作为一个举例说明,本发明所述基线更新单元还用于查找融合峰上的贯穿点,当存在贯穿点的位置在所述第一个峰的顶点与所述最后一个峰的顶点之间时,获得融合峰中相邻两峰之间的第三极值点,并依据所述第三极值点获得中断点;连接所述起点到所述中断点形成一段预备基线,连接所述落点到所述中断点形成另一段预备基线,并触发贯穿判断单元;
所述贯穿判断单元还用于判断每一段预备基线与该段预备基线对应的一段融合峰之间是否存在基线贯穿,若是,则针对该段融合峰触发基线更新单元,并使所述基线更新单元在不存在基线贯穿时,触发基线调整单元;若否,则直接触发基线调整单元;所述触发基线调整单元还用于连接各段最新形成的预备基线,作为调整后的实际基线。
作为一个举例说明,本发明所述融合峰中具有两个峰时,所述基线更新单元获得融合峰中所述两个峰之间的第三极值点,并将所述第三极值点作为中断点。
作为一个举例说明,本发明所述融合峰中具有两个以上的峰时,所述基线更新单元获得融合峰中多个相邻两峰之间的第三极值点,并将多个所述第三极值点中的极点作为中断点。
作为一个举例说明,本发明所述融合峰为正峰时,所述第三极值点为最低点,所述第三极值点中的极点为多个最低点中纵坐标最小的点;所述融合峰为负峰时,所述第三极值点为最高点,所述第三极值点中的极点为多个最高点中纵坐标最大的点。
与现有技术相比,本发明具有以下优点:
本发明在融合峰与预备基线存在基线贯穿时,通过自动更新起点和/或落点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,可以使色谱工作站在识别到基线贯穿时,自动完成的基线调整。一方面,基线的位置准确,为得到更准确的峰面积及峰高提供了有力的保障,减小了对待测样品的分离峰进行定量分析时的误差,提高定量分析的准确性;另一方面也降低了实验员的工作复杂度,相比手动调节基线省时省力,能够更迅速的得到分析结果。
附图说明
图1(a)是正融合峰的谱图示意图;
图1(b)是负融合峰的谱图示意图;
图2是本发明一种具有融合峰基线调整功能的色谱工作站200实施例的结构示意图;
图3是色谱工作站200各个单元的工作方法的流程图;
图4(a)是正融合峰的一种基线贯穿示意图;
图4(b)是对图4(a)进行基线调整后的示意图;
图5(a)是负融合峰的一种基线贯穿示意图;
图5(b)是对图5(a)进行基线调整后的示意图;
图6(a)是正融合峰的另一种基线贯穿示意图;
图6(b)是对图6(a)进行基线调整后的示意图;
图7(a)是负融合峰的另一种基线贯穿示意图;
图7(b)是对图7(a)进行基线调整后的示意图;
图8(a)是正融合峰的又一种基线贯穿示意图;
图8(b)是对图8(a)进行基线调整后的示意图;
图9(a)是负融合峰的又一种基线贯穿示意图;
图9(b)是对图9(a)进行基线调整后的示意图;
图10(a)是正融合峰的再一种基线贯穿示意图;
图10(b)是对图8(a)进行基线调整后的示意图;
图11(a)是负融合峰的再一种基线贯穿示意图;
图11(b)是对图9(a)进行基线调整后的示意图;
图12是色谱工作站200各个单元的优选工作方法的流程图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
参照图2,示出了本发明一种具有融合峰基线调整功能的色谱工作站200实施例的结构示意图,色谱工作站200包括:
初始基线单元201,用于连接融合峰的起点和落点,形成预备基线;
贯穿判断单元202,用于判断所述融合峰与最新形成的预备基线之间是否存在基线贯穿,若是,则触发基线更新单元203,若否,则触发基线调整单元204;
基线更新单元203,用于查找融合峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点时,从融合峰的第一端点开始,在融合峰上逐点向融合峰的一个顶点靠近作为实验点,连接所述实验点与融合峰的第二端点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,触发基线调整单元204;其中,所述第一端点为起点,所述第二端点为落点,所述顶点为融合峰中第一个峰的顶点;或者,所述第一端点为落点,所述第二端点为起点,所述顶点为融合峰中最后一个峰的顶点;
基线调整单元204,用于将最新形成的预备基线作为调整后的实际基线。
下面,对色谱工作站200的各个单元进行具体说明:
初始基线单元201首先需要确定融合峰的起点和落点,然后直线连接融合峰的起点和落点。
对于正融合峰(即融合峰为正峰),在峰检测的过程中,逐点检测数据点的斜率,当数据点的斜率大于预设阈值时,则认为该数据点为正融合峰的起点,当多个数据点的斜率均大于预设阈值时,该多个数据点中的最低点(纵坐标最小的点)为正融合峰的起点。
对于正融合峰,在峰检测的过程中,逐点检测数据点的斜率,当数据点的斜率的绝对值小于预设阈值时,则认为该数据点为正融合峰的落点,当多个数据点的斜率的绝对值均小于预设阈值时,该多个数据点中的最低点(纵坐标最小的点)为正融合峰的落点。
对于负融合峰(即融合峰为负峰),在峰检测的过程中,逐点检测数据点的斜率,当数据点的斜率的绝对值小于预设阈值时,则认为该数据点为负融合峰的起点,当多个数据点的斜率的绝对值均小于预设阈值时,该多个数据点中的最高点(纵坐标最大的点)为负融合峰的起点。
对于负融合峰,在峰检测的过程中,逐点检测数据点的斜率,当数据点的斜率小于预设阈值时,则认为该数据点为负融合峰的落点,当多个数据点的斜率均小于预设阈值时,该多个数据点中的最高点(纵坐标最大的点)为负融合峰的落点。
需要说明的是,本发明实施例所涉及的数据点均指色谱仪所采集到的原始数据,即没有经过二次加工处理的数据。所述逐点检测是指按照采集到的原始数据的时间先后顺序逐点检测。
贯穿判断单元202判断所述融合峰与最新形成的预备基线之间是否存在基线贯穿。在谱图上,如果最新形成的预备基线与融合峰具有除起点和落点以外的其他交点,则存在基线贯穿。贯穿判断单元202在具体判断时,可以采用如下方法:对于正融合峰,如果其谱图的某些数据点的位置低于预备基线的位置,则出现基线贯穿;对于负融合峰,如果其谱图的某些数据点的位置高于预备基线的位置,则出现基线贯穿。
基线更新单元203查找融合峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点时,从融合峰的第一端点开始,在融合峰上逐点向融合峰的顶点靠近作为实验点,连接所述实验点与融合峰的第二端点形成新的预备基线。所述贯穿点就是最新形成的预备基线与融合峰之间除起点和落点以外的其他交点。在具体查找时,如果融合峰上某一点的坐标与最新形成的预备基线上某点的坐标相同,且该点非起点和落点,则该点就是贯穿点。由于融合峰具有两个以上谱峰,因此,针对每一个谱峰对应有一个顶点,正融合峰的各个顶点分别对应为融合峰中各个谱峰的最高点,负融合峰的各个顶点分别对应为融合峰中各个谱峰的最低点。
基线调整单元204将最新形成的预备基线作为调整后的实际基线后,还需要将融合峰的起点或落点更新为不存在基线贯穿时的实验点。
结合图3,色谱工作站200的各个单元按照图3所示的流程图执行各个步骤。
步骤a1,连接融合峰的起点和落点,形成预备基线;
步骤a2,判断所述融合峰与最新形成的预备基线之间是否存在基线贯穿,若是,则执行步骤a3,若否,则执行步骤a4;
步骤a3,查找融合峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点时,从融合峰的第一端点开始,在融合峰上逐点向融合峰的一个顶点靠近作为实验点,连接所述实验点与融合峰的第二端点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,执行步骤a4;其中,所述第一端点为起点,所述第二端点为落点,所述顶点为融合峰中第一个峰的顶点;或者,所述第一端点为落点,所述第二端点为起点,所述顶点为融合峰中最后一个峰的顶点;
步骤a4,将最新形成的预备基线作为调整后的实际基线。
本发明实施例提供的融合峰的基线调整方法,可以使色谱工作站在进行数据处理并识别到基线贯穿时,自动完成的基线调整。一方面,基线的位置准确,为得到更准确的峰面积及峰高提供了有力的保障,减小了对待测样品的融合峰进行定量分析时的误差,提高定量分析的准确性;另一方面也降低了实验员的工作复杂度,相比手动调节基线省时省力,能够更迅速的得到分析结果。
下面,根据贯穿点的位置对基线更新单元203做进一步举例说明。
举例说明一:存在一个贯穿点且所述贯穿点的位置在所述起点与融合峰中第一个峰的顶点(以下简称第一顶点)之间。所述第一端点为所述起点,所述实验点为实验起点。
参照图4(a),为正融合峰的一种基线贯穿示意图,参照图5(a),为负融合峰的一种基线贯穿示意图。结合图4(a)和图5(a),所述基线更新单元203用于查找融合峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点C且所述贯穿点C的位置在所述起点S与第一顶点P1之间时,从所述起点S开始,在融合峰上逐点向第一顶点P1递增作为实验起点,连接所述实验起点与落点E形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,触发基线调整单元204。如图4(b)和图5(b)所示,从所述起点S开始,在融合峰上逐点向第一顶点P1递增作为实验起点,当实验起点的位置位于S1处时,不存在基线贯穿,则触发基线调整单元204,将最新形成的预备基线S1-E,即S1与E之间的连线,作为调整后的实际基线,并更新起点为S1。
可以理解的是,第一个峰是指融合峰中按时间顺序最早出现的一个峰,通常为融合峰中最左边的一个峰。贯穿点C的位置在所述起点S与第一顶点P1之间,是指贯穿点C位于起点S和第一顶点P1所形成的一段谱图曲线上,显然,此时贯穿点C的横坐标处于起点S的横坐标和第一顶点P1的横坐标之间。
举例说明二:存在一个贯穿点且所述贯穿点的位置在所述落点与融合峰中最后一个峰的顶点(以下简称第二顶点)之间。所述第一端点为所述落点,所述实验点为实验落点。
参照图6(a),为正融合峰的另一种基线贯穿示意图,参照图7(a),为负融合峰的另一种基线贯穿示意图。结合图6(a)和图7(a),所述基线更新单元203用于查找融合峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点C且所述贯穿点C的位置在所述落点E与所述第二顶点P2之间时,从所述落点E开始,在融合峰上逐点向第二顶点P2递减作为实验落点,连接所述起点S与实验落点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,触发基线调整单元204。如图6(b)和图7(b)所示,从所述落点E开始在融合峰上逐点向第二顶点P2递减作为实验落点,当实验落点的位置位于E1处时,不存在基线贯穿,触发基线调整单元204,将最新形成的预备基线S-E1,即S与E1之间的连线,作为调整后的实际基线,并更新落点为E1。
可以理解的是,最后一个峰是指融合峰中按时间顺序最后出现的一个峰,通常为融合峰中最右边的一个峰。贯穿点C的位置在所述落点E与第二顶点P2之间,是指贯穿点C位于第二顶点P2和落点E所形成的一段谱图曲线上,显然,此时贯穿点C的横坐标处于第二顶点P2的横坐标和落点E的横坐标之间。
举例说明三:存在两个贯穿点,且一个贯穿点的位置在所述起点与第一顶点之间,另一个贯穿点的位置在所述落点与第二顶点之间。
参照图8(a),为正融合峰的又一种基线贯穿示意图,参照图9(a),为负融合峰的又一种基线贯穿示意图。结合图8(a)和图9(a),所述基线更新单元203还用于查找融合峰上的贯穿点,当存在两个贯穿点C1和C2,且一个贯穿点C1的位置在所述起点S与第一顶点P1之间,另一个贯穿点C2的位置在所述落点E与第二顶点P2之间时,如图8(b)和图9(b)所示,获取融合峰上所述起点S到第一顶点P1之间的第一极值点M1、以及融合峰上所述落点E到第二顶点P2之间的第二极值点M2;连接第一极值点M1和第二极值点M2,形成新的预备基线M1-M2,并触发贯穿判断单元202。
可以理解的是,贯穿点C1的位置在所述起点S与第一顶点P1之间,是指贯穿点C1位于起点S和第一顶点P1所形成的一段谱图曲线上,显然,此时贯穿点C1的横坐标处于起点S的横坐标和第一顶点P1的横坐标之间。贯穿点C2的位置在所述落点E与第二顶点P2之间,是指贯穿点C2位于第二顶点P2和落点E所形成的一段谱图曲线上,显然,此时贯穿点C2的横坐标处于第二顶点P2的横坐标和落点E的横坐标之间。
所述融合峰为正峰时,所述第一极值点M1为融合峰上所述起点S到所述第一顶点P1之间的最低点,所述第二极值点M2为融合峰上所述落点E到所述第二顶点P2之间的最低点。所述融合峰为负峰时,所述第一极值点M1为融合峰上所述起点S到所述第一顶点P1之间的最高点,所述第二极值点M2为融合峰上所述落点E到所述第二顶点P2之间的最高点。
触发贯穿判断单元202后,继续判断所述分离峰与最新形成的预备基线M1-M2之间是否存在基线贯穿,若是,则再次触发基线更新单元203进行基线更新,若否,则触发基线跳帧单元204,将最新形成的预备基线M1-M2作为调整后的实际基线。如图8(b)和图9(b)所示,所述分离峰与最新形成的预备基线M1-M2之间不存在基线贯穿,则将预备基线M1-M2作为调整后的实际基线,并更新起点为M1,更新落点为M2。
举例说明四:贯穿点的位置在第一顶点与第二顶点之间。在该种举例说明中,可能存在一个或者多个贯穿点的位置在第一顶点与第二顶点之间,还可能有贯穿点的位置在所述起点与第一顶点之间,也可能有贯穿点的位置在所述落点与第二顶点之间。但只要是贯穿点的位置在第一顶点与第二顶点之间,均按照该举例说明的情况处理。
参照图10(a),为正融合峰的再一种基线贯穿示意图,参照图11(a),为负融合峰的再一种基线贯穿示意图。结合图10(a)和图11(a),所述基线更新单元203还用于查找融合峰上的贯穿点,当存在贯穿点C1、C2的位置在第一顶点P1与第二顶点P2之间时,如图10(b)和图11(b)所示,获得融合峰中相邻两峰之间的第三极值点M3,将所述第三极值点M3作为中断点;连接所述起点S到所述中断点M3形成一段预备基线S-M3,连接所述落点E到所述中断点M3形成另一段预备基线M3-E,并触发贯穿判断单元202。
可以理解的是,贯穿点C1、C2的位置在在第一顶点P1与第二顶点P2之间,是指贯穿点C1、C2位于第一顶点P1与第二顶点P2所形成的一段谱图曲线上,显然,此时贯穿点C1、C2的横坐标均处于第一顶点P1的横坐标和第二顶点P2的横坐标之间。
触发贯穿判断单元202后,贯穿判断单元202还用于判断每一段预备基线S-M3和M3-E与该段预备基线对应的一段融合峰之间是否存在基线贯穿,如图10(b)和图11(b)所示,预备基线S-M3与其对应的一段融合峰不存在基线贯穿。预备基线M3-E与其对应的一段融合峰也不存在基线贯穿,则直接触发基线调整单元204;所述触发基线调整单元204还用于连接各段最新形成的预备基线,即,将线段S-M3和线段M3-E连接组合,作为调整后的实际基线。
如果预备基线S-M3与其对应的一段融合峰存在基线贯穿,则针对该段融合峰(即,S到M3之间的谱峰)触发基线更新单元203,所述基线更新单元203判断贯穿点的位置,并根据举例说明一至四分不同情况进行基线更新,形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿。同样,如果预备基线M3-E与其对应的一段融合峰也存在基线贯穿,则针对该段融合峰(即,M3到E之间的谱峰)触发基线更新单元203,所述基线更新单元203判断贯穿点的位置,并根据举例说明一至四分不同情况进行基线更新,形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿。最后,触发基线调整单元204还用于连接各段最新形成的预备基线作为调整后的实际基线。
图10(a)和图11(a)所示的融合峰具有两个谱峰,对于具有两个以上谱峰的融合峰,所述基线更新单元203需要获得融合峰中多个相邻两峰之间的第三极值点,将多个所述第三极值点中的极点作为中断点。例如,融合峰具有三个谱峰,则需要获得第一个峰和第二个峰之间的一个第三极值点,还需要获得第二个峰和第三个峰之间的另一个第三极值点,共获得两个第三极值点,并将这两个第三极值点中的极点作为中断点。相应的,具有四个谱峰的融合峰需要获得三个第三极值点,具有五个谱峰的融合峰需要获得四个第三极值点,依此类推。
所述融合峰为正峰时,所述第三极值点为相邻两峰之间的最低点,所述第三极值点中的极点为多个最低点中纵坐标最小的点。所述融合峰为负峰时,所述第三极值点为相邻两峰之间的最高点,所述第三极值点中的极点为多个最高点中纵坐标最大的点。
参照图12,示出了色谱工作站200各个单元的优选工作方法的流程图,包括如下步骤:
步骤b1,连接融合峰的起点和落点,形成预备基线;
步骤b2,判断所述融合峰与最新形成的预备基线之间是否存在基线贯穿,若是,则执行步骤b3,若否,则执行步骤19;
步骤b3,查找融合峰上的贯穿点,记录贯穿点的位置;
步骤b4,判断是否存在一个贯穿点且贯穿点的位置在起点与第一顶点之间,若是,则执行步骤b11,若否,则执行步骤b5;
步骤b5,判断是否存在一个贯穿点且贯穿点的位置在第二顶点与落点之间,若是,则执行步骤b15,若否,则执行步骤b6;
步骤b6,判断是否存在两个贯穿点,且一个贯穿点的位置在起点与第一顶点之间,另一个贯穿点的位置在落点与第二顶点之间;若是,则执行步骤b7,若否,则执行步骤b8;
步骤b7,获取融合峰上所述起点到第一顶点之间的第一极值点和所述落点到第二顶点之间的第二极值点;连接第一极值点和第二极值点,形成新的预备基线;并返回步骤b2;
步骤b8,存在贯穿点的位置在第一顶点与第二顶点之间;
步骤b9,获得融合峰中相邻两峰之间的第三极值点,并依据所述第三极值点获得中断点;连接所述起点到所述中断点形成一段预备基线,连接所述落点到所述中断点形成另一段预备基线;
步骤b10,判断每一段预备基线与该段预备基线对应的一段融合峰之间是否存在基线贯穿;若是,则针对该段融合峰返回步骤b3;若否,执行步骤b19;
步骤b11,起点记作S,i=S+1;
捕捉b12,连接第i点与落点,形成新的预备基线;
步骤b13,判断所述融合峰与最新形成的预备基线之间是否存在基线贯穿,若是,则执行步骤a14,若否,则执行步骤a19;
步骤b14,i=i+1,并返回步骤b12;
步骤b15,落点记作E,j=E-1;
步骤b16,连接第j点与起点,形成新的预备基线;
步骤b17,判断所述融合峰与最新形成的预备基线之间是否存在基线贯穿,若是,则执行步骤a18,若否,则执行步骤a19;
步骤b18,j=j-1,并返回步骤b16;
步骤b19,将最新形成的预备基线或连接各段最新形成的预备基线,作为调整后的实际基线,并更新起点为i,落点为j;
步骤b20,结束对该融合峰的基线调整。
需要说明的是,本发明对步骤b4、b5、b6和b8的先后顺序不作限定,例如,可以先执行步骤b5,判断结果为否时再执行步骤b4,步骤b4为否时再执行步骤b6,依次类推;还可以将步骤b4、b5、b6和b8合并为一个判断步骤同时执行。
以上对本发明所提供的一种具有融合峰基线调整功能的色谱工作站,进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (11)

1.一种具有融合峰基线调整功能的色谱工作站,其特征在于,包括:
初始基线单元,用于连接融合峰的起点和落点,形成预备基线;
贯穿判断单元,用于判断所述融合峰与最新形成的预备基线之间是否存在基线贯穿,若是,则触发基线更新单元,若否,则触发基线调整单元;
基线更新单元,用于查找融合峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点时,从融合峰的第一端点开始,在融合峰上逐点向融合峰的一个顶点靠近作为实验点,连接所述实验点与融合峰的第二端点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,触发基线调整单元;其中,所述第一端点为起点,所述第二端点为落点,所述顶点为融合峰中第一个峰的顶点;或者,所述第一端点为落点,所述第二端点为起点,所述顶点为融合峰中最后一个峰的顶点;
基线调整单元,用于将最新形成的预备基线作为调整后的实际基线。
2.如权利要求1所述的色谱工作站,其特征在于,
所述第一端点为所述起点,所述实验点为实验起点;
所述基线更新单元用于查找融合峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点且所述贯穿点的位置在所述起点与所述第一个峰的顶点之间时,从所述起点开始,在融合峰上逐点向所述第一个峰的顶点递增作为实验起点,连接所述实验起点与落点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,触发基线调整单元。
3.如权利要求1所述的色谱工作站,其特征在于,
所述第一端点为所述落点,所述实验点为实验落点;
所述基线更新单元用于查找融合峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点且所述贯穿点的位置在所述落点与所述最后一个峰的顶点之间时,从所述落点开始,在融合峰上逐点递减作为实验落点,连接所述起点与实验落点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,触发基线调整单元。
4.如权利要求1至3任一项所述的色谱工作站,其特征在于,
所述基线更新单元还用于查找融合峰上的贯穿点,当存在两个贯穿点,且一个贯穿点的位置在所述起点与所述第一个峰的顶点之间,另一个贯穿点的位置在所述落点与所述最后一个峰的顶点之间时,获取融合峰上所述起点到所述第一个峰的顶点之间的第一极值点和所述落点到所述最后一个峰的顶点之间的第二极值点;连接第一极值点和第二极值点,形成新的预备基线,并触发贯穿判断单元。
5.如权利要求4所述的色谱工作站,其特征在于,
所述融合峰为正峰时,所述第一极值点为融合峰上所述起点到所述第一个峰的顶点之间的最低点,所述第二极值点为融合峰上所述落点到所述最后一个峰的顶点之间的最低点。
6.如权利要求4所述的色谱工作站,其特征在于,
所述融合峰为负峰时,所述第一极值点为融合峰上所述起点到所述第一个峰的顶点之间的最高点,所述第二极值点为融合峰上所述落点到所述最后一个峰的顶点之间的最高点。
7.如权利要求1至3任一项所述的色谱工作站,其特征在于,
所述基线更新单元还用于查找融合峰上的贯穿点,当存在贯穿点的位置在所述第一个峰的顶点与所述最后一个峰的顶点之间时,获得融合峰中相邻两峰之间的第三极值点,并依据所述第三极值点获得中断点;连接所述起点到所述中断点形成一段预备基线,连接所述落点到所述中断点形成另一段预备基线,并触发贯穿判断单元;
所述贯穿判断单元还用于判断每一段预备基线与该段预备基线对应的一段融合峰之间是否存在基线贯穿,若是,则针对该段融合峰触发基线更新单元,并使所述基线更新单元在不存在基线贯穿时,触发基线调整单元;若否,则直接触发基线调整单元;
所述触发基线调整单元还用于连接各段最新形成的预备基线,作为调整后的实际基线。
8.如权利要求7所述的色谱工作站,其特征在于,
所述融合峰中具有两个峰时,所述基线更新单元获得融合峰中所述两个峰之间的第三极值点,并将所述第三极值点作为中断点。
9.如权利要求7所述的色谱工作站,其特征在于,
所述融合峰中具有两个以上的峰时,所述基线更新单元获得融合峰中多个相邻两峰之间的第三极值点,并将多个所述第三极值点中的极点作为中断点。
10.如权利要求8所述的色谱工作站,其特征在于,
所述融合峰为正峰时,所述第三极值点为最低点;所述融合峰为负峰时,所述第三极值点为最高点。
11.如权利要求9所述的色谱工作站,其特征在于,
所述融合峰为正峰时,所述第三极值点为最低点,所述第三极值点中的极点为多个最低点中纵坐标最小的点;
所述融合峰为负峰时,所述第三极值点为最高点,所述第三极值点中的极点为多个最高点中纵坐标最大的点。
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