CN104570528B - 阵列基板、显示面板及阵列基板的检测方法 - Google Patents

阵列基板、显示面板及阵列基板的检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN104570528B
CN104570528B CN201410848799.XA CN201410848799A CN104570528B CN 104570528 B CN104570528 B CN 104570528B CN 201410848799 A CN201410848799 A CN 201410848799A CN 104570528 B CN104570528 B CN 104570528B
Authority
CN
China
Prior art keywords
pixel
sub
electric capacity
array base
extension
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201410848799.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN104570528A (zh
Inventor
陈政鸿
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority to CN201410848799.XA priority Critical patent/CN104570528B/zh
Priority to US14/435,542 priority patent/US9671450B2/en
Priority to PCT/CN2015/070834 priority patent/WO2016106863A1/zh
Publication of CN104570528A publication Critical patent/CN104570528A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN104570528B publication Critical patent/CN104570528B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/52Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1343Electrodes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1343Electrodes
    • G02F1/134309Electrodes characterised by their geometrical arrangement
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3607Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals for displaying colours or for displaying grey scales with a specific pixel layout, e.g. using sub-pixels
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1343Electrodes
    • G02F1/134309Electrodes characterised by their geometrical arrangement
    • G02F1/134345Subdivided pixels, e.g. for grey scale or redundancy
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254Checking; Testing
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00Control of display operating conditions
    • G09G2320/02Improving the quality of display appearance
    • G09G2320/029Improving the quality of display appearance by monitoring one or more pixels in the display panel, e.g. by monitoring a fixed reference pixel
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/12Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

本发明提供一种阵列基板、显示面板及阵列基板的检测方法。所述阵列基板包括呈矩阵分布的多个像素,每个像素包括多个依次排列的子像素,每个子像素与一个电容相对且间隔设置,每个子像素包括一个子像素电极,至少一子像素电极包括一延伸部,至少一子像素的子像素电极的延伸部对应相邻的子像素与所述相邻的子像素对应的电容之间的间隙设置。

Description

阵列基板、显示面板及阵列基板的检测方法
技术领域
本发明涉显示领域,尤其涉及一种阵列基板、显示面板及阵列基板的检测方法。
背景技术
液晶显示装置作为一种常见的电子设备由于其具有质量轻、大视角等优点而被广泛地应用。为了改变垂直取向型的业绩显示装置在大视角出现的色偏现象,通常采用电荷共享的像素设计。在电荷共享的像素设计中,每个像素包括依次排列的三个子像素,比如红色子像素(R),绿色子像素(G)和蓝色子像素(B),每个子像素包括一个子像素电极,每个像素与一个共享电容相对。所述共享电容的最上层通常为透明导电层,比如为ITO,在实际生产过程中可能会出现ITO的残留,则会造成共享电容与子像素电极之间的短路。当所述共享电容与子像素电极之间短路时,在液晶显示装置的显示面板上会出现微亮点现象,从而造成显示面板的显示质量不高。CN101324729A为本发明最接近的现有技术。且现有技术中不能够检测出共享电容与子像素电极之间短路的情况。
发明内容
本发明提供一种阵列基板,所述阵列基板包括呈矩阵分布的多个像素,每个像素包括多个依次排列的子像素,每个子像素与一个电容相对且间隔设置,每个子像素包括一个子像素电极,至少一子像素电极包括一延伸部,至少一子像素的子像素电极的延伸部对应相邻的子像素与所述相邻的子像素对应的电容之间的间隙设置。
其中,每个像素包括三个依次排列的子像素,三个依次排列的子像素为第一子像素、第二子像素及第三子像素,所述第一子像素与第一电容相对且间隔设置,所述第二子像素与第二电容相对且间隔设置,所述第三子像素与第三电容相对且间隔设置,所述第一子像素包括第一子像素电极,所述第二子像素包括第二子像素电极,所述第三子像素包括第三子像素电极,所述第一子像素电极包括第一延伸部,所述第一延伸部对应所述像素中的第二子像素与所述第二电容之间的间隙设置。
其中,所述第二子像素电极包括第二延伸部,所述第二延伸部对应所述像素中的第三子像素与所述第三电容之间的间隙设置。
其中,所述第三子像素电极包括第三延伸部,所述第三延伸部对应所述像素相邻的像素中的第一子像素与第一电容之间的间隙设置。
本发明还提供一种显示面板,所述显示面板包括阵列基板,所述阵列基板包括呈矩阵分布的多个像素,每个像素包括多个依次排列的子像素,每个子像素与一个电容相对且间隔设置,每个子像素包括一个子像素电极,至少一子像素电极包括一延伸部,至少一子像素的子像素电极的延伸部对应相邻的子像素与所述相邻的子像素对应的电容之间的间隙设置。
其中,每个像素包括三个依次排列的子像素,三个依次排列的子像素为第一子像素、第二子像素及第三子像素,所述第一子像素与第一电容相对且间隔设置,所述第二子像素与第二电容相对且间隔设置,所述第三子像素与第三电容相对且间隔设置,所述第一子像素包括第一子像素电极,所述第二子像素包括第二子像素电极,所述第三子像素包括第三子像素电极,所述第一子像素电极包括第一延伸部,所述第一延伸部对应所述像素中的第二子像素与所述第二电容之间的间隙设置。
其中,所述第二子像素电极包括第二延伸部,所述第二延伸部对应所述像素中的第三子像素与所述第三电容之间的间隙设置。
其中,所述第三子像素电极包括第三延伸部,所述第三延伸部对应所述像素相邻的像素中的第一子像素与第一电容之间的间隙设置。
本发明还提供一种阵列基板的检测方法,所述阵列基板包括呈矩阵分布的多个像素,每个像素包括多个依次排列的子像素,每个子像素与一个电容相对且间隔设置,每个子像素包括一个子像素电极,至少一子像素电极包括一延伸部,至少一子像素的子像素电极的延伸部对应相邻的子像素与所述相邻的子像素对应的电容之间的间隙设置;
依次点亮一种颜色的子像素并观测所述阵列基板;
判断所述阵列基板中除了所述点亮的颜色之外是否还有其他颜色;
当所述阵列基板中除了所述点亮的颜色之外没有其他颜色,则所述阵列基板为正常。
其中,当所述阵列基板中除了点亮的颜色之外还有其他颜色,则所述阵列基板上显示其他颜色的子像素的延伸部与当前被点亮的颜色的子像素的子像素电极以及其所对应的电容之间出现短路。
相较于现有技术,本发明的阵列基板及包括所述阵列基板的显示面板以及阵列基板的检测方法通过在将至少一个子像素电极设置为包括一个延伸部,并将此子像素电极的延伸部对应相邻的子像素电极与所述相邻的子像素对应的电容之间的间隙设置。当依次点亮所述阵列基板中各个颜色的子像素时,可以通过所述阵列基板中除了现实当前被点亮的颜色之外是否还有其他颜色被点亮,从而能够判断出所述阵列基板上显示其他颜色的子像素的延伸部与当前被点亮的颜色的子像素的子像素电极以及其所对应的电容之间出现短路。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明一较佳实施方式的阵列基板的结构示意图。
图2为本发明一较佳实施方式的显示面板的结构示意图。
图3为本发明一较佳实施方式的阵列基板的检测方法的流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1,图1为本发明一较佳实施方式的阵列基板的结构示意图。所述阵列基板(thin film transistor array)10包括呈矩阵分布的而多个像素100,每个像素100包括多个依次排列的子像素,每个子像素与一个电容相对且间隔设置,每个子像素包括一个子像素电极,至少一个子像素电极包括一延伸部,至少一子像素的子像素电极的延伸部对应相邻的子像素与所述相邻的子像素对应的电容之间的间隙设置。下面以所述像素100包括三个子像素为例进行说明。
每个像素100包括三个依次排列的子像素为第一子像素110、第二子像素120及第三子像素130。所述第一子像素110与第一电容C1相对且间隔设置,所述第二子像素120与第二电容C2相对且间隔设置,所述第三子像素130与第三电容C3相对且间隔设置。所述第一子像素110包括第一子像素电极111,所述第二子像素120包括第二子像素电极121,所述第三子像素电极130包括第三子像素电极131。所述第一子像素电极111包括第一延伸部112,所述第一延伸部对应所述像素100中的第二子像素120与所述第二电容C2之间的间隙设置。所述第一子像素110、所述第二子像素120及所述第三子像素130为红色、绿色以及蓝色的组合。在本实施方式中以所述第一子像素110、所述第二子像素120及所述第三子像素130分别为红色子像素、绿色子像素以及蓝色子像素为例进行介绍。
所述第二子像素电极121包括第二延伸部122,所述第二延伸部122对应所述像素100中的第三子像素130与所述第三电容C3之间的间隙设置。
所述第三子像素电极131包括第三延伸部132,所述第三延伸部132所述像素100中相邻的像素100中的第一子像素110与第一电容C1之间的间隙设置。
判断所述阵列基板10是否正常或者是否存在电容与子像素电极发生短路的情况介绍如下。依次点亮一种颜色的子像素并观测所述阵列基板10;判断所述阵列基板10中除了所述点亮的颜色之外是否还有其他颜色;当所述阵列基板10中除了所述点亮的颜色之外没有其他颜色,则所述阵列基板10正常;当所述阵列基板10中除了点亮的颜色之外还有其他颜色,则所述阵列基板10上显示其他颜色的子像素对应的当前被点亮的颜色的子像素与其对应的电容之间出现短路。这里以点亮绿色子像素为例进行介绍。点亮所述绿色子像素(即点亮第二子像素120),观测所述阵列基板10;判断所述阵列基板10中除了绿色之外是否还有其他颜色;如果所述阵列基板10中除了显示绿色之外没有显示其他颜色(比如红色或者蓝色,或者红色和蓝色),则表明所述阵列基板10正常。如果所述阵列基板10中除了显示绿色之外还显示其他颜色,比如红色或者蓝色,或者红色和蓝色。这里以所述阵列基板10在点亮绿色子像素时还显示红色为例进行介绍。此时,则说明红色子像素(即第一子像素110)的延伸部111与所述第二子像素电极120以及第二电容C2之间发生短路。这说明所述第二子像素电极120与所述第二子像素电极120对应的第二电容C2之间残留较多的导电材料,需要对第二子像素电极120及所述第二电容C2之间残留的导电材料进行清理,以提高所述阵列基板10的品质。
下面结合图1对本发明显示面板进行介绍。请参阅图2,图2为本发明一较佳实施方式的显示面板的结构示意图。所述显示面板1包括如图1所示的阵列基板10、彩色滤光基板20及液晶层30。所述阵列基板10与所述彩色滤光基板20相对设置,所述液晶层30设置于所述阵列基板10与所述彩色滤光基板20之间。
所述阵列基板(thin film transistor array)10包括呈矩阵分布的而多个像素100,每个像素100包括多个依次排列的子像素,每个子像素与一个电容相对且间隔设置,每个子像素包括一个子像素电极,至少一个子像素电极包括一延伸部,至少一子像素的子像素电极的延伸部对应相邻的子像素与所述相邻的子像素对应的电容之间的间隙设置。下面以所述像素100包括三个子像素为例进行说明。
每个像素100包括三个依次排列的子像素为第一子像素110、第二子像素120及第三子像素130。所述第一子像素110与第一电容C1相对且间隔设置,所述第二子像素120与第二电容C2相对且间隔设置,所述第三子像素130与第三电容C3相对且间隔设置。所述第一子像素110包括第一子像素电极111,所述第二子像素120包括第二子像素电极121,所述第三子像素电极130包括第三子像素电极131。所述第一子像素电极111包括第一延伸部112,所述第一延伸部对应所述像素100中的第二子像素120与所述第二电容C2之间的间隙设置。所述第一子像素110、所述第二子像素120及所述第三子像素130为红色、绿色以及蓝色的组合。在本实施方式中以所述第一子像素110、所述第二子像素120及所述第三子像素130分别为红色子像素、绿色子像素以及蓝色子像素为例进行介绍。
所述第二子像素电极121包括第二延伸部122,所述第二延伸部122对应所述像素100中的第三子像素130与所述第三电容C3之间的间隙设置。
所述第三子像素电极131包括第三延伸部132,所述第三延伸部132所述像素100中相邻的像素100中的第一子像素110与第一电容C1之间的间隙设置。
判断所述阵列基板10是否正常或者是否存在电容与子像素电极发生短路的情况介绍如下。依次点亮一种颜色的子像素并观测所述阵列基板10;判断所述阵列基板10中除了所述点亮的颜色之外是否还有其他颜色;当所述阵列基板10中除了所述点亮的颜色之外没有其他颜色,则所述阵列基板10正常;当所述阵列基板10中除了点亮的颜色之外还有其他颜色,则所述阵列基板10上显示其他颜色的子像素对应的当前被点亮的颜色的子像素与其对应的电容之间出现短路。这里以点亮绿色子像素为例进行介绍。点亮所述绿色子像素(即点亮第二子像素120),观测所述阵列基板10;判断所述阵列基板10中除了绿色之外是否还有其他颜色;如果所述阵列基板10中除了显示绿色之外没有显示其他颜色(比如红色或者蓝色,或者红色和蓝色),则表明所述阵列基板10正常。如果所述阵列基板10中除了显示绿色之外还显示其他颜色,比如红色或者蓝色,或者红色和蓝色。这里以所述阵列基板10在点亮绿色子像素时还显示红色为例进行介绍。此时,则说明红色子像素(即第一子像素110)的延伸部111与所述第二子像素电极120以及第二电容C2之间发生短路。这说明所述第二子像素电极120与所述第二子像素电极120对应的第二电容C2之间残留较多的导电材料,需要对第二子像素电极120及所述第二电容C2之间残留的导电材料进行清理,以提高所述阵列基板10的品质。
下面结合图1和图2对本发明的阵列基板的检测方法进行介绍。请一并参阅图3,图3为本发明一较佳实施方式的阵列基板的检测方法的流程图。所述阵列基板10的检测方法包括但不仅限于以下步骤。
步骤S101,依次点亮一种颜色的子像素并观测所述阵列基板10。
步骤S102,判断所述阵列基板10中除了点亮的颜色之外是否还有其他颜色。
步骤S103,当所述阵列基板10中除了所述点亮的颜色之外没有其他颜色,则所述阵列基板10为正常。
步骤S104,当所述阵列基板10中除了点亮的颜色之外还有其他颜色,则所述阵列基板10上显示其他颜色的子像素的延伸部与当前被点亮的颜色的子像素的子像素电极以及其所对应的电容之间出现短路。
这里以点亮绿色子像素为例进行介绍。点亮所述绿色子像素(即点亮第二子像素120),观测所述阵列基板10;判断所述阵列基板10中除了绿色之外是否还有其他颜色;如果所述阵列基板10中除了显示绿色之外没有显示其他颜色(比如红色或者蓝色,或者红色和蓝色),则表明所述阵列基板10正常。如果所述阵列基板10中除了显示绿色之外还显示其他颜色,比如红色或者蓝色,或者红色和蓝色。这里以所述阵列基板10在点亮绿色子像素时还显示红色为例进行介绍。此时,则说明红色子像素(即第一子像素110)的延伸部111与所述第二子像素电极120以及第二电容C2之间发生短路。这说明所述第二子像素电极120与所述第二子像素电极120对应的第二电容C2之间残留较多的导电材料,需要对第二子像素电极120及所述第二电容C2之间残留的导电材料进行清理,以提高所述阵列基板10的品质。
相较于现有技术,本发明的阵列基板及包括所述阵列基板的显示面板以及阵列基板的检测方法通过在将至少一个子像素电极设置为包括一个延伸部,并将此子像素电极的延伸部对应相邻的子像素电极与所述相邻的子像素对应的电容之间的间隙设置。当依次点亮所述阵列基板10中各个颜色的子像素时,可以通过所述阵列基板10中除了现实当前被点亮的颜色之外是否还有其他颜色被点亮,从而能够判断出所述阵列基板10上显示其他颜色的子像素的延伸部与当前被点亮的颜色的子像素的子像素电极以及其所对应的电容之间出现短路。
以上所揭露的仅为本发明一种较佳实施例而已,当然不能以此来限定本发明之权利范围,本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分流程,并依本发明权利要求所作的等同变化,仍属于发明所涵盖的范围。

Claims (10)

1.一种阵列基板,其特征在于,所述阵列基板包括呈矩阵分布的多个像素,每个像素包括多个依次排列的子像素,每个子像素与一个电容相对且间隔设置,每个子像素包括一个子像素电极,至少一子像素电极包括一延伸部,至少一子像素的子像素电极的延伸部对应相邻的子像素与所述相邻的子像素对应的电容之间的间隙设置。
2.如权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,每个像素包括三个依次排列的子像素,三个依次排列的子像素为第一子像素、第二子像素及第三子像素,所述第一子像素与第一电容相对且间隔设置,所述第二子像素与第二电容相对且间隔设置,所述第三子像素与第三电容相对且间隔设置,所述第一子像素包括第一子像素电极,所述第二子像素包括第二子像素电极,所述第三子像素包括第三子像素电极,所述第一子像素电极包括第一延伸部,所述第一延伸部对应所述像素中的第二子像素与所述第二电容之间的间隙设置。
3.如权利要求2所述的阵列基板,其特征在于,所述第二子像素电极包括第二延伸部,所述第二延伸部对应所述像素中的第三子像素与所述第三电容之间的间隙设置。
4.如权利要求3所述的阵列基板,其特征在于,所述第三子像素电极包括第三延伸部,所述第三延伸部对应所述像素相邻的像素中的第一子像素与第一电容之间的间隙设置。
5.一种显示面板,其特征在于,所述显示面板包括阵列基板,所述阵列基板包括呈矩阵分布的多个像素,每个像素包括多个依次排列的子像素,每个子像素与一个电容相对且间隔设置,每个子像素包括一个子像素电极,至少一子像素电极包括一延伸部,至少一子像素的子像素电极的延伸部对应相邻的子像素与所述相邻的子像素对应的电容之间的间隙设置。
6.如权利要求5所述的显示面板,其特征在于,每个像素包括三个依次排列的子像素,三个依次排列的子像素为第一子像素、第二子像素及第三子像素,所述第一子像素与第一电容相对且间隔设置,所述第二子像素与第二电容相对且间隔设置,所述第三子像素与第三电容相对且间隔设置,所述第一子像素包括第一子像素电极,所述第二子像素包括第二子像素电极,所述第三子像素包括第三子像素电极,所述第一子像素电极包括第一延伸部,所述第一延伸部对应所述像素中的第二子像素与所述第二电容之间的间隙设置。
7.如权利要求6所述的显示面板,其特征在于,所述第二子像素电极包括第二延伸部,所述第二延伸部对应所述像素中的第三子像素与所述第三电容之间的间隙设置。
8.如权利要求7所述的显示面板,其特征在于,所述第三子像素电极包括第三延伸部,所述第三延伸部对应所述像素相邻的像素中的第一子像素与第一电容之间的间隙设置。
9.一种阵列基板的检测方法,其特征在于,所述阵列基板包括呈矩阵分布的多个像素,每个像素包括多个依次排列的子像素,每个子像素与一个电容相对且间隔设置,每个子像素包括一个子像素电极,至少一子像素电极包括一延伸部,至少一子像素的子像素电极的延伸部对应相邻的子像素与所述相邻的子像素对应的电容之间的间隙设置;
依次点亮一种颜色的子像素并观测所述阵列基板;
判断所述阵列基板中除了所述点亮的颜色之外是否还有其他颜色;
当所述阵列基板中除了所述点亮的颜色之外没有其他颜色,则所述阵列基板为正常。
10.如权利要求9所述的阵列基板的检测方法,其特征在于,当所述阵列基板中除了点亮的颜色之外还有其他颜色,则所述阵列基板上显示其他颜色的子像素的延伸部与当前被点亮的颜色的子像素的子像素电极以及其所对应的电容之间出现短路。
CN201410848799.XA 2014-12-30 2014-12-30 阵列基板、显示面板及阵列基板的检测方法 Active CN104570528B (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410848799.XA CN104570528B (zh) 2014-12-30 2014-12-30 阵列基板、显示面板及阵列基板的检测方法
US14/435,542 US9671450B2 (en) 2014-12-30 2015-01-16 Array substrate, display panel and method for detecting the array substrate
PCT/CN2015/070834 WO2016106863A1 (zh) 2014-12-30 2015-01-16 阵列基板、显示面板及阵列基板的检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410848799.XA CN104570528B (zh) 2014-12-30 2014-12-30 阵列基板、显示面板及阵列基板的检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104570528A CN104570528A (zh) 2015-04-29
CN104570528B true CN104570528B (zh) 2017-05-10

Family

ID=53086975

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410848799.XA Active CN104570528B (zh) 2014-12-30 2014-12-30 阵列基板、显示面板及阵列基板的检测方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9671450B2 (zh)
CN (1) CN104570528B (zh)
WO (1) WO2016106863A1 (zh)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030089232A (ko) * 2002-05-17 2003-11-21 삼성전자주식회사 색 수차 보정 장치 및 방법
CN101324729A (zh) * 2008-05-23 2008-12-17 上海广电光电子有限公司 液晶显示装置及其驱动方法
CN101581864A (zh) * 2009-06-19 2009-11-18 友达光电股份有限公司 液晶显示面板及其像素驱动方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101265286B1 (ko) * 2006-09-08 2013-05-20 삼성디스플레이 주식회사 어레이 기판, 이를 갖는 표시장치 및 표시장치의 구동방법
KR101313154B1 (ko) * 2007-02-06 2013-10-01 삼성디스플레이 주식회사 액정표시장치
KR101358334B1 (ko) * 2007-07-24 2014-02-06 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 장치 및 그 구동 방법
US8482709B2 (en) * 2010-04-22 2013-07-09 Samsung Display Co., Ltd. Liquid crystal display
KR20120021537A (ko) * 2010-08-06 2012-03-09 삼성전자주식회사 액정 표시 장치
KR20120036109A (ko) * 2010-10-07 2012-04-17 삼성전자주식회사 액정 표시 장치

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030089232A (ko) * 2002-05-17 2003-11-21 삼성전자주식회사 색 수차 보정 장치 및 방법
CN101324729A (zh) * 2008-05-23 2008-12-17 上海广电光电子有限公司 液晶显示装置及其驱动方法
CN101581864A (zh) * 2009-06-19 2009-11-18 友达光电股份有限公司 液晶显示面板及其像素驱动方法

Also Published As

Publication number Publication date
US9671450B2 (en) 2017-06-06
WO2016106863A1 (zh) 2016-07-07
US20160341779A1 (en) 2016-11-24
CN104570528A (zh) 2015-04-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105243980B (zh) 薄膜晶体管阵列基板、显示面板及检测纯色画面的方法
CN104716163B (zh) 像素结构以及显示基板和显示装置
CN105182644B (zh) 薄膜晶体管阵列基板、显示面板及显示面板的检测方法
CN105204217B (zh) 液晶显示面板
CN104766563B (zh) 一种像素结构及显示面板和显示装置
CN103050074B (zh) 一种显示器的残像等级评定装置及方法
CN104362170A (zh) 一种有机电致发光显示器件、其驱动方法及相关装置
CN104282727A (zh) 一种像素结构及其显示方法、显示装置
RU2011107236A (ru) Устройство отображения с несколькими основными цветами
CN103854570B (zh) 显示基板及其驱动方法和显示装置
CN102959462A (zh) 显示面板和显示装置
CN103809323A (zh) 显示基板和显示装置
CN108182919A (zh) 显示装置
CN106249490A (zh) 阵列基板、显示面板和显示装置
CN104809956B (zh) 像素结构、显示基板和显示装置
CN104297991B (zh) 彩膜基板及显示装置
CN103792725A (zh) 显示基板和显示装置
CN104299557A (zh) 一种像素结构、显示基板和显示装置
CN107833561A (zh) 显示面板的驱动方法、驱动装置及显示装置
CN106023872A (zh) 显示装置及其驱动方法
CN202548354U (zh) 彩膜基板、显示面板及显示装置
CN106097898A (zh) 像素阵列、显示基板和显示装置
CN105676495A (zh) 检测单元、阵列基板、液晶显示装置以及检测方法
CN104749847B (zh) 一种阵列基板、显示装置及图像显示方法
WO2013127234A1 (zh) 检测液晶显示面板交叉串扰的方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant