CN104569505A - 无螺纹接触弹簧的更换 - Google Patents
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Abstract
一种用于电子部件的顺序测试的接触弹簧块,其包括:底块、独立接触弹簧组和夹式装置。当夹式装置被夹持至底块时,所述独立接触弹簧组被夹紧并对齐。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于电子部件的顺序测试的接触弹簧块,本发明还涉及用于电子部件的顺序测试的接触插座。另外,本发明涉及一种更换接触弹簧块的接触弹簧的方法。此外,本发明涉及更换接触插座的接触弹簧的方法。
背景技术
接触插座通常由多个部分制成,如接触弹簧、其中设置有接触弹簧的接触弹簧块和容纳接触弹簧块的插座框。接触弹簧通常具有弹性部分和在外端的接触尖端,电子部件的焊盘或导线通过接触尖端相接触。在测试多个电子部件(也称“DUTs”)的过程中,整个设备可能会受到越来越多的污染。特别地,当来自导线材料的灰尘沉积在接触尖端上时,通过接触尖端的接触可能受到阻碍或变得不可能。因此,受该过程影响的接触插座的部分通常是可更换的。通常接触弹簧块是整体构成的且整个拧紧在插座框上,这使得更换完整的接触弹簧块可修复接触插座的功能。由于接触弹簧之间的距离尺寸(也称DUTs上的“螺距”)极小,这些接触弹簧块必须以高精度制造,且因此价格昂贵。
US5,573,408A公开了一种电边缘连接器壳体,其被安装在印刷电路板衬底上。该电边缘连接器壳体具有多个壁以形成多个狭槽和分别的多个腔室。每个狭槽被安放在衬底的另一侧,用来接收来自腔体的沟槽。每一个狭槽和腔室接收一个接触用于与衬底连接,此接触被接收在沟槽内。固定夹与对齐块配合以对齐并将衬底固定在壳体内。
US2010/20269A1公开了一个插座,其适于将半导体封装电连接到印刷电路板上。插座包括一个主体,其定义了大量接触通道和多个 接触,多个接触被接收在主体的接触通道内。每个接触具有底部、第一接触部、从底部向上延伸的第二接触部和从底部的底边弯出的弹簧臂。弹簧臂基本上以水平方向延伸,并且在自由端向下弯曲而形成尾部。弹簧臂可发生形变来为尾部提供弹力以挤压印刷电路板。
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WO2008/062980A1公开了一个独立的模块插座,其利用夹片和探针。使用所述模块插座将存储器模块衬底***至模块插座并测试存储器模块衬底。所述模块插座包括探针、独立的模块夹片和壳体。所述探针具有活塞、活塞罩和用于在活塞一端和活塞罩之间施加弹力的弹性体。独立模块夹片为S形,其置于水平方向并具有用于与存储器模块衬底接触的接触部。壳体具有壳体内部定义的空间,将独立模块夹片***所述空间,并且壳体的下端形成孔。将活塞***到孔中以与PCB接触。
US5,295,841A公开了一种接触,其用于安装在电路元件上的高密度芯片载体插座。所述接触使用了罩以将芯片载体的导线推入各自的接触的电接合。将一种用于接收凹处的工具并入接触中,使得在将罩挤压进位置时,可对抗施加在插座上的力,将施加在插座和电路元件之间连接上的力最小化,电路元件通常为焊接头。提供一种工具,其从电路元件的一侧使用,以将罩压入位置,同时接合接触槽以抵抗施 加的相关力,所述工具也可将罩从接触中拉出而不会在接触上施加显著的力,这是通过在挤压载体的同时使用罩中的边缘来实现的。
发明内容
本发明的一个目的是需要降低用于维护接触插座的费用。另一个目的是提供一种简单的方法以维持接触插座高可靠性地工作。
为了实现上述目的,根据权利要求1至15,提供了一种接触弹簧块、一种接触插座、一种更换接触弹簧块的接触弹簧的方法和一种更换接触插座的接触弹簧的方法。
根据本发明的一个实施例,用于电子部件的顺序测试的接触弹簧块包括:底块、独立接触弹簧组和夹式装置,其中当夹式装置夹到底块上时,所述独立接触弹簧组被夹住并对齐。
所述单个或独立接触弹簧组中的每个接触弹簧可包括接触尖端。当夹式装置被夹住至底块上时,所述独立接触弹簧组可在底块与夹式装置之间牢固地被夹紧。所述独立接触弹簧组可在底块和夹式装置之间被直接或间接地夹紧。术语“顺序测试”可特指为通常一次性由一个DUT执行的测试。测试可以是在不同环境条件下的电子检测,例如特定温度、压力、加速度、旋转等条件。术语“电子部件”可指所谓的DUT(被测试装置),其是半导体生产中的后端产品。因而,术语“电子部件的顺序测试”可特指ICs(集成电路)的电子检测,其需要在特定条件下对它们质量的功能证明。可一次测试一个电子部件且对于其他电子部件(DUTs)重复该测试。提供电子部件的顺序测试的设备通常被称为自动测试设备(ATE)。
术语“独立接触弹簧组”可指特定数量(2、3、4、5或更多)的导电弹性单元,其被用于在检测器和DUT的接触焊盘之间传输电信号。术语“接触尖端”可特指接触弹簧的自由端,其可机械性地被挤压到DUT的接触部分(接触点、接触焊盘或焊点球)。该独立的接触弹簧可具有典型的S形或其他形式,其被用于弹性地与DUT的接触焊 盘相接触。
术语“接触弹簧块”可特指一个组装的装置,其中多个接触弹簧被固定且对齐,使得接触弹簧块可包括所需数目的接触尖端,用来与必要数目的DUT的接触部相接触。接触弹簧块可包括一个接触弹簧用于每个DUT的接触焊盘。此外,接触弹簧块可包括多个接触弹簧用于每个DUT的接触焊盘,以提高接触质量或提供所谓的用于推导电接触质量的Kelvin接触。
术语“底块”可指接触弹簧块的中心装置。因此,底块是接触弹簧块的一部分。所述接触弹簧块可与底块对齐并固定。术语“夹式装置”可特指底块的对立部分,使得接触弹簧通过底块和夹式装置的接合而对齐并相互固定。术语“被夹住”可特指“扣住、握住、或通过夹子固定”。因此,夹式装置通过夹式装置被夹住到底块上而被固定在底块上。术语“被夹紧”可特指“握紧”或“由夹子扣牢或像被夹子扣牢”。术语“夹紧装置”可特指一个装置,其设计用来将两个或多个部分捆绑或挤压在一起,以使它们稳固。“夹紧”是指将任何不同仪器或设备具有靠在一起的部件用于保持或挤压某物。因此,这些部件可以是底座和夹式装置,其将接触弹簧组牢固地保持住
术语“对齐”可特指“在精确调节中或正确相对位置中,或进行精确调节和达到正确相对位置”。因此,由于夹紧使得独立接触弹簧彼此在合适的位置或调节状态。
术语“独立接触弹簧组通过夹式装置被夹住至底块上而被夹紧”可指当夹式装置被夹住至底块上时,独立接触弹簧被直接或间接地固定并紧扣。
根据本发明的另一个实施例,接触插座包括几个(例如,1、2、3或4)接触弹簧块,其包括所述的接触弹簧块的特征。每个接触弹簧块可设置在接触部位侧面部分的安装位置中。
特别地,接触弹簧块可在接触插座四个侧面的每一侧设置。“接 触部位”通常是指接触插座的中心区域,其中电子部件被挤压使得电子部件的接触部分与接触插座的接触尖端匹配。
接触弹簧块可被拧进接触插座使得夹式装置被挤压到接触插座的刚性部分并阻止其滑落。特别地,将夹式装置挤压到接触插座的安装位置,使得当接触弹簧块被安装在安装位置中的接触插座时,夹式装置不能被取下。
根据本发明的另一实施例,一种用于更换接触弹簧块的接触弹簧的方法,特别地根据本发明一个实施例的一种接触弹簧块,该方法包括:
-将夹式装置从底块中移除,其中特别地所述夹式装置和底块是接触弹簧块的组件,
-将独立接触弹簧组中的第一接触弹簧从接触弹簧块上移除,并且将第二接触弹簧放置在第一接触弹簧的位置,
-将夹式装置夹到底块,使得包含第二接触弹簧的独立接触弹簧组被夹紧。
第一和第二接触弹簧通常是相同类型的接触弹簧。因此,第一和第二接触弹簧是独立接触弹簧组的部件,或是另一个独立接触弹簧组的部件。如果第一和第二接触弹簧属于独立接触弹簧组,那么两者都是第一接触弹簧类型或两者都是第二接触弹簧类型。特别地,第一接触弹簧可能被损坏或被污染,且第二接触弹簧可以是新的。
仍然根据本发明的另一个实施例,提供了一种用来更换接触弹簧块的接触弹簧的方法,其中所述方法运用了上面所述更换接触弹簧块的接触弹簧的方法,并进一步包括:
-将包括第一接触弹簧的接触弹簧块从接触插座中移除,
-将包括第二接触弹簧的接触弹簧块放入接触插座的安装位置。
特别地,可在第一接触弹簧被移除前将接触弹簧块移除,和/或在第二接触弹簧被放置到第一接触弹簧位置后再将接触弹簧块放入。 移除第一接触弹簧可包括移除第一和第二螺钉,该第一和第二螺钉用于将第一接触弹簧与夹式装置固定,该夹式装置指向安装位置的区域的方向。将第二接触弹簧块放入安装位置可包括阻止夹式装置滑落,因为夹式装置指向安装位置的方向。此外,将第二接触弹簧块放入安装位置可包括将夹式装置推向安装位置。因此,夹式装置被拧向安装位置,使得阻止或阻碍了接触弹簧块的滑落。
仍然根据本发明的另一个实施例,提供了一种更换接触弹簧块的接触弹簧的方法,该方法包括根据本发明一个实施例的至少一个接触弹簧块,其中所述方法包括:
-根据本发明的实施例,将第一接触弹簧块从接触插座的安装位置移除;以及
-根据本发明的实施例,将第二接触弹簧块放入接触插座的安装位置。
根据接触弹簧块的典型实施例,独立接触弹簧组包括第一子组,其具有第一接触弹簧类型且具有第一对齐钉。另外,独立接触弹簧组包括第二子组,其具有第二接触弹簧类型且具有第二对齐钉。至少一个独立的第一类型或第二类型的接触弹簧包括接触尖端。第一类型接触弹簧和第二类型接触弹簧被相邻地夹紧,并且从接触尖端到第一对齐钉的距离小于从接触尖端到第二对齐钉的距离。
特别地,第一类型接触弹簧和第二类型接触弹簧可彼此临近地被夹紧在底块上。术语“子组”可特指单元数目小于组的单元数目的多个单元。术语“第一接触弹簧类型”可指与“第二接触弹簧类型”不同的接触弹簧的类型。术语“第一类型接触弹簧”可指术语“具有第一类型的接触弹簧”或“具有第一接触弹簧类型的子组的接触弹簧”的缩写。
术语“临近的”在上下文中可特指两个接触弹簧被直接或彼此相邻放置,使得没有其他接触弹簧在两者(两个接触弹簧)之间。因此, 相邻设置的两个接触弹簧包括一个对齐钉,且两个对齐钉彼此并排放置且在之间没有另外的接触弹簧。但是,临近的接触弹簧可彼此电绝缘。任何接触弹簧可被夹紧,使得接触弹簧通过接触弹簧块中的空隙或如沟槽的部件而电绝缘。
另外,两个对齐钉设置在接触弹簧上,使得一个对齐钉比另一个对齐钉距离接触尖端更近。第一和第二对齐钉可设置在接触弹簧的弹性部分的附近。
根据一个典型实施例,所述接触弹簧块还可包括:具有第一对齐孔和第二对齐孔的夹板,其中第一对齐孔与第一对齐钉接合,且第二对齐孔与第二对齐钉接合。
特别地,接合可发生在夹式装置被夹住至底块时。例如,夹板可以是夹式装置的组件或一部分。术语“第一/第二对齐孔”可指“第一/第二类型的对齐孔”或“在第一/第二位置的对齐孔”。术语“夹板”可特指夹式装置的主要部件。夹式装置可包括具有第一对齐孔和第二对齐孔的夹板。术语“第一对齐孔”和“第二对齐孔”可特指夹板开口的不同位置,而不是开口的不同形式。每个第一和第二对齐孔可分别与第一和第二对齐钉接合。通过对齐孔和对齐钉的接合,接触弹簧可被夹紧且紧扣在特定位置。对齐孔和对齐钉的接合可以是将夹式装置夹到底块的结果。接触弹簧可对齐或居中,使得第一和第二接触弹簧的接触尖端在一条直线上对齐,然而对齐孔和对齐钉呈现“之”字形状。夹板可将接触弹簧夹紧在接触弹簧的弹性部分附近。
根据接触弹簧块的一个典型实施例,底块包括夹入槽,且夹式装置包括具有钩状突起的固定夹。夹式装置和底块通过夹入槽和钩状突起的接合被夹在一起。
术语“固定夹”可特指夹式装置的一部分。固定夹可包括一个钩或钩状突起,其在夹状连接器中与底块的夹入槽接合。将夹式装置夹到底块可形成夹状连接器。所述固定夹的钩状突起和底块的夹入槽可 具有舌和槽的功能。
根据一个接触弹簧块的实施例,底块包括另一个夹入槽,且该夹入槽包括另一个具有另一个钩状突起的固定夹。所述夹式装置和底块通过另一个夹入槽和另一个钩状突起的接合而被夹在一起。
如果有两个夹入槽和两个固定夹,使得夹紧力被分开到彼此远离的两个固定夹,夹式机构可更加平衡。
根据接触弹簧的一个典型实施例,固定夹和另一个固定夹从夹板的相对边部向外延伸。
特别地,术语“相对”可特指当夹式装置被夹住至底块时,固定夹和另一个固定夹被设置在独立接触弹簧组的对的边。即,独立接触弹簧组可被设置在固定夹和另一固定夹之间。术语“向外”可特指一个方向,其指向远离夹板的方向,例如,夹板的法线方向。在一个实施例中,一个固定夹可从夹板矩形向外延伸,使得夹式装置相对该固定夹具有L形。另一个固定夹可从在夹板对侧的夹板矩形中延伸出来,使得夹式装置具有轭状形式,即双L形状。
根据本发明的一个典型实施例,第一对齐孔和第二对齐孔位于固定夹和另一个固定夹之间。
当像对齐孔和对齐钉一样的功能部件位于施加在固定夹的夹紧力之间时,夹式机构可更加平衡。
根据接触弹簧块的一个典型实施例,夹式装置从一块原料中整体形成,且包括至少两组夹板、固定夹和另一个固定夹。夹式装置可整体为塑料元件,其包括夹板和固定夹。夹式装置可整体形成并可包括固定夹和另一个固定夹。夹式装置可从塑料工件中整体形成,其包括夹板、固定夹和另一个固定夹。
根据接触弹簧块的一个典型实施例,夹式装置从一块原料中整体形成。整体形成的夹式装置可包括组中的至少两个元件,所述组包括夹板、固定夹和另一个固定夹,其中夹板、和/或固定夹、和/或另一 个固定夹可根据上述实施例中的一个形成。
根据接触弹簧块的一个典型实施例,所述底块包括斜面,在将夹式装置夹到底块时,通过该斜面,固定夹被预先施加压力。
为使将夹式装置可简单夹到底块,底块可包括斜面或换句话说“斜切的边缘”。在承受预压力的同时固定夹可在斜面上方滑行(或滑动),然后固定夹的钩状突起可至少与底块的夹入槽接合。基于钩状突起与夹入槽的接合,夹紧力可将固定夹和底块紧固在一起,使得接触弹簧被夹紧。
根据接触弹簧块的一个典型实施例,底块包括安装钉。夹式装置可包括夹安装孔,其中夹式装置通过安装钉与夹安装孔的接合在垂直于夹紧力的方向上固定。例如,夹式装置可通过安装钉与夹安装孔的接合而固定于底块,其中,固定可特别地沿垂直于夹紧力的方向,夹紧力可受到将夹式装置夹紧到底块的影响。
特别地,当夹式装置夹到底块时,夹式装置通过安装钉和夹安装孔的接合沿垂直于夹紧力的方向固定到底块。
根据一个典型实施例,接触弹簧块包括特别是独立的另一个接触弹簧组和一个隔板,其中所述隔板被配置在接触弹簧组和另一接触弹簧组之间。
对于所谓的“Kelvin接触”,两个接触弹簧组可被设置为一个在另一个的上方,使得两个接触弹簧组电绝缘。接触弹簧组和另一个接触弹簧组可根据弹性运动被配置为彼此上下。对于两组中的每一个具有特定数量接触弹簧的弹簧组,接触弹簧被排列成行,彼此并排。两组之间的隔板可将两组独立的接触弹簧电绝缘。
根据接触弹簧块的典型实施例,隔板包括隔板安装孔,其中隔板通过安装钉与隔板安装孔的接合而被固定。
特别地,当夹式装置被夹住至底块时,隔板被通过安装钉和隔板安装孔的接合沿垂直于夹紧力的方向被固定到底块。
从底块延伸出的安装钉可与隔板安装孔和夹安装孔接合,使得隔板和夹式装置两者都确保可以抵抗垂直于夹紧力方向上的位移。
附图说明
图1A示出了自动测试设备(ATE)的示意图
图1B示出了接触单元支架(CUH)的示意图
图2示出了接触插座和接触弹簧块的立体图,和接触插座的俯视图
图3示出了接触弹簧块的立体图和接触弹簧块的分解图
图4示出了接触弹簧块的扭转的立体图,上面附有夹式元件
图5示出了接触插座的侧视图
图6示出了夹式连接器的侧视图
具体实施方式
图1A示出了自动测试设备(ATE)100的示意图。电子部件(DUT)108沿接触方向109被推进接触插座200,使得电信号可通过检测线110在检测器101和DUT 108之间生成并转移。检测器101执行DUT 108的电子测试。处理机106包括传递单元或活塞单元107,其握住电子部件108。测试后,处理机106将DUTs 108转移并分类。活塞单元107将电子部件108向接触方向109朝向接触插座200移动。接触插座200被固定到接触单元支架103(CUH)。接触单元支架103被固定到测试头102。对接器105将处理机106和测试头102联接。
图1B示出了接触单元支架103(CUH)的示意图。通常2、4、8、12、16或更多接触插座200中的多个被用于在同一时刻允许相同数目的DUTs 108的测试。DUTs 108的同时测试使得在一定时间段内测量多个DUTs 108成为可能,而只使用了一个处理机106和一个检测器101。维护一个接触插座200的确表明了另一个接触插座200没有使用。因此,接触插座的维护时间应该短。
图2示出了接触插座200的后面或底面的立体图、接触弹簧块300 的立体图和接触插座200的正视图或俯视图。四个接触弹簧块300被置于安装位置309,每一个接触弹簧块位于接触插座200的一侧。在接触插座200的正面和顶部的中间区域为接触区,或所谓的“接触部位”210。接触部位210定义了插座的功能部分,这里电子部件108被接收以电接触。在接触部位210的内部区域,设有中心接触块399,以接触位于DUT 108中间区域的DUT的焊盘。中心接触块399通过四个螺钉398固定。接触弹簧块300通过第一螺钉307和第二螺钉308而被固定在安装位置309。第一接触弹簧块300可具有与第二、新的或维护的接触弹簧块300’相同的尺寸,使得更换接触弹簧块300可行。接触弹簧块300包括底块320和夹式装置330,两者被夹到一起以形成夹式连接器302(也见图6)。
图3再一次示出了接触弹簧块300的立体图,该接触弹簧块包括夹式元件330和底块320,两者共同形成夹式连接器302。图3中部示出了接触弹簧块300的分解图。以此顺序,接触弹簧块300包括:夹式装置330、单个或独立接触弹簧组340、隔板350、另一个独立接触弹簧组360和底块320。
底块320包括夹入槽323和另一个夹入槽325,用来与钩状突起333和另一个钩状突起334分别接合。钩状突起333和另一个钩状突起334分别位于固定夹331和另一个固定夹332的外端。固定夹331和另一个固定夹332沿垂直方向从夹板339中延伸,夹板339位于固定夹331和另一个固定夹332之间。夹式装置330可被整体地从塑料片中形成,塑料片至少包括夹板339、固定夹333、和另一个固定夹334中的组的至少两个。当夹式装置330被夹到底块320时,固定夹331的钩状突起333在斜面324上方滑动并夹入夹入槽323中。类似地,当夹式装置330夹到底块320时,另一个固定夹331的另一个钩状突起333在另一个斜面324上方滑动并夹入另一个夹入槽323中。接触弹簧组340和另一个接触弹簧组360具有S形但不同尺寸,使得接触弹簧组340包围另一个接 触弹簧组360。位于接触弹簧组340和另一个接触弹簧组360之间的隔板350将两组独立弹簧组340、360电分离。隔板350包括直线形槽357,通过该直线形槽357对齐接触弹簧组340。接触弹簧组340具有测试端接触349,其提供了到检测器101的电接触(见图1)。相应地,另一个接触弹簧组360具有另一个测试端接触369,其也提供了到检测器101的电接触。另一个接触弹簧组360嵌入底块320的曲线形槽327且对齐,并通过曲线形槽327彼此电隔离。底块320包括凹槽329,用于容纳接触弹簧组340的端部和另一个接触弹簧组360的端部,使得测试端接触349和另一个测试端接触369具有弹性或弹性夹紧在凹槽329区域。这提供了检测器101的可适应接触。
与图3相比,图4示出了接触弹簧块300旋转180°后的立体图。因此,图4从顶部和正面示出了具有朝上的接触尖端491、492的接触弹簧300。
在固件夹331和另一个固定夹332之间延伸的夹板339包括第一对齐孔435和第二对齐孔436。第一对齐孔435比第二对齐孔436距离接触尖端491、492近。因而,第一对齐孔435和第二对齐孔436在夹板339上形成之字形图案。因此,夹板339由于之字图案更加稳定。另外,第一对齐钉343和第二对齐钉346远离接触尖端491,这样,通过第一对齐钉343和第二对齐孔435的接合,及第二对齐钉346和第二对齐孔436的接合,使得接触弹簧组340及接触尖端491以直线成排对齐。这样,独立接触弹簧组340包括第一接触弹簧类型342的第一子组,其中,每个此种类型的独立接触弹簧342’具有第一对齐钉343。另外,独立接触弹簧340包括第一接触弹簧类型345的第二子组,其中,每个此种类型的独立接触弹簧345’具有第二对齐钉346。因此,第一类型342的独立接触弹簧通过相同类型的第二接触弹簧342’可更换。可类比地,因此第二类型345的独立接触弹簧通过相同类型的第二接触弹簧345’可更换。
夹式装置330包括夹安装孔431和另一个夹安装孔432,其与底块320的安装钉421和另一个安装钉422接合。因此,当两者夹在一起时,夹式装置330不能沿垂直方向自底块320滑落。另一个接触弹簧组的弯曲部分360围绕底块320的弯曲槽327,并且电绝缘。底部安装钉468从另一个接触弹簧360中朝向底块320的安装槽428延伸,使得另一个独立弹簧组360对齐。底块320包括分别用于第一螺钉307和第二螺钉308的第一螺孔407和第二螺孔408。
隔板350包括隔板安装孔451和另一个隔板安装孔452,其在与安装钉431和432分别接合时防止隔板450从底块320滑落。这同如何将夹式装置330固定在底块320的机制类似。
接触弹簧的排列390(也示于图3)包括接触弹簧组340、隔板350和另一个接触弹簧组360。接触弹簧组340和另一个接触弹簧组360被配置为彼此上下排列,并且通过隔板350电分离。接触弹簧组340和另一个接触弹簧组360沿弹性部分朝他们的接触尖端491和另一个接触尖端492延伸。接触弹簧组340和另一个接触弹簧组360的每一个并排排列成直线,使得接触尖端491和另一个接触尖端492形成电绝缘的接触弹簧直线。另一个接触弹簧组中的单独的接触弹簧361通过该接触弹簧组中的单独的第二接触弹簧361’更换。
图5示出了接触插座200的侧视图。图5中的细节600在图6中详细示出。接触弹簧组340围绕另一个接触弹簧组360且两个接触弹簧组340、360由隔板350分离。接触弹簧组340通过夹式装置330,且通过在接触插座200左侧的第一对齐钉343和第一对齐孔435的接合而对齐。在对侧,即接触插座200的右侧,接触弹簧组340通过第二对齐钉343和第二对齐孔435的接合而对齐。另一组接触弹簧通过底部安装钉468和底块428的安装槽428而对齐。
在凹槽329中接触弹簧端的一侧,其中测试端接触349和另一个测试端接触369接触。在对侧,具有接触尖端491的接触弹簧端和另一个 接触尖端492提供所谓的Kelvin接触。接触弹簧340、360嵌在底块320的弯曲槽327中。底块320可包括前端块522和中心块521,其中前端块522提供了接触尖端491、492的引导移动。通过前端钩487和前端边缘387,另一个接触弹簧组360的运动在向上方向上受限,其中“向上”指“沿接触尖端的方向”。接触弹簧340的向上运动由对接板530限制,该对接板被固定到包括用来引导DUT 108的斜面或侧面的中心框架520。中心框架520被固定到插座框510。此外,上导向517固定到中心框架520以引导弹簧组340的弹性运动。
接触部位210位于接触插座200的中部。中心接触块399包括一排伸缩探针590,其具有伸缩探针尖端591以与DUT 108的内部接触部分接触。
图6示出了夹式连接器302的侧视图,作为图5的细节。
夹式装置330通过固定夹331夹到底块320。如果钩状突起333在斜面324上方滑动并且停止在夹入槽323中时,得到了夹式连接器302。在钩状突起333的对侧,夹式元件330通过夹板339停止在底块320上以施加夹紧力。
Claims (15)
1.一种用于电子部件(108)的顺序测试的接触弹簧块(300),其包括:
底块(320),
独立接触弹簧组(340),
和夹式装置(330),
其中,
当所述夹式装置(330)被夹住至所述底块(320)时,所述独立接触弹簧组(340)被夹紧并且对齐。
2.根据权利要求1所述的接触弹簧块(300),其中所述独立接触弹簧组(340)包括:
第一接触弹簧类型(342)的第一子组,其中所述第一接触弹簧类型的每个独立接触弹簧具有第一对齐钉(343),和
第二接触弹簧类型(345)的第二子组,其中所述第二接触弹簧类型的每个独立接触弹簧具有第二对齐钉(346),其中
第一类型(342)或第二类型(345)的至少一个独立接触弹簧包括接触尖端(491),其中
第一类型接触弹簧(342)和第二类型接触弹簧(345)彼此相邻夹紧,且其中
从接触尖端(491)到所述第一对齐钉(343)的距离小于从所述接触尖端(491)到所述第二对齐钉(346)的距离。
3.根据权利要求2所述的接触弹簧块(300),还包括具有第一对齐孔(435)和第二对齐孔(436)的夹板(339),其中
所述第一对齐孔(435)与所述第一对齐钉(343)接合,且所述第二对齐孔(436)与所述第二对齐钉(346)接合。
4.根据权利要求1至3中任意一项所述的接触弹簧块(300),其中
所述底块(320)包括夹入槽(323),且其中所述夹式装置(330)包括具有钩状突起(333)的固定夹(331),且其中
所述夹式装置(330)和所述底块(320)通过所述夹入槽(323)与所述钩状突起(333)的接合而夹在一起。
5.根据权利要求4所述的接触弹簧块(300),其中所述底块(320)包括另一个夹入槽(325),且所述夹式装置(330)包括另一个具有另一个钩状突起(334)的固定夹(332),其中
所述夹式装置(330)和所述底块(320)通过另一个夹入槽(325)与另一个钩状突起(334)的接合而夹在一起。
6.根据权利要求5所述的接触弹簧块(300),其中所述固定夹(331)和所述另一个固定夹(332)沿同一方向从所述夹板(339)的对侧部分伸出。
7.根据权利要求5或6中所述接触弹簧块(300),其中所述第一对齐孔(435)和所述第二对齐孔(436)位于所述固定夹(331)和所述另一个固定夹(332)之间。
8.根据权利要求3至7中任意一项所述的接触弹簧块(300),其中
所述夹式装置(330)从一块原料中整体形成,所述夹式装置(330)包括所述夹板(339)、固定夹(331)和另一个固定夹(332)中的至少两个元件。
9.根据权利要求1至8中任意一项所述的接触弹簧块(300),其中
所述底块(320)包括斜面(324),在将所述夹式装置(330)夹持至所述底块(320)时,通过所述斜面(324)施加给所述固定夹(331)预压力。
10.根据权利要求1至8中任意一项所述的接触弹簧块(300),其中
所述底块(320)包括安装钉(421),且其中
所述夹式装置(330)包括夹安装孔(431),且其中
所述夹式装置(330)通过所述安装钉(421)与所述夹安装孔(431)的接合,沿垂直于夹紧力的方向被固定。
11.根据权利要求1至10中任意一项所述的接触弹簧块(300),还包括
另一个接触弹簧组(360)和隔板(350),其中所述隔板(350)被配置在所述接触弹簧组(340)和所述另一个接触弹簧组(360)之间。
12.根据权利要求11所述的接触弹簧块(300),其中所述隔板(350)包括隔板安装孔(451),且其中
所述隔板(350)通过所述安装钉(421)和所述隔板安装孔(451)的接合而被固定。
13.接触插座(200),其包括:
接触部位(210)和根据权利要求1至12中所述的多个接触弹簧块(300),其中
每个所述接触弹簧块(300)被置于所述接触部位(210)的侧面区域上的安装位置(309)中。
14.更换所述接触弹簧块(300)中的接触弹簧(342、345、361)的方法,所述方法包括:
从底块(320)移除夹式装置(330),
移除所述接触弹簧块(300)的独立接触弹簧组(340、360)中的第一接触弹簧(342、345、361),且将第二接触弹簧(342’、345’、361’)放到第一接触弹簧(342、345、361)的位置中,
将所述夹式装置(330)夹持至底块(320),使得包括所述第二接触弹簧(342’、345’、361’)的独立接触弹簧组(340’、360’)被夹紧。
15.根据权利要求14所述的更换接触插座(200)的接触弹簧(342、345、361)的方法,所述方法包括:
从安装位置(309)移除包括所述第一接触弹簧(342、345、361)的第一接触弹簧块(300),
将包括所述第二接触弹簧(342’、345’、361’)的第二接触弹簧块(300’)放到所述安装位置(309)中。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP13190519.2 | 2013-10-28 | ||
EP13190519.2A EP2866036B1 (en) | 2013-10-28 | 2013-10-28 | Screwless contact spring exchange |
EPEP13190519.2 | 2013-10-28 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN104569505A true CN104569505A (zh) | 2015-04-29 |
CN104569505B CN104569505B (zh) | 2019-04-26 |
Family
ID=49485627
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201410587572.4A Active CN104569505B (zh) | 2013-10-28 | 2014-10-28 | 无螺纹接触弹簧的更换 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP2866036B1 (zh) |
JP (1) | JP6362507B2 (zh) |
CN (1) | CN104569505B (zh) |
MY (1) | MY168483A (zh) |
SG (1) | SG10201406994TA (zh) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102015117354B4 (de) * | 2015-10-12 | 2020-02-20 | Multitest Elektronische Systeme Gmbh | Kragarmkontaktfeder und Verfahren zur Herstellung einer Kragarmkontaktfeder |
JP2020191170A (ja) * | 2019-05-20 | 2020-11-26 | 日本航空電子工業株式会社 | コネクタ検査装置、コネクタモジュール |
JP7485945B2 (ja) | 2020-09-08 | 2024-05-17 | 山一電機株式会社 | 検査用ケルビンコンタクト及び検査用ケルビンソケット並びに検査用ケルビンコンタクトの製造方法 |
JP7453891B2 (ja) * | 2020-10-06 | 2024-03-21 | 日本航空電子工業株式会社 | 電気部品検査器具 |
Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5295841A (en) * | 1992-10-30 | 1994-03-22 | The Whitaker Corporation | Supportable contact and chip carrier socket for use with an assembly/disassembly tool |
JPH07254468A (ja) * | 1994-03-15 | 1995-10-03 | Sony Corp | Ic測定用ソケット |
US5562473A (en) * | 1993-09-20 | 1996-10-08 | Texas Instruments Incorporated | Socket apparatus having improved contact system |
US5573408A (en) * | 1994-06-30 | 1996-11-12 | The Whitaker Corporation | Micropitch card edge connector |
US5599194A (en) * | 1992-08-18 | 1997-02-04 | Enplas Corporation | IC socket and its contact pin |
JPH0982853A (ja) * | 1995-09-19 | 1997-03-28 | Unie Techno Kk | Icソケット |
JP2003086314A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-20 | Enplas Corp | 電気部品用ソケット |
US20070072479A1 (en) * | 2004-07-05 | 2007-03-29 | Eichi Osato | Contact block and electrical connecting apparatus |
CN201194023Y (zh) * | 2008-04-07 | 2009-02-11 | 比亚迪股份有限公司 | 一种集成电路测试装置 |
CN101581732A (zh) * | 2008-05-15 | 2009-11-18 | 安普泰科电子有限责任公司 | 微型芯片测试支架 |
CN201662582U (zh) * | 2009-12-11 | 2010-12-01 | 安拓锐高新测试技术(苏州)有限公司 | 一种电抗可控芯片测试插座 |
JP2011119070A (ja) * | 2009-12-01 | 2011-06-16 | Yamaichi Electronics Co Ltd | コンタクトブロックを備える半導体装置用ソケット |
US7976325B2 (en) * | 2008-11-10 | 2011-07-12 | Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. | Socket for testing semiconductor package |
CN202614794U (zh) * | 2012-05-02 | 2012-12-19 | 苏州创瑞机电科技有限公司 | 芯片模组测试插座 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100861568B1 (ko) * | 2006-11-20 | 2008-10-07 | 리노공업주식회사 | 클립과 프로브를 이용한 독립 모듈 소켓 |
JP2010008388A (ja) * | 2008-06-30 | 2010-01-14 | Rika Denshi Co Ltd | Icソケット |
-
2013
- 2013-10-28 EP EP13190519.2A patent/EP2866036B1/en active Active
-
2014
- 2014-10-20 MY MYPI2014002978A patent/MY168483A/en unknown
- 2014-10-27 JP JP2014218039A patent/JP6362507B2/ja active Active
- 2014-10-27 SG SG10201406994TA patent/SG10201406994TA/en unknown
- 2014-10-28 CN CN201410587572.4A patent/CN104569505B/zh active Active
Patent Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5599194A (en) * | 1992-08-18 | 1997-02-04 | Enplas Corporation | IC socket and its contact pin |
US5295841A (en) * | 1992-10-30 | 1994-03-22 | The Whitaker Corporation | Supportable contact and chip carrier socket for use with an assembly/disassembly tool |
US5562473A (en) * | 1993-09-20 | 1996-10-08 | Texas Instruments Incorporated | Socket apparatus having improved contact system |
JPH07254468A (ja) * | 1994-03-15 | 1995-10-03 | Sony Corp | Ic測定用ソケット |
US5573408A (en) * | 1994-06-30 | 1996-11-12 | The Whitaker Corporation | Micropitch card edge connector |
JPH0982853A (ja) * | 1995-09-19 | 1997-03-28 | Unie Techno Kk | Icソケット |
JP2003086314A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-20 | Enplas Corp | 電気部品用ソケット |
US20070072479A1 (en) * | 2004-07-05 | 2007-03-29 | Eichi Osato | Contact block and electrical connecting apparatus |
CN201194023Y (zh) * | 2008-04-07 | 2009-02-11 | 比亚迪股份有限公司 | 一种集成电路测试装置 |
CN101581732A (zh) * | 2008-05-15 | 2009-11-18 | 安普泰科电子有限责任公司 | 微型芯片测试支架 |
US7976325B2 (en) * | 2008-11-10 | 2011-07-12 | Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. | Socket for testing semiconductor package |
JP2011119070A (ja) * | 2009-12-01 | 2011-06-16 | Yamaichi Electronics Co Ltd | コンタクトブロックを備える半導体装置用ソケット |
CN201662582U (zh) * | 2009-12-11 | 2010-12-01 | 安拓锐高新测试技术(苏州)有限公司 | 一种电抗可控芯片测试插座 |
CN202614794U (zh) * | 2012-05-02 | 2012-12-19 | 苏州创瑞机电科技有限公司 | 芯片模组测试插座 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
MY168483A (en) | 2018-11-09 |
EP2866036B1 (en) | 2016-08-10 |
CN104569505B (zh) | 2019-04-26 |
EP2866036A1 (en) | 2015-04-29 |
SG10201406994TA (en) | 2015-05-28 |
JP6362507B2 (ja) | 2018-07-25 |
JP2015088494A (ja) | 2015-05-07 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |