CN104568989A - 玻璃基板的缺陷检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及液晶显示器玻璃基板检测技术领域,尤其涉及玻璃基板的缺陷检测方法,通过对摄像头所采集的图像进行图像处理,生产缺陷的分类和缺陷的特征数值,便于检测人员快速判断缺陷,该玻璃基板的缺陷检测方法可降低设备成本,提高检测效率。

Description

玻璃基板的缺陷检测方法
技术领域
本发明涉及液晶显示器玻璃基板检测技术领域,尤其涉及玻璃基板的缺陷检测方法。
背景技术
随着人们对显示器的显示效果的关注程度越来越高,特别是显示器的分辨率的要求不断提升;故而,在显示器的玻璃基板加工过程中,其玻璃基板的质量要求也要求越来越严格。
现有的玻璃基板缺陷检测方法,采用激光扫描检测的方式,设备成本较高。
发明内容
本发明的目的在于提供一种玻璃基板的缺陷检测方法,该玻璃基板的缺陷检测方法可降低设备成本,提高检测效率。
为达到上述目的,本发明通过以下技术方案来实现。
    玻璃基板的缺陷检测方法,它包括以下步骤:
A、将玻璃基板固定于夹具,玻璃基板前端为光源,玻璃基板后端为摄像头;
B、打开光源,摄像头对玻璃基板进行图像采集;
C、对摄像头所采集的图像进行图像处理:
1)目标提取:对图像进行预处理分割,采用全局阈值技术处理及信号放大,使灰度图像背景与缺陷分割开,完成缺陷灰度图预处理,为图像的特征提取做准备;
   2)特征提取:在缺陷灰度图预处理后,对缺陷进行分类,提取缺陷的几何特征、灰度特征、明暗特征、像素特征;利用这些特征完成对缺陷的长宽、长宽比、面积、平均灰度、明暗对比度、填充度的数学描述,得到缺陷的特征数值;
3)缺陷的分类:根据缺陷的特征数值,将相应特征所对应的缺陷划分为表面内部包含物、粘附物、气泡、划伤、灰尘;
D、打印数据报表和图片,包含缺陷的分类和对应的特征数值,以及标准缺陷数值。
    所述摄像头的数量至少为三个。
所述光源连接有光源控制器。
所述光源为LED发光体。
    本发明的有益效果为:本发明所述一种玻璃基板的缺陷检测方法,该玻璃基板的缺陷检测方法可降低设备成本,提高检测效率。
具体实施方式
下面结合具体的实施方式来对本发明进行说明。
玻璃基板的缺陷检测方法,它包括以下步骤:
A、将玻璃基板固定于夹具,玻璃基板前端为光源,玻璃基板后端为摄像头;
B、打开光源,摄像头对玻璃基板进行图像采集;
C、对摄像头所采集的图像进行图像处理:
1)目标提取:对图像进行预处理分割,采用全局阈值技术处理及信号放大,使灰度图像背景与缺陷分割开,完成缺陷灰度图预处理,为图像的特征提取做准备;
   2)特征提取:在缺陷灰度图预处理后,对缺陷进行分类,提取缺陷的几何特征、灰度特征、明暗特征、像素特征;利用这些特征完成对缺陷的长宽、长宽比、面积、平均灰度、明暗对比度、填充度的数学描述,得到缺陷的特征数值;
3)缺陷的分类:根据缺陷的特征数值,将相应特征所对应的缺陷划分为表面内部包含物、粘附物、气泡、划伤、灰尘;
D、打印数据报表和图片,包含缺陷的分类和对应的特征数值,以及标准缺陷数值。
 作为优选的实施方式,所述摄像头的数量至少为三个,并可根据玻璃基板的大小,设置不同数量的摄像头。所述光源连接有光源控制器,可根据不同的玻璃基板设置光源的亮度,所述光源为LED发光体。
上述一种玻璃基板的缺陷检测方法,通过对摄像头所采集的图像进行图像处理,生产缺陷的分类和缺陷的特征数值,便于检测人员快速判断缺陷,该玻璃基板的缺陷检测方法可降低设备成本,提高检测效率。
以上内容仅为本发明的较佳实施例,对于本领域的普通技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (4)

1.玻璃基板的缺陷检测方法,其特征在于,它包括以下步骤:
A、将玻璃基板固定于夹具,玻璃基板前端为光源,玻璃基板后端为摄像头;
B、打开光源,摄像头对玻璃基板进行图像采集;
C、对摄像头所采集的图像进行图像处理:
1)目标提取:对图像进行预处理分割,采用全局阈值技术处理及信号放大,使灰度图像背景与缺陷分割开,完成缺陷灰度图预处理,为图像的特征提取做准备;
   2)特征提取:在缺陷灰度图预处理后,对缺陷进行分类,提取缺陷的几何特征、灰度特征、明暗特征、像素特征;利用这些特征完成对缺陷的长宽、长宽比、面积、平均灰度、明暗对比度、填充度的数学描述,得到缺陷的特征数值;
3)缺陷的分类:根据缺陷的特征数值,将相应特征所对应的缺陷划分为表面内部包含物、粘附物、气泡、划伤、灰尘;
D、打印数据报表和图片,包含缺陷的分类和对应的特征数值,以及标准缺陷数值。
2.根据权利要求1所述的玻璃基板的缺陷检测方法,其特征在于:所述摄像头的数量至少为三个。
3.根据权利要求1所述的玻璃基板的缺陷检测方法,其特征在于:所述光源连接有光源控制器。
4.根据权利要求3所述的玻璃基板的缺陷检测方法,其特征在于:所述光源为LED发光体。
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