CN104505011B - 一种显示面板的检测电路及其使用方法 - Google Patents

一种显示面板的检测电路及其使用方法 Download PDF

Info

Publication number
CN104505011B
CN104505011B CN201410784898.6A CN201410784898A CN104505011B CN 104505011 B CN104505011 B CN 104505011B CN 201410784898 A CN201410784898 A CN 201410784898A CN 104505011 B CN104505011 B CN 104505011B
Authority
CN
China
Prior art keywords
line
pixel portion
row
pixel cell
pixel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201410784898.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104505011A (zh
Inventor
郑娜
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority to CN201410784898.6A priority Critical patent/CN104505011B/zh
Priority to PCT/CN2014/094476 priority patent/WO2016095240A1/zh
Publication of CN104505011A publication Critical patent/CN104505011A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN104505011B publication Critical patent/CN104505011B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Abstract

本发明提供一种显示面板的检测电路及其使用方法，所述检测电路包括：第一扫描检测线连接第2k+1行像素单元的主扫描线，第二扫描检测线连接第2k行像素单元的主扫描线，根据第k+2m行像素单元的公共电极线的公共信号控制第k+2m行像素单元的次扫描线与第k行像素单元的主扫描线的连接状态；当所述子像素部转换为第一显示状态的第一时间段内，使得第k+2m行像素单元的次扫描线连接至第k行像素单元的主扫描线，当所述子像素部转换为第一显示状态的第二时间段内，使得第k+2m行像素单元的次扫描线与第k行像素单元的主扫描线断开。本发明解决了现有技术不能检测显示面板异常的技术问题，提高了显示效果。

Description

一种显示面板的检测电路及其使用方法
技术领域
本发明涉及显示器领域，特别是涉及一种显示面板的检测电路及使用方法。
背景技术
现有的显示面板包括多个像素单元，每个像素单元包括主像素部和子像素部，为了解决大视角色偏的问题，通常将主像素部的亮度设置成大于子像素部的亮度，从而提高显示效果。
现有的检测电路1，如图1所示，其包括第一扫描检测线11和第二扫描检测线12、公共检测线13，像素单元101-105，每行像素单元对应设置有公共电极线14、主扫描线15和次扫描线16，其中奇数行的像素单元101、103、105的主扫描线连接第一扫描检测线11，偶数行的像素单元102或者104的主扫描线连接第二扫描检测线12，且第k+2m行像素单元的次扫描线连接第k行像素单元的主扫描线(k≥0，m≥1)。现有的检测电路，只能检测主像素部和子像素部能否发亮。
但是，如果在制程中分享电容与子像素部的像素电极之间存在着ITO(透明导电层)残留，会造成子像素部的像素电极和分享电容之间出现短路，从而使得子像素部的亮度不能被拉低。当子像素部的像素电极充电时，分享电容也充电，使得两者电位相同，当子像素部的像素电极充完电时，由于分享电容的上极板与子像素部的像素电极电位相同，使得子像素部不能向分享电容分享一部分电荷，导致子像素部的电位无法被拉低，此时子像素部的亮度出现异常，即显示面板出现异常。因此有必要对显示面板的异常进行检测；而使用现有的检测电路并不能检测显示面板的异常。
故，有必要提供一种显示面板的检测电路及其使用方法，以解决现有技术所存在的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种显示面板的检测电路及其使用方法，以解决现有技术的检测电路不能检测显示面板异常的技术问题，以提高显示效果。
为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：
本发明实施例提供一种显示面板的检测电路，所述显示面板包括阵列基板，所述阵列基板包括：
数据线、扫描线、以及由所述数据线和所述扫描线限定的多个像素单元，所述多个像素单元组成多行像素单元，所述像素单元对应设置有主扫描线、次扫描线、公共电极线；
其中每个所述像素单元包括主像素部和子像素部；所述主扫描线，用于控制所述主像素部和所述子像素部进行充电，使所述主像素部和所述子像素部转换为第一显示状态；所述次扫描线，用于控制所述子像素部进行电荷分配，使所述子像素部转换为第二显示状态；
所述检测电路包括：
第一扫描检测线和第二扫描检测线，分别用于向所述像素单元提供扫描信号；
公共检测线，连接每行所述像素单元的公共电极线，用于向每行所述像素单元提供公共信号；
其中所述第一扫描检测线连接第2k+1行像素单元的主扫描线，所述第二扫描检测线连接第2k行像素单元的主扫描线，根据第k+2m行像素单元的公共电极线的公共信号控制第k+2m行像素单元的次扫描线与第k行像素单元的主扫描线的连接状态；
当所述子像素部转换为第一显示状态的第一时间段内，使得第k+2m行像素单元的次扫描线连接至第k行像素单元的主扫描线；当所述子像素部转换为第一显示状态的第二时间段内，使得第k+2m行像素单元的次扫描线与第k行像素单元的主扫描线断开，其中所述第一时间段大于所述第二时间段，k≥0，m≥1。
在本发明的显示面板的检测电路中，所述第k+2m行像素单元的公共电极线上设置有薄膜晶体管；根据所述第k+2m行像素单元的公共电极线的公共信号控制所述薄膜晶体管的断开和闭合。
在本发明的显示面板的检测电路中，所述薄膜晶体管的栅极连接所述第k+2m行像素单元的公共电极线；所述薄膜晶体管的源极连接所述第k行像素单元的主扫描线；所述薄膜晶体管的漏极连接所述第k+2m行像素单元的次扫描线。
在本发明的显示面板的检测电路中，所述检测电路包括亮度检测装置，所述亮度检测装置用于将所述子像素部的亮度与预设亮度阈值比较，生成检测结果。
在本发明的显示面板的检测电路中，当所述检测结果为所述子像素部的亮度大于所述预设亮度阈值时，所述子像素部的亮度异常。
本发明还提供一种上述检测电路的使用方法，其包括：
向所述第一扫描检测线输入第一高电平电压，向所述第二扫描检测线输入第一低电平电压，以及在所述第一时间段内向所述公共检测线输入第二高电平电压，以对所述第2k+1行像素单元的所述主像素部和所述子像素部进行充电，且在所述第一时间段内，所述第2k+1行像素单元的所述主像素部和所述子像素部的电荷并未饱和；
在所述第二时间段内，向所述公共检测线输入第二低电平电压，以对所述第2k+1行像素单元的所述主像素部继续充电，对所述第2k+1行像素单元的所述子像素部不进行充电；
检测所述第2k+1行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，生成检测结果。
在本发明的显示面板的检测电路的使用方法中，所述方法还包括：
向所述第一扫描检测线输入第一低电平电压，向所述第二扫描检测线输入第一高电平电压，以及在所述第一时间段内向所述公共检测线输入第二高电平电压，以对所述第2k行像素单元的所述主像素部和所述子像素部进行充电，且在所述第一时间段内，所述第2k行像素单元的所述主像素部和所述子像素部的电荷并未饱和；
在所述第二时间段内，向所述公共检测线输入第二低电平电压，以对所述第2k行像素单元的所述主像素部继续充电，对所述第2k行像素单元的所述子像素部不进行充电；
检测所述第2k行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，生成检测结果。
在本发明的显示面板的检测电路的使用方法中，将所述子像素部的亮度与预设亮度阈值比较，生成所述检测结果。
在本发明的显示面板的检测电路的使用方法中，当所述检测结果为所述子像素部的亮度大于所述预设亮度阈值时，所述子像素部的亮度异常。
在本发明的显示面板的检测电路的使用方法中，当所述检测结果为所述子像素部的亮度小于或等于所述预设亮度阈值时，所述子像素部的亮度正常。
本发明的显示面板的检测电路及其使用方法，通过薄膜晶体管控制其中一行像素单元的次扫描线和另一行像素单元的主扫描线的连接状态，解决了现有检测电路不能检测显示面板异常的技术问题，从而提高显示效果。
为让本发明的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下：
附图说明
图1为现有技术的检测电路的结构示意图；
图2为本发明的液晶显示面板的结构示意图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。
在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。
请参照图2，图2为本发明的液晶显示面板的结构示意图。
所述液晶显示面板包括阵列基板、彩膜基板以及设置在所述阵列基板和所述彩膜基板之间的液晶层，所述阵列基板包括：
数据线、扫描线、以及由所述数据线和所述扫描线限定的多个像素单元，所述多个像素单元组成多行像素单元201-205，每行所述像素单元对应设置有公共电极线24、主扫描线25、次扫描线26；
其中每个所述像素单元包括主像素部和子像素部；所述主扫描线24控制所述主像素部和所述子像素部进行充电：当所述主扫描线24输入信号为高电平时，向所述主像素部和所述子像素部进行充电，当所述主扫描线24输入信号为低电平时，不向所述主像素部和所述子像素部进行充电，使所述主像素部和所述子像素部转换为第一显示状态；其中在第一显示状态时，所述主像素部和所述子像素部都处于充电状态。
所述次扫描线，用于控制所述子像素部进行电荷分配，使所述子像素部转换为第二显示状态；其中在第二显示状态时，所述子像素部的电荷进行重新分配即分享电容分享子像素部上的电荷，使得所述子像素部的亮度小于主像素部的亮度。
所述检测电路包括：
第一扫描检测线21和第二扫描检测线22，分别用于向所述像素单元提供扫描信号；公共检测线23，连接每行所述像素单元的公共电极线24，用于向每行所述像素单元提供公共信号；
所述第一扫描检测线21连接第2k+1行(奇数行)像素单元的主扫描线，所述第二扫描检测线22连接第2k行(偶数行)像素单元的主扫描线，根据第k+2m行像素单元的公共电极线的公共信号控制第k+2m行像素单元的次扫描线与第k行像素单元的主扫描线的连接状态；当然所述第二扫描检测线22也可连接第2k+1行像素单元的主扫描线，所述第一扫描检测线21连接第2k行(偶数行)像素单元的主扫描线。
当所述子像素部转换为第一显示状态的第一时间段内，使得第k+2m行像素单元的次扫描线连接至第k行像素单元的主扫描线，其中所述第一时间段内所述第k+2m行像素单元的所述主像素部和所述子像素部的电荷并未饱和；当所述子像素部转换为第一显示状态的第二时间段内，使得第k+2m行像素单元的次扫描线与第k行像素单元的主扫描线断开。第二时间段内，不再对所述子像素部进行充电，其中k≥0，m≥1，所述第一时间段大于所述第二时间段。
优选地，所述第k+2m行像素单元的公共电极线上设置有薄膜晶体管；根据所述第k+2m行像素单元的公共电极线的公共信号控制所述薄膜晶体管的断开和闭合，从而控制第k+2m行像素单元的次扫描线与第k行像素单元的主扫描线的连接或者断开。
所述薄膜晶体管的栅极连接所述第k+2m行像素单元的公共电极线；所述薄膜晶体管的源极连接所述第k行像素单元的主扫描线；所述薄膜晶体管的漏极连接所述第k+2m行像素单元的次扫描线。
譬如第3行像素单元203的子扫描线，通过其公共线上设置的薄膜晶体管31连接至第1行像素单元201的主扫描线，第4行像素单元204的子扫描线，通过其公共线上设置的薄膜晶体管32连接至第2行像素单元202的主扫描线，第5行像素单元205的子扫描线，通过其公共线上设置的薄膜晶体管33连接至第3行像素单元203的主扫描线。(图2仅以5行像素单元举例说明)
可以理解的是，上述连接方式也可以是，第k+2m行像素单元的主扫描线通过薄膜晶体管连接第k行像素单元的次扫描线，譬如第3行像素单元203的主扫描线，通过其公共线上设置的薄膜晶体管连接至第1行像素单元201的次扫描线。
譬如所述主像素部和子像素部达到电荷饱和的时间为10秒钟，在前8秒内向所述公共检测线输入电压为高电平，使所述薄膜晶体管闭合，在最后2秒内向所述公共检测线输入电压为低电平，使所述薄膜晶体管断开。
所述检测电路包括亮度检测装置(图中未示出)，所述亮度检测装置用于将所述子像素部的亮度与预设亮度阈值比较，生成检测结果。当所述检测结果为所述子像素部的亮度大于所述预设亮度阈值时，所述子像素部的亮度异常。当所述检测结果为所述子像素部的亮度小于或等于所述预设亮度阈值时，所述子像素部的亮度正常。
本发明的检测电路的使用方法流程，包括以下步骤：
在检测过程中分别对奇数行和偶数行像素单元的子像素部的亮度异常进行检测，首先，检测奇数行像素单元的子像素部的亮度异常；
S201、向所述第一扫描检测线输入第一高电平电压，向所述第二扫描检测线输入第一低电平电压，以及在所述第一时间段内向所述公共检测线输入第二高电平电压；
由于奇数行像素单元的主扫描线连接第一扫描检测线，当所述第一扫描检测线输入的电压为高电平时(将输入两条扫描检测线的高电平电压称为第一高电平电压，所述第一高电平譬如为8v或者6v)，能够对所述第2k+1行像素单元的所述主像素部进行充电；由于偶数行像素单元的主扫描线连接第二扫描检测线，当所述第二扫描检测线输入的电压为第一低电平电压时(将输入两条扫描检测线的低电平电压称为第一低电平电压，所述第一低电平譬如小于等于0v)，不能够对所述第2k行像素单元的所述主像素部进行充电。
且由于公共检测线连接每行所述像素单元的公共电极线，当所述公共检测线输入的电压为第二高电平电压(将输入所述公共检测线的高电平电压称为第二高电平电压，譬如6v)时，此时所述公共检测线上的薄膜晶体管闭合，从而也能够对所述第2k+1行像素单元的所述子像素部进行充电。由于仅在所述第一时间段内(所述子像素部转换为第一显示状态中的第一时间段内)，向所述公共检测线输入第二高电平电压，所述第2k+1行像素单元的所述主像素部和所述子像素部的电荷并未饱和，即奇数行像素单元的所述主像素部和所述子像素部的并未充满电；
结合图2，此时第1、3、5行像素单元的主扫描线以及公共电极线的输入电压都为高电平，第3、5行像素单元的公共电极线上的薄膜晶体管31、33闭合，因此第1行像素单元的主扫描线上的信号能够传递到第3行像素单元的次扫描线上，第3行像素单元的主扫描线上的信号能够传递到第5行像素单元的次扫描线上，对第1、3行像素单元的所述主像素部和所述子像素部同时充电。
S202、在所述第二时间段内，向所述公共检测线输入第二低电平电压；
由于此时所述第一扫描检测线输入的电压仍为第一高电平电压，能够对所述第2k+1行像素单元的所述主像素部继续进行充电，但是所述公共检测线输入的电压为第二低电平电压(譬如0v)时，此时所述公共检测线上的薄膜晶体管断开，第k行像素单元的主扫描线上的信号不能传递到第k+2m行像素单元的次扫描线上，从而不能够对所述第2k+1行像素单元的所述子像素部继续进行充电。
此时虽然第1、3、5行像素单元的主扫描线的输入电压为高电平，但是它们的公共电极线的输入电压为低电平，使得第3、5行像素单元的公共电极线上的薄膜晶体管31、33断开，因此第1行像素单元的主扫描线上的信号不能传递到第3行像素单元的次扫描线上、第3行像素单元的主扫描线上的信号不能传递到第5行像素单元的次扫描线上，因此仅对所述第1、3、5行像素单元的所述主像素部继续进行充电。
譬如所述主像素部和子像素部达到电荷饱和的时间为10秒钟，在前8秒内向所述公共检测线输入6v电压，使所述薄膜晶体管闭合，在最后2秒内向所述公共检测线输入0v电压，使所述薄膜晶体管断开。
S203、检测所述第2k+1行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，生成检测结果。
在S202结束后，所述第2k+1行像素单元的所述主像素部充电结束，使得所述主像素部的电压大于所述子像素部的电压。
当显示面板正常时，由于公共电极线上设置的薄膜晶体管的控制作用，使得所述主像素部和所述子像素部的电压不同，因此所述主像素部的亮度大于所述子像素部的亮度。当显示面板异常时，由于子像素部出现短路，使得公共电极线上设置的薄膜晶体管的控制作用失效，在第二时间段内，所述子像素部也在充电，最终所述主像素部的亮度等于所述子像素部的亮度。
在判断显示面板是否异常时，将奇数行像素单元的所述子像素部的亮度与预设亮度阈值比较，生成所述检测结果，所述预设亮度阈值譬如为整个显示面板的全部像素单元的子像素部亮度的平均值，当其中有一个像素单元的子像素部的亮度大于所述预设亮度阈值时，就判定该子像素部的亮度异常，表明显示面板异常，从而便于及时维修或者处理，以提高显示面板的质量。
其次，检测偶数行像素单元的子像素部的亮度异常的检测：
S204、向所述第一扫描检测线输入第一低电平电压，向所述第二扫描检测线输入第一高电平电压，以及在所述第一时间段内向所述公共检测线输入第二高电平电压；
由于奇数行像素单元的主扫描线连接第一扫描检测线，当所述第一扫描检测线输入的电压为第一低电平电压时，不能够对所述第2k+1行像素单元的所述主像素部进行充电；由于偶数行像素单元的主扫描线连接第二扫描检测线，当所述第二扫描检测线输入的电压为第一高电平电压时，能够对所述第2k行像素单元的所述主像素部进行充电。
由于公共检测线连接每行所述像素单元的公共电极线，当所述公共检测线输入的电压也为第二高电平电压(譬如6v)时，此时所述公共检测线上的薄膜晶体管闭合，从而也能够对所述第2k行像素单元的所述子像素部进行充电；由于仅在所述第一时间段内(所述子像素部转换为第一显示状态中的第一时间段内)，向所述公共检测线输入第二高电平电压，所述第2k行像素单元的所述主像素部和所述子像素部的电荷并未饱和，即偶数行像素单元的所述主像素部和所述子像素部的并未充满电；
结合图2，此时第2、4行像素单元的主扫描线和公共电极线输入的电压为高电平，使得第4行像素单元的公共电极线上的薄膜晶体管32闭合，因此第2行像素单元的主扫描线上的信号能够传递到第4行像素单元的次扫描线上，对第4行像素单元的所述主像素部和所述子像素部同时充电。
S205、在所述第二时间段内，向所述公共检测线输入第二低电平电压；
由于此时所述第二扫描检测线输入的电压仍为第一高电平电压，能够对所述第2k行像素单元的所述主像素部继续进行充电，但是所述公共检测线输入的电压为第二低电平电压(譬如0v)时，此时所述公共检测线上的薄膜晶体管断开，第k行像素单元的主扫描线上的信号不能传递到第k+2行像素单元的次扫描线上，从而不能够对所述第2k行像素单元的所述子像素部继续进行充电。
此时第2、4行像素单元的主扫描线的输入电压为高电平，而它们的公共电极线的输入电压为低电平，使得第4行像素单元的公共电极线上的薄膜晶体管32断开，因此第2行像素单元的主扫描线上的信号不能够传递到第4行像素单元的次扫描线上，因此仅对第2、4行像素单元的所述主像素部继续充电。
S206、检测所述第2k行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，生成检测结果。
在S205结束后，所述第2k行像素单元的所述主像素部充电结束，使得所述主像素部的电压大于所述子像素部的电压。
当显示面板正常时，由于公共电极线上设置的薄膜晶体管的控制作用，使得所述主像素部和所述子像素部的电压不同，因此所述主像素部的亮度大于所述子像素部的亮度。当显示面板异常时，由于子像素部出现短路，使得公共电极线上设置的薄膜晶体管的控制作用失效，在第二时间段内，所述子像素部也在充电，最终所述主像素部的亮度等于所述子像素部的亮度。
在判断显示面板是否异常时，将偶数行像素单元的所述子像素部的亮度与预设亮度阈值比较，生成所述检测结果，所述预设亮度阈值譬如为整个显示面板的全部像素单元的子像素部亮度的平均值，当其中有一个像素单元的子像素部的亮度大于所述预设亮度阈值时，就判定该子像素部的亮度异常，表明显示面板异常，从而便于及时维修或者处理，以提高显示面板的质量。
当然可以先进行偶数行像素单元的检测，再进行奇数行像素单元的检测。
本发明显示面板的检测电路及其检测方法，通过薄膜晶体管控制其中一行像素单元的次扫描线和另一行像素单元的主扫描线的连接状态，解决了现有检测电路不能检测显示面板异常的技术问题，从而提高显示效果。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种显示面板的检测电路，其特征在于，所述显示面板包括阵列基板，所述阵列基板包括：
数据线、扫描线、以及由所述数据线和所述扫描线限定的多个像素单元，所述多个像素单元组成多行像素单元，所述像素单元对应设置有主扫描线、次扫描线、公共电极线；
其中每个所述像素单元包括主像素部和子像素部；所述主扫描线，用于控制所述主像素部和所述子像素部进行充电，使所述主像素部和所述子像素部转换为第一显示状态；所述次扫描线，用于控制所述子像素部进行电荷分配，使所述子像素部转换为第二显示状态；
所述检测电路包括：
第一扫描检测线和第二扫描检测线，分别用于向所述像素单元提供扫描信号；
公共检测线，连接每行所述像素单元的公共电极线，用于向每行所述像素单元提供公共信号；
其中所述第一扫描检测线连接第2k+1行像素单元的主扫描线，所述第二扫描检测线连接第2k行像素单元的主扫描线，根据第k+2m行像素单元的公共电极线的公共信号控制第k+2m行像素单元的次扫描线与第k行像素单元的主扫描线的连接状态；
当所述子像素部转换为第一显示状态的第一时间段内，使得第k+2m行像素单元的次扫描线连接至第k行像素单元的主扫描线；当所述子像素部转换为第一显示状态的第二时间段内，使得第k+2m行像素单元的次扫描线与第k行像素单元的主扫描线断开，其中所述第一时间段大于所述第二时间段，k≥0，m≥1。
2.根据权利要求1所述的显示面板的检测电路，其特征在于，所述第k+2m行像素单元的公共电极线上设置有薄膜晶体管；根据所述第k+2m行像素单元的公共电极线的公共信号控制所述薄膜晶体管的断开和闭合。
3.根据权利要求2所述的显示面板的检测电路，其特征在于，所述薄膜晶体管的栅极连接所述第k+2m行像素单元的公共电极线；所述薄膜晶体管的源极连接所述第k行像素单元的主扫描线；所述薄膜晶体管的漏极连接所述第k+2m行像素单元的次扫描线。
4.根据权利要求1所述的显示面板的检测电路，其特征在于，所述检测电路包括亮度检测装置，所述亮度检测装置用于将所述子像素部的亮度与预设亮度阈值比较，生成检测结果。
5.根据权利要求4所述的显示面板的检测电路，其特征在于，当所述检测结果为所述子像素部的亮度大于所述预设亮度阈值时，所述子像素部的亮度异常。
6.一种如权利要求1所述的显示面板的检测电路的使用方法，其特征在于，
向所述第一扫描检测线输入第一高电平电压，向所述第二扫描检测线输入第一低电平电压，以及在所述第一时间段内向所述公共检测线输入第二高电平电压，以对所述第2k+1行像素单元的所述主像素部和所述子像素部进行充电，且在所述第一时间段内，所述第2k+1行像素单元的所述主像素部和所述子像素部的电荷并未饱和；
在所述第二时间段内，向所述公共检测线输入第二低电平电压，以对所述第2k+1行像素单元的所述主像素部继续充电，对所述第2k+1行像素单元的所述子像素部不进行充电；以及
检测所述第2k+1行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，生成检测结果。
7.根据权利要求6所述的显示面板的检测电路的使用方法，其特征在于，
向所述第一扫描检测线输入第一低电平电压，向所述第二扫描检测线输入第一高电平电压，以及在所述第一时间段内向所述公共检测线输入第二高电平电压，以对所述第2k行像素单元的所述主像素部和所述子像素部进行充电，且在所述第一时间段内，所述第2k行像素单元的所述主像素部和所述子像素部的电荷并未饱和；
在所述第二时间段内，向所述公共检测线输入第二低电平电压，以对所述第2k行像素单元的所述主像素部继续充电，对所述第2k行像素单元的所述子像素部不进行充电；以及
检测所述第2k行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，生成检测结果。
8.根据权利要求6或7所述的显示面板的检测电路的使用方法，其特征在于，将所述子像素部的亮度与预设亮度阈值比较，生成所述检测结果。
9.根据权利要求8所述的显示面板的检测电路的使用方法，其特征在于，当所述检测结果为所述子像素部的亮度大于所述预设亮度阈值时，所述子像素部的亮度异常。
10.根据权利要求8所述的显示面板的检测电路的使用方法，其特征在于，当所述检测结果为所述子像素部的亮度小于或等于所述预设亮度阈值时，所述子像素部的亮度正常。
CN201410784898.6A 2014-12-17 2014-12-17 一种显示面板的检测电路及其使用方法 Active CN104505011B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410784898.6A CN104505011B (zh) 2014-12-17 2014-12-17 一种显示面板的检测电路及其使用方法
PCT/CN2014/094476 WO2016095240A1 (zh) 2014-12-17 2014-12-22 一种显示面板的检测电路及其使用方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410784898.6A CN104505011B (zh) 2014-12-17 2014-12-17 一种显示面板的检测电路及其使用方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104505011A CN104505011A (zh) 2015-04-08
CN104505011B true CN104505011B (zh) 2017-02-22

Family

ID=52946628

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410784898.6A Active CN104505011B (zh) 2014-12-17 2014-12-17 一种显示面板的检测电路及其使用方法

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN104505011B (zh)
WO (1) WO2016095240A1 (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108267668B (zh) * 2018-02-06 2020-10-20 合肥京东方显示技术有限公司 显示面板中短路点的定位方法及装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050050154A (ko) * 2003-11-25 2005-05-30 도호꾸 파이오니어 가부시끼가이샤 자발광 표시 모듈 및 이 모듈의 결함 상태의 검증 방법
CN101051446A (zh) * 2006-04-04 2007-10-10 联詠科技股份有限公司 可选择隔行扫描或逐行扫描驱动的液晶显示器及驱动方法
CN101281331A (zh) * 2007-04-04 2008-10-08 奇美电子股份有限公司 液晶显示面板、半透式液晶显示面板与液晶显示面板模组
CN102636928A (zh) * 2012-04-16 2012-08-15 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板配线区线路结构及液晶显示面板测试方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070030408A1 (en) * 2005-08-08 2007-02-08 Kuang-Hsiang Lin Liquid crystal display panel, thin film transistor array substrate and detection methods therefor
TWI287685B (en) * 2006-08-31 2007-10-01 Au Optronics Corp Liquid crystal display, active matrix substrate and test method therefor
TW200951591A (en) * 2008-06-12 2009-12-16 Chunghwa Picture Tubes Ltd Display panel and detecting method thereof
JP2010210282A (ja) * 2009-03-06 2010-09-24 Videocon Global Ltd Ｔｆｔアレイ・ビルトイン・セルフ検査装置と検査方法
CN202533678U (zh) * 2012-04-28 2012-11-14 合肥京东方光电科技有限公司 一种液晶显示面板及液晶显示器
KR101403127B1 (ko) * 2012-11-23 2014-06-03 엘지디스플레이 주식회사 디스플레이패널 및 디스플레이패널 검사방법
CN104077989B (zh) * 2014-06-30 2016-04-13 深圳市华星光电技术有限公司 显示面板

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050050154A (ko) * 2003-11-25 2005-05-30 도호꾸 파이오니어 가부시끼가이샤 자발광 표시 모듈 및 이 모듈의 결함 상태의 검증 방법
CN101051446A (zh) * 2006-04-04 2007-10-10 联詠科技股份有限公司 可选择隔行扫描或逐行扫描驱动的液晶显示器及驱动方法
CN101281331A (zh) * 2007-04-04 2008-10-08 奇美电子股份有限公司 液晶显示面板、半透式液晶显示面板与液晶显示面板模组
CN102636928A (zh) * 2012-04-16 2012-08-15 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板配线区线路结构及液晶显示面板测试方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2016095240A1 (zh) 2016-06-23
CN104505011A (zh) 2015-04-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9898944B2 (en) Detecting circuit, detecting method and display device
CN104062784B (zh) 一种面板检测电路及显示面板
CN107967886B (zh) 待检测的显示面板及其检测方法、显示面板及母板、显示装置
CN104407481B (zh) 阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置
CN104503158B (zh) 阵列基板、液晶显示面板及液晶显示面板的检测方法
CN106875896B (zh) 一种源极驱动ic、显示装置及其驱动方法
CN105590573B (zh) Amoled显示面板线缺陷的修复结构及修复方法
US11693284B2 (en) Display panel and method of repairing the same
CN104460114B (zh) 液晶显示面板和显示装置
CN104516609A (zh) 内嵌式触摸面板的检测方法及制造方法
CN102629003B (zh) 一种检测液晶显示面板交叉串扰的方法
CN108873506A (zh) 母板和母板的测试方法
CN106128342B (zh) 阵列基板、显示装置及阵列基板的检测方法
CN106782407B (zh) 一种显示面板的驱动方法及显示面板
US9620045B2 (en) Array substrate and detecting circuit thereof
CN105093602B (zh) 一种液晶显示面板及其驱动方法
CN103777423A (zh) 液晶面板及其像素结构
CN107358922A (zh) 液晶显示设备及其驱动方法
CN109256073A (zh) 一种显示面板检测结构及显示设备
CN106940990B (zh) 显示面板的充放电方法及驱动装置、显示器
CN104505011B (zh) 一种显示面板的检测电路及其使用方法
CN104375294B (zh) 一种显示面板的检测电路及其检测方法
CN101435921A (zh) 液晶显示装置连续点缺陷的修复方法
US10043426B2 (en) Liquid crystal panels, TFT substrates, and the detection methods thereof
CN107123409A (zh) 一种液晶显示面板的极性驱动方法及液晶显示面板

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant