CN104504386A - 一种模块化aoi定位方法、***及烧录ic设备 - Google Patents
一种模块化aoi定位方法、***及烧录ic设备 Download PDFInfo
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Abstract
本发明所提供的一种模块化AOI定位方法、***及烧录IC设备,采用模块化的方式对烧录IC设备进行IC定位,模块化指的是将控制IC定位***的各个模块通过一定的软件开发平台打包成动态命令库,通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录IC的定位操作。此***运用了多方向式计算功能,提高了检测速度,并采用标准影像校正手法提高了检测精度;同时模块化的开发架构也减少了开发过程中的验证测试时间,加快了产品开发速度。
Description
技术领域
本发明涉及IC烧录技术领域,尤其涉及的是一种模块化AOI定位方法、***及烧录IC设备。
背景技术
国内的IC烧录行业中,虽然自动化烧录产业已开发多年,但AOI定位检测***还没跟上国际脚步、特别是在IC检测领域,相关开发技术人员的不足、市场对AOI检测不了解、定位精度低等诸多问题一直导致此***无法持续开发生产。传统人工检测方式,容易造成企业质量难以把关,同时也大大降低IC产出效率,更严重的导致企业无法拿到更多订单,也因质量问题无法与更高端商品合作,对于企业来说,这样的损失是长久的。
因此,现有技术有待改进和提高。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种模块化AOI定位方法、***及烧录IC设备,旨在解决现有的IC烧录行业中IC定位精度低的问题。
本发明的技术方案如下:
一种模块化AOI定位方法,用于对烧录IC设备进行IC定位,其中,所述方法包括步骤:
A、加载烧录IC图片,并对所述烧录IC图片进行图像功能调整;
B、获取所述调整后的图像区块,判断所述调整后的图像区块是否为可用区域;
C、若所述调整后的图像区块为可用区域,则对所述可用区域进行CCD比对;
D、若所述CCD比对结果处于一预先设置的阀值范围内,则对所述可用区域进行图像校正,根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位。
所述模块化AOI定位方法,其中,所述步骤A中获加载所述烧录IC图片包括步骤:
开启四个线程,设置所述烧录IC图片的四个顶点为起始点,向图片中心加载图片数据。
所述模块化AOI定位方法,其中,所述图像功能调整包括:调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。
所述模块化AOI定位方法,其中,所述步骤C中CCD比对包括步骤:
C1、取出所述可用区域,根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘,并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位;
C2、根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置;
C3、取出同测最远距离的两个点位,利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X/Y偏移量。
所述模块化AOI定位方法,其中,所述步骤D中图像校正具体包括步骤:
D1、预先设置一校正块,将所述校正块置于CCD下方,利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线;
D2、根据所述长度值计算出相对应的像素值,此数值对应关系记为长度-像素对应关系,根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值,此数值对应关系记为像素-长度对应关系;
D3、将所述像素-长度对应关系设定为校正标准,根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。
所述模块化AOI定位***,其中,所述定位***包括:
加载调整图片模块,用于加载烧录IC图片,并对所述烧录IC图片进行图像功能调整;
可用区域判断模块,用于获取所述调整后的图像区块,判断所述调整后的图像区块是否为可用区域;
CCD比对模块,用于若所述调整后的图像区块为可用区域,则对所述可用区域进行CCD比对;
图像校正模块,用于若所述CCD比对结果处于一预先设置的阀值范围内,则对所述可用区域进行图像校正,根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位;
所述加载所述烧录IC图片包括:开启四个线程,设置所述IC图片的四个顶点为起始点,向图片中心加载图片数据;
所述图像功能调整包括:调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。
所述模块化AOI定位***,其中,所述CCD比对模块还包括:
可用区域外框点位获取单元,用于取出所述可用区域,根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘,并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位;
中心位置计算单元,用于根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置;
偏移值计算单元,用于取出同测最远距离的两个点位,利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X/Y偏移量。
所述模块化AOI定位***,其中,所述图像校正模块还包括:
长度值获取单元,用于预先设置一校正块,将所述校正块置于CCD下方,利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线;
像素长度值对应单元,用于根据所述长度值计算出相对应的像素值,此数值对应关系记为长度-像素对应关系,根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值,此数值对应关系记为像素-长度对应关系;
校正标准设定单元,用于将所述像素-长度对应关系设定为校正标准,根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。
所述模块化AOI定位***,其中,还包括:
动态库建立模块,用于将所述加载调整图片模块、可用区域判断模块、CCD比对模块和图像校正模块打包成一动态命令库,通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录IC的定位操作。
一种烧录IC设备,其中,包括以上任一项所述的模块化AOI定位***。
本发明所提供的一种模块化AOI定位方法、***及烧录IC设备,采用模块化的方式对烧录IC设备进行IC定位,模块化指的是将控制IC定位***的各个模块通过一定的软件开发平台打包成动态命令库,通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录IC的定位操作。此***运用了多方向式计算功能,提高了检测速度,并采用标准影像校正手法提高了检测精度;同时模块化的开发架构也减少了开发过程中的验证测试时间,加快了产品开发速度。
附图说明
图1为本发明的模块化AOI定位方法的较佳实施例流程图。
图2a、2b、2c为本发明的模块化AOI定位方法的应用实施例示意图。
图3为本发明的模块化AOI定位***的功能模块图。
具体实施方式
本发明提供一种模块化AOI定位方法、***及烧录IC设备,为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确,以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
请参阅图1,其为本发明的模块化AOI定位方法的较佳实施例流程图。如图所示,所述模块化AOI定位方法包括以下步骤:
S101、加载烧录IC图片,并对所述烧录IC图片进行图像功能调整。
本发明实施例中,在加载所述烧录IC图片时,通过开启四个线程,设置所述烧录IC图片的四个顶点为起始点,向图片中心加载图片数据,这样做可以加快图片数据读取的速度。加载后,进一步对所述烧录IC图片进行图像功能调整,所述图像功能调整包括:调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。
本发明采用模块化的架构方式,模块化方式就是将这些已完成验证的程序打包程动态库(DLL.LIB)并开放基本图片处理功能如:图片亮度调整、二值化、锐利化…等功能。这些功能可以照不同光源不同图片调整、只需要输入参数、所以减少了程序员测试时间。
如图2a所示为本发明实施例中的原始图像示意图,经过二值化、调整亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值后,如图2b所示为功能调整后的图像示意图。
S102、获取所述调整后的图像区块,判断所述调整后的图像区块是否为可用区域。
S103、若所述调整后的图像区块为可用区域,则对所述可用区域进行CCD比对。
所述CCD比对具体包括步骤:
C1、取出所述可用区域,根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘,并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位;
C2、根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置;
C3、取出同测最远距离的两个点位,利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X/Y偏移量。
如图2c所示为CCD比对示意图,根据以上步骤得出该图像的偏移角度和X/Y偏移量。
S104、若所述CCD比对结果处于一预先设置的阀值范围内,则对所述可用区域进行图像校正,根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位。
所述图像校正具体包括步骤:
D1、预先设置一校正块,将所述校正块置于CCD下方,利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线;
D2、根据所述长度值计算出相对应的像素值,此数值对应关系记为长度-像素对应关系,根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值,此数值对应关系记为像素-长度对应关系;
D3、将所述像素-长度对应关系设定为校正标准,根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。
例如,购买一块专业校正块(此校正块必须定期回厂检验),将此校正块置于CCD下方、利用绘图手法、划出相等于校正块长度的直线,如测定所述直线的长度为5mm;进一步计算出5mm=?pixel,即5mm所对应的图像像素值为多少,然后再计算出1pixel = ?mm,即计算出像素值为1时所对应的长度值为多少。例如,若5mm = 200pixel、则可知1pixel = 0.025mm。将1pixel = 0.025mm作为一个校正的标准,将可用区域的所有像素点进行图像校正。
基于上述实施例,本发明还提供一种模块化AOI定位***,如图3所示,包括:
加载调整图片模块100,用于加载烧录IC图片,并对所述烧录IC图片进行图像功能调整;具体如上所述。
可用区域判断模块200,用于获取所述调整后的图像区块,判断所述调整后的图像区块是否为可用区域;具体如上所述。
CCD比对模块300,用于若所述调整后的图像区块为可用区域,则对所述可用区域进行CCD比对;具体如上所述。
图像校正模块400,用于若所述CCD比对结果处于一预先设置的阀值范围内,则对所述可用区域进行图像校正,根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位;具体如上所述。
进一步地,所述加载所述烧录IC图片包括:开启四个线程,设置所述IC图片的四个顶点为起始点,向图片中心加载图片数据。
进一步地,所述图像功能调整包括:调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。
进一步地,所述CCD比对模块还包括:
可用区域外框点位获取单元,用于取出所述可用区域,根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘,并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位;具体如上所述。
中心位置计算单元,用于根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置;具体如上所述。
偏移值计算单元,用于取出同测最远距离的两个点位,利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X/Y偏移量。
进一步地,所述图像校正模块还包括:
长度值获取单元,用于预先设置一校正块,将所述校正块置于CCD下方,利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线;具体如上所述。
像素长度值对应单元,用于根据所述长度值计算出相对应的像素值,此数值对应关系记为长度-像素对应关系,根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值,此数值对应关系记为像素-长度对应关系;具体如上所述。
校正标准设定单元,用于将所述像素-长度对应关系设定为校正标准,根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正;具体如上所述。
进一步地,所述模块化AOI定位***还包括:
动态库建立模块,用于将所述加载调整图片模块、可用区域判断模块、CCD比对模块和图像校正模块打包成一动态命令库,通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录IC的定位操作。
基于上述实施例,本发明还提供一种烧录IC设备,本实施例所述的烧录IC设备包括上述所述的模块化AOI定位***。
综上所述,本发明所提供的一种模块化AOI定位方法、***及烧录IC设备,采用模块化的方式对烧录IC设备进行IC定位,模块化指的是将控制IC定位***的各个模块通过一定的软件开发平台打包成动态命令库,通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录IC的定位操作。此***运用了多方向式计算功能,提高了检测速度,并采用标准影像校正手法提高了检测精度;同时模块化的开发架构也减少了开发过程中的验证测试时间,加快了产品开发速度。
应当理解的是,本发明的应用不限于上述的举例,对本领域普通技术人员来说,可以根据上述说明加以改进或变换,所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。
Claims (10)
1.一种模块化AOI定位方法,用于对烧录IC设备进行IC定位,其特征在于,所述方法包括步骤:
A、加载烧录IC图片,并对所述烧录IC图片进行图像功能调整;
B、获取所述调整后的图像区块,判断所述调整后的图像区块是否为可用区域;
C、若所述调整后的图像区块为可用区域,则对所述可用区域进行CCD比对;
D、若所述CCD比对结果处于一预先设置的阀值范围内,则对所述可用区域进行图像校正,根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位。
2.根据权利要求1所述的模块化AOI定位方法,其特征在于,所述步骤A中获加载所述烧录IC图片包括步骤:
开启四个线程,设置所述烧录IC图片的四个顶点为起始点,向图片中心加载图片数据。
3.根据权利要求1所述的模块化AOI定位方法,其特征在于,所述图像功能调整包括:调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。
4.根据权利要求1所述的模块化AOI定位方法,其特征在于,所述步骤C中CCD比对包括步骤:
C1、取出所述可用区域,根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘,并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位;
C2、根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置;
C3、取出同测最远距离的两个点位,利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X/Y偏移量。
5.根据权利要求1所述的模块化AOI定位方法,其特征在于,所述步骤D中图像校正具体包括步骤:
D1、预先设置一校正块,将所述校正块置于CCD下方,利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线;
D2、根据所述长度值计算出相对应的像素值,此数值对应关系记为长度-像素对应关系,根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值,此数值对应关系记为像素-长度对应关系;
D3、将所述像素-长度对应关系设定为校正标准,根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。
6.一种如权利要求1所述的模块化AOI定位***,其特征在于,所述定位***包括:
加载调整图片模块,用于加载烧录IC图片,并对所述烧录IC图片进行图像功能调整;
可用区域判断模块,用于获取所述调整后的图像区块,判断所述调整后的图像区块是否为可用区域;
CCD比对模块,用于若所述调整后的图像区块为可用区域,则对所述可用区域进行CCD比对;
图像校正模块,用于若所述CCD比对结果处于一预先设置的阀值范围内,则对所述可用区域进行图像校正,根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位;
所述加载所述烧录IC图片包括:开启四个线程,设置所述IC图片的四个顶点为起始点,向图片中心加载图片数据;
所述图像功能调整包括:调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。
7.根据权利要求6所述的模块化AOI定位***,其特征在于,所述CCD比对模块还包括:
可用区域外框点位获取单元,用于取出所述可用区域,根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘,并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位;
中心位置计算单元,用于根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置;
偏移值计算单元,用于取出同测最远距离的两个点位,利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X/Y偏移量。
8.根据权利要求6所述的模块化AOI定位***,其特征在于,所述图像校正模块还包括:
长度值获取单元,用于预先设置一校正块,将所述校正块置于CCD下方,利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线;
像素长度值对应单元,用于根据所述长度值计算出相对应的像素值,此数值对应关系记为长度-像素对应关系,根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值,此数值对应关系记为像素-长度对应关系;
校正标准设定单元,用于将所述像素-长度对应关系设定为校正标准,根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。
9.根据权利要求6所述的模块化AOI定位***,其特征在于,还包括:
动态库建立模块,用于将所述加载调整图片模块、可用区域判断模块、CCD比对模块和图像校正模块打包成一动态命令库,通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录IC的定位操作。
10.烧录IC设备,其特征在于,包括权利要求6至9任一项所述的模块化AOI定位***。
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GR01 | Patent grant | ||
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