CN104504386A - 一种模块化aoi定位方法、***及烧录ic设备 - Google Patents

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Abstract

本发明所提供的一种模块化AOI定位方法、***及烧录IC设备，采用模块化的方式对烧录IC设备进行IC定位，模块化指的是将控制IC定位***的各个模块通过一定的软件开发平台打包成动态命令库，通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录IC的定位操作。此***运用了多方向式计算功能，提高了检测速度，并采用标准影像校正手法提高了检测精度；同时模块化的开发架构也减少了开发过程中的验证测试时间，加快了产品开发速度。

Description

一种模块化AOI定位方法、***及烧录IC设备
技术领域
本发明涉及IC烧录技术领域，尤其涉及的是一种模块化AOI定位方法、***及烧录IC设备。
背景技术
国内的IC烧录行业中，虽然自动化烧录产业已开发多年，但AOI定位检测***还没跟上国际脚步、特别是在IC检测领域，相关开发技术人员的不足、市场对AOI检测不了解、定位精度低等诸多问题一直导致此***无法持续开发生产。传统人工检测方式，容易造成企业质量难以把关，同时也大大降低IC产出效率，更严重的导致企业无法拿到更多订单，也因质量问题无法与更高端商品合作，对于企业来说，这样的损失是长久的。
因此，现有技术有待改进和提高。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种模块化AOI定位方法、***及烧录IC设备，旨在解决现有的IC烧录行业中IC定位精度低的问题。
本发明的技术方案如下：
一种模块化AOI定位方法，用于对烧录IC设备进行IC定位，其中，所述方法包括步骤：
A、加载烧录IC图片，并对所述烧录IC图片进行图像功能调整；
B、获取所述调整后的图像区块，判断所述调整后的图像区块是否为可用区域；
C、若所述调整后的图像区块为可用区域，则对所述可用区域进行CCD比对；
D、若所述CCD比对结果处于一预先设置的阀值范围内，则对所述可用区域进行图像校正，根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位。
所述模块化AOI定位方法，其中，所述步骤A中获加载所述烧录IC图片包括步骤：
开启四个线程，设置所述烧录IC图片的四个顶点为起始点，向图片中心加载图片数据。
所述模块化AOI定位方法，其中，所述图像功能调整包括：调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。
所述模块化AOI定位方法，其中，所述步骤C中CCD比对包括步骤：
C1、取出所述可用区域，根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘，并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位；
C2、根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置；
C3、取出同测最远距离的两个点位，利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X/Y偏移量。
所述模块化AOI定位方法，其中，所述步骤D中图像校正具体包括步骤：
D1、预先设置一校正块，将所述校正块置于CCD下方，利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线；
D2、根据所述长度值计算出相对应的像素值，此数值对应关系记为长度-像素对应关系，根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值，此数值对应关系记为像素-长度对应关系；
D3、将所述像素-长度对应关系设定为校正标准，根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。
所述模块化AOI定位***，其中，所述定位***包括：
加载调整图片模块，用于加载烧录IC图片，并对所述烧录IC图片进行图像功能调整；
可用区域判断模块，用于获取所述调整后的图像区块，判断所述调整后的图像区块是否为可用区域；
CCD比对模块，用于若所述调整后的图像区块为可用区域，则对所述可用区域进行CCD比对；
图像校正模块，用于若所述CCD比对结果处于一预先设置的阀值范围内，则对所述可用区域进行图像校正，根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位；
所述加载所述烧录IC图片包括：开启四个线程，设置所述IC图片的四个顶点为起始点，向图片中心加载图片数据；
所述图像功能调整包括：调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。
所述模块化AOI定位***，其中，所述CCD比对模块还包括：
可用区域外框点位获取单元，用于取出所述可用区域，根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘，并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位；
中心位置计算单元，用于根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置；
偏移值计算单元，用于取出同测最远距离的两个点位，利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X/Y偏移量。
所述模块化AOI定位***，其中，所述图像校正模块还包括：
长度值获取单元，用于预先设置一校正块，将所述校正块置于CCD下方，利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线；
像素长度值对应单元，用于根据所述长度值计算出相对应的像素值，此数值对应关系记为长度-像素对应关系，根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值，此数值对应关系记为像素-长度对应关系；
校正标准设定单元，用于将所述像素-长度对应关系设定为校正标准，根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。
所述模块化AOI定位***，其中，还包括：
动态库建立模块，用于将所述加载调整图片模块、可用区域判断模块、CCD比对模块和图像校正模块打包成一动态命令库，通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录IC的定位操作。
一种烧录IC设备，其中，包括以上任一项所述的模块化AOI定位***。
本发明所提供的一种模块化AOI定位方法、***及烧录IC设备，采用模块化的方式对烧录IC设备进行IC定位，模块化指的是将控制IC定位***的各个模块通过一定的软件开发平台打包成动态命令库，通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录IC的定位操作。此***运用了多方向式计算功能，提高了检测速度，并采用标准影像校正手法提高了检测精度；同时模块化的开发架构也减少了开发过程中的验证测试时间，加快了产品开发速度。
附图说明
图1为本发明的模块化AOI定位方法的较佳实施例流程图。
图2a、2b、2c为本发明的模块化AOI定位方法的应用实施例示意图。
图3为本发明的模块化AOI定位***的功能模块图。
具体实施方式
本发明提供一种模块化AOI定位方法、***及烧录IC设备，为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
请参阅图1，其为本发明的模块化AOI定位方法的较佳实施例流程图。如图所示，所述模块化AOI定位方法包括以下步骤：
S101、加载烧录IC图片，并对所述烧录IC图片进行图像功能调整。
本发明实施例中，在加载所述烧录IC图片时，通过开启四个线程，设置所述烧录IC图片的四个顶点为起始点，向图片中心加载图片数据，这样做可以加快图片数据读取的速度。加载后，进一步对所述烧录IC图片进行图像功能调整，所述图像功能调整包括：调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。
本发明采用模块化的架构方式，模块化方式就是将这些已完成验证的程序打包程动态库(DLL.LIB)并开放基本图片处理功能如：图片亮度调整、二值化、锐利化…等功能。这些功能可以照不同光源不同图片调整、只需要输入参数、所以减少了程序员测试时间。
如图2a所示为本发明实施例中的原始图像示意图，经过二值化、调整亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值后，如图2b所示为功能调整后的图像示意图。
S102、获取所述调整后的图像区块，判断所述调整后的图像区块是否为可用区域。
S103、若所述调整后的图像区块为可用区域，则对所述可用区域进行CCD比对。
所述CCD比对具体包括步骤：
C1、取出所述可用区域，根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘，并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位；
C2、根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置；
C3、取出同测最远距离的两个点位，利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X/Y偏移量。
如图2c所示为CCD比对示意图，根据以上步骤得出该图像的偏移角度和X/Y偏移量。
S104、若所述CCD比对结果处于一预先设置的阀值范围内，则对所述可用区域进行图像校正，根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位。
所述图像校正具体包括步骤：
D1、预先设置一校正块，将所述校正块置于CCD下方，利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线；
D2、根据所述长度值计算出相对应的像素值，此数值对应关系记为长度-像素对应关系，根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值，此数值对应关系记为像素-长度对应关系；
D3、将所述像素-长度对应关系设定为校正标准，根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。
例如，购买一块专业校正块（此校正块必须定期回厂检验），将此校正块置于CCD下方、利用绘图手法、划出相等于校正块长度的直线，如测定所述直线的长度为5mm；进一步计算出5mm=?pixel，即5mm所对应的图像像素值为多少，然后再计算出1pixel = ?mm，即计算出像素值为1时所对应的长度值为多少。例如，若5mm = 200pixel、则可知1pixel = 0.025mm。将1pixel = 0.025mm作为一个校正的标准，将可用区域的所有像素点进行图像校正。
基于上述实施例，本发明还提供一种模块化AOI定位***，如图3所示，包括：
加载调整图片模块100，用于加载烧录IC图片，并对所述烧录IC图片进行图像功能调整；具体如上所述。
可用区域判断模块200，用于获取所述调整后的图像区块，判断所述调整后的图像区块是否为可用区域；具体如上所述。
CCD比对模块300，用于若所述调整后的图像区块为可用区域，则对所述可用区域进行CCD比对；具体如上所述。
图像校正模块400，用于若所述CCD比对结果处于一预先设置的阀值范围内，则对所述可用区域进行图像校正，根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位；具体如上所述。
进一步地，所述加载所述烧录IC图片包括：开启四个线程，设置所述IC图片的四个顶点为起始点，向图片中心加载图片数据。
进一步地，所述图像功能调整包括：调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。
进一步地，所述CCD比对模块还包括：
可用区域外框点位获取单元，用于取出所述可用区域，根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘，并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位；具体如上所述。
中心位置计算单元，用于根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置；具体如上所述。
偏移值计算单元，用于取出同测最远距离的两个点位，利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X/Y偏移量。
进一步地，所述图像校正模块还包括：
长度值获取单元，用于预先设置一校正块，将所述校正块置于CCD下方，利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线；具体如上所述。
像素长度值对应单元，用于根据所述长度值计算出相对应的像素值，此数值对应关系记为长度-像素对应关系，根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值，此数值对应关系记为像素-长度对应关系；具体如上所述。
校正标准设定单元，用于将所述像素-长度对应关系设定为校正标准，根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正；具体如上所述。
进一步地，所述模块化AOI定位***还包括：
动态库建立模块，用于将所述加载调整图片模块、可用区域判断模块、CCD比对模块和图像校正模块打包成一动态命令库，通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录IC的定位操作。
基于上述实施例，本发明还提供一种烧录IC设备，本实施例所述的烧录IC设备包括上述所述的模块化AOI定位***。
综上所述，本发明所提供的一种模块化AOI定位方法、***及烧录IC设备，采用模块化的方式对烧录IC设备进行IC定位，模块化指的是将控制IC定位***的各个模块通过一定的软件开发平台打包成动态命令库，通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录IC的定位操作。此***运用了多方向式计算功能，提高了检测速度，并采用标准影像校正手法提高了检测精度；同时模块化的开发架构也减少了开发过程中的验证测试时间，加快了产品开发速度。
应当理解的是，本发明的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种模块化AOI定位方法，用于对烧录IC设备进行IC定位，其特征在于，所述方法包括步骤：
A、加载烧录IC图片，并对所述烧录IC图片进行图像功能调整；
B、获取所述调整后的图像区块，判断所述调整后的图像区块是否为可用区域；
C、若所述调整后的图像区块为可用区域，则对所述可用区域进行CCD比对；
D、若所述CCD比对结果处于一预先设置的阀值范围内，则对所述可用区域进行图像校正，根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位。
2.根据权利要求1所述的模块化AOI定位方法，其特征在于，所述步骤A中获加载所述烧录IC图片包括步骤：
开启四个线程，设置所述烧录IC图片的四个顶点为起始点，向图片中心加载图片数据。
3.根据权利要求1所述的模块化AOI定位方法，其特征在于，所述图像功能调整包括：调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。
4.根据权利要求1所述的模块化AOI定位方法，其特征在于，所述步骤C中CCD比对包括步骤：
C1、取出所述可用区域，根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘，并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位；
C2、根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置；
C3、取出同测最远距离的两个点位，利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X/Y偏移量。
5.根据权利要求1所述的模块化AOI定位方法，其特征在于，所述步骤D中图像校正具体包括步骤：
D1、预先设置一校正块，将所述校正块置于CCD下方，利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线；
D2、根据所述长度值计算出相对应的像素值，此数值对应关系记为长度-像素对应关系，根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值，此数值对应关系记为像素-长度对应关系；
D3、将所述像素-长度对应关系设定为校正标准，根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。
6.一种如权利要求1所述的模块化AOI定位***，其特征在于，所述定位***包括：
加载调整图片模块，用于加载烧录IC图片，并对所述烧录IC图片进行图像功能调整；
可用区域判断模块，用于获取所述调整后的图像区块，判断所述调整后的图像区块是否为可用区域；
CCD比对模块，用于若所述调整后的图像区块为可用区域，则对所述可用区域进行CCD比对；
图像校正模块，用于若所述CCD比对结果处于一预先设置的阀值范围内，则对所述可用区域进行图像校正，根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位；
所述加载所述烧录IC图片包括：开启四个线程，设置所述IC图片的四个顶点为起始点，向图片中心加载图片数据；
所述图像功能调整包括：调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。
7.根据权利要求6所述的模块化AOI定位***，其特征在于，所述CCD比对模块还包括：
可用区域外框点位获取单元，用于取出所述可用区域，根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘，并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位；
中心位置计算单元，用于根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置；
偏移值计算单元，用于取出同测最远距离的两个点位，利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X/Y偏移量。
8.根据权利要求6所述的模块化AOI定位***，其特征在于，所述图像校正模块还包括：
长度值获取单元，用于预先设置一校正块，将所述校正块置于CCD下方，利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线；
像素长度值对应单元，用于根据所述长度值计算出相对应的像素值，此数值对应关系记为长度-像素对应关系，根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值，此数值对应关系记为像素-长度对应关系；
校正标准设定单元，用于将所述像素-长度对应关系设定为校正标准，根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。
9.根据权利要求6所述的模块化AOI定位***，其特征在于，还包括：
动态库建立模块，用于将所述加载调整图片模块、可用区域判断模块、CCD比对模块和图像校正模块打包成一动态命令库，通过调用所述动态命令库的接口函数控制烧录IC的定位操作。
10.烧录IC设备，其特征在于，包括权利要求6至9任一项所述的模块化AOI定位***。
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