CN104422949A - 放射线检测器 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种能够更准确地修正荧光堆积的放射线检测器。本发明的放射线检测器构成为即便产生荧光堆积也能分离并推断重叠的荧光。本发明的构成具备在放射线检测前预先将峰值(h)与荧光强度的时间进程(Tc)关联而成的表(T)。该表(T)基于实测荧光强度的经时变化，因此忠实地表现荧光的经时变化。根据本发明，若判定产生堆积，则读出与即将产生堆积之前的峰值(h)对应的时间进程(Tc)，并从强度数据(D)的经时变化中减去时间进程(Tc)，从而推断堆积产生后的荧光强度的经时变化。通过此种方式，能够准确地推断荧光强度的经时变化，不必像现有构成那样进行复杂的运算。

Description

放射线检测器

技术领域

本发明涉及一种修正湮灭放射线对(annihilation radiation pairs)的检测信号的放射线检测器，尤其涉及在构成为将放射线转换成荧光并测定该荧光的放射线检测器中，能够通过修正消除荧光的余辉影响的放射线检测器。

背景技术

对现有的使放射线药剂的分布成像的正电子发射断层显像装置(PET，Positron Emission Tomography)的具体构成进行说明。现有PET装置具备由检测放射线的放射线检测器呈圆环状排列而构成的检测器环。该检测器环检测从受检体内的放射性药剂释放出的互为反方向的一对放射线(湮灭放射线对)。

对放射线检测器51的构成进行说明。如图11所示，放射线检测器51包括：闪烁体(scintillator)52，由闪烁晶体三维地排列而成；及光检测器53，检测从被闪烁体52吸收的放射线发出的荧光。光检测器53具备由多个光检测元件呈矩阵状排列而成的检测面。而且，光检测器53的检测面与闪烁体52的一个表面光学连接。

若放射线入射至闪烁体52，则闪烁体52内部发出荧光。该荧光需要一定时间才能完全衰减。因此，若有放射线入射，则闪烁体52会持续一段时间弱发光。

因此，会出现在闪烁体52的发光未完全结束时，放射线入射至闪烁体52的情况。于是，如图12所示，检测到闪烁体52的发光重叠。将此种现象称为荧光堆积(pileup)。若产生堆积，则放射线检测器51无法准确检测放射线。

因此，一直在对堆积研究对策。例如，根据第一方法，通过依次变更基线(base line)而检测已堆积的荧光(具体请参照专利文献1)。另外，根据第二方法，通过对已堆积的荧光进行推断运算而分离成两个检测信号(具体请参照非专利文献1)。

背景技术文献

专利文献

专利文献1：美国专利第6903344号

非专利文献

非专利文献1：M.D.Haselman et.al.“FPGA-Based Pulse PileupCorrection”，NSS/MIC record Nov.13.2010

发明内容

本发明欲解决的课题

然而，现有的放射线检测存在如下问题。即，现有方法存在不完备的地方，无法充分修正荧光堆积。

首先，在依次切换基线的第一方法中，若像图13那样荧光的产生时间隔的足够远则不会有何问题。然而，若像图12那样荧光的产生时间隔的近，则在前一荧光正大幅衰减的期间，后一荧光便开始发光。根据第一方法，后一荧光的基线固定成后一个荧光即将发光之前的状态。但是，如图12的箭头所示，实际基线在后一荧光的发光期间会向负方向大幅地变动。这样，第一方法并未基于准确的基线执行荧光堆积修正。具体来说，后一荧光的基线被过高地修正，且被过高地评价。

另外，对已堆积的荧光进行推断运算的第二方法中，是算出前一荧光的衰减趋势，来修正后一荧光的检测结果。荧光衰减的情况根本无法用一次函数等单纯函数表现。因此，为了准确地分离已堆积的荧光，必须对荧光的检测结果配以(fitting)复杂函数。每当堆积产生时便要执行一次此种动作，由于运算巨大而难以实现。

本发明是鉴于此种状况研究而成，其目的在于提供一种能够更准确地修正荧光堆积的放射线检测器。

解决课题的手段

本发明为了解决所述问题而采用如下构成。

即，本发明的放射线检测器的特征在于包括：闪烁体，将放射线转换成荧光；光检测器，检测荧光；存储单元，存储将峰值与荧光强度的时间进程(time course)关联而成的表，所述峰值是放射线入射至闪烁体产生的荧光从发出到不断衰减的连续过程中的荧光强度的极大值；强度数据监控单元，基于光检测器的输出，产生表示荧光强度的强度数据,并经时地进行监控；峰值获取单元，基于强度数据监控单元输出的强度数据获取峰值；堆积产生判定单元，基于强度数据的经时变化对堆积的产生进行判定，所述堆积是在放射线入射至闪烁体而产生的荧光不断衰减的过程中放射线再次入射至闪烁体，连续衰减的荧光强度再次增大的现象；以及推断单元，若判定堆积产生，则从存储单元读出与峰值获取单元获取的即将产生堆积之前的峰值对应的时间进程，并从强度数据监控单元输出的强度数据的经时变化中减去时间进程，从而推断堆积产生后的荧光强度的经时变化。

[作用·效果]本发明的放射线检测器构成为即便产生荧光堆积也能分离并推断已重叠的荧光。本发明的构成中特征性内容为，在放射线检测前预先准备由峰值与荧光强度的时间进程关联而成的表。所谓峰值，是指荧光强度的极大值。该表基于实测荧光强度的经时变化，因此忠实地表现荧光的经时变化。根据本发明，若判定堆积产生，则从存储单元读出与即将产生堆积之前的峰值对应的时间进程，并从强度数据监控单元输出的强度数据的经时变化中减去时间进程，从而推断堆积产生后的荧光强度的经时变化。通过此种方式，即便短时间内检测出两次放射线,也能准确地推断荧光强度的经时变化。而且，根据本发明，只要进行减法处理便能推断经时变化，因此，不必像现有构成那样进行复杂的运算。

另外，在所述放射线检测器中，更为理想的是：存储单元存储的荧光强度的时间进程是在未产生堆积的状态下向闪烁体照射放射线而由强度数据监控单元监控到的荧光强度的经时变化。

[作用·效果]所述构成更具体地表现了本发明的放射线检测器。若存储单元存储的荧光强度的时间进程是在未产生堆积的状态下对放射线实测所得，便可更准确地推断荧光强度的经时变化。这是因为，若在生成成为推断基准的时间进程时产生堆积，则荧光的经时变化混乱。

另外，在所述放射线检测器中，更为理想的是：强度数据监控单元以自发方式监控强度数据。

[作用·效果]所述构成更具体地表现了本发明的放射线检测器。若强度数据监控单元以自发方式监控强度数据，便能以短时间间隔准确地监控强度数据。

另外，在所述放射线检测器中，更为理想的是：强度数据监控单元通过将成为模拟数据的光检测器的输出数据数字化而生成强度数据。

[作用·效果]所述构成更具体地表现了本发明的放射线检测器。若通过将成为模拟数据的光检测器的输出数据数字化而生成强度数据，便可构成更快速地确切执行动作的放射线检测器。

另外，在所述放射线检测器中，更为理想的是：推断单元不仅对两个荧光堆积的强度数据执行推断，也对三个以上的荧光堆积的强度数据执行推断。

[作用·效果]所述构成更具体地表现了本发明的放射线检测器。若推断单元对三个以上的荧光堆积的强度数据执行推断，便可构成通用性更高的放射线检测器。

发明的效果

本发明的放射线检测器构成为即便产生荧光堆积也能分离并推断已重叠的荧光。本发明的构成中特征性内容为，在检测放射线之前预先准备由峰值与荧光强度的时间进程关联而成的表。该表基于实测荧光强度的经时变化，因此忠实地表现荧光的经时变化。根据本发明，若判定堆积产生，则读出与即将产生堆积之前的峰值对应的时间进程，并从强度数据的经时变化中减去时间进程，从而推断堆积产生后的荧光强度的经时变化。通过此种方式，能够准确地推断荧光强度的经时变化，不必像现有构成那样进行复杂的运算。

附图说明

图1是对实施例1的放射线检测器的整体构成进行说明的功能框图。

图2是对实施例1的强度数据的经时变化进行说明的概念图。

图3是对实施例1的荧光堆积进行说明的概念图。

图4是对实施例1的堆积产生辨别部的动作进行说明的概念图。

图5是对实施例1的峰值获取部的动作进行说明的概念图。

图6是对实施例1的表进行说明的概念图。

图7是对实施例1的峰值与时间进程进行说明的概念图。

图8是对实施例1的推断部的动作进行说明的概念图。

图9是对实施例1的推断部的动作进行说明的概念图。

图10是对实施例1的推断部的动作进行说明的概念图。

图11是对现有构成的放射线检测器进行说明的示意图。

图12是对现有构成的问题点进行说明的概念图。

图13是对现有构成的问题点进行说明的概念图。

符号的说明

1、51：放射线检测器

2、52：闪烁体

3、53：光检测器

4：导光器

11：强度数据监控部(强度数据监控单元)

12：堆积产生辨别部(堆积产生判定单元)

13：峰值获取部(峰值获取单元)

14：推断部(推断单元)

21：主控制部

35：存储部(存储单元)

C：闪烁晶体

D：强度数据

h、h0：峰值

m：极小点

n：阈值

p：极大点

q：极大的点

T：表

Tc、Tc0：时间进程

T0、T1：时点

具体实施方式

[实施例1]

下面，对本发明的放射线检测器的实施例进行说明。γ射线为放射线的一个例子。

＜放射线检测器的整体构成＞

如图1所示，实施例1的放射线检测器1包括：闪烁体2，由闪烁晶体C纵横排列而构成；光检测器3，设于闪烁体2的下表面，侦测从闪烁体2发出的荧光；以及导光器(light guide)4，配置在介于闪烁体2与光检测器3之间的位置。各闪烁晶体C是由扩散有Ce的Lu_2(1-x)Y_2xSiO₅(以下，称为LYSO)构成。若放射线入射至闪烁体2，则放射线被转换成荧光。

光检测器3检测闪烁体2产生的荧光。该光检测器3具有位置辨别功能，能够辨别闪烁体2产生的荧光来源于哪个闪烁晶体C。导光器4是为了将闪烁体2产生的荧光导向光检测器3而设。因此，导光器4光学耦合于闪烁体2与光检测器3。

强度数据监控部11等间隔地向光检测器3送出取样信号。该取样信号成为向光检测器3送出数据的命令，每向光检测器3送出一次取样信号，强度数据监控部11便计算一次荧光的检测信号。这样，将不依赖于光检测器3检测荧光的状况而以固定的时间段监控荧光产生的方式称为自发(free run)方式。强度数据监控部11以自发方式监控强度数据D。强度数据监控部11相当于本发明的强度数据监控单元。

光检测器3输出的荧光检测信号(输出数据)实质上为模拟数据。强度数据监控部11若获取光检测器3的输出数据，则将该输出数据数字化而生成表示荧光强度的强度数据D。强度数据D是基于被逐个输入至强度数据监控部11的光检测器3的输出数据而经时地生成。因此，强度数据监控部11经时地监控强度数据D。然而，仅通过强度数据监控部11的动作无法准确地监控荧光强度。这是因为，荧光有时会产生堆积。下面要说明的各部12、13、14是考虑该堆积而设的构成。

＜关于荧光堆积＞

在说明各部12、13、14的动作之前，说明荧光堆积。图2表示放射线检测器1仅检测出一次放射线时的强度数据D的经时变化。若放射线入射至闪烁体2，则如图2所示荧光强度增加，并达到极大。而且，与荧光强度增加的时间相比，荧光强度逐渐衰减所需的时间更长。堆积产生辨别部12相当于本发明的堆积产生辨别单元。

图3表示放射线检测器1检测出两次放射线时的强度数据D的经时变化。首先，若第一次的放射线入射至闪烁体2，则图2所说明的荧光强度产生增减。因此，图3所示的荧光强度的经时变化在从荧光开始发出的时点T0至时点T1为止的期间表现出与图2相同的行为。此处，放射线在时点T1时再次入射至闪烁体2。即，第二次的放射线在荧光未充分衰减的期间入射至闪烁体2。于是，如图3所示，本应继续衰减的荧光强度会从时点T1起再次增大。

这样，放射线入射至闪烁体2而产生的荧光不断衰减的过程中，向闪烁体2再次入射放射线，已连续衰减的荧光强度再次增大的现象称为荧光堆积。即，若两条放射线在短时间内入射至闪烁体2，便会产生荧光堆积。因此，即便闪烁体2的荧光充分湮灭后闪烁体2又产生另一荧光，也不能将其称为堆积。

若产生此种堆积,则强度数据监控部11输出的强度数据D混乱。为了准确检测放射线，必须消除该混乱。因此，根据实施例1的构成，具备将堆积并重叠的两个荧光分离的构成。实现此构成的是实施例1的放射线检测器1所具备的各部12、13、14。下面，按顺序说明所述各部的动作。

＜堆积产生辨别部的动作＞

堆积产生辨别部12基于强度数据D的经时变化来判定荧光堆积产生。下面，说明堆积产生辨别部12的具体动作。从强度数据监控部11依次向堆积产生辨别部12送出强度数据D。由此，堆积产生辨别部12可获知强度数据D的经时变化。

该堆积产生辨别部12执行动作时，使用阈值n。该阈值n是存储于存储部35的设定值，堆积产生辨别部12从存储部35读出表示阈值n的数据并执行动作。存储部35相当于本发明的存储单元。

图4表示堆积产生辨别部12的动作。堆积产生辨别部12针对强度数据监控部11输出的各强度数据D，获取强度及强度的微分值。然后，堆积产生辨别部12在满足特定条件时辨别为产生了图3所说明的荧光堆积。所述特定条件是指强度数据D的经时变化的极小值是否为阈值n以上。具体来说，当极小值为阈值n时，辨别为产生堆积。

若设定此种条件，则可准确地辨别堆积产生。首先，强度存在极小值时表示已变弱的荧光在中途变强。总之，表示放射线是分成两次入射至闪烁体2。若更准确地说明，可以说在强度成为极小值的时点的前后，放射线各入射至闪烁体2一次。

假设已获知放射线是分成两次入射至闪烁体2，但在获知是否产生堆积之前并不能区分清楚。这是因为，也要考虑放射线在荧光已充分衰减的状态下入射至闪烁体2。这种情况下，考虑图2所示的单一放射线检测更接近现实。

因此，堆积产生辨别部12基于极小值是否为阈值n以上来辨别堆积。若极小值为阈值n以上，则可知放射线是在荧光未充分衰减的状态下入射至闪烁体2。这是因为，荧光是一边逐渐变弱一边衰减。该阈值n是辨别堆积时必要的参数(parameter)，可以结合放射线检测状况适当地进行调整。

说明获得像图4那样的强度数据D的经时变化时的堆积产生辨别部12的动作。堆积产生辨别部12确认强度数据D的经时变化存在极小点m，且堆积产生辨别部12确认与该极小点m相关的极小值为阈值n以上。因此，在这种情况下，堆积产生辨别部12辨别为在产生极小点m的时点的前后产生了堆积。

＜峰值获取部的动作＞

堆积产生辨别部12已确认堆积产生时，将此内容发送给峰值获取部13。峰值获取部13基于强度数据监控部11输出的强度数据D获取峰值。所谓峰值是指通过放射线入射至闪烁体2产生的荧光从发出到不断衰减的连续过程中的荧光强度的极大值。峰值获取部13相当于本发明的峰值获取单元。

说明峰值获取部13的具体动作。从强度数据监控部11向峰值获取部13经时地送出强度数据D。而且，若堆积产生辨别部12辨别堆积产生，则向峰值获取部13送出表示此内容的信号、及表示成为堆积辨别基准的极小点m的产生时点的数据。若从堆积产生辨别部12送来所述信号及数据，则峰值获取部13首先如图5所示获取比极小点m的产生时点更早出现的极大点p。该极大点p与在从极小点m的产生时点追溯时间的方向观察强度数据D而首次出现的极大点一致。因此，由于图5所示的后发出的荧光的极大的点q是在极小点m的产生时点后出现，所以峰值获取部13并不会认定该点p为极大点。

而且，峰值获取部13获取极大点p的强度即极大值，并将该极大值识别为峰值h0。以这种方式被峰值获取部13获取的峰值是入射至闪烁体2的两条放射线中先入射的放射线的峰值。即，峰值获取部13获取即将产生堆积之前的峰值。

＜关于表＞

在说明推断部14的动作之前，说明推断部14要使用的表T。该表T存储于存储部35，由推断部14从存储部35适当地读出后使用。图6示意性地表示表T。表T是由值不同的峰值h与荧光强度的时间进程Tc关联而成的表。该表T是为了推断闪烁体2产生的荧光的经时变化而设。推断部14相当于本发明的推断单元。

图7中说明峰值h0及与峰值h0关联的时间进程Tc0。该时间进程Tc0是基于放射线检测器1检测出单一放射线时的实测值而构成。即,时间进程Tc0表示放射线检测器1在无荧光堆积的状态下检测出放射线时的检测结果。

假设闪烁体2产生的荧光的强度始终固定，便能容易地预测荧光增减的状况。这是因为，闪烁体2产生的荧光应始终一边沿着相同经过一边经时变化。然而，实际上闪烁体2产生的荧光有强有弱。该荧光的强度不同，则荧光增减的状况不同。因此，根据实施例1的构成，为了准确地推断闪烁体2产生的荧光的经时变化，准备与荧光强度相应的多个时间进程Tc。

此时，荧光强度的指标可以使用峰值。即，可知当荧光的经时变化中的峰值大时，该经时变化为强荧光所有。同样地，可知当荧光的经时变化中的峰值小时，该经时变化为弱荧光所有。这样，若峰值相同，则荧光的经时变化固定。因此，只要知晓峰值便可推断闪烁体2产生的荧光如何增减。

图7说明的是峰值h0及与峰值h0关联的时间进程Tc0，但表T中其他各峰值h1、峰值h2、峰值h3，也关联有分别对应的时间进程Tc1、时间进程Tc2、时间进程Tc3(参照图6)。

因此，根据实施例1的构成，需要在放射线检测前准备表T。说明该表T的生成方法。表T是通过由构成与图1所说明的构成相同的放射线检测器1检测放射线而获得。此时，为了不产生荧光堆积，充分减少放射线的线量而检测放射线。连续检测放射线则会检测出各种强度的荧光。表T是以如下方式获得：以与所述强度数据监控部11的动作相同的要领监控各荧光的强度数据D的经时变化，并将该结果送出至峰值获取部13，而获取峰值。实际的表T是按照峰值大小顺序将强度数据D的经时变化列成表(list up)。

另外，生成表T时，也可以设法使荧光产生堆积时所得的强度数据D不用于表T的生成。此时的堆积产生判断由堆积产生辨别部12执行。无论如何，存储部35中存储的荧光强度的时间进程Tc是通过在不产生堆积的状态下向闪烁体2照射放射线而由强度数据监控部11监控到的荧光强度的经时变化。

生成表T时，若利用与实际检测所用的放射线检测器1构成相同的检测器生成表T，便可更准确地推断荧光的经时变化。检测荧光时的强度数据D的经时变化因放射线检测器的装置构成不同而存在差异。因此，若放射线检测器的装置构成不同，则即便闪烁体2产生的荧光相同，输出的强度数据D的经时变化也不同。根据实施例1的构成，由于在与实际放射线检测的条件相同的条件下检测放射线而生成表T，因此能够准确地预测荧光的经时变化的式样(pattern)。

＜推断部的动作＞

当堆积产生辨别部12确认堆积产生时，峰值获取部13向推断部14送出峰值h0。若判定堆积产生，则推断部14参照表T而从存储部35读出与峰值h0对应的时间进程Tc0，推断因堆积而重叠的荧光中先在闪烁体2产生的荧光的强度的经时变化。然后，从强度数据监控部11输出的强度数据D的经时变化中减去时间进程，由此推断因堆积而重叠的荧光中后在闪烁体2产生的荧光、譬如说成堆积产生后的荧光的强度的经时变化。这样，推断部14针对各荧光推断因堆积而重合的荧光的强度的经时变化。

图8中具体地说明了推断部14的动作。推断部14针对强度数据D的经时变化中已确认产生堆积的部分，减去相当于斜线所示的时间进程Tc0的部分。强度数据D的经时变化与时间进程Tc0的时间匹配，是以强度数据D的经时变化中的峰值h0中的极大点p与时间进程Tc0的极大点成为相同的时点而进行。

图9是经减法处理后的经时变化。如图9所示，通过减法处理，从经时变化中消除两次入射的放射线中先入射的放射线的影响。以上，推断部14的动作结束。

图10示意性地表示至此为止的推断部14的动作。若向推断部14输入产生了堆积的强度数据D的经时变化，则推断部14参照表T读出时间进程Tc0，并推断该时间进程Tc0是已堆积的两个荧光中先入射至闪烁体2的放射线的荧光的经时变化。即，时间进程Tc0表示的是成为荧光堆积原因的两次入射的放射线中先入射的放射线的荧光强度的经时变化。然后，推断部14使用该时间进程Tc0执行减法处理。以此方式经减法处理后的经时变化表示的是后入射至闪烁体2的放射线的荧光强度的经时变化。即，通过推断部14，将堆积并重叠的荧光的检测数据，分离成堆积产生前在闪烁体2产生的荧光的成分、与堆积产生时点在闪烁体2产生的荧光的成分。

＜放射线检测器具有的其他构成＞

放射线检测器1具备统括地控制各部的主控制部21。该主控制部21由中央处理器(central processing unit，CPU)构成，通过执行各种程序，实现各部11、12、13、14。此外，所述各部也可以分割成担当各部的控制装置而实现。另外，存储部35中存储与放射线检测器1的控制相关的阈值、表等的全部。

如以上般，本发明的放射线检测器1构成为即便产生荧光堆积也能分离并推断已重叠的荧光。本发明的构成中特征性内容为，在放射线检测之前预先准备由峰值h与荧光强度的时间进程Tc关联而成的表T。所谓峰值h是指荧光强度的极大值。该表T基于实测荧光强度的经时变化，因此忠实地表现荧光的经时变化。根据本发明，若判定堆积产生，则读出与即将产生堆积之前的峰值h对应的时间进程Tc，并从强度数据D的经时变化中减去时间进程Tc，从而推断堆积产生后的荧光强度的经时变化。通过此种方式，即便短时间内检测出两次放射线，也能准确地推断荧光强度的经时变化。而且，根据本发明，只要进行减法处理便能推断经时变化，因此不必像现有构成那样进行复杂的运算。

另外，若存储部35中存储的荧光强度的时间进程Tc是在不产生堆积的状态下实测放射线所得,便可更准确地推断荧光强度的经时变化。这是因为，若生成成为推断基准的时间进程Tc时产生堆积，则荧光的经时变化混乱。

如上所述，若强度数据监控部11以自发方式监控强度数据D，便能以短时间间隔准确地监控强度数据D。

若将成为模拟数据的光检测器3的输出数据数字化而生成强度数据D,便可构成更快速地确切执行动作的放射线检测器1。

本发明并不限定于所述构成，可如下述那样变形实施。

(1)所述构成是针对两个荧光堆积的强度数据D实施数据处理，但本发明不仅可为该构成，也可以构成为对闪烁体2发出的荧光为三个以上堆积的强度数据D执行动作。这种情况下，推断部14从已堆积的荧光中最初发出的荧光开始按照时间序列顺序求出峰值h，并获取与该峰值h对应的时间进程Tc。然后，推断部14首先通过减法从强度数据D中去掉最先发出的荧光,并根据其结果求出第二个发出的荧光的峰值。接着，推断部14获取与所述峰值对应的时间进程(第二个发出的荧光的时间进程)，并从减法处理后的强度数据D中减去第二个发出的荧光的时间进程。以此方式逐次重复执行时间进程的获取与减法处理，由此推断部14能够从闪烁体2发出的荧光为三个以上堆积的强度数据D中,分离并获取各荧光的经时变化。这样，若推断部14对三个以上的荧光堆积的强度数据D执行动作，便可构成通用性更高的放射线检测器1。

(2)各实施例中的各设定值为例示。因此，各设定值可以自由地变更。

(3)所述各实施例中所说的闪烁晶体是由LYSO构成，但本发明中，也可代替LYSO而利用LGSO(Lu_2(1-x)G_2xSiO₅)或GSO(Gd₂SiO₅)等其他材料构成闪烁晶体。根据本变形例，可提供一种能够提供更廉价的放射线检测器的放射线检测器的制造方法。

(4)所述各实施例中，光检测器是由光电倍增管构成，但本发明并不限定于此。也可代替光电倍增管，使用光电二极管(photodiode)、雪崩光电二极管(avalanche photodiode)或半导体检测器等。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明,任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内,当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例,但凡是未脱离本发明技术方案内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (5)

1.一种放射线检测器，其特征在于，包括：

闪烁体，将放射线转换成荧光；

光检测器，检测荧光；

存储单元，存储将峰值与荧光强度的时间进程关联而成的表，所述峰值是放射线入射至所述闪烁体而产生的荧光从发出到不断衰减的连续过程中的荧光强度的极大值；

强度数据监控单元，基于所述光检测器的输出，生成表示荧光强度的强度数据，并经时地进行监控；

峰值获取单元，基于所述强度数据监控单元输出的所述强度数据,获取所述峰值；

堆积产生判定单元，基于所述强度数据的经时变化对堆积的产生进行判定，所述堆积是在放射线入射至所述闪烁体而产生的荧光不断衰减的过程中，放射线再次入射至所述闪烁体，连续衰减的荧光强度再次增大的现象；以及

推断单元，若判定堆积产生，从所述存储单元读出与所述峰值获取单元获取的即将产生堆积之前的所述峰值对应的所述时间进程，并从所述强度数据监控单元输出的所述强度数据的经时变化中减去所述时间进程，从而推断堆积产生后的荧光强度的经时变化。

2.根据权利要求1所述的放射线检测器，其特征在于：

所述存储单元存储的荧光强度的所述时间进程是通过在不产生堆积的状态下向所述闪烁体照射放射线而由所述强度数据监控单元监控到的荧光强度的经时变化。

3.根据权利要求1或2所述的放射线检测器，其特征在于：

所述强度数据监控单元以自发方式监控所述强度数据。

4.根据权利要求1或2所述的放射线检测器，其特征在于：

所述强度数据监控单元通过将成为模拟数据的所述光检测器的输出数据数字化而生成所述强度数据。

5.根据权利要求1或2所述的放射线检测器，其特征在于：

所述推断单元不仅对两个荧光堆积的所述强度数据执行推断，也对三个以上的荧光堆积的所述强度数据执行推断。