CN104251978B - 直流***交流串扰与电压波动对继电器影响的测试装置 - Google Patents

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Abstract

一种直流***交流串扰与电压波动对继电器影响的测试装置,包括一输出端子连接于待测继电器与直流***负极之间、另一输出端子接地的交流输出电路;一输出端子连接于直流***正极与所述待测继电器之间、另一输出端子接地的***电容输出电路;一输出端子连接于所述待测继电器与直流***负极之间、另一输出端子接地的电阻输出电路。本发明在交流串入直流、直流***电压波动等各种故障下,使直观准确研究保护装置的特性成为可能。采用该测试装置对不同型号的待测继电器进行测试,根据测试数据能直观、准确地分析不同绝缘状态对继电器保护特性的影响,提高***运行的安全性。同时可对现有的绝缘监测装置提出改进建议,提高电网运行可靠性。

Description

直流***交流串扰与电压波动对继电器影响的测试装置
技术领域
本发明涉及变电站继电保护技术领域,特别是涉及一种直流***交流串扰与电压波动对继电器影响的测试装置。
背景技术
当二次回路发生一点接地导致电压偏差,或者直流***导致直流母线对地电压波动较大时,或者当直流***负极对地电压与正极对地电压的比值大于等于1.2222时,在***电容作用下容易造成保护装置的继电器误动作,故障隐蔽,不利于故障的快速查找和恢复,给现场缺陷处理工作带来极大的压力,存在安全隐患。
当二次回路发生交直流串扰时,后果相对严重,发生以后,不仅是串扰点,更是全站的一个干扰,会从最薄弱的地方引起事故,比如容易造成保护装置的继电器误动作等,故障隐蔽,不利于故障的快速查找和恢复,给现场缺陷处理工作带来极大的压力,存在安全隐患。
发明内容
基于此,有必要针对上述问题,提供一种直流***交流串扰与电压波动对继电器影响的测试装置,根据该测试装置模拟直流***各种接地故障,通过分析测试数据,快速找出潜在的故障并修正,提高***运行的安全性。
一种直流***交流串扰与电压波动对继电器影响的测试装置,包括一输出端子连接于待测继电器与直流***负极之间、另一输出端子接地的交流输出电路;一输出端子连接于直流***正极与所述待测继电器之间、另一输出端子接地的***电容输出电路;一输出端子连接于所述待测继电器与直流***负极之间、另一输出端子接地的电阻输出电路。
本发明直流***交流串扰与电压波动对继电器影响的测试装置,通过交流输出电路输出交流源模拟交流串扰对继电器的影响,通过***电容输出电路输出可调的电容测试***分布电容对继电器的影响,通过电阻输出电路输出电阻的不同模拟直流***电压波动对继电器的影响,在交流串入直流、直流***电压波动等各种故障下,使直观准确研究保护装置的特性成为可能。采用该测试装置对不同型号的待测继电器进行测试,根据测试数据能直观、准确地分析不同绝缘状态对继电器保护特性的影响,从而根据分析结果快速找出故障点并进行修正,减少直流接地等可能导致保护误动的机率,提高***运行的安全性。同时可根据该测试装置测试的数据,对现有运行中变电站的直流***的绝缘监测装置提出改进建议,提高电网运行可靠性。
附图说明
图1为本发明测试装置实施例的示意图;
图2为本发明交流输出电路实施例的示意图;
图3为本发明***电容输出电路实施例的示意图;
图4为本发明电阻输出电路实施例的示意图;
图5为本发明实体试验平台装置的操作面板实施例的示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明直流***交流串扰与电压波动对继电器影响的测试装置的具体实施方式做详细描述。
如图1所示,一种直流***交流串扰与电压波动对继电器影响的测试装置,包括一输出端子连接于待测继电器140与直流***负极-KM之间、另一输出端子接地的交流输出电路120;一输出端子连接于直流***正极+KM与所述待测继电器140之间、另一输出端子接地的***电容输出电路110;一输出端子连接于所述待测继电器140与直流***负极-KM之间、另一输出端子接地的电阻输出电路130。
交流输出电路120输出的交流源作为串扰源使用。如图2所示,交流输出电路120可以包括与电压输入端依次连接的调压器121、隔离变压器122、空气开关123。空气开关123闭合时,电压输入端输入的电压依次经过调压器121、隔离变压器122,输出交流串入直流模拟实验所需的隔离交流电压。例如,电压输入端输入AC220V(伏)±10%的市电,然后经过调压器121输出0-250V的交流电压,输出的交流电压再经过1:2隔离变压器122输出0-500V的隔离交流电压,在空气开关123闭合时,隔离变压器122输出的隔离交流电压供试验使用。
***电容输出电路110输出可调的电容,用于研究交流串入直流时***分布电容对继电器的影响等。如图3所示,每个虚线框内的电路为一组电容回路,***电容输出电路110包括至少一组电容回路,用于输出不同值的电容。各电容回路结构相同,均包含限流电阻111、放电电阻112、旁路开关114、负载电容113,每个电容回路的负载电容值一般不相等。例如,图3所示的***电容输出电路110包括8组电容电路,8组电容回路的负载电容的电容值分别为1μF(微法)、2μF、3μF、4μF、10μF、20μF、30μF、40μF,选择不同的电容回路组合,可以输出最小1μF,最高110μF的电容。
如图3所示,电容回路的限流电阻111和负载电容113串联后连接于电容回路的两输出端子之间;旁路开关114的1端子连接于限流电阻111和负载电容113之间,2端子与电容回路的一输出端子连接,3端子通过放电电阻112与电容回路的另一输出端子相连。当不需要使用***电容输出电路110时,旁路开关114的1端子接3端子,保证负载电容113的储能电量为0;当准备接入试验回路进行测试时,旁路开关114的1端子处于中间位置,限流电阻111投入试验回路,保证接线瞬间无火花;接线完成后,旁路开关114的1端子接2端子,旁路掉限流电阻114,保证试验回路只有负载电容113存在。
电阻输出电路130用于输出不同阻值的电阻,模拟直流***电压波动,包含至少一个电阻回路。各电阻回路结构相同,包含电阻和选择开关。各电阻与相应的选择开关串联后,连接于位于所述电阻回路两端的两输出端子之间。如图4所示,每个虚线框内的电路为一组电阻回路,电阻输出电路130包含两组电阻回路,每个电阻回路包含6个不同阻值的电阻131,分别为5kΩ(千欧)、10kΩ、20kΩ、30kΩ、50kΩ、100kΩ,选择开关132的开通和闭合决定输出电阻值的大小,每个电阻回路两端分别设置有两个输出端子,方便扩展输出接线。电阻输出回路130包含的电阻回路、电阻的数量及电阻值、输出端子数等并不限制于图4所示的数量和数值,还可以为其它参数。
如图5所示,为根据图2-图4电路实现的实体的试验平台装置,该试验平台装置将***电容输出电路110、交流输出电路120、电阻输出电路130安装在一个机箱内,当需要模拟交流串入直流或者直流***电压波动时,仅需要将所需的输出电路按照图1连接,即可以实现多组数据测试,方便准确。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (5)

1.一种直流***交流串扰与电压波动对继电器影响的测试装置,其特征在于,包括一输出端子连接于待测继电器与直流***负极之间、另一输出端子接地的交流输出电路;一输出端子连接于直流***正极与所述待测继电器之间、另一输出端子接地的***电容输出电路;一输出端子连接于所述待测继电器与直流***负极之间、另一输出端子接地的电阻输出电路,所述电阻输出电路用于输出不同阻值的电阻,模拟直流***电压波动;
所述***电容输出电路输出可调的电容;所述***电容输出电路包括电容回路,所述电容回路包含限流电阻、放电电阻、旁路开关、负载电容;所述限流电阻和所述负载电容串联后连接于所述电容回路的两输出端子之间;所述旁路开关第一端子连接于所述限流电阻和所述负载电容之间,第二端子与所述电容回路的一输出端子连接,第三端子通过放电电阻与所述电容回路的另一输出端子相连;当不需要使用***电容输出电路时,旁路开关的第一端子接第三端子;当准备接入试验回路进行测试时,旁路开关的第一端子处于中间位置,限流电阻投入试验回路;接线完成后,旁路开关的第一端子接第二端子;
所述电阻输出电路包含电阻回路,所述电阻回路包含电阻和选择开关;各电阻与相应的选择开关串联后,连接于位于所述电阻回路两端的两输出端子之间。
2.根据权利要求1所述的直流***交流串扰与电压波动对继电器影响的测试装置,其特征在于,所述交流输出电路包括与电压输入端依次连接的调压器、隔离变压器、空气开关。
3.根据权利要求1所述的直流***交流串扰与电压波动对继电器影响的测试装置,其特征在于,所述***电容输出电路包括8组电容回路,8组电容回路的负载电容的电容值分别为1μF、2μF、3μF、4μF、10μF、20μF、30μF、40μF。
4.根据权利要求1所述的直流***交流串扰与电压波动对继电器影响的测试装置,其特征在于,所述电阻输出电路包含2组电阻回路,每组电阻回路包含6个不同阻值的电阻,其中6个电阻的阻值为5kΩ、10kΩ、20kΩ、30kΩ、50kΩ、100kΩ。
5.根据权利要求1所述的直流***交流串扰与电压波动对继电器影响的测试装置,其特征在于,各所述电阻回路两端分别设置有两个输出端子。
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