CN104215845A - 一种基于上位机和下位机的电磁屏测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明适用于电磁屏测试技术领域，提供了一种基于上位机和下位机的电磁屏测试方法，所述方法包括：上位机通过连接下位机的串口发送携带预设测试数据的控制指令，下位机通过与上位机连接的串口接收携带预设测试数据的控制指令；控制所述电磁笔在待测电磁屏上按照所述预设测试数据进行测试签批，上位机通过与待测电磁屏连接的USB接口接收所述待测电磁屏的反馈结果；对比所述预设测试数据和所述反馈结果是否一致，如果是，则所述待测电磁屏的性能正常，如果否，则记录所述待测电磁屏的不良测试结果，本发明，通过上位机、下位机和电磁屏构成一个测试闭环，实现了自动化测试，减少人工成本。

Description

一种基于上位机和下位机的电磁屏测试方法

技术领域

本发明属于电磁屏测试技术领域，尤其涉及一种基于上位机和下位机的电磁屏测试方法。

背景技术

目前，信息化建设程度正在不断加深，相关法律法规也正在逐步完善，各个行业和各个领域的无纸化应用越来越广泛，在低碳、减排、绿色经济的号召下，传统办公领域的众多场景都面临着向无纸化、电子化转变，随着《电子签名法》的颁布实施，信息化技术的发展成熟，无纸化签批将成为必然的发展趋势。

无纸化签批盛行的同时，衍生出一系列关于无纸化签批硬件——电磁屏的品质性能检验问题。目前，对电磁屏的性能测试仍然没有一个统一、完善的测试标准和***，相关电磁屏厂商只对电磁屏做简单的人工测试，测试项目仅仅停留在是否能够书写、书写时是否有不同的压感级别的阶段，同时，存在人工测试的主观性，测试不全面，测试成本较高的问题，而对电磁屏的其它各项性能譬如压感线性度、坐标准确性、盲区检测等全方位的品质测试则为了节俭成本不进行测试，因此，现有电磁屏的测试方法不能自动、全面地测试电磁屏进而难以保证签批使用过程中的唯一性、可靠性。

发明内容

本发明实施例提供了一种基于上位机和下位机的电磁屏测试方法，旨在解决现有电磁屏的测试方法不能自动、全面地测试电磁屏进而难以保证使用过程中签批的唯一性、可靠性，同时测试成本高的问题。

第一方面，提供一种电磁屏的测试方法，所述方法包括：

通过连接下位机的串口发送携带预设测试数据的控制指令；

通过与待测电磁屏连接的USB接口接收所述待测电磁屏的反馈结果；

对比所述预设测试数据和所述反馈结果是否一致，如果是，则所述待测电磁屏的性能正常，如果否，则记录所述待测电磁屏的不良测试结果。

第二方面，提供一种电磁屏的测试方法，所述方法包括：

通过与上位机连接的串口接收携带预设测试数据的控制指令；

控制所述电磁笔在待测电磁屏上按照所述预设测试数据进行测试签批。

第三方面，提供一种用于电磁屏测试的上位机，所述上位机包括：

指令发送单元，用于通过连接下位机的串口发送携带预设测试数据的控制指令；

结果接收单元，用于通过与待测电磁屏连接的USB接口接收所述待测电磁屏的反馈结果；

结果对比单元，用于对比所述预设测试数据和所述反馈结果是否一致，如果是，则所述待测电磁屏的性能正常，如果否，则记录所述待测电磁屏的不良测试结果。

最后一方面，提供一种用于电磁屏测试的下位机，所述下位机包括：

指令接收单元，用于通过与上位机连接的串口接收携带预设测试数据的控制指令；

签批控制单元，用于控制所述电磁笔在待测电磁屏上按照所述预设测试数据进行测试签批。

在本发明实施例，上位机通过连接下位机的串口发送携带预设测试数据的控制指令，下位机通过与上位机连接的串口接收携带预设测试数据的控制指令；控制所述电磁笔在待测电磁屏上按照所述预设测试数据进行测试签批，上位机通过与待测电磁屏连接的USB接口接收所述待测电磁屏的反馈结果；对比所述预设测试数据和所述反馈结果是否一致，如果是，则所述待测电磁屏的性能正常，如果否，则记录所述待测电磁屏的不良测试结果，本发明，通过上位机、下位机、电磁笔和待测电磁屏构成一个测试闭环，实现了自动化测试，减少人工成本。

附图说明

图1是本发明实施例一提供的电磁屏的测试方法的实现流程图；

图2是本发明实施例二提供的电磁屏的测试方法的实现流程图；

图3是本发明实施例三提供的用于电磁屏测试的上位机和下位机的具体结构框图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

以下结合具体实施例对本发明的实现进行详细描述：

实施例一

图1示出了本发明实施例一提供的电磁屏的测试方法的实现流程，以上位机为执行主体，详述如下：

需要说明的是，本发明尤其适用于包括上位机、下位机、电磁笔和待测电磁屏的测试***中，其中，所述上位机与下位机通过串口连接通讯，所述待测电磁屏通过USB接口与所述上位机进行通讯，其中下位机用于控制电磁笔移动以及定位，所述待测电磁屏用于将所述电磁屏接收到电磁笔签批的坐标值和压感值上传至所述上位机。

在步骤S101中，通过连接下位机的串口发送携带预设测试数据的控制指令。

在本实施例中，所述预设测试数据包括拷机、电磁天线板品质测试、电磁笔品质测试等各类数据，是上位机根据测试类型设定测试数据，具体如电磁笔需达的坐标值和移动过程中的压感值，其中，压感值用于检测电磁笔的压感线性度、坐标值用于检测电磁屏的坐标准确性，以及盲区等。所述控制指令是上位机通过串口发送至下位机以控制下位机以不同的压感值移动电磁笔并按照坐标值进行签批的指令。上位机通过连接下位机的串口发送携带预设测试数据的控制指令。

在步骤S102中，通过与待测电磁屏连接的USB接口接收所述待测电磁屏的反馈结果。

在本实施例中，所述反馈结果是电磁屏通过USB接口反馈的，包括所述下位机控制的电磁笔签批的实际坐标值和实际压感值。上位机通过与待测电磁屏连接的USB接口接收所述待测电磁屏的反馈结果。

在步骤S103中，对比所述预设测试数据和所述反馈结果是否一致，如果是，则所述待测电磁屏的性能正常，如果否，则记录所述待测电磁屏的不良测试结果。

在本实施例中，上位机对比所述电磁笔需达的坐标值和实际坐标值、移动过程中的压感值和实际压感值是否一致，如果两者均一致，则所述待测电磁屏的性能正常，如果否，则记录所述待测电磁屏的不良测试结果，上位机实时记录良品与不良品数据，在检测到不良品时实时警示并记录相关的不良数据，比如压感误差值、坐标误差值、问题原因、产生问题的时间。优选的，所述记录所述待测电磁屏的不良测试结果之后，启动蜂鸣器报警，显示所述待测电磁屏有不良测试结果。

优选地，还包括已测试次数加1，判断所述已测试次数是否达预设测试总次数，如果是，则停止测试，如果否，则发送下一个控制指令。其中，已测试次数初始为0。对电磁屏的测试次数可以在上位机上根据需要设置，每次测试一次即执行一次步骤S101-步骤S103，已测试次数加1，上位机判断所述已测试次数是否达预设测试总次数，如果是，则停止测试，待测电磁屏复位，已测试次数设置为0，如果否，则发送下一个控制指令。

本实施例，通过上位机、下位机、电磁笔和待测电磁屏构成一个闭环的控制方法，使上位机能够实时检测对比电磁笔的压感线性度、电磁屏的坐标准确性，并检测出是否存在盲区，达到对电磁屏进行全方位的品质测试，从而按照客户对电磁屏的品质要求标准，检验出合格的电磁屏并筛选出不良品，实现了自动化测试，减少人工成本，确保产品品质的优势。

实施例二

图2示出了本发明实施例二提供的电磁屏的测试方法的实现流程，以下位机为执行主体，详述如下：

在步骤S201中，通过与上位机连接的串口接收携带预设测试数据的控制指令。

本实施例，所述预设测试数据包括拷机、电磁天线板品质测试、电磁笔品质测试等各类数据，是上位机根据测试类型设定测试数据，具体如电磁笔需达的坐标值和移动过程中的压感值，其中，压感值用于检测电磁笔的压感线性度、坐标值用于检测电磁屏的坐标准确性，以及盲区等。下位机通过与上位机连接的串口接收携带预设测试数据的控制指令。

在步骤S202中，控制所述电磁笔在待测电磁屏上按照所述预设测试数据进行测试签批。

在本实施例中，下位机控制所述电磁笔在待测电磁屏上按照所述电磁笔需达的坐标值和移动过程中的压感值进行测试签批。

本实施例，通过上位机、下位机、电磁笔和待测电磁屏构成一个闭环的控制方法，使上位机能够实时检测对比电磁笔的压感线性度、电磁屏的坐标准确性，并检测出是否存在盲区，达到对电磁屏进行全方位的品质测试，从而按照客户对电磁屏的品质要求标准，检验出合格的电磁屏并筛选出不良品，实现了自动化测试，减少人工成本，确保产品品质的优势。

实施例三

图3示出了本发明实施例三提供的用于电磁屏测试的上位机的具体结构框图，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。在本实施例中，该用于电磁屏测试的上位机1包括：指令发送单元11，结果接收单元12，结果对比单元13。

其中，指令发送单元11，用于通过连接下位机的串口发送携带预设测试数据的控制指令；

结果接收单元12，用于通过与待测电磁屏连接的USB接口接收所述待测电磁屏的反馈结果；

结果对比单元13，用于对比所述预设测试数据和所述反馈结果是否一致，如果是，则所述待测电磁屏的性能正常，如果否，则记录所述待测电磁屏的不良测试结果。

进一步地，所述上位机还包括：

次数控制单元14，用于已测试次数加1，判断所述已测试次数是否达预设测试总次数，如果是，则停止测试，如果否，则发送下一个控制指令。

进一步地，所述上位机还包括：

不良提醒单元15，用于启动蜂鸣器报警，显示所述待测电磁屏有不良测试结果。

本发明实施例提供的用于电磁屏测试的上位机可以应用在前述对应的方法实施例一中，详情参见上述实施例一的描述，在此不再赘述。

实施例四

图3示出了本发明实施例四提供的用于电磁屏测试的下位机的具体结构框图，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。在本实施例中，该用于电磁屏测试的下位机2包括：指令接收单元21和签批控制单元22。

其中，指令接收单元21，用于通过与上位机连接的串口接收携带预设测试数据的控制指令；

签批控制单元22，用于控制所述电磁笔在待测电磁屏上按照所述预设测试数据进行测试签批。

在此之后，所述待测电磁屏通过所述待测电磁屏的电磁天线板与所述电磁笔产生电磁感应，所述电磁笔反馈电磁信号给所述电磁天线板，所述电磁天线板接收所述电磁信号，获取电磁笔的签批，所述签批包括实际坐标值和实际压感值；接收所述下位机控制的电磁笔的签批，并将所述反馈结果通过USB接口发送至所述上位机以实现待测电磁屏的测试。

本发明实施例提供的用于电磁屏测试的下位机可以应用在前述对应的方法实施例二中，详情参见上述实施例二的描述，在此不再赘述。

值得注意的是，上述***实施例中，所包括的各个单元只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。

另外，本领域普通技术人员可以理解实现上述各实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，相应的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，所述的存储介质，如ROM/RAM、磁盘或光盘等。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种基于上位机和下位机的电磁屏测试方法，其特征在于，所述方法包括：

通过连接下位机的串口发送携带预设测试数据的控制指令；

通过与待测电磁屏连接的USB接口接收所述待测电磁屏的反馈结果；

对比所述预设测试数据和所述反馈结果是否一致，如果是，则所述待测电磁屏的性能正常，如果否，则记录所述待测电磁屏的不良测试结果。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测电磁屏的性能正常之后还包括：

已测试次数加1，判断所述已测试次数是否达预设测试总次数，如果是，则停止测试，如果否，则发送下一个控制指令。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述记录所述待测电磁屏的不良测试结果之后还包括：

启动蜂鸣器报警，显示所述待测电磁屏测试不良的信息。

4.一种基于上位机和下位机的电磁屏测试方法，其特征在于，所述方法包括：

通过与上位机连接的串口接收携带预设测试数据的控制指令；

控制所述电磁笔在待测电磁屏上按照所述预设测试数据进行测试签批。

5.一种用于电磁屏测试的上位机，其特征在于，所述上位机包括：

指令发送单元，用于通过连接下位机的串口发送携带预设测试数据的控制指令；

结果接收单元，用于通过与待测电磁屏连接的USB接口接收所述待测电磁屏的反馈结果；

结果对比单元，用于对比所述预设测试数据和所述反馈结果是否一致，如果是，则所述待测电磁屏的性能正常，如果否，则记录所述待测电磁屏的不良测试结果。

6.如权利要求5所述的上位机，其特征在于，所述上位机还包括：

次数控制单元，用于已测试次数加1，判断所述已测试次数是否达预设测试总次数，如果是，则停止测试，如果否，则发送下一个控制指令。

7.如权利要求5所述的上位机，其特征在于，所述上位机还包括：

不良提醒单元，用于启动蜂鸣器报警，显示所述待测电磁屏有不良测试结果。

8.一种用于电磁屏测试的下位机，其特征在于，所述下位机包括：

指令接收单元，用于通过与上位机连接的串口接收携带预设测试数据的控制指令；

签批控制单元，用于控制所述电磁笔在待测电磁屏上按照所述预设测试数据进行测试签批。