CN104133168A - 主板测试***及方法 - Google Patents

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Abstract

一种主板测试***，包括一与待测主板相连的测试电路板及一与所述测试电路板相连的电脑，所述测试电路板包括一与所述电脑相连的可编程逻辑器件，所述可编程逻辑器件输出激励信号至所述待测主板，所述待测主板收到激励信号后产生相应的响应信号，所述可编程逻辑器件分析待测主板产生的响应信号是否与预设的响应信号相符，并将测试结果数据输出至所述电脑显示。本发明还揭示了一种基于上述主板测试***的测试方法。本发明主板测试***及方法利用可编程逻辑器件输出激励信号给被测主板，测试自动化程度较高。

Description

主板测试***及方法
技术领域
本发明涉及一种主板测试***及方法。
背景技术
在对电脑或服务器的主板进行功能验证与信号测试的过程中，经常需要产生特殊的激励来验证功能的正确性与准确性。传统的测试方法是搭建相应的测试环境从而产生相应的激励给主板，然后判断主板受到激励后的运行情况是否正常。然而，传统的测试方法自动化程度不高，测试效率低。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种自动化程度较高的主板测试***及方法。
一种主板测试***，包括一与待测主板相连的测试电路板及一与所述测试电路板相连的电脑，所述测试电路板包括一与所述电脑相连的可编程逻辑器件，所述可编程逻辑器件输出激励信号至所述待测主板，所述待测主板收到激励信号后产生相应的响应信号，所述可编程逻辑器件分析待测主板产生的响应信号是否与预设的响应信号相符，并将测试结果数据输出至所述电脑显示。
在一实施方式中，所述测试电路板还包一连接于所述可编程逻辑器件及所述电脑之间的烧录接口，所述电脑内存有能通过所述烧录接口烧录至所述可编程逻辑器件的测试程序。
在一实施方式中，所述测试电路板还包括至少一与所述可编程逻辑器件相连的按键，所述按键用于选择激励信号的种类。
在一实施方式中，所述测试电路板还包括一与所述可编程逻辑器件相连的指示灯，用于指示所述可编程逻辑器件的工作状态。
在一实施方式中，所述可编程逻辑器件为CPLD或FPGA。
一种主板测试方法，包括以下步骤：提供一能产生激励信号的可编程逻辑器件；可编程逻辑器件将激励信号输出至一待测主板；待测主板接收到激励信号后产生相应的响应信号；可编程逻辑器件分析所述待测主板产生的响应信号是否与预设的响应信号相符并产生相应的测试结果数据；可编程逻辑器件将测试结果数据输出至一电脑；及所述电脑显示测试结果。
在一实施方式中，所述主板测试方法还包括在可编程逻辑器件输出激励信号之前将所述电脑内的测试程序烧录到所述可编程逻辑器件内的步骤。
在一实施方式中，所述主板测试方法还包括在可编程逻辑器件输出激励信号之前判断连接至所述可编程逻辑器件的按键是否被按压的步骤；如果没有按键被按压，则所述可编程逻辑器件输出初始预设的激励信号至所述待测主板；如果有按键被按压，则所述可编程逻辑器件根据按键被按压的情况选择相应的激励信号类型。
在一实施方式中，所述主板测试方法还包括在所述可编程逻辑器件工作时点亮一工作指示灯的步骤。
在一实施方式中，如果所述待测主板产生的响应信号与预设的响应信号相符，所述可编程逻辑器件输出表示测试通过的数据至所述电脑；如果所述待测主板产生的响应信号与预设的响应信号不相符，所述可编程逻辑器件输出表示测试未通过的数据至所述电脑。
与现有技术相比，所述主板测试***及方法利用可编程逻辑器件输出激励信号至所述待测主板，再检测待测主板收到激励信号后产生的响应信号，测试自动化程度较高。
附图说明
图1是本发明主板测试***一较佳实施方式的组成图。
图2是本发明主板测试方法一较佳实施方式的流程图。
主要元件符号说明
测试电路板 100
JTAG烧录接口 10
可编程逻辑器件 20
按键 30
指示灯 40
连接器 50
电脑 200
待测主板 300
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1，在本发明的一较佳实施方式中，一主板测试***包括一测试电路板100、一与所述测试电路板100相连的电脑200及一与所述测试电路板100相连的待测主板300。在一实施方式中，所述待测主板300为电脑或服务器的主板。
所述测试电路板100包括有一JTAG（ Joint Test Action Group，联合测试行动小组）烧录接口10、一与所述JTAG烧录接口10相连的可编程逻辑器件20、与所述可编程逻辑器件20相连的按键30、指示灯40以及连接器50。在一实施方式中，所述可编程逻辑器件为CPLD（Complex Programmable Logic Device，复杂可编程逻辑器件）或FPGA（Field Programmable Gate Array，现场可编程门阵列）所述JTAG烧录接口10与所述电脑200相连，所述电脑200内存有可通过所述JTAG烧录接口10烧录至所述可编程逻辑器件20的程序。所述按键30与所述可编程逻辑器件20相连，用于选择激励信号的种类，当用户按压所述按键30一次时，可切换一次激励信号；所述按键也可以设置多个，分别对应不同的激励信号，用户可通过按压相应的按键选择相应的激励信号。所述指示灯40用于指示所述可编程逻辑器件20的工作状态，当所述可编程逻辑器件20开始工作时，所述指示灯40发亮。所述连接器50连接于所述可编程逻辑器件20及所述待测主板300之间，可将可编程逻辑器件20输出的激励信号输出至所述待测主板300，还可将待测主板300产生的信号传送至所述可编程逻辑器件20。
测试时，所述可编程逻辑器件20生成激励信号通过所述连接器50输出至所述待测主板300，所述待测主板300接收到该激励信号后产生相应的响应信号，待测主板300的响应信号通过所述连接器50传送至所述可编程逻辑器件20，所述可编程逻辑器件20将该响应信号与预设的参数做比较，从而得出测试结果数据，再将测试结果数据传送至所述电脑200，所述电脑200显示测试结果。
请参阅图2，一种利用上述测试***测试待测主板300的方法，包括以下步骤。
S01：所述电脑200、可编程逻辑器件20及待测主板300通电开始工作。
S02：所述电脑200内的待烧录程序通过JTAG烧录接口10烧录到所述可编程逻辑器件20。
S03：所述指示灯40发光，指示所述可编程逻辑器件20处于工作状态。
S04：所述可编程逻辑器件20判断是否有按键被按压，如果没有按键被按压，则进入步骤S05；如果有按键被按压，则进入步骤S06。
S05：所述可编程逻辑器件20输出预设的激励信号。
S06：所述可编程逻辑器件20输出通过按压按键选择的激励信号；例如，当所述按键30被按压，则切换激励信号的类型。
S07：所述可编程逻辑器件20输出的激励信号通过连接器50输出至所述待测主板300。
S08：所述待测主板300收到激励信号后产生相应的响应信号。
S09：所述可编程逻辑器件20接收并分析待测主板300产生的响应信号，在此步骤中，所述可编程逻辑器件20判断待测主板300产生的响应信号是否与预设的响应信号相符，如果相符，则表示此项测试通过并输出相应的测试数据至所述电脑200；如果不符，则表示此项测试不通过并输出相应的测试数据至所述电脑200。
S10：所述可编程逻辑器件20将测试结果数据输出至所述电脑200。
S11：所述电脑200显示测试结果。

Claims (10)

1.一种主板测试***，包括一与待测主板相连的测试电路板及一与所述测试电路板相连的电脑，其特征在于：所述测试电路板包括一与所述电脑相连的可编程逻辑器件，所述可编程逻辑器件输出激励信号至所述待测主板，所述待测主板收到激励信号后产生相应的响应信号，所述可编程逻辑器件分析待测主板产生的响应信号是否与预设的响应信号相符，并将测试结果数据输出至所述电脑显示。
2.如权利要求1所述的主板测试***，其特征在于：所述测试电路板还包一连接于所述可编程逻辑器件及所述电脑之间的烧录接口，所述电脑内存有能通过所述烧录接口烧录至所述可编程逻辑器件的测试程序。
3.如权利要求1所述的主板测试***，其特征在于：所述测试电路板还包括至少一与所述可编程逻辑器件相连的按键，所述按键用于选择激励信号的种类。
4.如权利要求1所述的主板测试***，其特征在于：所述测试电路板还包括一与所述可编程逻辑器件相连的指示灯，用于指示所述可编程逻辑器件的工作状态。
5.如权利要求1所述的主板测试***，其特征在于：所述可编程逻辑器件为CPLD或FPGA。
6.一种主板测试方法，包括以下步骤：
提供一能产生激励信号的可编程逻辑器件；
可编程逻辑器件将激励信号输出至一待测主板；
待测主板接收到激励信号后产生相应的响应信号；
可编程逻辑器件分析所述待测主板产生的响应信号是否与预设的响应信号相符并产生相应的测试结果数据；
可编程逻辑器件将测试结果数据输出至一电脑；及
所述电脑显示测试结果。
7.如权利要求6所述的主板测试方法，其特征在于：所述主板测试方法还包括在可编程逻辑器件输出激励信号之前将所述电脑内的测试程序烧录到所述可编程逻辑器件内的步骤。
8.如权利要求6所述的主板测试方法，其特征在于：所述主板测试方法还包括在可编程逻辑器件输出激励信号之前判断连接至所述可编程逻辑器件的按键是否被按压的步骤；如果没有按键被按压，则所述可编程逻辑器件输出初始预设的激励信号至所述待测主板；如果有按键被按压，则所述可编程逻辑器件根据按键被按压的情况选择相应的激励信号类型。
9.如权利要求6所述的主板测试方法，其特征在于：所述主板测试方法还包括在所述可编程逻辑器件工作时点亮一工作指示灯的步骤。
10.如权利要求6所述的主板测试方法，其特征在于：如果所述待测主板产生的响应信号与预设的响应信号相符，所述可编程逻辑器件输出表示测试通过的数据至所述电脑；如果所述待测主板产生的响应信号与预设的响应信号不相符，所述可编程逻辑器件输出表示测试未通过的数据至所述电脑。
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