CN104091555B - 一种显示器残像等级的评价方法及其装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供一种显示器残像等级的评价方法及其装置,涉及显示技术领域,能够获取残像等级及其变化规律。包括显示器在第一帧显示第一图像,在第二帧显示第二图像,以对显示器进行残像测试的方法。还包括:在至少两个采集时间:第一采集时间、第二采集时间,显示器切换至第一图像,获得显示器显示残像的亮度变化因子和残像面积因子,以得出第一残像等级及第二残像等级。上述第一采集时间与第二采集时间之间间隔残像消退时间,以对显示器进行残像消退处理;当残像停止消退时,根据第一残像等级和第二残像等级得出在残像消退过程中,显示器残像等级的变化趋势。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种显示器残像等级的评价方法及其装置。
背景技术
在平板显示器中,LCD(LiquidCrystalDisplay,液晶显示器),因其具有体积小、功耗低、无辐射以及制作成本相对较低等特点,而越来越多地被应用于高性能显示领域当中。
为了提高液晶显示器的性能和质量,在生产过程中,需要对液晶显示器的分辨率、亮度、对比度、色域、响应时间、Mura、残像等级等性能指标进行检测和评定。其中残像,是指影像残留(ImageSticking)。具体的,当LCD长时间驱动特定静止画面后,LCD显示面板内的离子会沿着电场方向往液晶的上下基板移动,并且聚集在液晶取向层上,聚集的离子会产生内部电场,当显示器显示下一画面时,聚集于取向层的离子无法离开取向层,导致液晶分子上存在残留直流电压,该直流电压使得液晶极化从而处于一定的旋转角度而难以变化。这样一来,会导致LCD在显示图像时出现差异,如当显示画面切换至下一个画面时,显示面板上会残留上一个画面的图像,从而造成影像残留的现象。残像会严重影响显示器的画面品质。
现有技术可以通过人眼或测试设备对显示器的残像进行测试。由于人眼观测到的残像具有主观性强、不精确等缺点,在生产和加工的过程中逐渐被淘汰。而现有的采用测试设备对显示器进行残像测试的过程中,一般会在显示器出现残像的时刻,获得与该残像有关的数据,以此作为残像等级的基础,并应用于显示器性能的评价。但是,显示器在实际的使用过程中,其性能会受到许多因素的影响,例如显示时间等。而上述残像等级只能够评价显示器在上述出现残像时刻的性能。并不能全面、实际的反映显示器在整个显示过程中,残像对显示性能造成的影响。这样一来,由于现有的残像等级评价方法具有偏面、不准确等缺点。从而使得技术人员无法针对由残像引起的缺陷对显示器进行全面、有针对性的改进,大大降低了产品的质量以及良品率。
发明内容
本发明的实施例提供一种显示器残像等级的评价方法及其装置,能够获取残像等级及其变化规律。
为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:
本发明实施例的一方面,提供一种显示器残像等级的评定方法,包括所述显示器在第一帧显示第一图像,在第二帧显示第二图像,以对所述显示器进行残像测试的方法;还包括:
在至少两次采集时间:第一采集时间、第二采集时间,所述显示器切换至所述第一图像,获得所述显示器显示残像的亮度变化因子和残像面积因子,以得出第一残像等级、第二残像等级;
其中,相邻两个所述采集时间之间间隔残像消退时间,以对所述显示器进行残像消退处理;
当所述残像停止消退时,根据所述第一残像等级和所述第二残像等级得出在残像消退过程中,所述显示器残像等级的变化趋势。
本发明实施例的另一方面,提供一种显示器残像等级的评定装置,包括测试单元,用于将所述显示器在第一帧显示第一图像,在第二帧显示第二图像,以对所述显示器进行残像测试;还包括:
采集单元,用于在至少两次采集时间:第一采集时间、第二采集时间,所述显示器切换至所述第一图像,获得所述显示器显示残像的亮度变化因子和残像面积因子,以得出第一残像等级、第二残像等级;
残像消退单元,用于在残像消退时间,对所述显示器进行残像消退处理;其中,相邻两个所述采集时间之间间隔所述残像消退时间;
评定单元,用于当所述残像停止消退时,根据所述第一残像等级和所述第二残像等级得出在残像消退过程中,所述显示器残像等级的变化趋势。
本发明实施例提供一种显示器残像等级的评价方法及其装置,包括显示器在第一帧显示第一图像,在第二帧显示第二图像,以对显示器进行残像测试的方法。还包括:在至少两个采集时间:第一采集时间、第二采集时间,显示器切换至第一图像,获得显示器显示残像的亮度变化因子和残像面积因子,以得出第一残像等级及第二残像等级。上述第一采集时间与第二采集时间之间间隔残像消退时间,以对显示器进行残像消退处理;当残像停止消退时,根据第一残像等级和第二残像等级得出在残像消退过程中,显示器残像等级的变化趋势。这样一来,通过上述变化趋势,能够更加准确和全面的反映显示器在实际显示过程中,残像对显示性能造成的不利影响,从而使得技术人员可以根据上述缺陷对显示器进行全面、有针对性的改进。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种显示器残像等级的评价方法的流程示意图;
图2为本发明实施例提供的一种残像等级变化趋势示意图;
图3为本发明实施例提供的一种用于测试残像的图像;
图4为本发明实施例提供的一种亮度变化因子计算方法的流程示意图;
图5为本发明实施例提供的另一种显示器残像等级的评价方法的流程示意图;
图6为本发明实施例提供的另一种显示器残像等级的评价装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例一
本发明实施例提供一种显示器残像等级的评定方法,包括显示器在第一帧显示第一图像,在第二帧显示第二图像,以对显示器进行残像测试的方法。其中,如图1所示,上述方法还可以包括:
S101、在至少两次采集时间:第一采集时间T1、第二采集时间T2,显示器切换至上述第一图像,获得显示器显示残像的亮度变化因子L和残像面积因子A,以得出第一残像等级C1和第二残像等级C2。
其中,相邻两个采集时间(例如第一采集时间T1与第二采集时间T2)之间间隔残像消退时间Tx,以对显示器进行残像消退处理。
需要说明的是,上述采集时间的次数以及残像消退时间Tx,可以根据显示器在进行残像测试时的残像消退情况进行设定。需要说明的是,上述残像消退时间可以为0~8小时。优选的,可以将残像消退时间Tx设置为3~4小时。因为,当残像消退时间Tx过短时,例如等于0小时时,残像消退效果不明显,显示器在上述残像消退时间Tx前后出现的残像相差不大。并且随着残像消退时间Tx的缩短,采集残像数据的次数也会也多,从而增加工作量。但是,当残像消退时间Tx过长时,例如大于8小时时,残像消退过程中,显示器在上述残像消退时间Tx前后出现的残像相差太大,从而会丢失中间某个时刻的残像数据,导致采集结果失真。此外,采集时间的次数可以为6~25次,优选的,上述采集时间的次数可以设置为12~15次。因为25次以后显示器出现的残像会停止消退,即采集25次以后,显示器出现的残像不再发生变化,从而导致后续采集到的残像数据重复,增加工作量,而当采集时间的次数小于6小时时,由于采集到的数据太少从而不能充分的体现残像等级的变化规律。
S102、当上述残像停止消退时,根据第一残像等级C1和第二残像等级C2得出在残像消退过程中,显示器残像等级的变化趋势。
需要说明的是,上述显示器残像等级的变化趋势可以是一幅以时间为横坐标(X轴),采集到的多个残像等级(例如:第一残像等级C1、第二残像等级C2、第三残像等级C3……第六残像等级C6)为纵坐标(Y轴)的残像等级变化图(如图2所示)。这样一来,可以通过上述变化图,掌握显示器在一段时间(T1、T2…T6)内其残像等级的变化趋势,从而可以对显示器在整个显示过程中由残像引起的缺陷进行确认。例如,通过上述变化图观测到显示器的残像等级消退过快,则考虑是由液晶配向安定性不足方面引起的缺陷,例如液晶配向的预倾角过低、段差过高、配向膜表面粗糙度低等引起的。又例如,通过上述变化图观测到显示器的残像等级消退过慢,则考虑是由于液晶直流残留成分过高或信耐性过低等方面的缺陷引起的,这样一来,可以通过抑制直流成分和提高信耐性,例如采用低直流残留的高信耐性的液晶,或将驱动电压最优化等方式对上述缺陷进行改进。
本发明实施例提供一种显示器残像等级的评价方法,包括显示器在第一帧显示第一图像,在第二帧显示第二图像,以对显示器进行残像测试的方法。还包括:在至少两个采集时间:第一采集时间、第二采集时间,显示器切换至第一图像,获得显示器显示残像的亮度变化因子和残像面积因子,以得出第一残像等级及第二残像等级。上述第一采集时间与第二采集时间之间间隔残像消退时间,以对显示器进行残像消退处理;当残像停止消退时,根据第一残像等级和第二残像等级得出在残像消退过程中,显示器残像等级的变化趋势。这样一来,通过上述变化趋势,能够更加准确和全面的反映显示器在实际显示过程中,残像对显示性能造成的不利影响,从而使得技术人员可以根据上述缺陷对显示器进行全面、有针对性的改进。
进一步地,在第一采集时间T1或第二采集时间T2,获得显示器显示残像的亮度变化因子L和残像面积因子A,以得出第一残像等级C1或第二残像等级C2的方法包括:
计算在第一采集时间T1或第二采集时间T2获得的亮度变化因子L与残像面积因子A的加权平均值,以得出第一残像等级C1或第二残像等级C2。
例如,在第一采集时间T1,获得的亮度变化因子L1与残像面积因子A1,则第一残像等级C1可以为:
C1=L1×Lw+A1×Aw;
在第二采集时间T2,获得的亮度变化因子L2与残像面积因子A2,则第一残像等级C1可以为:
C2=L2×Lw+A2×Aw;
以此类推,第n次采集时间Tn,获得的亮度变化因子Ln与残像面积因子An,则第n个残像等级Cn可以为:
Cn=L2×Lw+An×Aw;
需要说明的是,上述Lw为亮度变化因子L的权重,Aw为残像面积因子A的权重。本领域技术人员可以根据实际情况对上述权重进行设置,一般将亮度变化因子L的权重Lw或残像面积因子A的权重Aw范围为0~1。
因此,可以将分别将亮度变化因子L的权重Lw与残像面积因子A的权重Aw均设置为0.5。这样一来,能够在计算残像等级的时候,将亮度变化因子L和残像面积因子A对残像等级的影响程度均分。
或者,对于具有大尺寸显示面板的显示器而言,由于同样的残像面积在大尺寸显示面板(相对小尺寸显示面板)占比较小,但仍然可以对显示品质造成不良影响,所以可以将残像面积因子A权重Aw加大,例如设置为0.8或设置为1,当残像面积因子A权重Aw设置为1时,亮度变化因子L的权重Lw可以为0。
又或者,对于具有小尺寸显示面板的显示器而言,当无需看重残像面积的影响时,可以将亮度变化因子L的权重Lw加大,例如将亮度变化因子L的权重Lw设置为1,此时残像面积因子A权重Aw可以为0。
需要说明的是,当得出多个残像等级(例如:第一残像等级C1、第二残像等级C2、第三残像等级C3…)时,还可以对上述残像等级进行积分。由于在数值计算领域,积分可以代表面积,从而能够通过上述积分,使得残像等级的级别程度更加的直观。
进一步地,上述第一图像包括具有单一灰阶值的图像。上述灰阶值的取值范围为(0~255)。例如可以选择颜色值RGB为(127,127,127)的全灰图像。
此外,第二图像包括黑色图像、白色图像或者,如图2所示的黑白相间的棋盘格图像100,该黑白相间的棋盘格图像100由相互间隔的多个黑色格110和白色格111构成。这样一来,当第二图像采用黑色图像和白色图像时,其与灰色的第一图像之间的反差比较大,因此,更有利于对显示器出现的残像进行观察。
当第二图像采用黑白相间的棋盘格图像100时,由于上述多个黑色格110和白色格111将显示器的有效显示面积均匀的划分,从而有利于残像面积的计算。
当然,上述黑色格110和白色格111的形状优选为矩形,这样一来可以最有效的对显示器的有效显示面积进行划分。还可以根据实际需要将上述形状设置为圆形、三角形、不规则形状等等,本发明对此不做限制。
实施例二
当第二图像包括黑色图像或白色图像时,在第一采集时间T1或第二采集时间T2获得显示器显示残像的亮度变化因子L的方法包括:
在第一采集时间T1或第二采集时间T2,将上述残像测试前、后该显示器的亮度值差值的绝对值与残像测试前显示器的亮度值之比作为该亮度变化因子L。
例如,在第一采集时间T1,残像测试前该显示器的亮度值为Lq;残像测试后该显示器的亮度值为Lh1,则在第一采集时间T1获得的亮度变化因子L1为:
同理,在第二采集时间T2获得的亮度变化因子L2为:
其中,残像测试前该显示器的亮度值与残像测试前该显示器的亮度值均为显示器显示第一图像时的平均亮度值。其中,该平均亮度值可以通过采集显示器的显示面板上所有像素的亮度值得出,还可以均匀地在显示面板上采集多个(例如16个)像素的亮度值得出。为了进一步减小工作量,还可以采集位于上述显示面板四个角以及中间位置的像素的亮度值,并得出该平均亮度值。当然,上述仅仅是对平均亮度值的计算方法的举例说明,其它方法在此不再一一举例,但都应当属于本发明的保护范围。
实施例三
当第二图像包括黑白相间的棋盘格图像100时,在第一采集时间T1或第二采集时间T2获得显示器显示残像的亮度变化因子L的方法可以包括,如图4所示:
S201、在第一采集时间T1或第二采集时间T2,获得残像测试后黑白相间的棋盘格图像100中,所有黑色格110与所有白色格111对应显示器显示区域的亮度平均值差值的绝对值。
具体的,如图3所示,例如第一采集时间T1,黑色格110的亮度平均值L1(b):
同理,白色格111的亮度平均值L1(w):
因此,所有黑色格110与所有白色格111对应显示器显示区域的亮度平均值差值的绝对值为:
|L1(b)-L1(w)|;
第n次采集时间Tn,获得的黑色格110的亮度平均值Ln(b)与白色格111的亮度平均值Ln(w)差值的绝对值同理可得,这里不再赘述。
S202、将上述步骤中的亮度平均值差值的绝对值与残像测试前显示器的亮度值Lq的比值作为亮度变化因子L。
具体的,例如,第一采集时间T1的亮度变化因子L1为:
第n次采集时间Tn的亮度变化因子Ln同理可得,这里不再赘述。
进一步地,在第一采集时间T1或第二采集时间T2获得显示器显示残像的残像面积因子A的方法可以包括:
在第一采集时间T1或第二采集时间T2,将残像测试前、后显示器出现残像的面积Mh与显示器显示面积M(显示器有效显示区域的面积)的比值作为残像面积因子A。
具体的,例如,在第一采集时间T1获得的残像面积因子A1为:
第n次采集时间Tn的残像面积因子An同理可得,这里不再赘述。
实施例四,
以下,当第一图像采用颜色值RGB为(127,127,127)的全灰图像、第二图像采用如图3所示的,黑白相间的棋盘格图像100;残像消退时间Tx为4小时时,对上述显示器残像等级的评定方法进行举例说明,如图5所示:
S301、显示器显示第一图像,测试并记录此时显示器的亮度值Lq。
S302、显示器显示第二图像,对该显示器进行残像测试;
S303、在采集时间,显示器切换至上述第一图像,得到每个黑色格110和白色格111的亮度值L(b1)、L(b2)…L(b13)和L(w1)、L(w2)…L(w12)以得出亮度变化因子L与残像面积因子A,并最终计算出残像等级C。
S304、在残像消退时间,显示器不供电静止4小时以对其进行残像消退处理。
S305、判断残像是否停止消退,如果判断结果为否执行步骤S303。
S306、当步骤S305的判断结果为是,即显示器的残像停止消退时,根据获得的多个残像等级C,得出在残像消退过程中,显示器残像等级C的变化趋势(如图2所示)。
S307、结束该评定方法。
这样一来,可以通过上述图2,掌握显示器在T1至T6时间段内其残像等级C的变化趋势,从而可以对显示器在整个显示过程中由残像引起的缺陷进行确认。
本发明实施例提供一种显示器残像等级的评定装置01,如图6所示,包括测试单元200,用于将显示器在第一帧显示第一图像,在第二帧显示第二图像,以对所显示器进行残像测试。该装置还可以包括:
采集单元201,用于在至少两次采集时间:第一采集时间T1、第二采集时间T2,显示器切换至所述第一图像,获得显示器显示残像的亮度变化因子L和残像面积因子A,以得出第一残像等级C1、第二残像等级C2。
残像消退单元202,用于在残像消退时间Tx,对显示器进行残像消退处理;其中,相邻两个采集时间(例如第一采集时间T1与第二采集时间T2)之间间隔上述残像消退时间Tx。
需要说明的是,上述采集时间的次数以及残像消退时间Tx,可以根据显示器在进行残像测试时的残像消退情况进行设定。需要说明的是,上述残像消退时间可以为0~8小时。优选的,可以将残像消退时间Tx设置为3~4小时。因为,当残像消退时间Tx过短时,例如等于0小时时,残像消退效果不明显,显示器在上述残像消退时间Tx前后出现的残像相差不大。并且随着残像消退时间Tx的缩短,采集残像数据的次数也会也多,从而增加工作量。但是,当残像消退时间Tx过长时,例如大于8小时时,残像消退过程中,显示器在上述残像消退时间Tx前后出现的残像相差太大,从而会丢失中间某个时刻的残像数据,导致采集结果失真。此外,采集时间的次数可以为6~25次,优选的,上述采集时间的次数可以设置为12~15次。因为25次以后显示器出现的残像会停止消退,即采集25次以后,显示器出现的残像不再发生变化,从而导致后续采集到的残像数据重复,增加工作量,而当采集时间的次数小于6小时时,由于采集到的数据太少从而不能充分的体现残像等级的变化规律。
评定单元203,用于当残像停止消退时,根据第一残像等级C1和第二残像等级C2得出在残像消退过程中,显示器残像等级的变化趋势。
需要说明的是,上述显示器残像等级的变化趋势可以是一幅以时间为横坐标(X轴),采集到的多个残像等级(例如:第一残像等级C1、第二残像等级C2、第三残像等级C3……第六残像等级C6)为纵坐标(Y轴)的残像等级变化图(如图2所示)。这样一来,可以通过上述变化图,掌握显示器在一段时间内其残像等级的变化趋势,从而可以对显示器在整个显示过程中由残像引起的缺陷进行确认。例如,通过上述变化图观测到显示器的残像等级消退过快,则考虑是由液晶配向安定性不足方面引起的缺陷,例如液晶配向的预倾角过低、段差过高、配向膜表面粗糙度低等引起的。又例如,通过上述变化图观测到显示器的残像等级消退过慢,则考虑是由于液晶直流残留成分过高或信耐性过低等方面的缺陷引起的,这样一来,可以通过抑制直流成分和提高信耐性,例如采用低直流残留的高信耐性的液晶,或将驱动电压最优化等方式对上述缺陷进行改进。
本发明实施例提供一种显示器残像等级的评价装置,包括测试单元,用于将显示器在第一帧显示第一图像,在第二帧显示第二图像,以对显示器进行残像测试。还包括:采集单元,用于在至少两个采集时间:第一采集时间、第二采集时间,显示器切换至第一图像,获得显示器显示残像的亮度变化因子和残像面积因子,以得出第一残像等级及第二残像等级;残像消退单元,用于在残像消退时间,对显示器进行残像消退处理;其中,相邻两个采集时间之间间隔上述残像消退时间;评定单元,用于当残像停止消退时,根据第一残像等级和第二残像等级得出在残像消退过程中,显示器残像等级的变化趋势。这样一来,通过上述变化趋势,能够更加准确和全面的反映显示器在实际显示过程中,残像对显示性能造成的不利影响,从而使得技术人员可以根据上述缺陷对显示器进行全面、有针对性的改进。
进一步地,上述采集单元201还可以包括:
计算模块2010,用于计算在第一采集时间T1或第二采集时间T2获得的亮度变化因子L与残像面积因子A的加权平均值,以得出第一残像等级C1或第二残像等级C2。
例如,在第一采集时间T1,获得的亮度变化因子L1与残像面积因子A1,则计算模块2010得出第一残像等级C1可以为:
C1=L1×Lw+A1×Aw;
在第二采集时间T2,获得的亮度变化因子L2与残像面积因子A2,则计算模块2010得出第一残像等级C1可以为:
C2=L2×Lw+A2×Aw;
以此类推,第n次采集时间Tn,获得的亮度变化因子Ln与残像面积因子An,则计算模块2010得出第n个残像等级Cn可以为:
Cn=L2×Lw+An×Aw;
需要说明的是,上述Lw为亮度变化因子L的权重,Aw为残像面积因子A的权重。本领域技术人员可以根据实际情况对上述权重进行设置,一般将亮度变化因子L的权重Lw或残像面积因子A的权重Aw范围为0~1。
因此,计算模块2010可以将分别将亮度变化因子L的权重Lw与残像面积因子A的权重Aw均设置为0.5。这样一来,能够在计算残像等级的时候,将亮度变化因子L和残像面积因子A对残像等级的影响程度均分。
或者,对于具有大尺寸显示面板的显示器而言,由于同样的残像面积在大尺寸显示面板(相对小尺寸显示面板)占比较小,但仍然可以对显示品质造成不良影响,所以计算模块2010可以将残像面积因子A权重Aw加大,例如设置为0.8或设置为1,当残像面积因子A权重Aw设置为1时,亮度变化因子L的权重Lw可以为0。
又或者,对于具有小尺寸显示面板的显示器而言,当无需看重残像面积的影响时,计算模块2010可以将亮度变化因子L的权重Lw加大,例如将亮度变化因子L的权重Lw设置为1,此时残像面积因子A权重Aw可以为0。
需要说明的是,当得出多个残像等级(例如:第一残像等级C1、第二残像等级C2、第三残像等级C3…)时,计算模块2010还可以对上述残像等级进行积分。由于在数值计算领域,积分可以代表面积,从而能够通过上述积分,使得残像等级的级别程度更加的直观。
本领域普通技术人员可以理解:实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成,前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,执行包括上述方法实施例的步骤;而前述的存储介质包括:ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种显示器残像等级的评定方法,包括所述显示器在第一帧显示第一图像,在第二帧显示第二图像,以对所述显示器进行残像测试的方法;其特征在于,还包括:
在至少两次采集时间:第一采集时间、第二采集时间,所述显示器切换至所述第一图像,获得所述显示器显示残像的亮度变化因子和残像面积因子,以得出第一残像等级、第二残像等级;
其中,相邻两个所述采集时间之间间隔残像消退时间,以对所述显示器进行残像消退处理;
当所述残像停止消退时,根据所述第一残像等级和所述第二残像等级得出在残像消退过程中,所述显示器残像等级的变化趋势。
2.根据权利要求1所述的显示器残像等级的评定方法,其特征在于,在所述第一采集时间或所述第二采集时间,所述获得所述显示器显示残像的亮度变化因子和残像面积因子,以得出第一残像等级或第二残像等级的方法包括:
计算在所述第一采集时间或所述第二采集时间获得的所述亮度变化因子与所述残像面积因子的加权平均值,以得出所述第一残像等级或所述第二残像等级。
3.根据权利要求2所述的显示器残像等级的评定方法,其特征在于,
所述第一图像包括具有单一灰阶值的图像;
所述第二图像包括黑色图像、白色图像或黑白相间的棋盘格图像。
4.根据权利要求3所述显示器残像等级的评定方法,其特征在于,当所述第二图像包括黑色图像或白色图像时,所述在第一采集时间或第二采集时间获得所述显示器显示残像的亮度变化因子的方法包括:
在所述第一采集时间或所述第二采集时间,将所述残像测试前、后所述显示器的亮度值差值的绝对值与所述残像测试前所述显示器的亮度值之比作为所述亮度变化因子。
5.根据权利要求3所述显示器残像等级的评定方法,其特征在于,当所述第二图像包括黑白相间的棋盘格图像时,所述在第一采集时间或第二采集时间获得所述显示器显示残像的亮度变化因子的方法包括:
在所述第一采集时间或所述第二采集时间,获得所述残像测试后所述黑白相间的棋盘格图像中,所有黑色格与所有白色格对应所述显示器显示区域的亮度平均值差值的绝对值;
将上述步骤中的亮度平均值差值的绝对值与所述残像测试前所述显示器的亮度值的比值作为所述亮度变化因子。
6.根据权利要求4或5所述显示器残像等级的评定方法,其特征在于,所述在第一采集时间或第二采集时间获得所述显示器显示残像的残像面积因子的方法包括:
在所述第一采集时间或所述第二采集时间,将所述残像测试前、后所述显示器出现残像的面积与所述显示器显示面积的比值作为所述残像面积因子。
7.根据权利要求1所述显示器残像等级的评定方法,其特征在于,所述残像消退时间为0~8小时。
8.根据权利要求2所述显示器残像等级的评定方法,其特征在于,所述计算在所述第一采集时间或所述第二采集时间获得的所述亮度变化因子与所述残像面积因子的加权平均值的方法包括:
将所述亮度变化因子的权重以及所述残像面积因子的权重分别设置为0~1。
9.一种显示器残像等级的评定装置,包括测试单元,用于将所述显示器在第一帧显示第一图像,在第二帧显示第二图像,以对所述显示器进行残像测试;其特征在于,还包括:
采集单元,用于在至少两次采集时间:第一采集时间、第二采集时间,所述显示器切换至所述第一图像,获得所述显示器显示残像的亮度变化因子和残像面积因子,以得出第一残像等级、第二残像等级;
残像消退单元,用于在残像消退时间,对所述显示器进行残像消退处理;其中,相邻两个所述采集时间之间间隔所述残像消退时间;
评定单元,用于当所述残像停止消退时,根据所述第一残像等级和所述第二残像等级得出在残像消退过程中,所述显示器残像等级的变化趋势。
10.根据权利要求9所述的显示器残像等级的评定装置,其特征在于,所述采集单元包括:
计算模块,用于计算在所述第一采集时间或所述第二采集时间获得的所述亮度变化因子与所述残像面积因子的加权平均值,以得出所述第一残像等级或所述第二残像等级。
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