CN104078008A

CN104078008A - 显示装置

Info

Publication number: CN104078008A
Application number: CN201410344905.0A
Authority: CN
Inventors: 刘奕成
Original assignee: AU Optronics Corp
Current assignee: AU Optronics Corp
Priority date: 2014-05-23
Filing date: 2014-07-18
Publication date: 2014-10-01
Anticipated expiration: 2034-07-18
Also published as: TW201545145A; TWI534772B; CN104078008B

Abstract

本发明公开了一种显示装置包括：N个依序排列的发光模块与一个验证模块，N为大于1的正整数，并且每一个发光模块包括：用以发出光线的发光电路以及电性耦接至发光电路的检测电路。其中检测电路依据输入的检测输入信号以及从发光电路接收的操作电压以输出检测输出信号。验证模块电性耦接第N个发光模块，以依据第N个发光模块的检测输出信号，判断前述N个发光模块的操作状态。其中，前述N个发光模块中的第i个发光模块的检测输出信号被用以作为第i+1个发光模块的检测输入信号，i为小于N的正整数。

Description

显示装置

技术领域

本发明关于一种显示装置，特别关于一种显示装置的电路结构。

背景技术

显示装置广泛的被应用在现代人的生活之中。如何更快地产出更好的显示装置一直是一个主要的目标。显示面板的各种问题中，有一种被称为斑/彩纹(MURA)的缺陷，也就是显示装置的背光出光不均匀，或是特定区域的像素的色调不均匀。

一般而言，要检查斑/彩纹缺陷，是致能显示装置后，以光学检测方法由外部检测其出光均匀度或是色调均匀度。然而对于中大型的显示装置而言，以光学检测仪器及方法来进行所述的检测既不方便又耗时。因此如何提供一种可以快速自我检测出光均匀度的显示装置，是一个亟待克服的问题。

发明内容

鉴于以上问题，本发明提出一种具有自我检测出光均匀度的显示装置。所揭露的显示装置中的每个发光模块(例如一颗做为背光发光二极管电路或是一颗作为像素的发光二极管电路)都具有检测电路来判断其中的发光单元对应驱动电压的操作电压是否正常，并藉由特定的连接方式，使显示装置内的验证模块可以依据特定的几个发光模块所送出的检测结果，来判断显示装置的出光均匀度。

依据本发明一个或多个实施例所揭露的一种显示装置，包括：N个第一发光模块与一个验证模块。其中第1个第一发光模块至第N个第一发光模块依序排列，N为大于1的正整数，并且每一个所述的第一发光模块包括：用以发出光线的发光电路以及电性耦接至发光电路的检测电路。其中，检测电路包括：用以接收第一检测输入信号的第一检测输入端、电性耦接发光电路以从发光电路接收操作电压的一第二检测输入端与用以输出第一检测输出信号的第一检测输出端，其中第一检测输出端电性耦接第一检测输入端。验证模块电性耦接第N个第一发光模块的第一检测输出端，以依据第N个第一发光模块的第一检测输出信号，判断前述N个第一发光模块的第一操作状态。其中，前述N个第一发光模块中的第i个第一发光模块的第一检测输出端电性耦接至前述N个第一发光模块中的第i+1个第一发光模块的第一检测输入端，以提供第i+1个第一发光模块的该第一检测输入信号，i为小于N的正整数。

本发明所揭露的显示装置，其中的验证模块可以一次性地检测与验证一列甚或多列发光模块的操作状态，当验证模块得到多列发光模块的操作状态时，验证模块即可判断显示装置的出光均匀度。

以上的关于本发明内容的说明及以下的实施方式的说明用以示范与解释本发明的精神与原理，并且提供本发明的权利要求保护范围更进一步的解释。

附图说明

图1为依据本发明一实施的显示装置部分电路示意图；

图2为依据本发明一实施例的发光模块的电路示意图；

图3为依据本发明另一实施例的发光模块的电路示意图；

图4A为依据本发明一实施例的发光模块的硅圆片制程微型模块化电路的外观示意图；

图4B为图4A的俯视图；

图5为依据本发明一实施例中硅圆片制程微型模块化电路被设置在只有走线的基板上的示意图。

附图标记说明：

1 显示装置

11～mn 发光模块

111 驱动单元

113、113’ 检测电路

1131、1135 比较器

1133 逻辑且闸

1137 逻辑或门

20 验证模块

AE 出光区

C111 电容

DATA1～DATAn 资料线

Det_in 检测输入端

Det_out 检测输出端

LED11 发光二极管

M1111 扫描开关

M1113 驱动开关

OVDD、OVSS 驱动线

PIN1～PIN7 脚位

Q1131、Q1135 比较信号

RC、RR 走线

VOP 操作电压

VREF1～VREFn 参考电压线

SCAN 扫描线

具体实施方式

以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使任何熟悉相关技术者了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所揭露的内容、申请专利范围及图式，任何熟悉相关技术者可轻易地理解本发明相关的目的及优点。以下的实施例进一步详细说明本发明的观点，但非以任何观点限制本发明的范畴。

为了更便捷地检测显示装置中的多个像素单元或是背光单元是否正常，请参照图1，其为依据本发明一实施的显示装置部分电路示意图。如图1所示，显示装置1可以包括发光模块11至发光模块1n、发光模块21至发光模块2n、发光模块m1至发光模块mn以及验证模块20。换句话说，本发明一实施例中的显示装置可以包括m列n行共计m×n个发光模块，其中发光模块11至发光模块1n依序排在第一列，发光模块21至发光模块2n依序排在第二列，发光模块m1至发光模块mn依序排在第m列。每一列的多个发光模块都电性耦接至第一驱动线OVDD、第二驱动线OVSS以及扫描线SCAN。并且每一行的多个发光模块都电性耦接至同一条数据线以及同一条参考电压线(例如第一行的多个发光模块都电性耦接至数据线DATA1与同一条参考电压线VREF1)。其中，每一条数据线与每一条参考电压线可以电性耦接至验证模块20。

此外，每一个发光模块还有一个检测输入端Det_in与一个检测输出端Det_out，检测输入端Det_in用来接收检测输入信号，而检测输出端Det_out用来输出检测输出信号。发光模块11的检测输出端Det_out电性耦接至发光模块12的检测输入端Det_in，而发光模块1(n-1)的检测输出端Det_out电性耦接至发光模块1n的检测输入端Det_in，而发光模块1n的检测输出端Det_out电性耦接至验证模块20。

同样地，发光模块21的检测输出端Det_out电性耦接至发光模块22的检测输入端Det_in，而发光模块2(n-1)的检测输出端Det_out电性耦接至发光模块2n的检测输入端Det_in，并且发光模块2n的检测输出端Det_out电性耦接至验证模块20。发光模块m1的检测输出端Det_out电性耦接至发光模块m2的检测输入端Det_in，而发光模块m(n-1)的检测输出端Det_out电性耦接至发光模块mn的检测输入端Det_in，并且发光模块mn的检测输出端Det_out电性耦接至验证模块20。

藉由上述的连接方式以及本发明后述的发光模块的电路结构，验证模块20可以依据发光模块1n的检测输出端Det_out所输出的检测输出信号来判断发光模块11至发光模块1n，也就是第一列发光模块的操作状态。同样地，验证模块20也可以依据发光模块2n的检测输出端Det_out所输出的检测输出信号来判断第二列发光模块的操作状态，并且验证模块20可以依据发光模块mn的检测输出端Det_out所输出的检测输出信号来判断第m列发光模块的操作状态。更甚者，验证模块20可以依据m列发光模块的操作状态，来产生关于显示装置1的出光均匀度的信息。

图1所揭示的显示装置1虽然只有m列n行发光模块，然而依据本发明的精神，显示装置中可以包括有任意列数与行数的发光模块。此外，所述的每一个发光模块可以是显示装置1的背光模块的一部份，也可以是发光二极管显示装置(LED display)中用来作为像素的一个单色光发光二极管，本发明并不加以限制。

如图1中的发光模块11所示，发光模块11可以包括发光二极管LED11、驱动单元111以及检测电路113。驱动单元111电性耦接至第一驱动线OVDD、扫描线SCAN与数据线DATA1，并且耦接至发光二极管LED11的正端。发光二极管LED11的负端电性耦接至第二驱动线OVSS，驱动单元111与发光二极管LED11合称发光电路。而检测电路113的检测输入端就是发光模块11的检测输入端Det_in，而检测电路113的检测输出端就是发光模块11的检测输出端Det_out，并且检测电路113电性耦接至参考电压线VREF1与发光二极管LED11的正端。

驱动单元111用以依据扫描线SCAN所送来的扫描信号与数据线DATA1上的数据电压，从第一驱动线OVDD抽取对应的电流给发光二极管LED11，而发光二极管LED11在被电流驱动的时候，发光二极管LED11的正端会有一个操作电压VOP。检测电路113就是依据操作电压VOP与参考电压线VREF1上的参考电压，来判断发光二极管LED11与周边电路的电性耦接关系或是发光二极管LED11本身的发光特性是否正常。

举例来说，如果发光二极管LED11与第二驱动线OVSS的接点有缺陷时(例如接触不良甚至断路)，则操作电压VOP会被拉至接近第一驱动线OVDD的电压。又举例来说，如果老化的发光二极管LED11相较于正常的发光二极管，给定同样的电流时，老化的发光二极管LED11会有较高的操作电压VOP。因此，当操作电压VOP大于参考电压线VREF所提供的参考电压时，检测电路113可以判断发光二极管LED11的操作状态不正常。

并且，依据本发明的目的，要让验证模块20可以直接依据每一列最后一个发光模块的检测输出端Det_out的电压位准来判断该列发光模块的操作状态，因此如果发光模块11的检测输出信号指示发光模块11中的发光二极管LED11的操作状态不正常，则无论发光模块12中的发光二极管的操作状态是否正常，发光模块12的检测输出信号必须指出操作状态不正常。

也就是说，只有当发光模块11至发光模块1n都正常时，发光模块1n的检测输出信号才会指出正常。依照此一原则，以发光模块11为例，由于发光模块11的左侧并没有其它发光模块，因此发光模块11所接收的检测输入信号必须被预设至代表操作状态正常的电压位准。当发光模块11中的操作电压VOP正常时，发光模块11的检测输出信号的电压位准必须与检测输入信号的电压位准相同，以指出发光模块11的操作状态正常。而当发光模块11中的操作电压VOP过高时，发光模块11的检测输出信号的电压位准必须不同于检测输入信号的电压位准，以指出发光模块11的操作状态不正常。当发光模块11的检测输出信号的电压位准指出发光模块11的操作状态不正常时，发光模块12经由其检测输入端Det_in接收到这个电压位准，而不论发光模块12的操作状态正常与否，发光模块12的检测输出信号的电压位准指出操作状态不正常。因此，可以整理出下列表1来说明，对于每一个发光模块来说，检测输入信号的电压位准所代表的涵义、发光模块本身的操作状态与检测输出信号-的电压位准所代表的涵义的关系。

表1

检测输入信号	发光模块操作状态	检测输出信号
			正常	正常	正常
正常	异常	异常
			异常	正常	异常
异常	异常	异常

于一个实施例中，关于本发明于图1中所揭露的发光模块的各部位电路结构及其运作方法，请参照图2，其为依据本发明一实施例的发光模块的电路示意图。如图2所示，以发光模块11为例，发光模块11中的驱动单元111可以包括扫描开关M1111、驱动开关M1113以及电容C111。其中扫描开关M1111的控制端电性耦接至扫瞄线SCAN，而扫瞄开关M1111的两端分别电性耦接至数据线DATA1与驱动开关M1113的控制端。此外，电容C111的一端电性耦接至第一驱动线OVDD，而电容C111的另一端电性耦接至驱动开关M1113的控制端，驱动开关M1113的两端分别电性耦接至第一驱动线OVDD与发光二极管LED11的正端。

因此，当扫描线SCAN上的扫描信号控制扫描开关M1111导通后，数据线DATA1上的数据电压就会通过扫描开关M1111而被定义在驱动开关M1113的控制端上，并且电容C111会把这个数据电压与第一驱动线OVDD的电压差储存起来。因此，驱动开关M1111实质上受控于数据电压来决定要从第一驱动线OVDD抽取多少电流做为驱动电流来驱动发光二极管LED11。而发光二极管LED11因为这个驱动电流而发光，并且在发光二极管LED11的正端与负端之间有一个电压差，因此可以在发光二极管LED11的正端量到一个操作电压VOP。

如图2所示，于本实施例中，检测电路113可以包括比较器(comparator)1131与逻辑与闸1133。其中比较器1131的正端电性耦接至参考电压线VREF而比较器1131的负端电性耦接至发光二极管LED11的正端。而逻辑与闸1133的第一输入端电性耦接至比较器1131的输出端以接收比较信号Q1131，逻辑与闸1133的第二输入端就是检测输入端Det_in来接收检测输入信号。逻辑与闸1133对比较信号Q1131与检测输入信号进行逻辑且(logic-AND)运算以得到检测输出信号。由于当操作电压VOP大于参考电压时，比较信号Q1131的电压位准会是低电压，反之则为高电压。因此，于本实施例中，比较信号Q1131的电压位准如果是高电压则表示正常，否则就表示异常。如果把检测输入信号与检测输出信号都定义为「高电压代表正常」以及「低电压代表异常」。可以得到下列表2，其系依据本发明一实施例的检测电路中各信号与其代表意义的对照表。

表2

检测输入信号	比较信号Q1131	检测输出信号
			1(正常)	1(正常)	1(正常)
1(正常)	0(异常)	0(异常)
			0(异常)	1(正常)	0(异常)
0(异常)	0(异常)	0(异常)

依据本实施例，当验证模块20要验证每一列发光模块的操作状态时，可以对于每一列发光模块中的第一个发光模块，例如发光模块11、发光模块21与发光模块m1，都将其检测输入信号设定为高电压，而后调整每一行的数据线(也就是数据线DATA1至数据线DATAn)的电压以及参考电压线(也就是参考电压线VREF1至参考电压线VREFn)的参考电压，然后控制多条扫描线SCAN的电压位准来驱动每一列发光模块。并且验证模块20可以从每一列发光模块中的最后一个发光模块，例如发光模块1n、发光模块2n与发光模块mn，读取其检测输出信号。假如发光模块1n的检测输出信号的电压位准为低电压，则表示第一列发光模块中「至少有一个发光模块的操作状态为异常」，反之，如果发光模块1n的检测输出信号的电压位准为高电压，则表示第一列发光模块的操作状态都正常。依照同样的原则也可以得知第二列发光模块至第m列发光模块的操作状态。因此，验证模块20可以在极短的时间之内收集多列发光模块的操作状态，并且验证模块20还可以依据多列发光模块的操作状态，来产生验证值以指示显示装置1的均匀度。举例来说，可以设定一个容忍值(以768列的显示装置而言可能可以设定为七)，当有超过七列的发光模块的操作状态异常时，则验证模块20判定显示装置1的均匀度「不良」而产生对应的验证值。

而于本发明另一实施例中，请参照图3，其为依据本发明另一实施例的发光模块的电路示意图。如图3所示，于本实施例中，检测电路113’可以包括比较器1135与逻辑或门1137。其中比较器1135的负端电性耦接至参考电压线VREF而比较器1135的正端电性耦接至发光二极管LED11的正端。而逻辑或门1137的第一输入端电性耦接至比较器1135的输出端以接收比较信号Q1135，逻辑或门1137的第二输入端就是检测输入端Det_in来接收检测输入信号。逻辑或门1137对比较信号Q1135与检测输入信号进行逻辑或(logic-OR)运算以得到检测输出信号。由于当操作电压VOP大于参考电压时，比较信号Q1135的电压位准会是高电压，反之则为低电压。如果把比较信号Q1135、检测输入信号与检测输出信号都定义为「低电压代表正常」以及「高电压代表异常」。可以得到下列表3，其系本实施例的检测电路中各信号与其代表意义的对照表。

表3

检测输入信号	比较信号Q1131	检测输出信号
			0(正常)	0(正常)	0(正常)
0(正常)	1(异常)	1(异常)
			1(异常)	0(正常)	1(异常)
1(异常)	1(异常)	1(异常)

依据本实施例，当验证模块20要验证每一列发光模块的操作状态时，可以对于每一列发光模块中的第一个发光模块，例如发光模块11、发光模块21与发光模块m1，都将其检测输入信号设定为低电压，而后调整每一行的数据线的电压以及参考电压线的参考电压，然后控制多条扫描线SCAN的电压位准来驱动每一列发光模块。并且验证模块20可以从每一列发光模块中的最后一个发光模块，例如发光模块1n、发光模块2n与发光模块mn，读取其检测输出信号。假如发光模块1n的检测输出信号的电压位准为高电压，则表示第一列发光模块中「至少有一个发光模块的操作状态为异常」，反之，如果发光模块1n的检测输出信号的电压位准为低电压，则表示第一列发光模块的操作状态都正常。依照同样的原则也可以得知第二列发光模块至第m列发光模块的操作状态。因此，验证模块20可以在极短的时间之内收集多列发光模块的操作状态，并且验证模块20还可以依据多列发光模块的操作状态，来产生验证值以指示显示装置1的均匀度。

于本发明另一实施例中，验证模块20可以对发光模块11至发光模块19进行不只一次的检测及验证。具体来说，以本发明图2所揭示的发光模块来举例，假设数据线DATA上的电压与发光二极管的正端的操作电压的典型电压值有一个如下表4的对照表。

表4

DATA

5V

4V

3V

2V

1V

0V

VOP

-3.4V

-1V

0V

0.1V

0.4V

0.8V

验证模块20可以先对所有的数据线DATA给定5伏特的电压，对所有的参考电压线给定-3.3伏特的电压(也就是略高于操作电压的典型电压值)，来对发光模块11至发光模块mn进行第一次检测与验证。接着验证模块20可以对所有的数据线DATA给定4伏特的电压，对所有的参考电压线给定-0.9伏特的电压，来对发光模块11至发光模块mn进行第二次检测与验证。如此反复多次，直到最后一次验证模块20可以对所有的数据线DATA1至DATAn给定0伏特的电压，对所有的参考电压线给定0.9伏特的电压(也就是略高于操作电压的典型电压值)，来对发光模块11至发光模块mn进行最后一次检测与验证。举例来说，当数据线DATA2的电压是5伏特时，如果发光模块12的操作电压高于-3.3伏特，则表示发光模块12在数据电压是5伏特时的操作状态异常，从而发光模块1n的检测输出端Det_out的电压位准会指示第一列发光模块的操作状态异常。而当数据线DATA(n-1)的电压是0伏特时，如果发光模块2(n-1)的操作电压高于0.8伏特，则表示发光模块2(n-1)在数据电压是0伏特时的操作状态异常，从而发光模块2n的检测输出端Det_out的电压位准会指示第二列发光模块的操作状态异常。藉此，验证模块20可以得知发光模块11至发光模块mn对应于多个不同的数据电压是否正常，并综合多次验证的资料，产生验证值来指示显示装置1的出光均匀度。更甚者，验整模块20可以藉以整理出发光模块11至发光模块mn的操作状态「都正常」的数据电压的范围。

于本发明一实施例中，前述的每一个发光模块都可以单独制作成硅圆片制程微型模块化电路，而所制成的硅圆片制程微型模块化电路产品的外观设计请参照图4A与图4B，其中图4A为依据本发明一实施例的发光模块的硅圆片制程微型模块化电路的外观示意图，而图4B为图4A的俯视图。如图4A所示，每个制作成硅圆片制程微型模块化电路的发光模块的外观可以为一个正立方体，其内部包括如图1中一个发光模块内的驱动单元、发光二极管与检测电路。此外，请一并参照图4B，发光模块的硅圆片制程微型模块化电路的上表面有出光区AE，以图1或图2的例子来说，出光区AE的位置对应于发光二极管LED11，因此发光二极管的光线可以经由出光区AE而发射，而硅圆片制程微型模块化电路的下表面有多个用来外接信号的脚位，以本实施例而言，就是脚位PIN1至脚位PIN7，脚位数目依所包含的功能不同而有不同的数目。此硅圆片制程微型模块化电路为硅基板导体制程，其可包含驱动电路与调整电压电路。此硅圆片制程微型模块化电路的发光组件可是本发明前述一个或多个实施例中所探讨的发光二极管，或是由有机发光二极管(organic light emitting diode,OLED)及/或其它发光特性的半导体制程组件。

于本发明一实施例中，请一并参照图1与图5，其中图5为依据本发明一实施例中硅圆片制程微型模块化电路被设置在只有走线的基板上的示意图。如图5所示，由于如图4实施例中的发光模块的硅圆片制程微型模块化电路可取代传统面板基板上的薄膜晶体管(thin film transistor,TFT)制程组件电路的功能，例如像素驱动电路、栅极驱动电路(gate on array,GOA)、补偿电路等，并可依照所设计的电路功能多寡而定。因此，使用本发明一个或多个实施例所揭露的硅圆片制程微型模块化电路显示器设计，显示装置的硅基板可以只提供需要的走线(例如平行于水平轴向的走线RR与平行于铅直轴向的走线RC)及焊垫。而将m×n个发光模块的硅圆片制程微型模块化电路焊接在各个像素对应的位置上，即如图5所示共计m列n行的显示装置，其中位于第一列第一行的是发光模块11的硅圆片制程微型模块化电路，而位于第m列第n行的是发光模块mn的硅圆片制程微型模块化电路。更明确地说，显示装置包括显示区与非显示区，显示区中设置有多个发光模块(以本发明前述多个实施例而言，共有m×n个模块)，而非显示区设置于显示区的周缘(例如显示装置的外框所对应的区域)。依据本发明前述一个或多个实施例，本发明中的检测电路基本上紧邻于其所对应检测的一个发光电路(也就是发光模块中的发光二极管与驱动单元)，藉此，由于从发光电路到检测电路的距离很短，两个电路之间的走线造成的电压降(voltage drop)因此也很小(甚至可忽略)，从而可以提高检测的精确度。

依据本发明所揭露的一个或多个实施例所揭示的显示装置，其中每一个发光模块中具有检测电路来对单一发光模块判定其操作状态，并且同一列(或同一行)的多个发光模块其检测电路的信号串接。藉此，显示装置中的验证模块仅依据同一列(或同一行)发光模块中最后一个发光模块的检测输出信号，即可知道该列(或该行)发光模块的操作状态，并且综合多列发光模块的多个操作状态，甚至综合多次不同数据电压的验证中多列发光模块的多个操作状态，验证模块可以产生验证值来指出显示装置的均匀度。

虽然本发明以前述的实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明。在不脱离本发明的精神和范围内，所为之更动与润饰，均属本发明的专利保护范围。关于本发明所界定的保护范围请参考所附的权利要求书。

Claims

1.一种显示装置，包括：

第1至N个第一发光模块，依序排列，其中N为大于1的正整数，每一该第一发光模块包括：

一第一发光电路，用以发出光线；以及

一第一检测电路，电性耦接该第一发光电路，该第一检测电路包括：

一第一检测输入端，用以接收一第一检测输入信号；

一第二检测输入端，电性耦接该第一发光电路，用以由该第一发光电路接收一第一操作电压；以及

一第一检测输出端，电性耦接该第一检测输入端，用以输出一第一检测输出信号；以及

一验证模块，电性耦接该第N个第一发光模块的该第一检测输出端，用以依据该第N个第一发光模块的该第一检测输出信号，判断该N个第一发光模块的一第一操作状态；

其中，该N个第一发光模块中的第i个第一发光模块的该第一检测输出端电性耦接至该N个第一发光模块中的第i+1个第一发光模块的该第一检测输入端，用以提供该第i+1个第一发光模块的该第一检测输入信号，i为小于N的正整数。

2.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，该检测电路用以在该第一发光电路发出光线时，依据该第一检测输入信号、一参考电压与该第一操作电压，输出该第一检测输出信号。

3.如权利要求2所述的显示装置，其特征在于，该检测电路包括：

一比较器，电性耦接该第一发光电路，用以比较该参考电压与该第一操作电压，以产生一比较信号；以及

一逻辑闸，电性耦接该比较器，用以对该比较信号与该第一检测输入信号进行逻辑运算以产生该第一检测输出信号。

4.如权利要求3所述的显示装置，其特征在于，该第一操作电压被提供至该比较器的一负输入端，且该参考电压被耦接至该比较器的一正输入端，该逻辑闸是一逻辑且闸，且该N个第一发光模块中的第1个第一发光模块的该第一检测输入端更电性耦接至具有高逻辑位准的信号。

5.如权利要求3所述的显示装置，其特征在于，该第一操作电压被提供至该比较器的一正输入端，且该参考电压被耦接至该比较器的一负输入端，该逻辑闸为一逻辑或门，且该N个第一发光模块中的第1个第一发光模块的该第一检测输入端更电性耦接至具有低逻辑位准的信号。

6.如权利要求2所述的显示装置，其特征在于，该验证模块更依据该参考电压，判断该N个第一发光模块的该第一操作状态。

7.如权利要求2所述的显示装置，其特征在于，该验证模块更用以调整该参考电压。

8.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，更包括N个第二发光模块，每一该第二发光模块包括：

一第二发光电路，用以发出光线；以及

一第二检测电路，电性耦接该第二发光电路，该第二检测电路包括：

一第三检测输入端，用以接收一第二检测输入信号；

一第四检测输入端，电性耦接该第二发光电路，用以由该第二发光电路接收一第二操作电压；以及

一第二检测输出端，用以输出一第二检测输出信号；

其中，该N个第二发光模块中的第j个第二发光模块的该第二检测输出端电性耦接至该N个第二发光模块中的第j+1个第二发光模块的该第二检测输入端，用以提供该第j+1个第二发光模块的该第二检测输入信号，并且该验证模块更电性耦接至第N个第二发光模块的该第二检测输出端，以依据该第N个第二发光模块的该第二检测输出信号，判断该N个第二发光模块的一第二操作状态，j为小于N的正整数。

9.如权利要求8所述的显示装置，其特征在于，该验证模块更依据该第一操作状态与该第二操作状态，产生一验证值以指示该显示装置的均匀度。

10.如权利要求1至9项任一所述的显示装置，其特征在于，该显示装置包括一显示区与一非显示区，该非显示区设置于该显示区的周缘，该第一检测电路设置于该显示区内。