CN103995369A - 阵列基板、显示面板及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供一种阵列基板、显示面板及其测试方法，涉及显示技术领域，可实现GOA显示面板的电压-透过率曲线的测试；所述阵列基板包括显示区和GOA电路区；所述显示区包括横纵交叉的多条栅线和多条数据线、以及与所述多条数据线电连接的数据线引线；所述GOA电路区包括多个GOA单元、与所述多个GOA单元电连接的信号线、以及与所述信号线的输入端电连接的信号测试点；用于显示装置的制造。

Description

阵列基板、显示面板及其测试方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板、显示面板及其测试方法。

背景技术

液晶显示面板的电压-透过率曲线（V-T曲线）是指显示模块在无驱动电路阶段显示面板自身的电压-透过率曲线，它是产品开发阶段的重要数据支持。

对于传统的液晶显示面板而言，其电压-透过率曲线的测试是通过在栅线和数据线的输入端涂覆导电胶，信号发生器在栅线和数据线的输入端引出导线与导电胶相连，从而在栅线的输入端输入高压信号，使薄膜晶体管处于开启状态，在数据线的输入端输入数据电压信号；光学测试设备在数据电压信号变化的过程中测得相应的亮度，从而得到电压-透过率曲线。

但对于集成栅极驱动(Gate Driver On Array，简称GOA)显示面板而言，其栅线的输入端由GOA单元组成，无法在栅线的输入端涂覆导电胶而实现信号的输入，因此GOA显示面板的电压-透过率曲线的测试难以实现。

发明内容

本发明的实施例提供一种阵列基板、显示面板及其测试方法，可实现GOA显示面板的电压-透过率曲线的测试。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

一方面，提供一种阵列基板，包括显示区和GOA电路区；所述显示区包括横纵交叉的多条栅线和多条数据线、以及与所述多条数据线电连接的数据线引线；所述GOA电路区包括多个GOA单元、与所述多个GOA单元电连接的信号线、以及与所述信号线的输入端电连接的信号测试点。

可选的，所述多个GOA单元与所述多条栅线一一对应。

可选的，所述信号线包括时钟（Clock，简称CLK）信号线和帧开启（Start Vertical，简称STV）信号线。

进一步可选的，所述STV信号线为1条或2条。

另一方面，提供一种显示面板，包括上述的阵列基板。

再一方面，提供一种显示面板的测试方法，所述显示面板上述的显示面板；所述方法包括：通过在GOA电路区预留的信号测试点向栅线输入栅极信号电压；其中，所述GOA电路区包括多个GOA单元、与所述多个GOA单元电连接的信号线、以及与所述信号线的输入端电连接的信号测试点；通过显示区的数据线引线向数据线输入数据信号电压；对显示面板的相应区域的亮度进行测试；对电压数据和光学数据进行处理，得到电压-透过率曲线。

可选的，所述通过在GOA电路区预留的信号测试点向栅线输入栅极信号电压具体包括：信号发生器通过探针与所述GOA电路区中预留的信号测试点接触，并通过所述探针向所述栅线输入栅极信号电压；或者，在所述GOA电路区预留的信号测试点的位置涂覆导电胶，使不同信号测试点之间相互电连接；信号发生器通过导线与所述导电胶相连，并通过所述导线向所述栅线输入栅极信号电压。

可选的，所述通过显示区的数据线引线向数据线输入数据信号电压包括：将所述显示区的数据线及相应的数据线引线划分为至少一组，针对每组所述数据线引线涂覆导电胶，使每组所述数据线引线之间相互电连接；信号发生器通过导线与任一组所述导电胶相连，并通过所述导线向相应的所述数据线输入数据信号电压。

可选的，所述对显示面板的相应区域的亮度进行测试包括：针对所述栅线和所述数据线驱动的所述显示面板的特定区域，通过光学测试设备对所述显示面板的相应区域的亮度进行测试，并记录相应的光学数据。

可选的，所述对电压数据和光学数据进行处理，得到电压-透过率曲线包括：通过上位机对加载在所述数据线上的电压数据和所述显示面板的相应区域的光学数据进行处理，得到显示面板的电压-透过率曲线。

本发明的实施例提供一种阵列基板、显示面板及其测试方法；所述阵列基板包括显示区和GOA电路区；所述显示区包括横纵交叉的多条栅线和多条数据线、以及与所述多条数据线电连接的数据线引线；所述GOA电路区包括多个GOA单元、与所述多个GOA单元电连接的信号线、以及与所述信号线的输入端电连接的信号测试点。

当上述的GOA显示面板需要进行V-T曲线的测试时，由于所述GOA电路取代了传统液晶显示面板中的栅驱动电路，因此在所述阵列基板上不存在用于连接栅线和栅驱动电路的栅线引线，这样便会导致无法在所述栅线的输入端涂覆导电胶。基于此，通过在所述阵列基板的GOA电路区预留信号测试点，便可以使所述栅线通过探针或导线与测试设备中的信号发生器之间实现通信连接；而通过在所述数据线引线的上方涂覆导电胶，便可以使所述数据线通过导线连接与测试设备中的信号发生器之间实现通信连接。这样便可以实现所述GOA显示面板的V-T曲线的测试。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种阵列基板的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种GOA电路中的信号线的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的一种GOA电路结构示意图；

图4为本发明实施例提供的一种GOA显示面板的V-T曲线的测试流程图；

图5为本发明实施例提供的一种GOA电路的工作时序图。

附图标记：

10-显示区；20-GOA电路区；101-第一组数据线引线；102-第二组数据线引线；103-第三组数据线引线；104-第四组数据线引线；200-信号测试点；201-第一GOA单元；202-第二GOA单元；203-第三GOA单元；204-第四GOA单元。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明的实施例提供一种阵列基板，如图1所示，包括显示区10和GOA电路区20；所述显示区10包括横纵交叉的多条栅线和多条数据线、以及与所述多条数据线电连接的数据线引线（图中未示出）；所述GOA电路区20包括多个GOA单元、与所述多个GOA单元电连接的信号线、以及与所述信号线的输入端电连接的信号测试点200。

需要说明的是，第一，当所述阵列基板应用于液晶显示面板时，所述GOA电路区20可以作为用于驱动所述栅线的栅驱动电路；在此情况下，所述数据线引线作为所述数据线的输入端，可以与源驱动电路相连。

第二，每个所述GOA单元可以与一行所述栅线对应（即，控制一行栅线），当然也可以与多行所述栅线对应（即，控制多行栅线）。所述GOA单元与所述栅线之间的具体对应关系在此不作限定，其可以根据实际的GOA电路设计而定。

第三，所述信号测试点200与所述信号线之间电连接，其具体连接方式可以是将所述信号线延长至所述信号测试点200的位置，也可以是通过导线将所述信号线与所述信号测试点200之间电连接。在此基础上，还可以在所述信号测试点200的位置处设置测试孔，以便于进行外接电路的测试。

本发明的实施例提供一种阵列基板，包括显示区10和GOA电路区20；所述显示区10包括横纵交叉的多条栅线和多条数据线、以及与所述多条数据线电连接的数据线引线；所述GOA电路区20包括多个GOA单元、与所述多个GOA单元电连接的信号线、以及与所述信号线的输入端电连接的信号测试点200。

当上述的GOA显示面板需要进行V-T曲线的测试时，由于所述GOA电路取代了传统液晶显示面板中的栅驱动电路，因此在所述阵列基板上不存在用于连接栅线和栅驱动电路的栅线引线，这样便会导致无法在所述栅线的输入端涂覆导电胶。基于此，通过在所述阵列基板的GOA电路区20预留信号测试点200，便可以使所述栅线通过探针或导线与测试设备中的信号发生器之间实现通信连接；而通过在所述数据线引线的上方涂覆导电胶，便可以使所述数据线通过导线连接与测试设备中的信号发生器之间实现通信连接。这样便可以实现所述GOA显示面板的V-T曲线的测试。

基于上述描述，可选的，所述多个GOA单元可以与所述多条栅线一一对应。这样，每个所述GOA单元便可以相应的控制一行栅线。

在此基础上，如图2所示，所述信号线可以包括CLK信号线和STV信号线。其中，所述STV信号线为1条或2条。

这里需要说明的是，所述STV信号线可以用于为所述GOA单元提供开启信号，进而控制所述栅线的开启与关闭。

当所述STV信号线为1条时，所述多个GOA单元均由该一个所述STV信号线提供开启信号。

当所述STV信号线为2条时，所述多个GOA单元可以分为两组，每组所述GOA单元由对应的所述STV信号线提供开启信号。

示例的，如图3所示，所述GOA电路包括第一GOA单元201、第二GOA单元202、第三GOA单元203和第四GOA单元204，且所述第一GOA单元201和所述第三GOA单元203由所述STV_O控制，所述第二GOA单元202和所述第四GOA单元204由所述STV_E控制。其中，所述STV_O为所述第一GOA单元201提供开启信号，所述第一GOA单元201的输出信号可以作为所述第三GOA单元203的开启信号；所述STV_E为所述第二GOA单元202提供开启信号，所述第二GOA单元202的输出信号可以作为所述第四GOA单元204的开启信号。

本发明的实施例提供一种显示面板，包括上述的阵列基板。

对于液晶显示面板而言，其可以包括阵列基板、彩膜基板、以及位于二者之间的液晶层；其中，所述阵列基板包括像素电极，所述阵列基板或所述彩膜基板包括公共电极。在此基础上，通过在所述像素电极和所述公共电极之间加载电压，便可以驱动所述液晶层中的液晶分子进行相应角度的偏转。当偏振光经过所述液晶层时，随着液晶分子偏转角度的不同，光线的透过率也有所不同。

当对所述显示面板的V-T曲线进行测试时，实际上是测试所述像素电极和所述公共电极之间的电压与所述显示面板的透过率之间的关系。这里需要说明的是，由于所述像素电极与薄膜晶体管的漏极电连接，因此所述像素电极的电压可以通过加载在所述数据线上的数据信号电压进行控制；而所述公共电极的电压可以直接通过公共电极线进行控制，本发明实施例中不再赘述。

在此基础上，当所述阵列基板为上述的GOA阵列基板时，通过在所述GOA电路区20预留所述信号测试点200，便可以通过探针或导线实现所述栅线与测试设备的信号发生器之间的通信连接；通过在所述数据线引线的位置涂覆导电胶，便可以通过导线实现所述数据线与测试设备的信号发生器之间的通信连接；基于此，当所述信号发生器分别向所述栅线和所述数据线加载电压信号时，即可通过光学测试设备测试所述显示面板的亮度，从而实现所述GOA显示面板的V-T曲线的测试。

本发明的实施例还提供一种显示面板的测试方法，用于对具有上述结构的GOA显示面板进行测试。如图4所示，所述方法可以包括：

S101、通过在GOA电路区20预留的信号测试点200向栅线输入栅极信号电压。

其中，所述GOA电路区20可以包括多个GOA单元、与所述多个GOA单元电连接的信号线、以及与所述信号线的输入端电连接的信号测试点200。

这里，所述信号线可以包括CLK信号线和STV信号线。通过延长所述信号线至所述信号测试点200的位置，或者通过导线将所述信号线和所述信号测试点200相连，均可实现所述信号线和所述信号测试点200之间的电连接。

在此基础上，本步骤具体可以包括以下两种实现方式：

方式一、信号发生器可以通过探针与所述信号测试点200接触，并通过所述探针向所述栅线输入栅极信号电压。

方式二、在所述信号测试点200的位置涂覆导电胶，使不同信号测试点之间相互电连接；信号发生器通过导线与所述导电胶相连，并通过所述导线向所述栅线输入栅极信号电压。

S102、通过显示区10的数据线引线向数据线输入数据信号电压。

这里，所述显示面板可以定义为至少一个显示区域，具体可以通过将所述显示区10的数据线及相应的数据线引线划分为至少一组，针对每组所述数据线引线涂覆导电胶，使每组所述数据线引线之间相互电连接；信号发生器可以通过导线与任一组所述导电胶相连，并通过所述导线向相应的所述数据线输入数据信号电压。

基于上述描述可知，在进行所述显示面板的V-T曲线的测试时，实际上可以进行分区测试。示例的，将所述显示面板从左向右分为并列的四个显示区域，每个所述显示区域均包括相应的数据线和数据线引线；在此基础上，当所述GOA电路控制所述栅线依次开启时，只有向某一显示区域的所述数据线输入数据信号电压时，才可能使所述显示面板的相应区域进行显示，而此时测试的所述显示面板的亮度也就是该显示区域的亮度。

S103、对显示面板的相应区域的亮度进行测试。

当所述栅线接收到栅极信号电压而将薄膜晶体管开启，所述数据线接收到数据信号电压而控制液晶层中的液晶分子进行偏转时，针对所述栅线和所述数据线驱动的某一特定的显示区域，光学测试设备便可以针对该显示区域进行亮度的测试，并记录相应的光学数据。

S104、对电压数据和光学数据进行处理，得到电压-透过率曲线。

这里需要说明的是，所述电压数据对应于上述的数据信号电压，但并不是该数据信号电压；所述数据信号电压经过薄膜晶体管最终可以转换为加载在像素电极上的电压，而像素电极和公共电极之间的电压才是真正需要的电压数据。所述光学数据是指所述显示面板的相应区域的亮度。

在此基础上，可以通过上位机对所述电压数据和所述光学数据进行处理，从而得到显示面板的V-T曲线。

其中，所述上位机可以是计算机。

通过上述步骤S101-S104，即可得到所述GOA显示面板的V-T曲线。

下面以所述GOA电路结构包括4个CLK信号线和2个STV信号线为例，对所述GOA显示面板的V-T曲线的测试方法进行具体的说明。

所述显示面板的V-T曲线的测试方法具体可以包括如下步骤：

S201、参考图1所示，将所述显示面板从左向右定义为并列的四个显示区域，每个所述显示区域均对应一组数据线及相应的数据线引线，并针对每一组所述数据线引线涂覆导电胶。

其中，通过涂覆所述导电胶，可以使第一显示区域对应的第一组数据线引线101之间相互电连接，第二显示区域对应的第二组数据线引线102之间相互电连接，第三显示区域对应的第三组数据线引线103之间相互电连接，第四显示区域对应的第四组数据线引线104之间相互电连接。

S202、通过导线将所述第一组数据线引线101与所述信号发生器相连。

S203、参考图2所示，通过探头将所述信号测试点200（包括STV_E、STV_O、CLK1、CLK2、CLK3、CLK4）与所述信号发生器相连。

S204、如图5所示，所述信号发生器通过探头向所述GOA电路输入图示的工作时序信号。

S205、所述信号发生器通过导线向与所述第一组数据线引线101相连的数据线输入不同的数据信号电压。

S206、光学测试设备测试在不同的数据信号电压下所述显示面板的第一显示区域的亮度。

S207、上位机将所述数据信号电压转换为相应的像素电极和公共电极之间的电压数据，并将所述电压数据和所述光学数据（第一显示区域的亮度）进行处理，从而得到所述显示面板的V-T曲线。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种阵列基板，其特征在于，包括显示区和GOA电路区；

所述显示区包括横纵交叉的多条栅线和多条数据线、以及与所述多条数据线电连接的数据线引线；

所述GOA电路区包括多个GOA单元、与所述多个GOA单元电连接的信号线、以及与所述信号线的输入端电连接的信号测试点。

2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述多个GOA单元与所述多条栅线一一对应。

3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述信号线包括时钟信号线和帧开启信号线。

4.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述帧开启信号线为1条或2条。

5.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1至4任一项所述的阵列基板。

6.一种显示面板的测试方法，其特征在于，所述显示面板为权利要求5所述的显示面板；所述方法包括：

通过在GOA电路区预留的信号测试点向栅线输入栅极信号电压；其中，所述GOA电路区包括多个GOA单元、与所述多个GOA单元电连接的信号线、以及与所述信号线的输入端电连接的信号测试点；

通过显示区的数据线引线向数据线输入数据信号电压；

对显示面板的相应区域的亮度进行测试；

对电压数据和光学数据进行处理，得到电压-透过率曲线。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述通过在GOA电路区预留的信号测试点向栅线输入栅极信号电压具体包括：

信号发生器通过探针与所述GOA电路区中预留的信号测试点接触，并通过所述探针向所述栅线输入栅极信号电压；

或者，在所述GOA电路区预留的信号测试点的位置涂覆导电胶，使不同信号测试点之间相互电连接；信号发生器通过导线与所述导电胶相连，并通过所述导线向所述栅线输入栅极信号电压。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述通过显示区的数据线引线向数据线输入数据信号电压包括：

将所述显示区的数据线及相应的数据线引线划分为至少一组，针对每组所述数据线引线涂覆导电胶，使每组所述数据线引线之间相互电连接；

信号发生器通过导线与任一组所述导电胶相连，并通过所述导线向相应的所述数据线输入数据信号电压。

9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述对显示面板的相应区域的亮度进行测试包括：

针对所述栅线和所述数据线驱动的所述显示面板的特定区域，通过光学测试设备对所述显示面板的相应区域的亮度进行测试，并记录相应的光学数据。

10.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述对电压数据和光学数据进行处理，得到电压-透过率曲线包括：

通过上位机对加载在所述数据线上的电压数据和所述显示面板的相应区域的光学数据进行处理，得到显示面板的电压-透过率曲线。