CN103988248B - 信号处理装置、信号处理方法和电子设备 - Google Patents

Abstract

本公开涉及使得能够防止在显示屏幕出现老化的信号处理设备、信号处理方法、程序和电子设备。信号合成单元生成由用于使得用于图像的显示的第一发光元件发光的图像信号和用于使得用于测量亮度的第二发光元件发光的假像素信号配置的第一合成信号；老化校正单元，将生成的第一合成信号转换为第二合成信号以使得仅第一发光元件和第二发光元件中的第一发光元件以同一亮度发光而无论第一发光元件的退化程度如何；和显示单元，使得第一发光元件第二发光元件基于第二合成信号发光。本公开例如可以应用于嵌入使用有机EL元件作为发光元件的平板自发光面板的电子设备等。

Description

信号处理装置、信号处理方法和电子设备

技术领域

本发明涉及信号处理装置、信号处理方法、程序和电子设备，且更加具体地，涉及可以防止在显示屏幕出现老化的信号处理装置、信号处理方法、程序和电子设备。

背景技术

近年来，已经开发了使用有机电致发光(EL)元件作为光发射元件的平板自发光面板(EL面板)。有机EL元件是具有二极管特性并使用当电场施加到有机薄膜时发光的现象的发光元件。因为有机EL元件以10V或者更小的施加电压驱动且是由其本身发光的自发光元件，所以有机EL元件消耗低功率。因此，容易减小有机EL元件的重量和厚度而不需要照明部件。另外，因为有机EL元件的响应速度非常高，为大约几μs，所以在EL面板中不产生在显示运动图像时的残留图像。

在像素中使用有机EL器件的平板自发光面板当中，已经特地开发了将薄膜晶体管作为驱动元件集成到每一像素中的有源矩阵型面板。例如，在下列专利文献1到5中描述了有源矩阵型面板。

引文列表

专利文献

专利文献1：JP2003-255856A

专利文献2：JP2003-271095A

专利文献3：JP2004-133240A

专利文献4：JP2004-029791A

专利文献5：JP2004-093682A

发明内容

但是，在有机EL元件中，亮度效率与发光量和发光时间成正比地减小。因为有机EL元件的发光亮度由电流值和亮度效率的积表示，所以亮度效率 的减小导致发光亮度的减小。在每一像素中执行均匀显示的显示图像作为在显示屏幕上显示的显示图像是很少的，且在一般显示图像中发光量对于每一像素是不同的。

因此，在每一像素中发光亮度的减小程度在相同驱动条件下不同，由于过去的发光量和发光时间的差值，出现可视地识别出亮度减小的变化的现象。可视地识别出亮度减小的变化的现象被称为老化现象。

因此，在根据现有技术的EL面板中，执行用于使得有机EL元件在亮度减小之前的发光亮度发光和防止出现老化现象的老化校正处理。

也就是说，例如，EL面板具有内置于其中的有机EL元件(以下，称为用于显示的有机EL元件)和有机EL元件(以下，称为用于测量的有机EL元件)，用于显示的有机EL元件发光以用于显示图像的显示，用于测量的有机EL元件发光以用于亮度减小的测量。

EL面板基于通过测量用于测量的有机EL元件的亮度而获得的测量结果，估计示出有机EL元件的发光亮度的减小程度的亮度退化特性。

另外，EL面板基于估计的亮度退化特性，执行用于使得用于显示的有机EL元件和用于测量的有机EL元件以减小之前的发光亮度发光的老化校正处理。

由此，用于显示的有机EL元件和用于测量的有机EL元件以减小之前的发光亮度发光。

然而，在根据现有技术的EL面板中，因为用于测量的有机EL元件以减小之前的发光亮度发光，所以可能不能从用于测量的EL元件获得的测量结果精确地估计亮度退化特性。在这种情况下，在老化校正处理中，可能不能防止老化现象出现。

考虑上述情况做出本发明，且本发明防止在显示屏幕出现老化。

技术方案

根据本公开的第一实施例，提供了信号处理设备，包括：信号合成单元，产生由图像信号配置的第一合成信号以使得用于显示图像的第一发光元件发光，并产生假像素信号以使得用于测量亮度的第二发光元件发光；转换单元，将生成的第一合成信号转换为第二合成信号以仅使得第一发光元件和第二发光元件中的第一发光元件以同一亮度发光而无论第一发光元件的退化程度如 何；和发光控制单元，使得第一发光元件和第二发光元件基于第二合成信号发光。

该转换单元可以基于测量第二发光元件的亮度的测量单元的亮度测量结果，将第一合成信号转换为第二合成信号。

该转换单元可以校正第一合成信号中包括的图像信号为使得第一发光元件以同一亮度发光而无论第一发光元件的退化程度如何的图像信号，并将第一合成信号转换为包括校正之后的图像信号的第二合成信号。

该转换单元另外可以将第一合成信号中包括的假像素信号校正为具有第一合成信号中包括的假像素信号的同一假像素信号，并将第一合成信号转换为第二合成信号。

该信号处理设备可以另外包括显示单元，其包括显示图像的显示屏幕，并具有内置于其中的第一发光元件、第二发光元件和测量单元。该发光控制单元可以基于第二合成信号中包括的图像信号使得第一发光元件发光，并在显示屏幕上显示图像。该发光控制单元可以基于第二合成信号中包括的假像素信号使得第二发光元件发光，并使得测量单元测量亮度。

根据本公开的第一实施例，提供了处理信号的信号处理设备的信号处理方法，该信号处理方法包括：信号合成步骤，由信号处理设备生成由图像信号配置的第一合成信号以使得用于显示图像的第一发光元件发光和生成假像素信号以使得用于测量亮度的第二发光元件发光；转换步骤，由信号处理设备将生成的第一合成信号转换为第二合成信号以使得仅第一发光元件和第二发光元件中的第一发光元件以同一亮度发光而无论第一发光元件的退化程度如何；则发光控制步骤，由信号处理设备使得第一发光元件和第二发光元件基于第二合成信号发光。

根据本公开的第一实施例，提供了用于使得计算机用作以下单元的程序：信号合成单元，生成由图像信号配置的第一合成信号以使得用于显示图像的第一发光元件发光和生成假像素信号以使得用于测量亮度的第二发光元件发光；转换单元，将生成的第一合成信号转换为第二合成信号以使得仅第一发光元件和第二发光元件中的第一发光元件以同一亮度发光而无论第一发光元件的退化程度如何；和发光控制单元，使得第一发光元件第二发光元件基于第二合成信号发光。

根据本公开的第一实施例，存在具有内置于其中的处理信号的信号处理 设备的电子设备。该信号处理设备包括：信号合成单元，生成由图像信号配置的第一合成信号以使得用于显示图像的第一发光元件发光和生成假像素信号以使得用于测量亮度的第二发光元件发光；转换单元，将生成的第一合成信号转换为第二合成信号以使得仅第一发光元件和第二发光元件中的第一发光元件以同一亮度发光而无论第一发光元件的退化程度如何；和发光控制单元，使得第一发光元件第二发光元件基于第二合成信号发光。

根据本发明的第一实施例，生成由图像信号配置以使得用于显示图像的第一发光元件发光的第一合成信号和使得用于测量亮度的第二发光元件发光的假像素信号。该生成的第一合成信号被转换为第二合成信号以使得仅第一发光元件和第二发光元件中的第一发光元件以同一亮度发光，而无论第一发光元件的退化程度如何。基于第二合成信号使得第一发光元件和第二发光元件发光。

根据本公开的第二实施例，提供了信号处理设备，包括：信号合成单元，产生由图像信号配置的第一合成信号以使得用于显示图像的第一发光元件发光，并产生假像素信号以使得用于测量亮度的第二发光元件发光；转换单元，将生成的第一合成信号转换为第二合成信号以根据第一发光元件的发光时间，增大流到第一发光元件和第二发光元件中的仅第一发光元件的电流的量；和发光控制单元，使得第一发光元件和第二发光元件基于第二合成信号发光。

根据本发明的第二方面，生成由图像信号配置以使得用于显示图像的第一发光元件发光的第一合成信号和使得用于测量亮度的第二发光元件发光的假像素信号。该生成的第一合成信号被转换为第二合成信号以根据第一发光元件的发光时间增大流到第一发光元件和第二发光元件中的仅第一发光元件的电流的量。基于第二合成信号使得第一发光元件和第二发光元件发光。

技术效果

根据本发明，可以防止在显示屏幕出现老化。

附图说明

图1是图示作为第一实施例的显示装置的配置实例的框图。

图2是图示由图1的信号合成单元执行的合成处理的实例的示图。

图3是图示由合成处理获得的合成图像的实例的示图。

图4是图示在显示屏幕出现的老化的第一示图。

图5是图示在显示屏幕出现的老化的第二示图。

图6是图示图1的老化校正单元的具体配置实例的框图。

图7图示图6的斜度校正单元的具体配置实例的框图。

图8是图示亮度退化曲线的实例的示图。

图9是图示当计算关注元件的最后斜度时的实例的示图。

图10是图示当估计亮度退化曲线时的实例的示图。

图11是图示图6的灰度校正单元的具体配置实例的框图。

图12是图示当计算偏移量时的实例的示图。

图13是图1的显示单元的前视图。

图14是图示图1的显示单元的具体配置实例的框图。

图15是图示图14的像素电路的发光颜色阵列的实例的框图。

图16是图示图14的像素电路的具体配置实例的示图。

图17是图示图14的像素电路的操作的时序图。

图18是图示由图1的显示装置执行的显示处理的流程图。

图19是图示在图18的步骤S5中的斜度校正处理的细节的流程图。

图20是图示在图18的步骤S6中的灰度校正处理的细节的流程图。

图21是图示在图18的步骤S11中的退化曲线估计处理的细节的流程图。

图22是图示作为第二实施例的显示装置的配置实例的框图。

图23是图示图22的老化校正单元的具体配置实例的框图。

图24图示图23的斜度校正单元的具体配置实例的框图。

图25是图示由图24的校正量生成单元执行的处理的示图。

图26是图示图23的灰度校正单元的具体配置实例的框图。

图27是图示由图22的显示装置执行的显示处理的流程图。

图28是图示在图27的步骤S94中的斜度校正处理的细节的流程图。

图29是图示在图27的步骤S96中的灰度校正处理的细节的流程图。

图30是图示作为第三实施例的显示装置的配置实例的框图。

图31是图示图30的老化校正单元的具体配置实例的框图。

图32是图示当计算偏移量时的实例的另一示图。

图33是图示由图30的显示装置执行的显示处理的流程图。

图34是图示作为第四实施例的显示装置的配置实例的框图。

图35是图示图34的老化校正单元的具体配置实例的框图。

图36是图示使用来自温度传感器的温度的原因的示图。

图37图示图35的斜度校正单元的具体配置实例的框图。

图38是图示亮度退化曲线的实例的另一示图。

图39是图示由图37的退化曲线估计单元估计亮度退化曲线的估计方法的实例的第一示图。

图40是图示由图37的退化曲线估计单元估计亮度退化曲线的估计方法的实例的第二示图。

图41是图示由图34的显示装置执行的显示处理的流程图。

图42是图示在图41的步骤S196中的斜度校正处理的流程图。

图43是图示在图41的步骤S202中的退化曲线估计处理的流程图。

图44是图示作为第五实施例的显示装置的配置实例的框图。

图45是图示由图44的信号合成单元执行的合成处理的实例的示图。

图46是图示由合成处理获得的合成图像的实例的示图。

图47是图示使得有机EL元件发光的一方面的实例的示图。

图48是图示使得有机EL元件发光的一方面的实例的另一示图。

图49是图示提供三个数据驱动器的情况的实例的示图。

图50是图示提供四个数据驱动器的情况的实例的示图。

图51是图44的显示单元的前视图。

图52是图示由图44的显示装置执行的显示处理的流程图。

图53是图示电视接收机的实例的示图。

图54是图示计算机的配置实例的框图。

具体实施方式

将以下面描述的顺序进行以下描述。

1.第一实施例(当仅对于图像信号执行老化校正处理时的实例)

2.第二实施例(当使用斜度校正处理之后的图像信号计算校正量和偏移量时的实例)

3.第三实施例(当对于具有伽马特性的图像信号执行灰度校正处理时的实例)

4.第四实施例(当基于有机EL元件的温度变化估计亮度退化曲线时的 实例)

5.第五实施例(当在显示图像的上侧或者下侧合成假图像时的实例)

6.修改

<1.第一实施例>

[显示装置1的配置实例]

图1图示作为第一实施例的显示装置1的配置实例。

显示装置1包括假像素信号生成单元21、信号合成单元22、老化校正单元23、数据驱动器24、显示单元25和控制单元26。

这里，显示单元25例如是使用有机电致发光(EL)元件作为发光元件的有源矩阵型显示器。显示单元25具有显示屏幕25a以显示与来自外部(例如，天线等)的图像信号对应的显示图像。

另外，显示单元25具有内置于其中的有机EL元件(以下，称为用于显示的有机EL元件)，该有机EL元件发光以在显示屏幕25a上显示该显示图像。将在以下参考图15描述该用于显示的有机EL元件。然而，该用于显示的有机EL元件作为显示图像的子像素发光。

另外，显示单元25具有有机EL元件(以下，称为用于测量的有机EL元件)和亮度传感器25b，该用于测量的有机EL元件发光以使得由亮度传感器25b测量亮度，该亮度传感器25b测量用于测量的有机EL元件的亮度。该用于测量的有机EL元件发出的光***漏到显示单元25的外部。

假像素信号生成单元21生成假像素信号以使得内置于显示单元25的用于测量的有机EL元件发光并向信号合成单元22提供假像素信号。

使得该用于显示的有机EL元件发光的图像信号从外部提供到信号合成单元22。

信号合成单元22合成来自外部的图像信号和来自假像素信号生成单元21的假像素信号，并将作为其结果获得的合成信号提供到老化校正单元23。

接下来，图2图示用于由信号合成单元22合成图像信号和假像素信号的合成处理的实例。

在图2的左侧，图示了通过显示单元25中包括的用于显示的有机EL元件根据图像信号的发光在显示屏幕25a上显示的显示图像41的实例。

另外，在图2的右侧，图示了通过显示单元25中包括的用于测量的有机EL元件根据假像素信号的发光而获得的假图像42的实例。该假图像42不显 示在显示屏幕25a上，且仅用于亮度传感器25b的亮度测量。

该信号合成单元22合成图像信号和假像素信号以使得假图像42布置在显示图像41的右侧，例如，如图2所示。

由此，该信号合成单元22合成图像信号和假像素信号以生成示出如图3所示的合成图像43的合成信号，并向老化校正单元23提供该合成信号。

另外，信号合成单元22可以合成图像信号和假像素信号以使得假图像42布置在显示图像41的左侧。在这种情况下，在显示单元25中，在显示屏幕25a的左侧提供亮度传感器25b。

老化校正单元23执行用于校正来自信号合成单元22的合成信号中包括的图像信号(显示图像41)并防止在显示单元25的显示屏幕25a出现老化的老化校正处理。将参考图4和图5具体描述在显示屏幕25a出现的老化。

也就是说，例如，老化校正单元23基于来自亮度传感器25的测量结果执行图像信号的老化校正处理，并将包括老化校正处理之后的图像信号的合成信号提供到数据驱动器24。将参考图6描述老化校正单元23的细节。

数据驱动器24对于来自老化校正单元23的合成信号执行模拟/数字(AD)转换，并将AD转换之后的合成信号提供到显示单元25。

显示单元25使得用于显示的有机EL元件基于来自数据驱动器24的合成信号中包括的图像信号发光。由此，与图像信号对应的显示图像41显示在显示屏幕25a上。

另外，显示单元25使得用于测量的有机EL元件基于来自数据驱动器24的合成信号中包括的假像素信号发光。

靠近该用于测量的有机EL元件提供亮度传感器25b，且亮度传感器25b测量用于测量的有机EL元件的亮度并向老化校正单元23提供测量结果。

将参考图13到图17描述显示单元25的细节。

控制单元26控制假像素信号生成单元21、信号合成单元22、老化校正单元23、数据驱动器24、显示单元25和亮度传感器25b。

同时，用于显示的有机EL元件根据从数据驱动器24输入到显示单元25的图像信号以亮度L发光。

也就是说，例如，根据由图像信号示出的信号电位Vsig的电流I流到用于显示的有机EL元件，且用于显示的有机EL元件以亮度L发光。

这里，使用流到有机EL元件的电流I和示出当电流I被转换为亮度L 时的转换效率(亮度效率)的斜度α，亮度L由以下公式(1)表示。

L＝α×I···(1)

根据有机EL元件预先确定斜度α，且当斜度α大时，有机EL元件可以有效地将电流I转换为亮度L。

另外，使用由图像信号示出的信号电位Vsig，亮度L可以由以下公式(2)表示。

L＝α×β1×Vsig²···(2)

另外，α×β1示出当信号电位Vsig2被转换为亮度L时的转换效率。

另外，使用与电流I对应的灰度k和斜度α，亮度L可以由以下公式(3)表示。

L＝α×β2×k^2.2···(3)

另外，α×β2示出当k^2.2被转换为亮度L时的转换效率。

同时，该用于测量的有机EL元件具有与用于显示的有机EL元件相同的配置。该用于测量的有机EL元件以根据从数据驱动器24输入到显示单元25的假像素信号的亮度发光。

如果由假像素信号示出的信号电位设置为Vsig，则类似于用于显示的有机EL的亮度L，用于测量的有机EL元件的亮度可以由上述公式(1)到(3)表示。为此，仅描述用于显示的有机EL元件的亮度L且省略用于测量的有机EL元件的亮度的描述。

在用于显示的有机EL元件中，亮度L可能由于有机EL元件根据时间经过的退化而减小，无论电流I是否相同。减小之后的亮度L′可以由与公式(1)对应的以下公式(4)表示。

L’＝α’×I···(4)

也就是说，例如，用于显示的有机EL元件根据流到用于显示的有机EL元件的电流的量值或者电流已经流动的时间长度而退化。另外，如在公式(4)中说明的斜度α降低到斜度α’(＜α)的转换效率(斜度)的退化可能根据用于显示的有机EL元件的退化而出现。

该用于显示的有机EL元件与流到有机EL元件的电流的量值和电流已经流动的时间成正比地退化。另外，当用于显示的有机EL元件的退化大时斜度α降低到小斜度α’。

转换效率的退化可以由关于与公式(2)对应的如在下面公式(5)说明 的信号电位Vsig的公式表示。

L’＝α’×β1×Vsig²···(5)

另外，转换效率的退化可以由关于与公式(3)对应的如在下面公式(6)中说明的灰度k的公式表示。

L’＝α’×β2×k^2.2···(6)

例如，在用于显示的有机EL元件中，流到用于显示的有机EL元件的电流I减小到电流I＝(I-ΔI)的电流的退化可能根据用于显示的有机EL元件的退化而出现。

电流退化量ΔI与流到用于显示的有机EL元件的电流的量值和电流已经流动的时间成正比地增大。

电流的退化等效于图像信号的信号电位Vsig降低到信号电位Vsig＝(Vsig-ΔVsig)。另外，电流的退化等效于灰度k降低到灰度k＝(k-Δk)。

在用于显示的有机EL元件中，如上所述，由于斜度α降低的转换效率的退化和电流I降低的电流的退化，所以亮度L可能减小到亮度L’。由此，可能在显示屏幕25a上出现紧接在之前显示的图像出现仍保持的所谓老化现象。

[关于老化]

接下来，将参考图4和图5具体描述在显示屏幕25a出现的老化。

图4图示显示屏幕25a的实例。在图4的显示屏幕25a上，显示示出黑色图像的黑色图像61a，并显示使用黑色图像61a作为背景示出白色字符“BS”的白色图像61b(在该图中，字符由黑色圆形围绕)。

例如，在显示屏幕25a中，电流I₁流到用于显示的有机EL元件中的发光以显示黑色图像61a的第一有机EL元件，且第一有机EL元件以亮度L₁(例如，亮度值0)发光。

由此，在已经通过供应电流I₁发光的电流供应之后的第一有机EL元件中，由于电流I₁的供应而出现效率退化和电流退化。因此，效率退化和电流退化已经出现的第一有机EL元件的亮度L₁’由以下公式(4’)表示。

L₁’＝α₁’×(I–ΔI₁)···(4’)

另外，例如，在显示屏幕25a中，电流I₂(＞I₁)流到用于显示的有机EL元件中发光以显示白色图像61b的第二有机EL元件，且第二有机EL元件以亮度L₂(＞L₁)(例如，亮度值255)发光。

由此，在已经通过供应电流I₂发光的电流供应之后的第二有机EL元件中，由于电流I₂的供应而出现效率退化和电流退化。因此，效率退化和电流退化已经出现的第二有机EL元件的亮度L₂’由以下公式(4”)表示。

L₂’＝α₂’×(I–ΔI₂)···(4”)

小于流到第二有机EL元件的电流I＝I₂的电流I＝I₁流到第一有机EL元件，如公式(4’)说明的。

因此，在第一有机EL元件出现的效率退化和电流退化小于在第二有机EL元件出现的效率退化和电流退化。

为此，公式(4’)的斜度α₁’变得大于公式(4”)的斜度α₂’，且公式(4’)的电流退化量ΔI₁变得小于公式(4”)的电流退化量ΔI₂。

因此，当相同电流I流到第一有机EL元件和第二有机EL元件时，第一有机EL元件的亮度L₁’变得大于第二有机EL元件的亮度L₂’。

接下来，图5图示当紧接在显示黑色图像61a和白色图像61b之后示出灰色图像的灰色图像62a显示在显示屏幕25a上时的实例。

在图5的A中，图示了灰色图像62a。该灰色图像62a由多个像素配置，且配置灰色图像62a的每一像素的亮度变为与灰色对应的相同亮度。

在图5的B中，图示了当紧接在显示黑色图像61a和白色图像61b之后显示灰色图像62a时的显示屏幕25a。

为了在显示屏幕25a上显示灰色图像62a，与灰色图像62a的亮度(与灰色对应的相同亮度)对应的相同电流I流到由第一有机EL元件和第二有机EL元件配置的用于显示的有机EL元件。

为此，如上所述，第一有机EL元件的亮度L₁’变得大于第二有机EL元件的亮度L₂’。

因此，为了在显示屏幕25a上显示灰色图像62a，第一有机EL元件以亮度L₁’发光且第二有机EL元件以小于亮度L₁’的亮度L₂’发光。

另外，第二有机EL元件是发光以显示示出白色字符“BS”的白色图像61b的发光元件，如图4所示。

因此，如图5的B所示，在显示屏幕25a上的右上部分出现紧接在之前显示的字符“BS”出现保持的老化现象。

也就是说，由于第一有机EL元件的亮度L₁’和第二有机EL元件的亮度L₂’的亮度差，紧接在之前显示的字符“BS”可能出现保持在第二有机EL元件 发光的显示屏幕25a上的右上部分上。

[老化校正单元23的细节]

接下来，图6图示图1的老化校正单元23的具体配置实例。

老化校正单元23包括斜度校正单元71、灰度校正单元72、检测单元73和保存单元74。

来自信号合成单元22的合成信号C_n(n＝1、2、…)提供到斜度校正单元71。这里，合成信号C_n示出第n个供应的合成信号(合成图像))。

斜度校正单元71从保存单元74读取紧接在来自信号合成单元22的合成信号C_n中包括的图像信号S_n之前输入的图像信号S_n-1的信号电位(Vsig)_n-1。

虽然以下将要描述，但是从信号合成单元22提供到斜度校正单元71的合成信号C_n-1中包括的图像信号S_n-1的信号电位(Vsig)_n-1保存在保存单元74中。

斜度校正单元71基于从保存单元74读取的信号电位(Vsig)_n-1和来自亮度传感器25b的亮度测量结果，计算校正量从而以初始斜度α校正由效率退化减小的斜度α’。

另外，斜度校正单元71将来自信号合成单元22的合成信号C_n中包括的图像信号S_n的信号电位(Vsig)_n乘以计算出的校正量斜度校正单元71将包括作为其乘法结果获得的信号电位的图像信号S_n的图像信号C_n供应到灰度校正单元72。

灰度校正单元72从保存单元74读取图像信号S_n的信号电位(Vsig)_n。

另外，灰度校正单元72基于从保存单元74读取的信号电位(Vsig)_n和来自亮度传感器25b的亮度测量结果，计算与偏移量Δk对应的(ΔVsig)_n，从而以初始灰度k校正由电流退化减小的灰度(k-Δk)。

另外，灰度校正单元72将与偏移量Δk对应的(ΔVsig)_n与来自斜度校正单元71的合成信号C_n中包括的图像信号S_n的信号电位 ${\left({\mathrm{Vsig}}^{,}\right)}_n=\{\&PlusMinus;\sqrt{\mathrm{\&alpha;}/{\mathrm{\&alpha;}}^{\&prime;}}\&times;{\left(\mathrm{Vsig}\right)}_n\}$ 的(Vsig)_n相加。

灰度校正单元72将作为其加法结果获得的包括信号电位 ${\left({\mathrm{Vsig}}^{,,}\right)}_n=[\&PlusMinus;\sqrt{\mathrm{\&alpha;}/{\mathrm{\&alpha;}}^{\&prime;}}\&times;\{{\left(\mathrm{Vsig}\right)}_n+{\left(\mathrm{\&Delta;Vsig}\right)}_n\left\}\right]$ 的图像信号S_n的合成信号C_n供应到数据驱动器24。

当效率退化或者电流退化提高时，从灰度校正单元72输出到数据驱动器24的信号电位(Vsig”)_n的绝对值增大。

另外，I＝β1×Vsig²从上述公式(4)和(5)导出，且流到用于显示的有机EL元件的电流I(电流量)根据信号电位(Vsig”)_n的量值(绝对值)而增大。

因此，流到用于显示的有机EL元件的电流I在效率退化或者电流退化提高时增大。

这里，如果在信号电位中考虑电流退化的电流退化量(ΔVsig)_n，则施加到具有用于显示的有机EL元件内置于其中的像素电路184(图14)的信号电位(Vsig”’)_n变为 $[\&PlusMinus;\sqrt{\mathrm{\&alpha;}/{\mathrm{\&alpha;}}^{\&prime;}}\&times;\{{\left(\mathrm{Vsig}\right)}_n+{\left(\mathrm{\&Delta;Vsig}\right)}_n-{\left(\mathrm{\&Delta;Vsig}\right)}_n\left\}\right]=[\&PlusMinus;\sqrt{\mathrm{\&alpha;}/{\mathrm{\&alpha;}}^{\&prime;}}\&times;{\left(\mathrm{Vsig}\right)}_n].$

另外，如果信号电位代入公式(5)的信号Vsig，则获得 $L^{,}={\mathrm{\&alpha;}}^{,}\&times;\mathrm{\&beta;}1\&times;[\&PlusMinus;\sqrt{\mathrm{\&alpha;}/{\mathrm{\&alpha;}}^{\&prime;}}\&times;{\left\{{\left(\mathrm{Vsig}\right)}_n\right\}]}^2={\mathrm{\&alpha;}}^{,}\&times;\mathrm{\&beta;}1\&times;(\mathrm{\&alpha;}/{\mathrm{\&alpha;}}^{,})\&times;{\left\{{\left(\mathrm{Vsig}\right)}_n\right\}]}^2=\mathrm{\&alpha;}$ $\&times;\mathrm{\&beta;}1\&times;{\left\{{\left(\mathrm{Vsig}\right)}_n\right\}}^2.$ 另外，由公式(5)和(6)获得 $L^{,}=\mathrm{\&alpha;}\&times;\mathrm{\&beta;}1\&times;{\left\{{\left(\mathrm{Vsig}\right)}_n\right\}}^2=\mathrm{\&alpha;}\&times;$ $\mathrm{\&beta;}2\&times;{\left\{k_n\right\}}^2.$

因此，通过以初始斜度α校正斜度α’和以初始灰度k_n校正灰度(k_n-Δk_n)来获得从灰度校正单元72输出到数据驱动器24的图像信号S_n。

检测单元73基于来自信号合成单元22的合成信号C_n中包括的图像信号S_n检测图像信号S_n的信号电位(Vsig)_n，供应该信号电位到保存单元74，并由保存单元保存该信号电位。

该保存单元74保存来自检测单元73的信号电位(Vsig)_n。

[斜度校正单元71的细节]

接下来，图7图示图6的斜度校正单元71的具体配置实例。

斜度校正单元71包括校正量生成单元101、校正量相乘单元102、斜度保存单元103、退化曲线保存单元104和退化曲线估计单元105。

图1的控制单元26顺序地关注用于显示的有机EL元件并设置被关注的有机EL元件为关注元件。

校正量生成单元101从斜度保存单元103读取在生成先前校正量时，即，在生成图像信号S_n-1的校正量时计算出的关注元件的斜度α’。

虽然以下将要描述，但是由校正量生成单元101计算出的关注元件的斜度α’保存在斜度保存单元103中。

另外，校正量生成单元101从保存单元74读取由图像信号S_n-1示出并施加到具有内置于其中的关注元件的像素电路184的信号电位(Vsig)_n-1(以下， 简单地称为关注元件的信号电位(Vsig)_n-1)。

校正量生成单元101基于从保存单元74读取的关注元件的信号电位(Vsig)_n-1，计算流到关注元件的电流I_n-1。

另外，校正量生成单元101从退化曲线保存单元104读取退化曲线保存单元104中保存的多个亮度退化曲线当中与流到关注元件的电流I_n-1相关联的亮度退化曲线。

校正量生成单元101基于从斜度保存单元103读取的斜度α’和从退化曲线保存单元104读取的亮度退化曲线，计算关注元件中的最新斜度α’。

另外，校正量生成单元101供应最新斜度α’到斜度保存单元103，设置最新斜度为关注元件的斜度α’，并通过重写保存(存储)最新斜度。

另外，校正量生成单元101基于关注元件中的最新斜度α’生成(计算)校正量并供应该校正量到校正量相乘单元102。将参考图8和图9具体描述由校正量生成单元101生成校正量的方法。

校正量相乘单元102将由来自信号合成单元22的合成信号C_n中包括的图像信号S_n示出的每一用于显示的有机EL元件的信号电位(Vsig)_n当中关注元件的信号电位(Vsig)_n乘以来自校正量生成单元101的校正量

图像信号S_n示出施加到具有内置于其中的用于显示的有机EL元件的像素电路的信号电位(Vsig)_n。

校正量相乘单元102将由相乘获得的斜度α’的校正之后的信号电位作为关注元件的信号电位(Vsig’)_n供应到灰度校正单元72。

斜度保存单元103保存从校正量生成单元101供应的关注元件的斜度α’。另外，斜度保存单元103预先保存作为用于显示的有机EL元件的关注元件的斜度α(减小之前的斜度α)。

因此，校正量生成单元101从斜度保存单元103读取关注元件的斜度α’＝α，直到通过重写更新斜度保存单元103中保存的斜度α为止。

退化曲线保存单元104保存来自退化曲线估计单元105的亮度退化曲线。

退化曲线估计单元105具有内置于其中的在图中未示出的存储器，且在存储器中预先保存当估计示出斜度减小程度的亮度退化曲线时变为基础的亮度退化基础曲线。

亮度退化基础曲线示出分别内置于多个显示装置1的多个有机EL元件中的平均亮度退化曲线。另外，使用有机EL元件基于实验结果预先产生该 亮度退化基础曲线。这与以下将要描述的实施例中是相同的。

退化曲线估计单元105基于来自亮度传感器25b的亮度测量结果和在图中未示出的存储器中预先保存的亮度退化基础曲线，估计示出由于效率退化用于显示的有机EL元件的亮度减小的亮度退化曲线。

另外，退化曲线估计单元105估计内置于显示单元25的用于显示的有机EL元件的亮度退化曲线，因为在内置于每一显示装置1的显示单元25中的有机EL元件的亮度退化曲线存在变化。

退化曲线估计单元105将作为其估计结果获得的亮度退化曲线供应到退化曲线保存单元104，并由退化曲线保存单元保存该亮度退化曲线。

将参考图10具体描述由退化曲线估计单元105估计亮度退化曲线的方法。

[由校正量生成单元101执行的校正量的生成]

接下来，将参考图8和图9描述当校正量生成单元101生成校正量时的实例。

图8图示由退化曲线估计单元105估计并保存在退化曲线保存单元104中的亮度退化曲线的实例。

在图8中，横轴示出时间且纵轴示出根据时间经过而减小的斜度。

在图8中，亮度退化曲线120示出当在斜度是α的情况下使得有机EL元件以与100nit对应的亮度L发光的电流I(L＝100nit)流到有机EL元件时的斜度减小程度。

另外，亮度退化曲线121示出当在斜度是α的情况下使得有机EL元件以与200nit对应的亮度L发光的电流I(L＝200nit)流到有机EL元件时的斜度减小程度。

另外，亮度退化曲线122示出当在斜度是α的情况下使得有机EL元件以与400nit对应的亮度L发光的电流I(L＝400nit)流到有机EL元件时的斜度减小程度。

这里，单位[nit]示出当作为一个平方米的平面的光源(有机EL元件)的光强度在垂直于一个平方米的平面的方向上是1cd(candela)时在该方向上的亮度。

校正量生成单元101基于从保存单元74读取的关注元件的信号电位(Vsig)_n-1，计算流到关注元件的电流I_n-1。另外，校正量生成单元101从退化 曲线保存单元104读取退化曲线保存单元104中保存的多个亮度退化曲线(例如，亮度退化曲线120到122)当中与计算出的电流I_n-1对应的亮度退化曲线。

也就是说，例如，当计算出的电流I_n-1是电流I(L＝200nit)时，校正量生成单元101从退化曲线保存单元104读取与电流I(L＝200nit)对应的亮度退化曲线121。

另外，校正量生成单元10从斜度保存单元103读取关注元件的斜度α’。

另外，校正量生成单元101基于从斜度保存单元103读取的关注元件的斜度α’和从退化曲线保存单元104读取的亮度退化曲线，计算关注元件的最新斜度α’。

接下来，图9图示当校正量生成单元101基于从斜度保存单元103读取的关注元件的斜度α’和从退化曲线保存单元104读取的亮度退化曲线计算关注元件的最新斜度α’时的实例。

例如，校正量生成单元101使用从退化曲线保存单元104读取的亮度退化曲线121，基于从斜度保存单元103读取的关注元件的斜度α’＝α和电流I_n-1＝I(L＝200nit)已经流到关注元件的时间t1，计算关注元件的最新斜度α’。

也就是说，例如，当校正目标的图像信号S_n中关注元件的斜度α’是与点P0对应的P0(α’)＝α时，校正量生成单元101将亮度退化曲线121上的点P0移动到经过电流I_n-1＝I(L＝200nit)已经流到关注元件的时间t1之后的点P1。

另外，校正量生成单元101计算与亮度退化曲线121上的点P1对应的斜度P1(α’)＝α₁’作为关注元件的最新斜度α’＝α₁’。该斜度α₁’示出当对于时间t1电流I_n-1＝I(L＝200nit)已经流到关注元件时的斜度，即，从关注元件的斜度是α’＝α的状态中通过供应电流I_n-1的退化之后的斜度α’＝α₁’。

校正量生成单元101将关注元件的最新斜度α’＝P1(α₁’)＝α₁’供应到斜度保存单元103并通过重写保存(存储)最新斜度。

另外，校正量生成单元101基于关注元件的最新斜度α’＝α₁’生成(计算)校正量并将该校正量供应到校正量相乘单元102。

另外，校正量相乘单元102将来自校正量生成单元101的校正量乘以关注元件的信号电位(Vsig)_n并以初始斜度α校正关注元件的斜度α’＝α₁’。

图1的控制单元26将全体用于显示的有机EL元件设置为关注元件，并在斜度校正单元71中执行用于将由图像信号S_n示出的每一用于显示的有机 EL元件的信号电位(Vsig)_n转换为信号电位(Vsig’)_n的处理。

如果下一图像信号S_n+1从信号合成单元22提供到斜度校正单元71，则图1的控制单元26顺序地再次关注用于显示的有机EL元件并设置被关注的有机EL元件为关注元件。

在这种情况下，校正量生成单元101从保存单元74读取关注元件的信号电位(Vsig)_n。另外，校正量生成单元101基于从保存单元74读取的关注元件的信号电位(Vsig)_n，计算流到关注元件的电流In。

另外，校正量生成单元101从退化曲线保存单元104读取退化曲线保存单元104中保存的多个亮度退化曲线当中与计算出的电流I_n对应的亮度退化曲线。

也就是说，例如，当计算出的电流I_n是电流I(L＝200nit)时，校正量生成单元101从退化曲线保存单元104读取与电流I(L＝200nit)对应的亮度退化曲线121。

另外，校正量生成单元101从斜度保存单元103读取关注元件的斜度α’＝α₁’。

另外，校正量生成单元101基于从斜度保存单元103读取的关注元件的斜度α’＝α₁’和从退化曲线保存单元104读取的亮度退化曲线121，计算关注元件的最新斜度α’＝α₂’。

也就是说，例如，当在校正之前的斜度α’是与点P1对应的P1(α’)＝α₁’时，校正量生成单元101将亮度退化曲线121上的点P1移动到经过时间t2之后的点P2，对于该时间t2，电流In＝I(L＝200nit)已经流到关注元件。

另外，校正量生成单元101将与亮度退化曲线121上的点P2对应的斜度P2(α’)＝α₂’计算为关注元件的最新斜度α’＝α₂’。该斜度α₂’示出当对于时间t2电流I_n-1＝I(L＝200nit)已经流到关注元件时的斜度，即，从关注元件的斜度是α’＝α₁’的状态通过供应电流I_n-1的退化之后的斜度α’＝α₂’。

校正量生成单元101将关注元件的最新斜度α’＝P2(α’)＝α₂’供应到斜度保存单元103并通过重写保存(存储)最新斜度。

另外，校正量生成单元101基于关注元件的最新斜度α’＝α₂’生成(计算)校正量并供应该校正量到校正量相乘单元102。

另外，校正量相乘单元102将来自校正量生成单元101的校正量乘以关注元件的信号电位(Vsig)_n-1并以初始斜度α校正关注元件的斜度 α’＝α₂’。

图1的控制单元26将全体用于显示的有机EL元件设置为关注元件，并在斜度校正单元71中执行用于将由图像信号S_n+1示出的信号电位(Vsig)_n+1转换为信号电位(Vsig’)_n+1的处理。

如果下一图像信号S_n+2从信号合成单元22提供到斜度校正单元71，则图1的控制单元26顺序地再次关注用于显示的有机EL元件并设置被关注的有机EL元件为关注元件。

在这种情况下，校正量生成单元101从保存单元74读取关注元件的信号电位(Vsig)_n+1。另外，校正量生成单元101基于从保存单元74读取的关注元件的信号电位(Vsig)_n+1，计算流到关注元件的电流I_n+1。

另外，校正量生成单元101从退化曲线保存单元104读取退化曲线保存单元104中保存的多个亮度退化曲线当中与计算出的电流I_n+1对应的亮度退化曲线。

也就是说，例如，当计算出的电流I_n+1是电流I(L＝400nit)时，校正量生成单元101从退化曲线保存单元104读取与电流I(L＝400nit)对应的亮度退化曲线122。

另外，校正量生成单元101从斜度保存单元103读取关注元件的斜度α’＝α₂’。

另外，校正量生成单元101基于从斜度保存单元103读取的关注元件的斜度α’＝α₂’和从退化曲线保存单元104读取的亮度退化曲线122，计算关注元件的最新斜度α’＝α₃’。

也就是说，例如，当关注元件的斜度α’是与点P2对应的P2(α’)时，校正量生成单元101将与斜度α₂’对应的亮度退化曲线122上的点P1’移动到在经过时间t3之后的点P2’，对于该时间t3，电流I_n+1＝I(L＝400nit)已经流到关注元件。

另外，校正量生成单元101将与亮度退化曲线122上的点P2’对应的斜度P2(α’)＝α₃’计算为关注元件的最新斜度α’＝α₃’。斜度α₃’示出当对于时间t3电流I_n+1＝I(L＝400nit)已经流到关注元件时的斜度，即，从关注元件的斜度是α’＝α₂’的状态中通过供应电流I_n+1的退化之后的斜度α’＝α₃’。

校正量生成单元101将关注元件的最新斜度α’＝P2’(α’)＝α₃’供应到斜度保存单元103并通过重写保存(存储)最新斜度。

另外，校正量生成单元101基于关注元件的最新斜度α’＝α₃’生成(计算)校正量并供应该校正量到校正量相乘单元102。

另外，校正量相乘单元102将来自校正量生成单元101的校正量与关注元件的信号电位(Vsig)_n+2相乘，并以初始斜度α校正关注元件的斜度α’＝α₃’。

另外，斜度校正单元71的校正量相乘单元102基于来自校正量生成单元101的校正量仅校正合成信号C_n中包括的图像信号S_n。

然而，校正量相乘单元102可以类似于图像信号S_n地校正合成信号C_n中包括的假像素信号。

在这种情况下，在校正量生成单元101中生成的假像素信号的校正量成为在斜度校正单元71实质上不校正斜度的校正量(例如，值1)。

为此，校正量相乘单元102基于来自校正量生成单元101的假像素信号的校正量校正合成信号C_n中包括的假像素信号，并将与校正之前的假像素信号相同的假像素信号作为校正之后的假像素信号供应到灰度校正单元72。

[关于亮度退化曲线的估计方法]

接下来，图10图示当退化曲线估计单元105基于来自亮度传感器25b的亮度测量结果估计亮度退化曲线时的实例。

在图10中，横轴示出时间且纵轴示出斜度。

首先，将描述在退化曲线估计单元105中估计亮度退化曲线121的方法，该亮度退化曲线121示出电流I(L＝200nit)流到的用于测量的有机EL元件的亮度减小。

亮度退化曲线121示出用于显示的有机EL元件的亮度减小且当由校正量生成单元101生成校正量时使用。这是基于在与用于显示的有机EL元件相同的环境下制造用于测量的有机EL元件且用于测量的有机EL元件具有与用于显示的有机EL元件相同的性质。

例如，通过测量电流I(L＝200nit)流到的用于测量的有机EL元件的亮度而获得的亮度L(t,I(L＝200nit))从亮度传感器25b提供到退化曲线估计单元105。

这里，亮度L(t,I(L＝200nit))示出当从亮度传感器25b的测量开始经过时间t时测量的亮度。

退化曲线估计单元105通过基于公式4导出的公式α (t,I(L＝200nit))’＝L(t,I(L＝200nit))/I(L＝200nit))，基于在所述图中未示出的内置存储器中预先保存的电流的值I(L＝200nit)和来自亮度传感器25b的测量结果L(t,I(L＝200nit))，计算对于时间t的斜度α(t,I(L＝200nit))’。

另外，退化曲线估计单元105在所述图中未示出的内置存储器中预先保存亮度退化基础曲线141。亮度退化基础曲线141是示出电流I(L＝200nit)流到其的有机EL元件的亮度减小的平均亮度退化曲线。例如，亮度退化基础曲线141成为当估计亮度退化曲线121时的基础。

另外，基于通过测量假定为内置于显示单元25的任何有机EL元件的亮度而获得的测量结果预先地生成亮度退化基础曲线141，且亮度退化基础曲线141保存在退化曲线估计单元105中在所述图中未示出的内置存储器中。这与以下将要描述的其他亮度退化基础曲线相同。

退化曲线估计单元105基于计算出的斜度α(t,I(L＝200nit))’和预先保存的亮度退化基础曲线141估计当电流I(L＝200nit)流动时用于测量的有机EL元件的亮度退化曲线121。

也就是说，例如，退化曲线估计单元105计算直到当获得斜度α(0,I(L＝200nit))’＝α时获得斜度α(T,I(L＝200nit))’为止的时间Δt1’，如图10所示。

另外，例如，退化曲线估计单元105在亮度退化基础曲线141中计算直到当获得斜度α(0,I(L＝200nit))’＝α时获得斜度α(T,I(L＝200nit))’为止的时间Δt1，如图10所示。

另外，退化曲线估计单元105基于计算出的时间Δt1’和Δt1，计算示出亮度退化基础曲线141的斜度α(t,I(L＝200nit))’的减速的加速系数Δt1’/Δt1。

退化曲线估计单元105将计算出的加速系数Δt1’/Δt1乘以示出亮度退化基础曲线141的公式A(t,I(L＝200nit))’以估计亮度退化曲线121，将亮度退化曲线提供到退化曲线保存单元104，并由退化曲线保存单元保存亮度退化曲线。

也就是说，例如，退化曲线估计单元105将示出通过相乘获得的新公式(Δt1’/Δt1)×A(t,I(L＝200nit))的亮度退化曲线121提供到退化曲线保存单元104并以与电流I(L＝200nit)的值相关联的形式，由退化曲线保存单元保存亮度退化曲线。

接下来，将描述在退化曲线估计单元105中估计亮度退化曲线122的方 法，该亮度退化曲线122示出电流I(L＝400nit)流到的用于测量的有机EL元件的亮度减小。亮度退化曲线122示出用于显示的有机EL元件的亮度减小且当由校正量生成单元101生成校正量时使用。

例如，通过测量电流I(L＝400nit)流到的用于测量的有机EL元件的亮度而获得的亮度L(t,I(L＝400nit))从亮度传感器25b提供到退化曲线估计单元105。

这里，亮度L(t,I(L＝400nit))示出当从亮度传感器25b的测量开始经过时间t时测量的亮度。

退化曲线估计单元105通过基于公式4导出的公式α(t,I(L＝400nit))’＝L(t,I(L＝400nit))/I(L＝400nit))，基于在所述图中未示出的内置存储器中预先保存的电流的值I(L＝400nit)和来自亮度传感器25b的测量结果L(t,I(L＝400nit))，计算对于时间t的斜度α(t,I(L＝400nit))’。

另外，退化曲线估计单元105在所述图中未示出的内置存储器中预先保存亮度退化基础曲线142。亮度退化基础曲线142是示出电流I(L＝400nit)流到其的有机EL元件的亮度减小的平均亮度退化曲线。例如，亮度退化基础曲线142成为当估计亮度退化曲线122时的基础。

退化曲线估计单元105基于计算出的斜度α(t,I(L＝400nit))’和预先保存的亮度退化基础曲线142估计当电流I(L＝400nit)流动时用于测量的有机EL元件的亮度退化曲线122。

也就是说，例如，退化曲线估计单元105计算直到当获得斜度α(0,I(L＝400nit))’＝α时获得斜度α(T,I(L＝400nit))’为止的时间Δt2’，如图10所示。

另外，例如，退化曲线估计单元105在亮度退化基础曲线142中计算直到当获得斜度α(0,I(L＝400nit))’＝α时获得斜度α(T,I(L＝400nit))’为止的时间Δt2，如图10所示。

另外，退化曲线估计单元105基于计算出的时间Δt2’和Δt2，计算示出亮度退化基础曲线142的斜度α(t,I(L＝400nit))’的减速的加速系数Δt2’/Δt2。

退化曲线估计单元105将计算出的加速系数Δt2’/Δt2乘以示出亮度退化基础曲线142的公式A(t,I(L＝400nit))’以估计亮度退化曲线122，将亮度退化曲线提供到退化曲线保存单元104，并由退化曲线保存单元保存亮度退化曲线。

也就是说，例如，退化曲线估计单元105将示出通过相乘获得的新公式(Δt2’/Δt2)×A(t,I(L＝400nit))的亮度退化曲线122提供到退化曲线保存单元104并以与电流I(L＝400nit)的值相关联的形式，由退化曲线保存单元保存亮度退化曲线。

另外，退化曲线估计单元105在所述图中未示出的内置存储器中预先保存多个亮度退化基础曲线(例如，亮度退化基础曲线141和142)。

然而，当退化曲线估计单元105对于多个不同电流I(L＝Xnit)中的每一个(X是任何正整数)估计电流I(L＝Xnit)流到其的用于测量的有机EL元件的亮度退化曲线时，需要在内置存储器中保存与多个不同电流I(L＝Xnit)的数目对应的数目的亮度退化基础曲线。

在这种情况下，需要根据亮度退化基础曲线的数目增大存储器的存储容量。

因此，在退化曲线估计单元105中，多个亮度退化基础曲线的任何亮度退化基础曲线可以保存为即使估计任何亮度退化曲线时也可以使用的主曲线且可以节省存储器的存储容量。

也就是说，例如，当亮度退化基础曲线142在退化曲线估计单元105中在所述图中未示出的存储器中保存为主曲线时，如下估计亮度退化曲线121。

退化曲线估计单元105基于如上所述计算出的斜度α(t,I(L＝200nit))’和用作主曲线的预先存储的亮度退化基础曲线142，估计当电流I(L＝200nit)流动时关于用于测量的有机EL元件的亮度退化曲线121。

也就是说，例如，退化曲线估计单元105计算直到当获得斜度α(0,I(L＝200nit))’＝α时获得斜度α(T,I(L＝200nit))’为止的时间Δt1’，如图10所示。

另外，例如，退化曲线估计单元105在用作主曲线的亮度退化基础曲线142中计算直到当获得斜度α(0,I(L＝200nit))’＝α时获得斜度α(T,I(L＝200nit))’为止的时间Δt3，如图10所示。

另外，退化曲线估计单元105基于计算出的时间Δt1’和Δt3，计算示出亮度退化基础曲线142的斜度α(t,I(L＝200nit))’的减速的加速系数Δt1’/Δt3。

退化曲线估计单元105将计算出的加速系数Δt1’/Δt3乘以示出用作主曲线的亮度退化基础曲线142的公式A(t,I(L＝400nit))以估计亮度退化曲线121，将亮度退化曲线提供到退化曲线保存单元104，并由退化曲线保存单元保存 亮度退化曲线。

也就是说，例如，退化曲线估计单元105将示出通过相乘获得的新公式(Δt1’/Δt3)×A(t,I(L＝400nit))的亮度退化曲线121提供到退化曲线保存单元104，并以与电流I(L＝400nit)的值相关联的形式，由退化曲线保存单元保存亮度退化曲线。

另外，该主曲线不限于亮度退化基础曲线142且可以采用任何亮度退化基础曲线。

[灰度校正单元的细节]

接下来，图11图示图6的灰度校正单元72的具体配置实例。

该灰度校正单元72包括偏移量计算单元161和偏移校正单元162。

亮度测量结果从亮度传感器25b提供到偏移量计算单元161。

偏移量计算单元161从保存单元74读取关注元件的信号电位(Vsig)_n。

另外，偏移量计算单元161基于关注元件的已读取信号电位(Vsig)_n、在所述图中未示出的存储器中预先存储的用于偏移量计算的信息和来自亮度传感器25b的亮度测量结果，计算与关注元件的信号电位(Vsig)_n相加的偏移量(ΔVsig)_n，并将该偏移量提供到偏移校正单元162。

将参考图12具体描述偏移量计算单元161计算偏移量的方法。

偏移校正单元162将来自斜度校正单元71的关注元件的信号电位的(Vsig)_n与来自偏移量计算单元161的偏移量(ΔVsig)_n相加。

偏移校正单元162将作为其相加结果获得的信号电位作为关注元件的信号电位(Vsig”)_n提供到数据驱动器24。

另外，灰度校正单元72的偏移校正单元162基于来自偏移量计算单元161的偏移量，仅校正合成信号C_n中包括的图像信号S_n。

然而，偏移校正单元162可以类似于图像信号S_n地校正合成信号C_n中包括的假像素信号。

在这种情况下，在偏移量计算单元161中计算出的用于假像素信号的偏移量成为在灰度校正单元72中实质上不校正灰度的偏移量(例如，值0)。

为此，偏移校正单元162基于来自偏移量计算单元161的用于假像素信号的偏移量校正合成信号C_n中包括的假像素信号，并将与校正之前的假像素 信号相同的假像素信号作为校正之后的假像素信号供应到数据驱动器24。

[关于偏移量的计算]

接下来，图12图示当图11的偏移量计算单元161计算偏移量时的实例。

在图12中，函数f₁(Vsig)是示出信号电位Vsig与在电流退化之前的电流I的关系的函数。

该函数f₁(Vsig)预先作为用于偏移量计算的信息保存在偏移量计算单元161中在所述图中未示出的存储器中。

另外，基于通过测量假定为内置于显示单元25的有机EL元件的任何有机EL元件的亮度而获得的测量结果预先地生成函数f₁(Vsig)，且函数f₁(Vsig)保存在偏移量计算单元161中在所述图中未示出的内置存储器中。

另外，函数f₁(Vsig)可以基于在显示单元25中包括的用于测量的有机EL元件出现电流的退化之前获得并由亮度传感器25b测量的测量结果由偏移量计算单元161生成，且可以保存在所述图中未示出的内置存储器中。

在图12中，函数g₁(Vsig)是示出信号电位Vsig与在电流退化之后的电流I的关系的函数。

函数g₁(Vsig)由偏移量计算单元161基于来自亮度传感器25b的亮度测量结果而生成。在图12中，横轴示出Vsig且纵轴示出电流(灰度)。

偏移量计算单元161基于来自亮度传感器25b的亮度测量结果，通过最小二乘法计算函数g₁(Vsig)。

另外，偏移量计算单元161从保存单元74读取关注元件的信号电位(Vsig)_n。另外，偏移量计算单元161基于已读取信号电位(Vsig)_n计算电流I_n＝g₁((Vsig)_n)。

另外，偏移量计算单元161基于关注元件的已读取信号电位(Vsig)_n、在所述图中未示出的内置存储器中预先保存的函数f₁(Vsig)和计算出的I_n＝g₁((Vsig)_n)，生成等式I_n＝g((Vsig)_n)＝f₁((Vsig)_n-(ΔVsig)_n)。

另外，偏移量计算单元161对于偏移量(ΔVsig)_n求解生成的等式I_n＝g₁((Vsig)_n)＝f((Vsig)_n-(ΔVsig)_n)，生成偏移量(ΔVsig)_n，并将该偏移量提供到偏移校正单元162。

然而，偏移量(ΔVsig)_n对于关注元件的每一信号电位(Vsig)_n是不同的。也就是说，例如，如图12所示，当关注元件的信号电位(Vsig)_n增大时，偏移量(ΔVsig)_n也增大。

因此，偏移量计算单元161需要对于关注元件的每一信号电位(Vsig)_n计算偏移量(ΔVsig)_n。

因此，在以下将要描述的第三实施例中，关注元件的信号电位(Vsig)_n和偏移量(ΔVsig)_n在伽马空间中相加，且可以以在设置为关注元件的用于显示的有机EL元件的任何信号电位(Vsig)_n中的相同偏移量(ΔVsig)_n校正灰度。将参考图30到图33具体描述第三实施例。

[显示单元25的细节]

接下来，将参考图13到图17描述显示单元25的细节。

图13图示显示单元25的前视图。

显示单元25由具有矩形形状的三维外壳制成，且包括有机EL元件的像素电路内置于外壳中。

另外，在显示单元25中，如图13所示，在外壳的中心提供显示屏幕25a。在图13中，在显示单元25中，在显示屏幕25a的右侧布置多个亮度传感器25b1到25bM以内置于外壳中。

图14图示显示单元25的具体配置实例。

显示单元25具有水平选择器181、写入扫描仪182、电源扫描仪(驱动扫描仪)183、包括有机EL元件的像素电路184-(1,1)到184-(N,M)，且亮度传感器25b1到25bM内置于其中。

像素电路184-(1,1)到184-(N,M)当中的像素电路184-(1,M)、像素电路184-(2,M)、...和像素电路184-(N,M)中包括的有机EL元件是用于测量的有机EL元件。

另外，像素电路184-(1,1)到184-(N,M)当中的除了像素电路184-(1,M)、像素电路184-(2,M)、...和像素电路184-(N,M)之外的多个像素电路中包括的有机EL元件是用于显示的有机EL元件。

像素电路184-(1,1)到184-(N,M)通过以矩阵布置N×M(N和M是彼此独立的1或者更大的整数值)个像素电路184而配置。水平选择器181、写入扫描仪182和电源扫描仪183操作作为驱动单元以驱动像素电路184-(1,1)到184-(N,M)。

另外，显示单元25具有N条扫描线WSL-1到WSL-N，N条电源线DSL-1到DSL-N和M条视频信号线DTL-1到DTL-M。

在下面的描述中，当不需要彼此区分扫描线WSL-1到WSL-N时，扫描 线WSL-1到WSL-N被简单地称为扫描线WSL。另外，当不需要彼此区分电源线DSL-1到DSL-N时，电源线DSL-1到DSL-N被简单地称为电源线DSL。

另外，当不需要彼此区分视频信号线DTL-1到DTL-M时，视频信号线DTL-1到DTL-M被简单地称为视频信号线DTL。另外，当不需要彼此区分像素电路184-(1,1)到184-(N,M)时，像素电路184-(1,1)到184-(N,M)被简单地称为像素电路184。

另外，像素电路184-(1,1)到184-(N,M)当中的第x列(x＝1、2、...和M)的像素电路184-(1,x)到184-(N,x)通过视频信号线DTL-x连接到水平选择器181。

写入扫描仪182以水平时段(1H)顺序地供应控制信号到扫描线WSL-1到WSL-N，且以行为单位线顺序地扫描像素电路184。电源扫描仪183根据线顺序扫描将第一电位(以下将要描述的Vcc)或者第二电位(以下将要描述的Vss)的电源电压供应到电源线DSL-1到DSL-N。水平选择器181根据线顺序扫描在每一水平时段(1H)中切换与参考电位Vofs对应的信号电位和与图像信号(当像素电路184中包括的有机EL元件是用于测量的有机EL元件时，代替图像信号使用假像素信号)对应的信号电位Vsig，并将参考电位和信号电位供应到列形状的视频信号线DTL-1到DTL-M。

亮度传感器25b₁提供在像素电路184-(1,M)附近并测量像素电路184-(1,M)中包括的有机EL元件的亮度，并将该亮度供应到图1的老化校正单元23。

亮度传感器25b₂到25b_M分别提供在像素电路184-(2,M)到184-(N,M)附近，并执行与亮度传感器25b1相同的处理。

当不需要彼此区分亮度传感器25b₁到25b_M时，亮度传感器25b₁到25b_M被简单地称为亮度传感器25b。

图15图示像素电路184的发光颜色的阵列的实例。

像素电路184对应于使用有机EL元件作为内置发光元件以红(R)、绿(G)和蓝(B)的任何颜色发光的所谓子像素。显示单元的一个像素(显示图像的1个像素)由在行方向(在所述图中的水平方向)上布置的红、绿和蓝的三个像素电路184配置。

另外，图15不同于图14在于从像素电路184的下侧连接扫描线WSL和电源线DSL。连接到水平选择器181、写入扫描仪182、电源扫描仪183 和每一像素电路184的线路可以根据需要布置在适当的位置。

[像素电路184的配置]

图16图示像素电路184的具体配置实例。

像素电路184具有采样晶体管201、驱动晶体管202、存储电容器203和发光元件204。采样晶体管201的栅极连接到扫描线WSL、采样晶体管201的漏极连接到视频信号线DTL，且源极连接到驱动晶体管202的栅极g。

驱动晶体管202的源极和漏极之一连接到发光元件204的阳极，而另一个连接到电源线DSL。存储电容器203连接到驱动晶体管202的栅极g和发光元件204的阳极。另外，发光元件204的阴极连接到设置为预定电位Vcat的线路205。电位Vcat处于GND电平。因此，线路205是接地线路。

采样晶体管201和驱动晶体管202中的每一个是N沟道型晶体管。因此，采样晶体管201和驱动晶体管202可以由比低温多晶硅更廉价的非晶硅制成。由此，可以进一步减小像素电路184的制造成本。当然，采样晶体管201和驱动晶体管202可以由低温多晶硅或者单晶硅制成。

发光元件204是有机EL元件。有机EL元件是具有二极管特性的电流发光元件。因此，发光元件204执行根据供应的电流值Ids的灰度的发光。

在如上所述配置的像素电路184中，采样晶体管201根据来自扫描线WSL的控制信号导通(提供有电流)并通过视频信号线DTL根据灰度采样信号电位Vsig的视频信号。存储电容器203累积通过视频信号线DTL从水平选择器181供应的电荷，并保存电荷。驱动晶体管202接收从第一电位Vcc的电源线DSL提供的电流，并根据存储电容器203中保存的信号电位Vsig将驱动电流Ids流(供应)到发光元件204。预定驱动电流Ids流到发光元件204，以使得发光元件204发光。

像素电路184具有阈值校正功能。阈值校正功能是在存储电容器203中保存与驱动晶体管202的阈值电压Vth对应的电压的功能。通过示出阈值校正功能，可以消除成为显示单元25的每一像素的变化原因的驱动晶体管202的阈值电压Vth的影响。

除上述阈值校正功能之外，像素电路184还具有迁移率校正功能。迁移率校正功能是当信号电位Vsig保存在存储电容器203时将用于驱动晶体管202的迁移率μ的校正应用于信号电位Vsig的功能。

另外，像素电路184具有自举功能。自举功能是将驱动晶体管202的源 极电位的变化与栅极电位Vg链接的功能。通过示出自举功能，可以恒定地维持驱动晶体管202的栅极和源极之间的电压Vgs。

[像素电路184的操作的说明]

图17是图示像素电路184的操作的时序图。

图17的A到图17的E图示对于同一时间轴(在所述图中的水平方向)扫描线WSL、电源线DSL和视频信号线DTL的电位的改变和与该改变对应的驱动晶体管202的栅极电位Vg和源极电位Vs的改变。

在图17中，直到时间t1为止的时段是执行前一水平时段(1H)的发光的发光时段T1。

从发光时段T1结束时的时间t1直到时间t4为止的时段是阈值校正准备时段T2，在该阈值校正准备时段T2中，通过初始化驱动晶体管202的栅极电位Vg和源极电位Vs来执行阈值电压校正操作的准备。

在阈值校正准备时段T2中，在时间t1，电源扫描仪183将电源线DSL的电位从作为高电位的第一电位Vcc切换到作为低电位的第二电位Vss。另外，在时间t2，水平选择器181将视频信号线DTL的电位从信号电位Vsig切换到参考电位Vofs。接下来，在时间t3，写入扫描仪182将扫描线WSL的电位切换为高电位并导通采样晶体管201。由此，驱动晶体管202的栅极电位Vg复位到参考电位Vofs，且源极电位Vs复位到视频信号线DTL的第二电位Vss。

从时间t4到时间t5的时段是其中执行阈值校正操作的阈值校正时段T3。在阈值校正时段T3中，在时间t4，电源线DSL的电位由电源扫描仪183切换到高电位Vcc，且与阈值电压Vth对应的电压写入到连接在驱动晶体管202的栅极和源极之间的存储电容器203。

在从时间t5到时间t7的写入+迁移率校正准备时段T4中，扫描线WSL的电位地从高电位切换到低电位一次。另外，在时间t7之前的时间t6，水平选择器181根据灰度将视频信号线DTL的电位从参考电位Vofs切换到信号电位Vsig。

另外，在从时间t7到时间t8的写入+迁移率校正准备时段T5中，执行视频信号的写入和迁移率校正操作。也就是说，在从时间t7到时间t8的时段中，扫描线WSL的电位设置为高电位。由此，与视频信号对应的信号电位Vsig以与阈值电压Vth相加的形式写入到存储电容器203。另外，从存储电 容器33中保存的电压减去用于迁移率校正的电压ΔVμ。

在写入+迁移率校正时段T5结束之后的时间t8，扫描线WSL的电位设置为低电位。以下，在发光时段T6中，发光元件204以根据信号电压Vsig的发光亮度发光。因为通过与阈值电压Vth和用于迁移率校正的电压ΔVμ对应的电压调整信号电压Vsig，发光元件204的发光亮度不受阈值电压Vth或者驱动晶体管202的迁移率μ的变化的影响。

在发光时段T6中，首先，执行自举操作且驱动晶体管32的栅极电位Vg和源极电位Vs在恒定地维持驱动晶体管202的栅极和源极之间的电压Vgs＝Vsig+Vth-ΔVμ的状态下增大。

另外，在从时间t8经过预定时间之后的时间t9，视频信号线DTL的电位从信号电位Vsig下降到参考电位Vofs。在图17中，从时间t2到时间t9的时段对应于水平时段(1H)。

以这种方式，显示单元25的每一像素电路184可以使得发光元件204发光，而不受驱动晶体管202的阈值电压Vth或者迁移率μ的变化影响。

[显示装置1的操作的说明]

接下来，将参考图18的流程图描述由图1的显示装置1执行的显示处理(以下，称为第一显示处理)。

第一显示处理在显示装置1的电源接通时开始。

在步骤S1，假像素信号生成单元21生成假像素信号以使得内置于显示单元25的用于测量的有机EL元件发光并向信号合成单元22提供假像素信号。

在步骤S2，信号合成单元22合成来自外部的图像信号和来自假像素信号生成单元21的假像素信号，并将作为其结果获得的合成信号提供到老化校正单元23。

在步骤S3，控制单元26对显示单元25中包括的用于显示的有机EL元件顺序地关注并设置被关注的有机EL元件为关注元件。

在步骤S4，老化校正单元23的检测单元73基于来自信号合成单元22的合成信号C_n中包括的图像信号S_n检测关注元件的信号电位(Vsig)_n，供应该信号电位到保存单元74，并由保存单元保存该信号电位。

在步骤S5，老化校正单元23的斜度校正单元71执行用于将从信号合成单元22提供的关注元件的信号电位(Vsig)_n乘以校正量并以初始斜度 α校正关注元件的斜度α’的斜度校正处理。将参考图19的流程图描述斜度校正处理的细节。

斜度校正单元71将在斜度校正处理中校正之后的关注元件的信号电位 ${\left({\mathrm{Vsig}}^{,}\right)}_n=(\&PlusMinus;\sqrt{\mathrm{\&alpha;}/{\mathrm{\&alpha;}}^{\&prime;}}\&times;{\left(\mathrm{Vsig}\right)}_n)$ 供应到灰度校正单元72。

在步骤S6，灰度校正单元72执行灰度校正处理，该灰度校正处理用于将与偏移量对应的(ΔVsig)_n与从斜度校正单元71提供的关注元件的信号电位的（Vsig）_n相加并以初始灰度k校正关注元件的灰度(k–Δk)。将参考图20的流程图描述灰度校正处理的细节。

在步骤S7，控制单元26确定显示单元25中包括的全体用于显示的有机EL元件是否已经设置为关注元件，且当确定全体用于显示的有机EL元件还未设置为关注元件时，控制单元26将该处理返回到步骤S3。

另外，在步骤S3，控制单元26关注显示单元25中包括的用于显示的有机EL元件当中还没设置为关注元件的有机EL元件，设置被关注的有机EL元件为新的关注元件，并使得处理进行到步骤S4。以下，重复相同处理。

在步骤S7，当确定显示单元25中包括的全体用于显示的有机EL元件已经设置为关注元件时，控制单元26使得处理进行到步骤S8。

在全体用于显示的有机EL元件设置为关注元件之后，包括示出设置为关注元件的有机EL元件的信号电位 ${\left({\mathrm{Vsig}}^{,,}\right)}_n=[\&PlusMinus;\sqrt{\mathrm{\&alpha;}/\mathrm{\&alpha;}\&prime;}\&times;\{{\left(\mathrm{Vsig}\right)}_n+{\left(\mathrm{\&Delta;Vsig}\right)}_n\left\}\right)$ 的图像信号S_n的合成信号C_n提供到数据驱动器24。

在步骤S8，数据驱动器24对于来自老化校正单元23的合成信号执行AD转换，并将AD转换之后的合成信号C_n提供到显示单元25。

在步骤S9，显示单元25使得用于显示的有机EL元件基于来自数据驱动器24的合成信号C_n中包括的图像信号S_n发光。由此，与图像信号对应的显示图像41显示在显示屏幕25a上。

另外，显示单元25使得用于测量的有机EL元件基于来自数据驱动器24的合成信号中包括的假像素信号发光。

在步骤S10，亮度传感器25b从包括用于测量的有机EL元件的像素电路184接收光，测量用于测量的有机EL元件的亮度，并将其测量结果供应到老化校正单元23的斜度校正单元71和灰度校正单元72。亮度传感器25b提供在包括用于测量的有机EL元件的像素电路184附近。

在步骤S11，斜度校正单元71执行退化曲线估计处理，该退化曲线估计 处理基于来自亮度传感器25b的亮度测量结果估计内置于显示单元25的用于显示的有机EL元件的亮度退化曲线，并保存亮度退化曲线。将参考图20的流程图具体描述退化曲线估计处理。

在步骤S11结束之后，处理返回到步骤S1且在下面执行相同的处理。

第一显示处理在显示装置1的电源断开时结束。

如上所述，根据第一显示处理，老化校正单元23执行来自信号合成单元22的合成信号中包括的图像信号的老化校正处理。

为此，根据第一显示处理，用于显示的有机EL元件以根据图像信号的恒定亮度发光，而无论效率退化和电流退化。

因此，可以防止在显示单元25的显示屏幕25a出现老化。

另外，根据第一显示处理，不对于合成信号中包括的假像素信号执行老化校正处理，且假像素信号从老化校正单元23输出到数据驱动器24。

为此，用于测量的有机EL元件以根据效率退化和电流退化减少的亮度发光。另外，亮度传感器25b测量用于测量的有机EL元件的亮度的减小，并将其测量结果供应到老化校正单元23。

因此，在老化校正单元23中，基于来自亮度传感器25b的亮度测量结果，用于测量的有机EL元件的亮度的减小可以被精确地识别为用于显示的有机EL元件的亮度的减小。为此，老化校正单元23可以基于亮度的精确减小程度，精确地防止在显示屏幕25a出现老化。

[由斜度校正单元71执行的斜度校正处理的细节]

接下来，将参考图19的流程图描述在图18的步骤S5中斜度校正处理的细节。

在步骤S31，校正量生成单元101从斜度保存单元103读取关注元件的斜度α’。

在步骤S32，校正量生成单元101从保存单元74读取关注元件的信号电位(Vsig)_n-1。

在步骤S33，校正量生成单元101基于从保存单元74读取的关注元件的信号电位(Vsig)_n-1，计算流到关注元件的电流I_n-1。另外，校正量生成单元101从退化曲线保存单元104读取退化曲线保存单元104中保存的多个亮度退化曲线当中与计算出的电流I_n-1对应的亮度退化曲线。

在步骤S34，校正量生成单元101基于从斜度保存单元103读取的关注 元件的斜度α’和从退化曲线保存单元104读取的亮度退化曲线，计算关注元件的最新斜度α’。

另外，校正量生成单元101将关注元件的计算出的最新斜度α’供应到斜度保存单元103，并通过重写保存(存储)最新斜度。

在步骤S35，校正量生成单元101基于关注元件的最新斜度α’生成(计算)校正量并将该校正量供应到校正量相乘单元102。

在步骤S36，校正量相乘单元102将从信号合成单元22提供的关注元件的信号电位(Vsig)_n乘以来自校正量生成单元101的校正量

然后，图19的斜度校正处理结束且处理返回到图18的步骤S5。校正量相乘单元102将作为已经以初始斜度α校正了斜度α’的关注元件的信号电位(Vsig’)_n的通过相乘获得的信号电位供应到灰度校正单元72，且执行以后的处理。

[由灰度校正单元72执行的灰度校正处理的细节]

接下来，将参考图20的流程图描述在图18的步骤S6中灰度校正处理的细节。

在步骤S51，偏移量计算单元161从保存单元74读取关注元件的信号电位(Vsig)_n。

在步骤S52，偏移量计算单元161基于关注元件的已读取信号电位(Vsig)_n、在所述图中未示出的存储器中预先存储的用于偏移量计算的信息(例如，函数f₁(Vsig))和来自亮度传感器25b的亮度测量结果，计算与关注元件的信号电位(Vsig)_n相加的偏移量(ΔVsig)_n，并将该偏移量供应到偏移校正单元162。

在步骤S53，偏移校正单元162将来自斜度校正单元71的关注元件的信号电位的(Vsig)_n与来自偏移量计算单元161的偏移量(ΔVsig)_n相加。

然后，图20的灰度校正处理结束且处理返回到图18的步骤S6。偏移校正单元162将作为其相加结果获得的信号电位作为其中已经以初始灰度k校正了灰度(k-Δk)的关注元件的信号电位(Vsig”)_n供应到数据驱动器24。

[由斜度校正单元71执行的退化曲线估计处理的细节]

接下来，将参考图21的流程图描述在图18的步骤S11中退化曲线估计 处理的细节。

在步骤S71，退化曲线估计单元105顺序地关注多个亮度传感器25b，并将被关注的亮度传感器25b设置为关注传感器。

通过测量电流I(L＝Xnit)流到的用于测量的有机EL元件的亮度而获得的亮度L(t,I(L＝Xnit))从关注传感器提供到退化曲线估计单元105。用于测量的有机EL元件提供有不同电流I(L＝Xnit)并以不同亮度L(t,I(L＝Xnit))发光。

在步骤S72，退化曲线估计单元105基于在所述图中未示出的内置存储器中预先保存的电流的值I(L＝Xnit)和来自关注传感器的亮度L(t,I(L＝Xnit))，计算斜度α(t,I(L＝Xnit))’。

也就是说，例如，退化曲线估计单元105基于在所述图中未示出的内置存储器中预先保存的电流的值I(L＝200nit)和来自亮度传感器25b的测量结果L(t,I(L＝200nit))，通过基于公式4导出的公式α(t,I(L＝200nit))’＝L(t,I(L＝200nit)/I(L＝200nit))，对于时间t计算斜度α(t,I(L＝200nit))’。

在步骤S73，退化曲线估计单元105基于计算出的斜度α(t,I(L＝Xnit))’和在所述图中未示出的内置存储器中预先保存的亮度退化基础曲线，计算乘以亮度退化基础曲线的加速系数。

也就是说，例如，退化曲线估计单元105计算直到当获得斜度α(0,I(L＝200nit))’＝α时获得斜度α(T,I(L＝200nit))’为止的时间Δt1’，如图10所示。

另外，例如，退化曲线估计单元105计算亮度退化基础曲线141中直到当获得斜度α(0,I(L＝200nit))’＝α时获得斜度α(T,I(L＝200nit))’为止的时间Δt1，如图10所示。

另外，退化曲线估计单元105基于计算出的时间Δt1’和Δt1，计算加速系数Δt1’/Δt1。

在步骤S74，退化曲线估计单元105基于计算出的加速系数和在所述图中未示出的存储器中预先保存的亮度退化基础曲线来估计亮度退化曲线，并将亮度退化曲线提供到退化曲线保存单元104，并由退化曲线保存单元保存亮度退化曲线。

也就是说，例如，退化曲线估计单元105将计算出的加速系数Δt1’/Δt1乘以示出亮度退化基础曲线141的公式A(t,I(L＝200nit))。另外，退化曲线估计单元105将示出通过相乘获得的新公式(Δt1’/Δt1)×A(t,I(L＝200nit))的亮度退 化曲线121供应到退化曲线保存单元104并以与电流I(L＝200nit)的值相关联的形式，由退化曲线保存单元保存亮度退化曲线。

在步骤S75，退化曲线估计单元105确定是否多个亮度传感器25b的全部已经设置为关注元件且当确定全部多个亮度传感器25b还未设置为关注元件时，退化曲线估计单元105将处理返回到步骤S71。

另外，在步骤S71，退化曲线估计单元105将多个亮度传感器25b当中还没设置为关注传感器的亮度传感器设置为新关注传感器，并使得处理进行到步骤S72。以下，执行相同处理。

在步骤S75，当由退化曲线估计单元105确定全部多个亮度传感器25b已经设置为新关注传感器时，图21的退化曲线估计处理结束，处理返回到图18的步骤S11，且执行以后的处理。

在第一实施例中，在图6的老化校正单元23中，检测单元73基于来自信号合成单元22的合成信号C_n检测图像信号S_n的信号电位(Vsig)_n，供应该检测到的信号电位(Vsig)_n到保存单元74，并由保存单元保存该信号电位。

另外，在斜度校正单元71和灰度校正单元72中，基于保存单元74中保存的关注元件的信号电位(Vsig)_n计算出的电流I_n是实际上流到关注元件的电流。

另外，在斜度校正单元71中，确定通过电流I_n-1流到关注元件出现效率的退化并计算校正关注元件的斜度α’的校正量。

另外，在灰度校正单元72中，确定通过电流In流到关注元件出现电流的退化，并计算校正关注元件的灰度的偏移量。

然而，实际上流到关注元件的电流不是基于关注元件的信号电位(Vsig)_n计算出的电流I_n，而是基于已经以初始斜度α校正斜度α’的关注元件的信号电位(Vsig’)_n计算出的电流(α/α’)×I_n。

因此，在老化校正处理中，需要基于实际上流到关注元件的电流(α/α’)×I_n校正关注元件的斜度α’或者灰度(k-Δk)。

接下来，图22的显示装置241基于实际上流到关注元件的电流执行老化校正处理。

<2.第二实施例>

[显示装置241的配置实例]

图22图示作为第二实施例的显示装置241的配置实例。

在显示装置241中，具有与作为第一实施例的显示装置1(图1)的情况相同配置的部分以相同的附图标记表示，且以下适当地省略其说明。

也就是说，代替图1的老化校正单元23，除了提供老化校正单元261之外，显示装置241具有与图1的显示装置1相同的配置。

来自信号合成单元22的合成信号C_n提供到老化校正单元261。类似于老化校正单元23，老化校正单元261对校正来自信号合成单元22的合成信号C_n中包括的图像信号S_n执行老化校正处理，并执行用于防止在显示单元25的显示屏幕25a出现老化的老化校正处理。

然而，老化校正单元261不同于老化校正单元23在于老化校正单元261基于斜度校正处理之后的图像信号S_n的信号电位(Vsig’)_n执行老化校正处理，且老化校正单元23基于斜度校正处理之前的图像信号S_n的信号电位(Vsig)_n执行老化校正处理。

[老化校正单元261的细节]

接下来，图23图示图22的老化校正单元261的具体配置实例。

老化校正单元261包括斜度校正单元281、灰度校正单元282、检测单元283和保持单元284。

来自信号合成单元22的合成信号C_n提供到斜度校正单元281。

斜度校正单元281从保存单元284读取从斜度校正单元281输出的斜度校正处理之后的图像信号S_n-1的信号电位(Vsig’)_n-1。

虽然以下将要描述，但是斜度校正单元281的斜度校正处理之后的图像信号S_n的信号电位(Vsig’)_n保存在保存单元284中。

斜度校正单元281基于从保存单元284读取的信号电位(Vsig’)_n-1和来自亮度传感器25b的亮度测量结果，计算校正量从而以初始斜度α校正由于效率退化减少的斜度α’。

另外，斜度校正单元281不同于图6的斜度校正单元71在于，代替斜度校正处理之前的图像信号S_n-1的信号电位(Vsig)_n-1，斜度校正处理之后的图像信号S_n-1的信号电位(Vsig’)_n-1用于计算校正量在其他配置中，斜度校正单元281与斜度校正单元71相同。

斜度校正单元281将来自信号合成单元22的合成信号C_n中包括的图像信号S_n的信号电位(Vsig)_n乘以计算出的校正量斜度校正单元281 将包括作为其相乘结果获得的信号电位的图像信号S_n的合成信号C_n供应到斜度校正单元282和检测单元283。

灰度校正单元282从保存单元284读取斜度校正处理之后的图像信号S_n的信号电位(Vsig’)_n。

另外，灰度校正单元282基于从保存单元284读取的信号电位(Vsig’)_n和来自亮度传感器25b的亮度测量结果，计算与偏移量Δk对应的(ΔVsig)_n从而以初始灰度k校正由于电流退化减少的灰度(k-Δk)。

另外，灰度校正单元282不同于图6的灰度校正单元72在于，代替斜度校正处理之前的图像信号S_n的信号电位(Vsig)_n，斜度校正处理之后的图像信号S_n的信号电位(Vsig’)_n用于计算与偏移量Δk对应的(ΔVsig)_n。在其他配置中，灰度校正单元282与灰度校正单元72相同。

灰度校正单元282将与偏移量Δk对应的(ΔVsig)_n与来自斜度校正单元281的合成信号C_n中包括的图像信号S_n的信号电位的(Vsig)_n相加。

灰度校正单元282将包括作为其相加结果获得的信号电位 ${\left({\mathrm{Vsig}}^{,,}\right)}_n=[\&PlusMinus;\sqrt{\mathrm{\&alpha;}/{\mathrm{\&alpha;}}^{\&prime;}}\&times;\{{\left(\mathrm{Vsig}\right)}_n+{\left(\mathrm{\&Delta;Vsig}\right)}_n\left\}\right]$ 的图像信号S_n的合成信号C_n供应到数据驱动器24。

检测单元283基于从斜度校正单元281输出的合成图像C_n中包括的图像信号S_n，检测斜度校正处理之后的图像信号S_n的信号电位(Vsig’)_n，供应该信号电位到保存单元284，并由保存单元保存信号电位。

保存单元284保存来自检测单元283的信号电位(Vsig’)_n。

[斜度校正单元281的细节]

接下来，图24图示图23的斜度校正单元281的具体配置实例。

在斜度校正单元281中，具有与图7的斜度校正单元71相同配置的部分以相同附图标记表示，且以下适当地省略其说明。

也就是说，除了代替图7的校正量生成单元101提供校正量生成单元301之外，斜度校正单元281具有与图7的情况相同的配置。

类似于校正量生成单元101，校正量生成单元301从斜度保存单元103读取关注元件的斜度α’。图22的控制单元26对显示单元25中包括的用于显示的有机EL显示器顺序地关注并设置被关注的有机EL元件为关注元件。

另外，校正量生成单元301从保存单元284读取关注元件的信号电位 (Vsig)_n-1。

校正量生成单元301基于从保存单元284读取的关注元件的信号电位(Vsig)_n-1，计算实际上流到关注元件的电流I_n-1。另外，校正量生成单元301从退化曲线保存单元104读取退化曲线保存单元104中保存的多个亮度退化曲线当中与计算出的电流I_n-1对应的亮度退化曲线。

类似于校正量生成单元101，校正量生成单元301基于从斜度保存单元103读取的关注元件的斜度α’和从退化曲线保存单元104读取的亮度退化曲线，计算关注元件的最新斜度α’。

另外，校正量生成单元301将关注元件的最新斜度α’供应到斜度保存单元103并通过重写保存(存储)最新斜度。

另外，校正量生成单元301基于关注元件的最新斜度α’生成(计算)校正量并供应校正量到校正量相乘单元102。

接下来，将参考图25描述由校正量生成单元301执行的处理，同时将该处理与由校正量生成单元101执行的处理比较。

在第一实施例中，当图7的斜度校正单元71将关注元件的信号电位(Vsig)_n乘以校正量并校正关注元件的斜度α’时，校正量生成单元101读取保存单元74中保存的关注元件的信号电位(Vsig)_n-1。

另外，校正量生成单元101从退化曲线保存单元104读取退化曲线保存单元104中保存的多个亮度退化曲线当中与基于关注元件的信号电位(Vsig)_n-1的电流对应的亮度退化曲线。

也就是说，例如，当基于关注元件的信号电位(Vsig)_n-1的电流是电流I(L＝200nit)时，校正量生成单元101从退化曲线保存单元104读取如图25所示的与电流I(L＝200nit)对应的亮度退化曲线121。

校正量生成单元101使用已读取亮度退化曲线121和从斜度保存单元103读取的关注元件的斜度α’计算关注元件的最新斜度α’。

然而，流到关注元件的电流不是基于关注元件的信号电位(Vsig)_n-1的电流(例如，电流I(L＝200nit))，而是基于已经以初始斜度α校正了斜度α’的关注元件的信号电位(Vsig’)_n的电流，例如，电流I(L＝220nit))。

为了更精确地计算斜度α’，期望基于实际上流到关注元件的电流从退化曲线保存单元104读取用于计算斜度α’的亮度退化曲线。

因此，在第二实施例中，当图24的斜度校正单元281将关注元件的信号 电位(Vsig)_n乘以校正量并校正关注元件的斜度α’时，校正量生成单元301读取保存单元284中保存的关注元件的信号电位(Vsig’)_n-1。

另外，与实际上流到关注元件的电流(例如，电流I(L＝220nit))对应的信号电位(Vsig’)_n-1，即，已经校正了斜度α’的关注元件的信号电位(Vsig’)_n-1保存在保存单元284中。

校正量生成单元301读取在保存单元284中保存的关注元件的信号电位(Vsig’)_n-1。

另外，校正量生成单元301从退化曲线保存单元104读取退化曲线保存单元104中保存的多个亮度退化曲线当中与基于关注元件的信号电位(Vsig’)_n-1的电流对应的亮度退化曲线。

也就是说，例如，当基于关注元件的信号电位(Vsig’)_n-1的电流是电流I(L＝220nit)时，校正量生成单元301从退化曲线保存单元104读取如图25所示的与电流I(L＝220nit)对应的亮度退化曲线123。

通过将关注元件的信号电位(Vsig)_n-1乘以1或更大的校正量来获得关注元件的信号电位(Vsig’)_n-1。为此，基于关注元件的信号电位(Vsig’)_n-1的电流(例如，电流I(L＝220nit))等于或大于基于关注元件的信号电位(Vsig)_n-1的电流(例如，I(L＝200nit))。

校正量生成单元301使用已读取亮度退化曲线123和从斜度保存单元103读取的关注元件的斜度α’计算关注元件的最新斜度α’。

[灰度校正单元282的细节]

接下来，图26图示图23的灰度校正单元282的具体配置实例。

灰度校正单元282包括偏移量计算单元321和偏移校正单元322。

亮度测量结果从亮度传感器25b提供到偏移量计算单元321。偏移量计算单元321从保存单元284读取关注元件的信号电位(Vsig’)_n。

另外，偏移量计算单元321基于关注元件的已读取信号电位(Vsig’)_n、在所述图中未示出的存储器中预先保存的用于偏移量计算的信息和来自亮度传感器25b的亮度测量结果，计算与关注元件的信号电位 ${\left({\mathrm{Vsig}}^{,}\right)}_n(=\{\&PlusMinus;\sqrt{\mathrm{\&alpha;}/{\mathrm{\&alpha;}}^{\&prime;}}\&times;{\left(\mathrm{Vsig}\right)}_n\left\}\right)$ 的(Vsig)_n相加的偏移量(ΔVsig)_n，并供应该偏移量到偏移校正单元322。

类似于图11的偏移校正单元162，偏移校正单元322将来自斜度校正单元281的关注元件的信号电位的（Vsig)_n与来自偏 移量计算单元321的偏移量(ΔVsig)_n相加。

另外，偏移校正单元322将作为其相加结果获得的信号电位作为关注元件的信号电位(Vsig”)_n供应到数据驱动器24。

[显示装置241的操作的说明]

接下来，将参考图27的流程图描述由图22的显示装置241执行的显示处理(以下，称为第二显示处理)。

第二显示处理在显示装置241的电源接通时开始。

在步骤S91到S93，执行与图18的步骤S1到S3相同的处理。

在步骤S94，老化校正单元261的斜度校正单元281执行斜度校正处理，该斜度校正处理用于将从信号合成单元22提供的关注元件的信号电位(Vsig)_n乘以校正量并以初始斜度α校正关注元件的斜度α’。

该斜度校正处理不同于图18的步骤S5的斜度校正处理在于基于实际上流到关注元件的电流生成与关注元件的信号电位(Vsig)_n相乘的校正量将参考图28的流程图描述在步骤S94的斜度校正处理的细节。

斜度校正单元281将由步骤S94的斜度校正处理获得的关注元件的信号电位供应到灰度校正单元282和检测单元283。

在步骤S95，老化校正单元261的检测单元283基于来自斜度校正单元281的关注元件的信号电位(Vsig’)_n检测关注元件的信号电位(Vsig’)_n，供应该信号电位到保存单元284，并由保存单元保存该信号电位。

在步骤S96，灰度校正单元282执行灰度校正处理，该灰度校正处理用于将与偏移量对应的(ΔVsig)_n与从斜度校正单元281提供的关注元件的信号电位的(Vsig)_n相加并以初始灰度k校正关注元件的灰度(k-Δk)。

该灰度校正处理不同于图18的步骤S6的灰度校正处理在于基于实际上流到关注元件的电流计算与偏移量对应的(ΔVsig)_n。将参考图29的流程图描述在步骤S96的灰度校正处理的细节。

在步骤S97到S101，执行与图18的步骤S7到S11相同的处理。

第二显示处理在显示装置241的电源断开时结束。

如上所述，根据第二显示处理，因为基于实际上流到设置为关注元件的用于显示的有机EL元件的电流执行老化校正处理，所以可以更确定地防止 老化出现在显示屏幕25a。

[由斜度校正单元281执行的斜度校正处理的细节]

接下来，将参考图28的流程图描述在图27的步骤S94中斜度校正处理的细节。

在步骤S121，类似于校正量生成单元101，校正量生成单元301从斜度保存单元103读取关注元件的斜度α’。

在步骤S122，校正量生成单元301读取来自单保存单元284的关注元件的信号电位(Vsig’)_n-1。

在步骤S123，校正量生成单元301基于从保存单元284读取的关注元件的信号电位(Vsig’)_n-1，计算实际上流到关注元件的电流In-1。

另外，校正量生成单元301从退化曲线保存单元104读取退化曲线保存单元104中保存的多个亮度退化曲线当中与计算出的电流In-1对应的亮度退化曲线。

在步骤S124和S125，类似于校正量生成单元101，校正量生成单元301执行图19的步骤S34和S35的处理。

在步骤S126，执行与图19的步骤S36相同的处理。另外，图28的斜度校正处理结束，处理返回到图27的步骤S94，且执行以后的处理。

[由灰度校正单元282执行的灰度校正处理的细节]

接下来，将参考图29的流程图描述在图27的步骤S96中的灰度校正处理的细节。

在步骤S141，偏移量计算单元321从保存单元284读取关注元件的信号电位(Vsig’)_n。

在步骤S142，偏移量计算单元321基于关注元件的已读取信号电位(Vsig’)_n、在所述图中未示出的存储器中预先存储的用于偏移量计算的信息和来自亮度传感器25b的亮度测量结果，计算与关注元件的信号电位的(Vsig)_n相加的偏移量(ΔVsig)_n，并供应该偏移量到偏移校正单元322。

在步骤S143，偏移校正单元322将来自斜度校正单元281的关注元件的信号电位的(Vsig)_n与来自偏移量计算单元321的偏移量(ΔVsig)_n相加。

另外，偏移校正单元322将作为其相加结果获得的信号电位作为关注元件的信号电位(Vsig”)_n供应到数据驱动器24。

然后，图29的灰度校正处理结束，处理返回到图27的步骤S96，且执行以后的处理。

同时，在第一实施例中，对于图像信号S_n仅执行老化校正处理。然而，对于图像信号S_n可以执行与老化校正处理不同的图像处理(例如，彩色再现处理或者降噪处理)且可以改进在显示屏幕25a上显示的显示图像的图像质量。这与第二实施例相同。

这里，作为显示器的显示单元25具有显示屏幕25a的亮度不与来自外部的图像信号的电平(灰度)成正比且以指数方式改变的伽玛特性。

也就是说，例如，显示单元25具有在下面公式(7)中说明的伽玛特性。

Y＝X^γ···(7)

在公式(7)中，灰度X示出图像信号的电平且亮度Y示出与图像信号的电平对应的亮度。另外，伽马值γ示出显示单元25的伽玛特性，例如，γ＝2.2。

因此，广播站发送(广播)逆伽马校正之后的图像信号S_n以使得以线性特性校正伽玛特性。

逆伽玛校正之后的图像信号S_n具有在下面公式(8)中说明的逆伽玛特性。

Y＝X^1/γ···(8)

为了执行上述图像处理，需要通过对于图像信号S_n执行伽玛校正而将具有公式(8)中说明的逆伽玛特性的图像信号S_n转换为具有线性特性的图像信号S_n。这是由于当图像信号S_n被转换为具有线性特性的图像信号S_n时可以容易地执行该图像处理。

然而，当执行老化校正处理中包括的灰度校正处理时，期望将具有伽玛特性的图像信号Sn设置为灰度校正处理的校正目标。

[3.第三实施例]

接下来，图30图示作为第三实施例的显示装置341的配置实例。

显示装置341在执行上述图像处理时通过伽玛校正将图像信号S_n的特性转换为线性特性，并在执行灰度校正处理时通过逆伽玛校正将图像信号S_n的 特性转换为伽玛特性。当执行斜度校正处理时，图像信号S_n的特性可以是线性特性或者伽玛特性。

在显示装置341中，具有与作为第一实施例的显示装置1(图1)的情况相同配置的部分以相同的附图标记表示，且以下适当地省略其说明。

也就是说，除了新提供伽马转换单元361和图像处理单元362且代替图1的老化校正单元23提供老化校正单元363之外，显示装置341具有与图1的显示装置1相同的配置。

合成信号C_n从信号合成单元22提供到伽马转换单元361。伽马转换单元361对于来自信号合成单元22的合成信号C_n执行伽玛校正，并将伽玛校正之后的合成信号C_n供应到图像处理单元362。

这里，假像素信号生成单元21对于生成的假像素信号执行与在广播站关于图像信号S_n执行的逆伽玛校正相同的逆伽玛校正，并将假像素信号供应到信号合成单元22。因此，从信号合成单元22输出的合成信号C_n具有公式(8)中说明的逆伽玛特性。

当合成信号C_n中包括的假像素信号的特性是线性特性时，伽马转换单元361可以仅对于来自信号合成单元22的合成信号C_n中包括的图像信号S_n执行伽玛校正。

图像处理单元362对于来自伽马转换单元361的合成信号C_n执行预定图像处理(例如，彩色再现处理或者降噪处理)并供应图像处理之后的合成信号C_n到老化校正单元363。图像处理单元263可以仅对于合成信号C_n中包括的图像信号S_n执行图像处理。

老化校正单元363基于来自亮度传感器25b的亮度测量结果，对于来自图像处理单元362的合成信号C_n中包括的图像信号S_n，执行由斜度校正处理和灰度校正处理配置的老化校正处理。

另外，当至少执行灰度校正处理时，老化校正单元363对于合成信号C_n执行逆伽玛校正并对于逆伽玛校正之后的合成信号C_n中包括的图像信号S_n执行灰度校正处理。

第三实施例与第一和第二实施例显著地不同在于老化校正单元363对于逆伽玛校正之后的合成信号C_n中包括的图像信号S_n执行灰度校正处理。

老化校正单元363将老化校正处理之后的包括图像信号S_n的合成信号C_n供应到数据驱动器24。

在图30中，除假像素信号生成单元21、信号合成单元22、数据驱动器24、显示单元25和亮度传感器25b之外，控制单元26还控制伽马转换单元361、图像处理单元362和老化校正单元363。

[老化校正单元363的细节]

接下来，图31图示图30的老化校正单元363的具体配置实例。

在老化校正单元363中，具有与图6的老化校正单元23的情况相同配置的部分以相同的附图标记表示，且适当地省略其说明。

也就是说，除了新提供逆伽马转换单元381和代替图6的灰度校正单元72提供灰度校正单元382之外，老化校正单元363具有与图6的情况相同的配置。

逆伽马转换单元381对于来自斜度校正单元71的斜度校正处理之后的图像信号S_n执行逆伽玛校正，并将逆伽玛校正之后的图像信号S_n供应到灰度校正单元382。

由此，具有公式(7)中说明的伽玛特性的图像信号S_n从逆伽马转换单元381提供到灰度校正单元382。

灰度校正单元382将相同的信号电位(ΔVsig)_n与来自逆伽马转换单元381的图像信号S_n的信号电位的(Vsig)_n相加，并将通过其相加获得的信号电位(Vsig”)_n供应到数据驱动器24。

也就是说，灰度校正单元382包括偏移量计算单元391和偏移校正单元392。

偏移量计算单元391基于在所述图中未示出的存储器中预先保存的用于偏移量计算的信息和来自亮度传感器25b的亮度测量结果计算偏移量(ΔVsig)_n，并将该偏移量供应到偏移校正单元392。

偏移量计算单元391不同于偏移量计算单元161在于计算与每一用于显示的有机EL元件的信号电位的(Vsig)_n相加的同一偏移量(ΔVsig)_n。

将参考图32具体描述偏移量计算单元391的计算偏移量的方法。

类似于偏移校正单元162，偏移校正单元392将来自逆伽马转换单元381的图像信号S_n的信号电位的(Vsig)_n与来自偏移量计算单元391的偏移量(ΔVsig)_n相加。

偏移校正单元392不同于偏移校正单元162在于来自偏移量计算单元 391的同一偏移量(ΔVsig)_n与由图像信号S_n示出的每一用于显示的有机EL元件的信号电位(Vsig’)_n的(Vsig)_n相加。

偏移校正单元392将使用作为其相加结果获得的信号电位 ${\left({\mathrm{Vsig}}^{,,}\right)}_n=[\&PlusMinus;\sqrt{\mathrm{\&alpha;}/{\mathrm{\&alpha;}}^{\&prime;}}\&times;\{{\left(\mathrm{Vsig}\right)}_n+{\left(\mathrm{\&Delta;Vsig}\right)}_n\left\}\right]$ 的图像信号S_n作为信号电位供应到数据驱动器24。

[关于偏移量的计算]

接下来，图32图示当图31的偏移量计算单元391计算偏移量时的实例。

在图32中，函数f₂(k)是示出灰度k与电流退化之前的亮度L的关系的函数。

函数f₂(k)(＝α×β2×k^2.2)在偏移量计算单元391中在所述图中未示出的存储器中预先保存为用于偏移量计算的信息。

另外，基于通过测量假定为内置于显示单元25的有机EL元件的任何有机EL元件的亮度而获得的测量结果预先地生成函数f₂(k)，且函数f₂(k)保存在偏移量计算单元391中在所述图中未示出的内置存储器中。

另外，函数f₂(k)可以由偏移量计算单元391基于电流的退化之前由亮度传感器25b测量的测量结果生成，且可以保存在所述图中未示出的内置存储器中。

在图32中，函数g₂(k+Δk)(＝α×β2×(k-Δk)^2.2)是示出灰度k与电流退化之后的亮度L的关系的函数。

函数g₂(k+Δk)由偏移量计算单元391基于来自亮度传感器25b的亮度测量结果而生成。在图32中，横轴示出灰度且纵轴示出亮度。

偏移量计算单元391基于来自亮度传感器25b的亮度测量结果，通过最小二乘法计算函数g₂(k+Δk)。

另外，偏移量计算单元391基于在所述图中未示出的存储器中预先保存的函数f₂(k)和计算出的函数g₂(k+Δk)对于偏移量Δk求解f₂(k)＝g₂(k+Δk)。

另外，偏移量计算单元391将通过求解f₂(k)＝g₂(k+Δk)而获得的偏移量Δk供应到偏移校正单元392。

在灰度校正单元382中，从逆伽马转换单元381提供具有伽玛特性的图像信号S_n。为此，如图32所示，可以在关注元件的任何灰度中以相同的偏移量Δk校正关注元件的灰度。

[显示装置341的操作的说明]

接下来，将参考图33的流程图描述由图30的显示装置341执行的显示处理(以下，称为第三显示处理)。

第三显示处理在显示装置341的电源接通时开始。

在步骤S161和S162，执行与图18的步骤S1和S2相同的处理。

在步骤S163，伽马转换单元361对于来自信号合成单元22的合成信号C_n执行伽玛校正，并将伽玛校正之后的合成信号C_n供应到图像处理单元362。由此，合成信号C_n(图像信号S_n)的特性被转换为线性特性。

在步骤S164，图像处理单元362对于来自伽马转换单元361的合成信号C_n(其特性已经被转换为线性特性)执行预定图像处理(例如，彩色再现处理或者降噪处理)，并将图像处理之后的合成信号C_n供应到老化校正单元363。

在步骤S165到S167，执行与图18的步骤S3到S5相同的处理。

在步骤S168，控制单元26确定全体用于显示的有机EL元件是否已经设置为关注元件，且当确定全体用于显示的有机EL元件还未设置为关注元件时，控制单元26使得处理返回到步骤S165。

在步骤S165，控制单元26关注显示单元25中包括的用于显示的有机EL元件当中还没设置为关注元件的有机EL元件，设置被关注的有机EL元件为新的关注元件，并使得处理进行到步骤S166，且以下重复相同处理。

在步骤S168，当确定全体用于显示的有机EL元件已经设置为关注元件时，控制单元26使得处理进行到步骤S169。

在全体用于显示的有机EL元件设置为关注元件之后，包括示出设置为关注元件的有机EL元件的信号电位的图像信号S_n的合成信号C_n从图31的斜度校正单元71提供到逆伽马转换单元381。

在步骤S169，逆伽马转换单元381对于来自斜度校正单元71的合成信号C_n包括的斜度校正处理之后的图像信号S_n执行逆伽玛校正，并将逆伽玛校正之后的图像信号S_n供应到灰度校正单元382。通过逆伽玛校正，斜度校正处理之后的图像信号S_n的特性从线性特性转换为伽玛特性。

在步骤S170，灰度校正单元382将相同信号电位(Vsig)_n与由来自逆伽马转换单元381的图像信号S_n(其特性已经被转换为伽玛特性)示出的信号电位 ${\left({\mathrm{Vsig}}^{,}\right)}_n(=\&PlusMinus;\sqrt{\mathrm{\&alpha;}/{\mathrm{\&alpha;}}^{\&prime;}}\&times;{\left(\mathrm{Vsig}\right)}_n)$ 的(Vsig’)_n相加。

另外，灰度校正单元382将示出通过其相加获得的信号电位(Vsig”)的图 像信号S_n作为灰度校正处理之后的图像信号S_n供应到数据驱动器24。

也就是说，灰度校正单元382包括偏移量计算单元391和偏移校正单元392。

偏移量计算单元391基于在所述图中未示出的存储器中预先保存的用于偏移量计算的信息和来自亮度传感器25b的亮度测量结果，计算与斜度校正处理之后的图像信号S_n的信号电位的(Vsig)_n相加的偏移量(ΔVsig)_n，并将该偏移量供应到偏移校正单元392。

类似于偏移校正单元162，偏移校正单元392将来自逆伽马转换单元381的斜度校正处理之后的图像信号S_n的信号电位的(Vsig)_n与来自偏移量计算单元391的偏移量(ΔVsig)_n相加。

偏移校正单元392将使用作为信号电位(Vsig”)_n的作为其相加结果获得的信号电位的图像信号S_n作为灰度校正处理之后的图像信号S_n供应到数据驱动器24。

在步骤S171到S174中，执行与图18的步骤S8到S11相同的处理。另外，处理返回到步骤S161且以下重复相同处理。

第三显示处理在显示装置341的电源断开时结束。

如上所述，根据第三显示处理，对于其特性已经被转换为线性特性的图像信号执行逆伽玛校正。另外，对于通过逆伽玛校正获得的其特性已经被转换为伽玛特性的图像信号执行灰度校正处理。

为此，根据第三显示处理，可以以相同偏移量校正灰度，而无论关注元件的信号电位如何，如图32所示。因此，可能减轻灰度校正处理的负担。

另外，在其特性已经被转换为线性特性的图像信号中，与以相同偏移量校正灰度而无论关注元件的信号电位如何的情况相比，可以以高精度校正灰度。

在第一实施例中，例如，退化曲线估计单元105基于在所述图中未示出的内置存储器中保存的亮度退化基础曲线和来自亮度传感器25b的亮度测量结果，估计用于显示的有机EL元件的亮度退化曲线。

同时，因为亮度退化曲线由于发光期间有机EL元件的温度而改变，期望基于有机EL元件的温度估计亮度退化曲线。

[4.第四实施例]

[显示装置401的配置实例]

接下来，图34图示作为第四实施例的显示装置401的配置实例。

显示装置401基于发光期间有机EL元件的温度估计亮度退化曲线。

在显示装置401中，具有与作为第一实施例的显示装置1(图1)的情况相同配置的部分以相同的附图标记表示，且以下适当地省略其说明。

也就是说，除了代替图1的老化校正单元23和显示单元25提供老化校正单元421和显示单元422之外，该显示装置401具有与图1的显示装置1相同的配置。

来自信号合成单元22的合成信号C_n提供到老化校正单元421。老化校正单元421基于来自内置于显示单元422的温度传感器25c的温度，对于来自信号合成单元22的合成信号C_n中包括的图像信号S_n执行老化校正处理。通过老化校正处理，可以防止在显示单元422的显示屏幕25a出现老化。

显示单元422具有温度传感器25c，用以测量内置于其中的显示单元422的温度，且显示单元422的其他配置与显示单元25的配置相同。

温度传感器25c内置于显示单元422中，并测量显示单元422的温度和供应该温度到老化校正单元421。

[老化校正单元421的细节]

接下来，图35图示图34的老化校正单元421的具体配置实例。

老化校正单元421包括斜度校正单元441、灰度校正单元442、检测单元443和保存单元444。

来自信号合成单元22的合成信号C_n提供到斜度校正单元441。

斜度校正单元441从保存单元444读取紧接在来自信号合成单元22的合成信号C_n中包括的图像信号S_n之前输入的图像信号S_n-1的信号电位(Vsig)n-1和由温度传感器25c测量的温度d_n-1。

虽然以下将要描述，但是从信号合成单元22提供到斜度校正单元441的合成信号C_n-1中包括的图像信号S_n-1的信号电位(Vsig)_n-1和当在显示屏幕25a上显示与图像信号S_n-1对应的显示图像时显示单元25的内部温度d_n-1保存在保存单元444中。

显示单元25的内部温度d_n-1(几乎)与内置于显示单元25中的每一像素电路中包括的有机EL元件的温度相同。

斜度校正单元441基于从保存单元444读取的信号电位(Vsig)_n-1、温度 d_n-1和来自亮度传感器25b的亮度测量结果，计算校正量从而以初始斜度α校正因效率退化而减小的斜度α’。

另外，斜度校正单元441将来自信号合成单元22的合成信号C_n中包括的图像信号S_n的信号电位(Vsig)_n乘以计算出的校正量另外，斜度校正单元441将包括具有作为其相乘结果获得的信号电位的图像信号S_n的图像信号C_n供应到灰度校正单元442。

灰度校正单元442具有与图6的灰度校正单元相同的配置，并执行与灰度校正单元72相同的处理。

也就是说，例如，灰度校正单元442从保存单元444读取图像信号S_n的信号电位(Vsig)_n。

另外，灰度校正单元442基于从保存单元444读取的信号电位(Vsig)_n和来自亮度传感器25b的亮度测量结果，计算与偏移量Δk对应的(ΔVsig)_n从而以初始灰度k校正因电流退化而减小的灰度(k-Δk)。

另外，灰度校正单元442将与偏移量Δk对应的(ΔVsig)_n与来自斜度校正单元441的斜度校正处理之后的图像信号S_n的信号电位 ${\left({\mathrm{Vsig}}^{,}\right)}_n=\{\&PlusMinus;\sqrt{\mathrm{\&alpha;}/{\mathrm{\&alpha;}}^{\&prime;}}\&times;{\left(\mathrm{Vsig}\right)}_n\}$ 的(Vsig)_n相加。

灰度校正单元442将包括作为其相加结果获得的信号电位 ${\left({\mathrm{Vsig}}^{,,}\right)}_n=[\&PlusMinus;\sqrt{\mathrm{\&alpha;}/{\mathrm{\&alpha;}}^{\&prime;}}\&times;\{{\left(\mathrm{Vsig}\right)}_n+{\left(\mathrm{\&Delta;Vsig}\right)}_n\left\}\right]$ 的图像信号S_n，即，灰度校正处理之后的图像信号S_n的合成信号C_n供应到数据驱动器24。

类似于图6的检测单元73，检测单元443基于来自信号合成单元22的合成信号C_n中包括的图像信号检测图像信号S_n的信号电位(Vsig)_n，供应该信号电位到保存单元444，并由保存单元保存该信号电位。

另外，检测单元443将温度d_n从温度传感器25c供应到保存单元444并由保存单元保存该温度。

保存单元444保存信号电位(Vsig)_n和来自检测单元443的温度d_n。

斜度校正单元441使用来自温度传感器25c的温度d_n来对于图像信号S_n执行斜度校正处理的理由如下。

接下来，将参考图36描述图35的斜度校正单元441使用来自温度传感器25c的温度d_n的理由。

图36图示当亮度退化曲线根据显示单元422的温度的改变而改变时的实例。

在图36中，横轴示出时间且纵轴示出根据时间经过而减小的斜度。

在图36中，亮度退化曲线121’示出当电流I(L＝200nit)流到有机EL元件时有机EL元件的斜度的减小程度。在亮度退化曲线121’中，有机EL元件的斜度的减小程度根据显示单元422的内部温度(内置于显示单元422的有机EL元件的温度)的改变而变得不同，如图36所示。

也就是说，在亮度退化曲线121’中，当有机EL元件的温度增大时，有机EL元件的斜度以更快速度减小。

另外，在图36中，亮度退化曲线122’示出当电流I(L＝400nit)流到有机EL元件时有机EL元件的斜度的减小程度。在亮度退化曲线122’中，类似于亮度退化曲线121’的情况，有机EL元件的斜度的减小程度根据显示单元422的内部温度的改变而变得不同。

因此，在第四实施例中，在斜度校正单元441中，除来自亮度传感器25b的亮度测量结果之外，还基于来自温度传感器25c的温度估计亮度退化曲线，且改进了亮度退化曲线的估计的精度。

[斜度校正单元441的细节]

接下来，图37图示图35的斜度校正单元441的具体配置实例。

在斜度校正单元441中，具有与图7的斜度校正单元71相同配置的部分以相同附图标记表示，且以下适当地省略其说明。

也就是说，除了代替图7的校正量生成单元101和退化曲线估计单元105提供校正量生成单元461和退化曲线估计单元362之外，斜度校正单元441具有与图7的情况相同的配置。

类似于图7的校正量生成单元101，校正量生成单元461从斜度保存单元103读取关注元件的斜度α’。

另外，校正量生成单元461从保存单元444读取关注元件的信号电位(Vsig)_n-1和当显示与图像信号S_n-1对应的显示图像时显示单元422的内部温度d_n-1。

校正量生成单元461基于从保存单元444读取的关注元件的信号电位(Vsig)_n-1，计算流到关注元件的电流I_n-1。

另外，校正量生成单元461从退化曲线保存单元104读取退化曲线保存单元104中保存的多个亮度退化曲线当中与计算出的电流I_n-1和从保存单元444读取的温度d_n-1的组合对应的亮度退化曲线。

在图37的退化曲线保存单元104中，对于多个不同电流I(L＝Xnit,d＝Y)的每一值，基于通过测量电流I(L＝Xnit,d＝Y)已经流到的用于测量的有机EL元件的亮度而获得的测量结果估计的亮度退化曲线以与电流I(L＝Xnit)和温度d＝Y的组合相关联的形式保存。

这里，电流I(L＝Xnit,d＝Y)示出当显示单元422的内部温度d是Y时流到用于测量的有机EL元件的电流I(L＝Xnit)。

校正量生成单元461基于从斜度保存单元103读取的关注元件的斜度α’和从退化曲线保存单元104读取的亮度退化曲线，计算关注元件的最新斜度α’。

另外，校正量生成单元461供应关注元件的最新斜度α’到斜度保存单元103并通过重写保存(存储)该最新斜度。

另外，校正量生成单元461基于关注元件的最新斜度α’生成(计算)校正量并供应该校正量到校正量相乘单元102。将参考图38具体描述由校正量生成单元461生成校正量的方法。

类似于图7的退化曲线估计单元105，退化曲线估计单元462具有内置于其中的在所述图中未示出的存储器，且在存储器中预先保存当估计示出斜度的减小程度的亮度退化曲线时变为基础的亮度退化基础曲线。

退化曲线估计单元462基于来自亮度传感器25b的亮度测量结果、在所述图中未示出的存储器中预先保存的亮度退化基础曲线和来自温度传感器25c的温度，估计示出由于效率退化的用于显示的有机EL元件的亮度的减小的亮度退化曲线。

退化曲线估计单元462将作为其估计结果获得的亮度退化曲线供应到退化曲线保存单元104，并由退化曲线保存单元以与由亮度传感器25b测量的流到用于测量的有机EL元件的电流I(L＝Xnit)和在亮度传感器25b的测量时的温度d_n相关联的形式保存亮度退化曲线。

将参考图39和图40具体描述由退化曲线估计单元462估计亮度退化曲线的方法。

[由校正量生成单元461执行的校正量的生成]

接下来，图38图示图37的退化曲线保存单元104中保存的亮度退化曲线的实例。

在图38中，亮度退化曲线121₁’示出当在用于测量的有机EL元件的温 度是30度的情况下电流I(L＝200nit)流动时的斜度的退化。

另外，在图38中，亮度退化曲线121₂’示出当在用于测量的有机EL元件的温度是40度的情况下电流I(L＝200nit)流动时的斜度的退化。

亮度退化曲线121₁’和121₂’中的每一个由图37的退化曲线估计单元462生成(估计)，且提供到退化曲线保存单元104并保存在退化曲线保存单元中。

在图38中，横轴示出时间且纵轴示出斜度。

斜度校正单元441的校正量生成单元461从保存单元444读取关注元件的信号电位(Vsig)_n-1和关注元件的温度d_n-1。

另外，校正量生成单元461从退化曲线保存单元104读取退化曲线保存单元104中保存的多个亮度退化曲线当中与基于关注元件的已读取信号电位(Vsig)_n-1和关注元件的已读取温度d_n-1的电流I_n-1对应的亮度退化曲线。

也就是说，校正量生成单元461不同于校正量生成单元101在于从退化曲线保存单元104读取与关注元件的信号电位(Vsig)_n-1和关注元件的温度d_n-1对应的亮度退化曲线。然而，除了上述差别之外，校正量生成单元461执行与校正量生成单元101相同的处理。

具体地，例如，当电流I_n-1是电流(I＝200nit)且温度d_n-1是30度时，校正量生成单元461从退化曲线保存单元104读取与电流I(L＝200nit)和温度d＝30度相关联的亮度退化曲线121₁’。

类似于校正量生成单元101，校正量生成单元461从斜度保存单元103读取关注元件的斜度α’。另外，校正量生成单元461基于关注元件的已读取斜度α’和从退化曲线保存单元104读取的亮度退化曲线121₁’，执行与图9的校正量生成单元101相同的处理。

另外，校正量生成单元461将以与图9的校正量生成单元101同样的方式生成的校正量供应到校正量相乘单元102。

例如，当电流I_n-1是电流I(L＝200nit)且温度d_n-1是40度时，校正量生成单元461从退化曲线保存单元104读取与电流I(L＝200nit)和d＝40度相关联的亮度退化曲线121₂’。

另外，类似于校正量生成单元101，校正量生成单元461从斜度保存单元103读取关注元件的斜度α’。另外，校正量生成单元461基于已读取关注元件的斜度α’和从退化曲线保存单元104读取的亮度退化曲线121₂’，执行与图9的校正量生成单元101相同的处理。

也就是说，例如，在关注元件的斜度α’＝α的情况下，当基于亮度退化曲线121₁’计算关注元件的最新斜度α’时，校正量生成单元461执行以下处理。

也就是说，类似于校正量生成单元101，校正量生成单元461将亮度退化曲线121₁’上的点P0(与关注元件的斜度α’＝α对应的点P0)移动到在经过时间t4之后的点P1”，对于该时间t4，电流I(L＝200nit,d＝30)已经流到关注元件并计算了关注元件的最新斜度α＝α₁’。

在图38中，与图9中描述的斜度α’相同的斜度α₁’、α₂’和α₃’图示为纵轴中描述的斜度α’以清楚地构成与图9的对应关系。然而，斜度实际上不同。

也就是说，图38中描述的斜度α₁’、α₂’和α₃’通常不同于如图9所示的斜度α₁’、α₂’和α₃’。

例如，在关注元件的斜度α’＝α₁’的情况下，当基于亮度退化曲线121₁’计算关注元件的最新斜度α’＝α₂’时，校正量生成单元461执行以下处理。

也就是说，类似于校正量生成单元101，校正量生成单元461将亮度退化曲线121₁’上的点P1’’(与关注元件的斜度α’＝α₁’对应的点P1”)移动到经过时间t5之后的点P2”，对于该时间t5，电流I(L＝200nit,d＝30)已经流到关注元件并计算了关注元件的最新斜度α＝α₂’。

例如，在关注元件的斜度α’＝α₂’的情况下，当基于亮度退化曲线121₂’计算关注元件的最新斜度α’＝α₃’时，校正量生成单元461执行以下处理。

也就是说，类似于校正量生成单元101，校正量生成单元461将亮度退化曲线121₂’上的点P1”’(与关注元件的斜度α’＝α₂’对应的点P1”’)移动经过时间t6之后的点P2”’，对于该时间t6，电流I(L＝200nit,d＝40)已经流到关注元件并计算了关注元件的最新斜度α’＝α₃’。

[由退化曲线估计单元462执行的亮度退化曲线的估计]

接下来，将参考图39和图40描述由图37的退化曲线估计单元462估计亮度退化曲线的估计方法的实例。

图39图示当退化曲线估计单元462基于来自亮度传感器25b的亮度测量结果和来自温度传感器25c的温度的测量结果来估计亮度退化曲线时的实例。

在图39中，横轴示出时间且纵轴示出斜度。

首先，将描述示出当显示单元422的内部温度是30度时，由退化曲线估 计单元462估计电流I(L＝200nit)流到的用于测量的有机EL元件的亮度的减小的亮度退化曲线121₁’(图38)的方法。

通过测量电流I(L＝200nit,d＝30)流到的用于测量的有机EL元件的亮度而获得的亮度L(t,I(L＝200nit,d＝30))从亮度传感器25b提供到退化曲线估计单元462。

这里，电流I(L＝200nit,d＝30)示出当显示单元422的内部温度是30度时流到用于测量的有机EL元件的电流I(L＝200nit)。

另外，显示单元422的内部温度d＝30，即，电流I(L＝200nit,d＝30)流到的用于测量的有机EL元件的温度d＝30从温度传感器25c提供到退化曲线估计单元462。

退化曲线估计单元462在所述图中未示出的内置存储器中预先存储示出当温度d是Y时流到有机EL元件的电流I(L＝Xnit)的电流I(L＝Xnit,d＝Y)的值。这里，电流I(L＝Xnit,d＝Y)的值与电流I(L＝Xnit)的值相同，而无论温度d＝Y如何。然而，为了说明的方便，电流表示为电流I(L＝Xnit,d＝Y)。

退化曲线估计单元462基于在所述图中未示出的内置存储器中预先保存的电流的值I(L＝200nit,d＝30)和来自亮度传感器25b的测量结果L(t,I(L＝200nit))，通过基于公式4导出的公式α(t,I(L＝200nit,d＝30))’＝L(t,I(L＝200nit))/I(L＝200nit,d＝30))，计算对于时间t的斜度α(t,I(L＝200nit,d＝30))’。

另外，退化曲线估计单元462在所述图中未示出的内置存储器中预先保存亮度退化基础曲线141₁’。亮度退化基础曲线141₁’是示出电流I(L＝200nit,d＝30)流到其的有机EL元件的亮度减小的平均亮度退化曲线。例如，亮度退化基础曲线141₁’成为当估计亮度退化曲线1211’时的基础。

退化曲线估计单元462基于计算出的斜度α(t,I(L＝200nit,d＝30))’和预先保存的亮度退化基础曲线141₁’，估计当电流I(L＝200nit,d＝30)流动时用于测量的有机EL元件的亮度退化曲线121₁’。

也就是说，例如，退化曲线估计单元462计算直到从获得斜度α(0,I(L＝200nit,d＝30))’时获得斜度α(t,I(L＝200nit,d＝30))’为止的时间Δt1’，如图39所示。

在图39中，图示与如图10所示的时间Δt1’、Δt1、Δt2’和Δt2相同的时间Δt1’、Δt1、Δt2’和Δt2，以清楚地构成与图10的对应关系。然而，时间实 际上不同。

也就是说，如图39所示的时间Δt1’、Δt1、Δt2’和Δt2通常不同于如图10所示的时间Δt1’、Δt1、Δt2’和Δt2。

另外，例如，退化曲线估计单元462计算亮度退化基础曲线141₁’中直到从获得斜度α(0,I(L＝200nit,d＝30))’＝α时获得斜度α(T,I(L＝200nit,d＝30))为止的时间Δt1，如图39所示。

另外，退化曲线估计单元462基于计算出的时间Δt1’和Δt1，来计算示出亮度退化曲线141₁’的斜度α(t,I(L＝200nit))’的减小速度的温度加速系数Δt1’/Δt1。

退化曲线估计单元462将计算出的温度加速系数Δt1’/Δt1乘以示出亮度退化基础曲线141₁’的公式A(t,I(L＝200nit,d＝30))以估计亮度退化曲线121₁’，供应该亮度退化曲线到退化曲线保存单元104，并由退化曲线保存单元保存该亮度退化曲线。

也就是说，例如，退化曲线估计单元462将示出通过其相乘获得的新公式(Δt1’/Δt1)×A(t,I(L＝200nit,d＝30))的亮度退化曲线121’供应到退化曲线保存单元104并以与电流I(L＝200nit,d＝30)和温度d＝30的组合相关联的形式，由退化曲线保存单元保存该亮度退化曲线。

接下来，将描述示出当显示单元422的内部温度是40度时，由退化曲线估计单元462估计电流I(L＝400nit)流到的用于测量的有机EL元件的亮度减小的亮度退化曲线122₂’(图38)的方法。

例如，通过测量电流I(L＝200nit,d＝40)流到的用于测量的有机EL元件的亮度而获得的亮度L(t,I(L＝200nit,d＝40))从亮度传感器25b提供到退化曲线估计单元462。

这里，电流I(L＝200nit,d＝40)示出当显示单元422的内部温度是40度时流到用于测量的有机EL元件的电流I(L＝200nit)。

另外，显示单元422的内部温度d＝40，即，电流I(L＝200nit,d＝40)流到的用于测量的有机EL元件的温度d＝40从温度传感器25c提供到退化曲线估计单元462。

退化曲线估计单元462基于在所述图中未示出的内置存储器中预先保存的电流的值I(L＝200nit,d＝40)和来自亮度传感器25b的测量结果L(t,I(L＝200nit))，通过基于公式4导出的公式α(t,I((L＝200nit,d＝40))’ ＝L(t,I(L＝200nit))/I(L＝200nit,d＝40)，计算对于时间t的斜度α(t,I(L＝200nit,d＝30))’。

另外，退化曲线估计单元462在所述图中未示出的内置存储器中预先保存亮度退化基础曲线141₂’。亮度退化基础曲线141₂’是示出电流I(L＝200nit,d＝40)流到其的有机EL元件的亮度减小的平均亮度退化曲线。例如，亮度退化基础曲线141₂’成为当估计亮度退化曲线121₂’时的基础。

退化曲线估计单元462基于计算出的斜度α(t,I(L＝200nit,d＝40))’和预先保存的亮度退化基础曲线141₂’，估计当电流I(L＝200nit,d＝40)流动时用于测量的有机EL元件的亮度退化曲线121₂’。

也就是说，例如，退化曲线估计单元462计算直到从获得斜度α(0,I(L＝200nit,d＝40))’＝α时获得斜度α(T,I(L＝200nit,d＝40))’为止的时间Δt2’，如图39所示。

另外，例如，退化曲线估计单元462计算在亮度退化基础曲线141₂’中直到从获得斜度α(0,I(L＝200nit,d＝40))’时获得斜度α(T,I(L＝200nit,d＝40))'为止的时间Δt2，如图39所示。

另外，退化曲线估计单元462基于计算出的时间Δt2’和Δt2，计算示出亮度退化曲线141₂’的斜度α(t,I(L＝200nit,d＝40))’的减小速度的温度加速系数Δt2’/Δt2。

退化曲线估计单元462将计算出的温度加速系数Δt2’/Δt2乘以示出亮度退化基础曲线141₂’的公式A(t,I(L＝200nit,d＝40))以估计亮度退化曲线121₂’，供应该亮度退化曲线到退化曲线保存单元104，并由退化曲线保存单元保存该亮度退化曲线。

也就是说，例如，退化曲线估计单元462将示出通过其相乘获得的新公式(Δt2’/Δt2)×A(t,I(L＝200nit,d＝40))的亮度退化曲线121₂’供应到退化曲线保存单元104并以与电流I(L＝200nit,d＝40)和温度d＝40的组合相关联的形式，由退化曲线保存单元保存该亮度退化曲线。

该退化曲线估计单元462在所述图中未示出的内置存储器中预先保存多个亮度退化基础曲线(例如，亮度退化基础曲线141₁’和141₂’)。

然而，当退化曲线估计单元462对于多个不同电流I(L＝Xnit,d＝Y)中的每一个估计电流I(L＝Xnit,d＝Y)流到的用于测量的有机EL元件的亮度退化曲线时，需要在内置存储器中保存与多个不同电流I(L＝Xnit,d＝Y)的数目对应的数 目的亮度退化基础曲线。

在这种情况下，需要根据亮度退化基础曲线的数目增大存储器的存储容量。

因此，类似于退化曲线估计单元105的情况，在退化曲线估计单元462中，多个亮度退化基础曲线的任何亮度退化基础曲线可以保存为即使估计任何亮度退化曲线时可以使用的主曲线且可以节省存储器的存储容量。

另外，退化曲线估计单元462可以对于多个不同电流I(L＝Xnit)中的每一个保存一个主曲线，且可以进一步节省存储器的存储容量。

接下来，图40图示当亮度退化曲线141₁’用作电流I(L＝200nit)的主曲线时的实例。

如图40所示的亮度退化曲线141₁’示出电流I(L＝200nit)的主曲线。

在对于电流I(L＝200dit,d＝Y)流到的用于测量的有机EL元件估计亮度退化曲线时使用用作主曲线的亮度退化曲线1411’，而无论显示单元422的内部温度d＝Y如何。

例如，退化曲线估计单元462基于来自亮度传感器25b的测量结果计算示出斜度的减小程度的函数161₁。

另外，例如，退化曲线估计单元462从温度传感器25c获取作为来自温度传感器25c的测量结果的温度d。

另外，退化曲线估计单元462基于用作主曲线的亮度退化基础曲线141₁’和函数161₁计算温度加速系数Δt1’/Δt1。以下，退化曲线估计单元462估计如上所述的亮度退化曲线。

另外，退化曲线估计单元462基于来自温度传感器25c的温度d确定像素电路184的温度是否已经从30度变化到40度。

另外，当基于来自温度传感器25c的温度d确定像素电路184的温度已经从30度变化到40度时，退化曲线估计单元462在温度d改变为40度之后，基于通过亮度传感器25b的测量获得的测量结果计算函数161₂。

另外，退化曲线估计单元462基于用作主曲线的亮度退化基础曲线141₁’和函数161₂计算温度加速系数Δt2’/Δt2。以下，退化曲线估计单元462估计如上所述的亮度退化曲线。

另外，退化曲线估计单元462基于来自温度传感器25c的温度d确定像素电路184的温度是否已经从40度变化到30度。

另外，当基于来自温度传感器25c的温度d确定像素电路184的温度已经从40度变化到30度时，退化曲线估计单元462在温度d改变为30度之后，基于通过亮度传感器25b的测量而获得的测量结果计算函数161₃。

另外，退化曲线估计单元462基于用作主曲线的亮度退化基础曲线141₁’和函数161₃计算温度加速系数Δt3’/Δt3。以下，退化曲线估计单元462估计如上所述的亮度退化曲线。

[显示装置401的操作的说明]

接下来，将参考图41的流程图描述由图34的显示装置401执行的显示处理(以下，称为第四显示处理)。

第四显示处理在显示装置401的电源接通时开始。

在步骤S191和S192，执行与图18的步骤S1和S2相同的处理。

在步骤S193，控制单元26顺序地关注显示单元422中包括的用于显示的有机EL元件并设置被关注的有机EL元件为关注元件。

在步骤S194，老化校正单元421的检测单元443基于来自信号合成单元22的合成信号C_n中包括的图像信号S_n检测关注元件的信号电位(Vsig)_n，供应该信号电位到保存单元444，并由保存单元保存该信号电位。

在步骤S195，老化校正单元421的检测单元443检测作为来自温度传感器25c的测量结果的温度d_n作为关注元件的温度d_n，供应该温度到保存单元444，并由保存单元保存该温度。温度d_n基于关注元件的信号电位(Vsig)_n示出当关注元件发光时显示单元422的内部温度。

显示单元422的内部温度d_n(几乎)与关注元件的温度d_n相同。

在步骤S196，老化校正单元421的斜度校正单元441对于从信号合成单元22提供的关注元件的信号电位(Vsig)_n执行使用温度d_n-1的斜度校正处理。将参考图42的流程图描述斜度校正处理的细节。

斜度校正单元441将斜度校正处理中的校正之后的关注元件的信号电位 ${\left({\mathrm{Vsig}}^{,}\right)}_n(=\&PlusMinus;\sqrt{\mathrm{\&alpha;}/{\mathrm{\&alpha;}}^{\&prime;}}\&times;{\left(\mathrm{Vsig}\right)}_n)$ 供应到灰度校正单元442。

在步骤S197，类似于灰度校正单元72，老化校正单元421的灰度校正单元442执行灰度校正处理，该灰度校正处理用于将与偏移量对应的(ΔVsig)_n与从斜度校正单元441提供的关注像素的信号电位相加并用于以初始灰度k校正关注像素中的灰度(k-Δk)。

在步骤S198，控制单元26确定显示单元422中包括的全体用于显示的 有机EL元件是否已经设置为关注元件，且当确定全体用于显示的有机EL元件还未设置为关注元件时，控制单元26将该处理返回到步骤S193。

在步骤S193，控制单元26关注显示单元422中包括的用于显示的有机EL元件当中还没设置为关注元件的有机EL元件，设置被关注的有机EL元件为新的关注元件，并使得处理进行到步骤S419。以下，重复相同处理。

在步骤S198，当确定显示单元422中包括的全体用于显示的有机EL元件已经设置为关注元件时，控制单元26使得处理进行到步骤S199。

在全体用于显示的有机EL元件设置为关注元件之后，包括示出设置为关注元件的有机EL元件的信号电位 ${\left({\mathrm{Vsig}}^{,}\right)}_n(=\&PlusMinus;\sqrt{\mathrm{\&alpha;}/{\mathrm{\&alpha;}}^{\&prime;}}\&times;\{{\left(\mathrm{Vsig}\right)}_n+{\left(\mathrm{\&Delta;Vsig}\right)}_n\left\}\right)$ 的图像信号S_n的合成信号C_n提供到数据驱动器24。

在步骤S199到S201中，执行与图18的步骤S8到S10相同的处理。

在步骤S202，斜度校正单元441执行退化曲线估计处理，该退化曲线估计处理用于除来自亮度传感器25b的亮度测量结果之外还基于来自温度传感器25c的温度的测量结果估计亮度退化曲线，并保存该亮度退化曲线。将参考图43的流程图具体描述退化曲线估计处理。

在步骤S202结束之后，处理返回到步骤S191且在下面执行相同的处理。

第四显示处理在显示装置401的电源断开时结束。

如上所述，根据第四显示处理，基于有机EL元件的温度执行斜度校正处理。为此，根据有机EL元件的温度，可以更精确地以初始斜度α校正斜度的减小速度变得不同的有机EL元件的斜度α’。

另外，根据第四显示处理，当用于测量的有机EL元件的温度改变时，基于在温度改变之前获得的亮度测量结果估计在改变之前的温度的亮度退化曲线，并基于在温度改变之后获得的亮度测量结果估计在改变之后的温度的亮度退化曲线。

为此，与估计一条亮度退化曲线的情况相比，使用温度改变之前和之后获得的亮度测量结果两者，可以对于每一温度更精确地估计亮度退化曲线。

[由斜度校正单元441执行的斜度校正处理的细节]

接下来，将参考图42的流程图描述图41的步骤S196的斜度校正处理。

在步骤S221，类似于校正量生成单元101，校正量生成单元461从斜度保存单元103读取关注元件的斜度α’。

在步骤S222，类似于校正量生成单元101，校正量生成单元461从保存 单元444读取关注元件的信号电位(Vsig)_n-1。

在步骤S223，校正量生成单元461从保存单元444读取关注元件的温度d_n-1。

在步骤S224，校正量生成单元101基于从保存单元74读取的关注元件的信号电位(Vsig)_n-1，计算流到与关注像素对应的有机EL元件的电流I_n-1。

另外，校正量生成单元101从退化曲线保存单元104读取退化曲线保存单元104中保存的多个亮度退化曲线当中与计算出的电流I_n-1和从保存单元444读取的温度d_n-1的组合相关联的亮度退化曲线。

在步骤S225，类似于校正量生成单元101，校正量生成单元461基于从斜度保存单元103读取的关注元件的斜度α’和从退化曲线保存单元104读取的亮度退化曲线，计算关注元件的最新斜度α’。

另外，校正量生成单元101将关注元件的最新斜度α’供应到斜度保存单元103，并通过重写保存(存储)该最新斜度。

在步骤S226，类似于校正量生成单元101，校正量生成单元461基于关注元件的最新斜度α’生成(计算)校正量并供应该校正量到校正量相乘单元102。

在步骤S227，执行与图19的步骤S36相同的处理。也就是说，校正量相乘单元102将关注元件的信号电位(Vsig)_n乘以来自校正量生成单元461的校正量

然后，图42的斜度校正处理结束且处理返回到图41的步骤S196。校正量相乘单元102将通过相乘获得的信号电位作为已经以初始斜度α校正了斜度α’的关注元件的信号电位(Vsig’)_n供应到灰度校正单元442，且执行之后的处理。

[由退化曲线估计单元462执行的退化曲线估计处理的细节]

接下来，将参考图43的流程图描述图41的步骤S202中的退化曲线估计处理。

在步骤S241，退化曲线估计单元462从温度传感器25c获取显示单元422的内部温度d＝Y。温度传感器25c适当地测量显示单元422的内部温度，并将温度d＝Y作为其测量结果供应到退化曲线估计单元462。

当在步骤S241获取的温度d＝Y与在先前的退化曲线估计处理中在步骤S241获取的温度d＝Y相同时，可以跳过步骤S242到S246且图43的退化曲 线估计处理可以结束。

这是基于当在步骤S241获取的温度d＝Y与在先前的退化曲线估计处理中在步骤S241获取的温度d＝Y相同时，在显示单元422的内部温度是温度d＝Y时的亮度退化曲线被生成并被完全地保存在退化曲线保存单元104中。

在步骤S242，退化曲线估计单元462顺序地关注多个亮度传感器25b，并将被关注的亮度传感器25b设置为关注传感器。

通过测量电流I(L＝Xnit,d＝Y)流到的用于测量的像素电路的亮度而获得的亮度L(t,I(L＝Xnit,d＝Y))从关注传感器提供到退化曲线估计单元462。

另外，电流I(L＝Xnit,d＝Y)的Xnit是对于每一关注传感器预先确定的值。然而，电流I(L＝Xnit,d＝Y)的Y是根据显示单元422的内部温度d＝Y改变的值。

在步骤S243，退化曲线估计单元462基于在所述图中未示出的内置存储器中预先保存的电流的值I(L＝Xnit,d＝Y)和来自关注传感器的亮度L(t,I(L＝Xnit,d＝Y))，计算斜度α(t,I(L＝Xnit,d＝Y))。

也就是说，例如，退化曲线估计单元462基于在所述图中未示出的内置存储器中预先保存的电流的值I(L＝200nit,d＝Y)和来自亮度传感器25b的测量结果L(t,I(L＝200nit,d＝Y))，通过基于公式4导出的公式α(t,I(L＝200nit,d＝Y))’＝L(t,I(L＝200nit,d＝Y))/I(L＝200nit,d＝Y)，计算对于时间t的斜度α(t,I(L＝200nit,d＝Y))’。

在步骤S244，退化曲线估计单元462基于计算出的斜度α(t,I(L＝Xnit,d＝Y))和在所述图中未示出的内置存储器中预先保存的亮度退化基础曲线，计算与亮度退化基础曲线相乘的加速系数。

也就是说，例如，退化曲线估计单元462计算直到从获得斜度α(0,I(L＝200nit,d＝30))’时获得斜度α(T,I(L＝200nit,d＝30))为止的时间Δt1’，如图39所示。

另外，例如，退化曲线估计单元462计算在亮度退化基础曲线141₁’中直到从获得斜度α(0,I(L＝200nit,d＝30))’＝α时获得斜度α(T,I(L＝200nit,d＝30))’为止的时间Δt1，如图39所示。

另外，退化曲线估计单元462基于计算出的时间Δt1’和Δt1计算温度加速系数Δt1’/Δt1。

在步骤S245，退化曲线估计单元462基于计算出的温度加速系数和在所 述图中未示出的存储器中预先保存的亮度退化基础曲线来估计亮度退化曲线，并将亮度退化曲线提供到退化曲线保存单元104，并由退化曲线保存单元保存亮度退化曲线。

也就是说，例如，退化曲线估计单元462将计算出的加速系数Δt1’/Δt1乘以示出亮度退化基础曲线141₁’的公式A(t,I(L＝200nit,d＝30))。另外，退化曲线估计单元462将示出通过相乘获得的新公式(Δt1’/Δt1)×A(t,I(L＝200nit,d＝30))的亮度退化曲线121₁’供应到退化曲线保存单元104并以与在步骤S241获取的电流I(L＝200nit)的值和温度d＝30相关联的形式，由退化曲线保存单元104保存该亮度退化曲线。

在步骤S246，退化曲线估计单元462确定是否多个亮度传感器25b的全部已经设置为关注元件且当确定全部多个亮度传感器25b还未设置为关注元件时，退化曲线估计单元462将处理返回到步骤S242。

在步骤S242，退化曲线估计单元462将多个亮度传感器25b当中还没设置为关注传感器的亮度传感器设置为新关注传感器，并使得处理进行到步骤S243。以下，执行相同处理。

在步骤S246，当由退化曲线估计单元462确定全部多个亮度传感器25b已经设置为关注传感器时，图43的退化曲线估计处理结束，处理返回到图41的步骤S202，且执行以后的处理。

<5.第五实施例>

[显示装置501的配置实例]

接下来，图44图示作为第五实施例的显示装置501的配置实例。

在显示装置501中，具有与作为第一实施例的显示装置1(图1)的情况相同配置的部分以相同的附图标记表示，且以下适当地省略其说明。

也就是说，除了提供同步信号生成单元521以及代替图1的信号合成单元22和显示单元25提供信号合成单元522和显示单元523之外，显示装置501具有与图1的情况相同的配置。

在图1的显示装置1中的显示屏幕25a中，与同步信号同步地显示显示图像。然而，在图1中，不图示生成同步信号的同步信号生成单元。同时，在图44的显示装置501中，为了便于说明图示了同步信号生成单元521。

同步信号生成单元521根据来自控制单元26的控制生成同步信号(水平 同步信号和垂直同步信号)并供应该同步信号到信号合成单元522和显示单元523。

来自外部的图像信号和来自假像素信号生成单元21的假像素信号被提供到信号合成单元522。

信号合成单元522与来自同步信号生成单元521的垂直同步信号同步地合成来自外部的图像信号和来自假像素信号生成单元21的假像素信号，并将作为其结果获得的合成信号提供到老化校正单元23。

接下来，图45图示用于由图44的信号合成单元522合成图像信号和假像素信号的合成处理的实例。

在图45的上侧，图示了通过在显示单元523中包括的用于显示的有机EL元件根据图像信号的发光在显示单元523的显示屏幕25a上显示的显示图像41的实例。

另外，在图45的下侧，图示了通过在显示单元523中包括的用于测量的有机EL元件根据假像素信号的发光而获得的假图像42’的实例。假图像42’不显示在显示单元523的显示屏幕25a上且仅用于内置于显示单元523的亮度传感器25b的亮度的测量。

该信号合成单元522合成图像信号和假像素信号，以使得在显示图像41的下侧布置假图像42’，如图45所示。

由此，该信号合成单元522合成图像信号和假像素信号以生成示出如图46所示的合成图像43’的合成信号，并向老化校正单元246提供该合成信号。

另外，信号合成单元522可以合成图像信号和假像素信号以使得假图像42’布置在显示图像41的上侧。在这种情况下，在显示单元523中，在显示屏幕25a的上侧提供亮度传感器25b。

返回到图44，显示单元523具有显示屏幕25a和亮度传感器25b。在显示单元523中，显示屏幕25a和亮度传感器25b的位置关系不同于图1的显示单元25的情况的位置关系。这将参考图51具体描述。

另外，显示单元523基于来自数据驱动器24的合成信号C_n中包括的图像信号S_n，使得内置的用于显示的有机EL元件与来自同步信号生成单元521的同步信号同步地发光。由此，与图像信号S_n对应的显示图像41显示在显示单元523的显示屏幕25a上。

另外，显示单元523基于来自数据驱动器24的合成信号C_n中包括的假 像素信号，使得内置的用于测量的有机EL元件与来自同步信号生成单元521的同步信号同步地发光。

在显示单元523，亮度传感器25b提供在包括用于测量的有机EL元件的像素电路附近并测量像素电路中包括的有机EL元件的亮度，并将其测量结果供应到老化校正单元23。

另外，类似于如图14所示的显示单元25，在显示单元523中提供像素电路184-(1,1)到184-(N,M)。

在图14的显示单元25中，像素电路184-(1,M)、像素电路184-(2,M)、...和像素电路184-(N,M)中包括的有机EL元件是用于测量的有机EL元件。

同时，在显示单元523中，内置于显示单元523的像素电路184-(1,1)到184-(N,M)当中像素电路184-(N,1)、像素电路184-(N,2)、...和像素电路184-(N,M)中包括的有机EL元件是用于测量的有机EL元件。这点不同于显示单元25。

在显示单元523中，亮度传感器25b₁、亮度传感器25b₂、...和亮度传感器25b_n提供在像素电路184-(N,2)、...和像素电路184-(N,M)中包括的有机EL元件附近。

接下来，图47图示显示单元523使得用于显示的有机EL元件和用于测量的有机EL元件与来自同步信号生成单元521的同步信号同步地发光的方面的实例。

在图47中，在上侧图示了作为从合成图像43’的显示开始直到下一合成图像43’的显示开始为止的时段的垂直同步时段。垂直同步时段示出在从同步信号生成单元22输出的垂直同步信号中从生成下降沿起直到生成下一下降沿为止的时段。

另外，垂直同步时段包括多个水平同步时段和消隐时段，如图47所示。

水平同步时段示出在从同步信号生成单元521输出的水平同步信号中从生成下降沿起直到生成下一下降沿为止的时段。另外，水平同步句点是使得与配置合成图像43’的每一行对应的有机EL元件发光的时段。

显示单元523与来自同步信号生成单元521的垂直同步信号和水平同步信号同步地，基于从数据驱动器24提供的合成信号C_n，使得用于显示的有机EL元件和用于测量的有机EL元件在预定的垂直同步时段中发光。

也就是说，例如，在垂直同步时段中与来自同步信号生成单元22的水平 同步信号同步地，显示单元523开始配置合成图像43的每一行的显示，而无论何时在水平同步信号中生成下降沿。

由此，如图48所示，在垂直同步时段中配置显示图像41的每一行从上侧起以光栅扫描顺序显示在显示屏幕25a上，而无论何时在水平同步信号中生成下降沿。

另外，在垂直同步时段中，在显示图像41显示在显示屏幕25a上之后，当在水平同步信号中生成下降沿时，使得作为假图像42’发光的用于测量的有机EL元件发光。

然后，在垂直同步时段中，使得用于显示的有机EL元件和用于测量的有机EL元件发光的多个水平同步时段结束且消隐时段开始。在消隐时段结束之后，下一垂直同步时段到来且以下重复相同处理。

在消隐时段中，通过由信号合成单元522执行的合成生成与在下一垂直同步时段中使用的合成图像43对应的合成信号。另外，在消隐时段中，由老化校正单元23校正由信号合成单元522生成的合成信号，由数据驱动器24关于校正之后的合成信号执行AD转换，且合成信号提供到显示单元523。

在显示单元523中，在下一垂直同步时段中使用从数据驱动器24提供的AD转换之后的合成信号执行上述处理。

信号合成单元522在消隐时段中执行用于将假图像42’耦合到显示图像41的下侧的合成处理。也就是说，信号合成单元522可以对于每一垂直同步时段执行合成处理。

同时，当类似信号合成单元22执行用于将假图像52耦合到显示图像41的右侧的合成处理时，需要对于每一水平同步时段执行用于耦合在下一水平同步时段中显示的假图像42’(的一部分)的合成处理。

接下来，图48图示图1的显示单元25使得用于显示的有机EL元件和用于测量的有机EL元件与来自在所述图中未示出的同步信号生成单元的同步信号同步地发光的方面的实例。

在图48中，在上侧图示了作为从合成图像43的显示开始直到下一合成图像43的显示开始为止的时段的垂直同步时段。垂直同步时段示出在从在所述图中未示出的同步信号生成单元输出的垂直同步信号中从生成下降沿起直到生成下一下降沿为止的时段。

另外，垂直同步时段包括多个水平同步时段，如图48所示。在图48中， 消隐时段可以设置在垂直同步时段中。

显示单元25与来自在所述图中未示出的同步信号生成单元的垂直同步信号同步地，基于从数据驱动器24提供的合成信号C_n，使得用于显示的有机EL元件和用于测量的有机EL元件在预定的垂直同步时段中发光。

也就是说，例如，在垂直同步时段中与来自同步信号生成单元22的水平同步信号同步地，显示单元523开始配置合成图像43的每一行的显示，而无论何时在水平同步信号中生成下降沿。

由此，如图48所示，在垂直同步时段中配置显示图像41的每一行从上侧起以光栅扫描顺序显示在显示屏幕25a上，而无论何时在水平同步信号中生成下降沿。

另外，在垂直同步时段中，使得作为假图像42’作为一部分发光的用于测量的有机EL元件发光，而无论何时在水平同步信号中生成下降沿。

然后，在垂直同步时段结束之后，在下一垂直同步时段中重复相同处理。

在这种情况下，信号合成单元22需要对于每一水平同步时段执行用于耦合与使得在下一水平同步时段中发光的用于测量的有机EL元件对应的假图像42的一部分的合成处理。

同时，在信号合成单元522中，因为可以对于每一垂直同步时段执行合成处理，所以可以减轻处理的负担。

另外，因为信号合成单元522将假图像42’耦合到显示图像41的下侧，所以可以使用用于显示图像41的数据驱动器241到243，如图49所示。

也就是说，可以使用视频信号线供应假像素信号，以将图像信号从数据驱动器24供应到显示单元523。

图49图示提供三个数据驱动器241到243作为用于显示图像41的数据驱动器24的情况的实例。

同时，当类似信号合成单元22地执行假图像42耦合到显示图像41的右侧时，需要新提供用于假图像42的数据驱动器244，如图50所示。也就是说，需要新提供视频信号线以将假像素信号从数据驱动器24供应到显示单元523。

因此，在显示装置501中，因为不需要新提供用于假图像42的数据驱动器244作为数据驱动器24，所以显示装置501的制造成本可以抑制得很低。

[显示单元523的外部实例]

接下来，图51图示图44的显示单元523的前视图。

类似于图14的显示单元25，显示单元523由具有矩形形状的三维外壳制成，且水平选择器181、写入扫描仪182、电源扫描仪183和多个像素电路184-(1,1)到184-(N,M)内置于外壳中。

另外，在显示单元523中，如图51所示，在外壳的中心提供显示屏幕25a。另外，在显示单元523中，多个亮度传感器25b₁到25b_n以内置于的外壳的形式布置在显示屏幕25a的下侧。

多个亮度传感器25b₁、25b₂、...和25b_N提供在显示单元523的外壳中提供的像素电路184-(N,1)、184-(N,2)、...和184-(N,M)附近。

多个亮度传感器25b₁、25b₂、...和25b_N测量像素电路184-(N,1)、184-(N,2)、...和184-(N,M)中包括的有机EL元件的亮度。

也就是说，除了代替如图14所示的亮度传感器25b₁、25b₂、...和25b_M，在显示单元523的外壳中提供的像素电路184-(N,1)、184-(N,2)、...和184-(N,M)附近提供亮度传感器25b₁到25b_N之外，显示单元523具有与显示单元25相同的配置。

[显示装置501的操作的说明]

接下来，图52图示由图44的显示装置501执行的显示处理(以下，称为第五显示处理)。

第五显示处理在显示装置501的电源接通时开始。

在步骤S261，假像素信号生成单元21执行与图18的步骤S1相同的处理。也就是说，例如，假像素信号生成单元21生成假像素信号以使得内置于显示单元523的用于测量的有机EL元件发光并向信号合成单元522提供假像素信号。

在步骤S262，同步信号生成单元521根据来自控制单元26的控制生成同步信号(水平同步信号和垂直同步信号)并供应该同步信号到信号合成单元522和显示单元523。

在步骤S263，基于来自同步信号生成单元521的同步信号，信号合成单元522在消隐时段中合成图像信号和假像素信号，以使得假图像42’布置在显示图像41的下侧。

另外，信号合成单元522将通过合成获得的合成信号C_n供应到老化校正单元23。

在步骤S264，老化校正单元23对于来自信号合成单元522的合成信号C_n中包括的图像信号S_n，执行图18的步骤S3到S7中描述的老化校正处理。另外，老化校正单元23将老化校正处理之后的包括图像信号S_n的合成信号C_n供应到数据驱动器24。

在步骤S265，数据驱动器24执行与图18的步骤S8相同的处理。也就是说，例如，数据驱动器24对于来自老化校正单元23的合成信号执行AD转换，并将AD转换之后的合成信号C_n提供到显示单元523。

在步骤S266，显示单元523与来自同步信号生成单元521的垂直同步信号和水平同步信号同步地，基于从数据驱动器24提供的合成信号C_n，使得用于显示的有机EL元件和用于测量的有机EL元件在预定的垂直同步时段中发光。

也就是说，例如，在垂直同步时段中与来自同步信号生成单元22的水平同步信号同步地，显示单元523开始配置合成图像43的每一行的显示，而无论何时在水平同步信号中生成下降沿。

由此，如图48所示，在垂直同步时段中配置显示图像41的每一行从上侧起以光栅扫描顺序显示在显示屏幕25a上，而无论何时在水平同步信号中生成下降沿。

另外，在垂直同步时段中，在显示图像41显示在显示屏幕25a上之后，当在水平同步信号中生成下降沿时，使得作为假图像42’发光的用于测量的有机EL元件发光。

在步骤S267和S268，执行与图18的步骤S10和S11相同的处理。在步骤S268结束之后，处理返回到步骤S261且在下面执行相同的处理。

第五显示处理在显示装置501的电源断开时结束。

如上所述，根据第五显示处理，因为用于测量的有机EL元件布置在用于显示的有机EL元件的上侧或者下侧，所以可以对于每一垂直同步时段执行合成处理。因此，可以减轻合成处理的负担。

也就是说，例如，在对于每一垂直同步时段执行合成处理的情况下，与对于每一水平同步时段执行合成处理的情况相比，可以以大约1/1000的时段执行合成处理。因此，可以减轻合成处理的负担。

另外，因为不需要新提供用于假像素信号的信号驱动器，所以可以节省显示装置501的制造成本。

<6.修改>

在上面描述的的第一实施例中，已经描述了本发明应用于显示装置1的情况。然而，本发明可以应用于显示装置1构造为模块的电视接收机541，如图53所示。

电视接收机541具有内置于其中的显示装置1以使得露出显示装置1的显示屏幕25a。

另外，除电视接收机541之外，本发明可以应用于比如个人计算机、移动电话和摄像机之类的电子设备，其中构造显示装置1以使得露出显示装置1的显示屏幕25a。

另外，在第二到第五实施例中，类似于第一实施例，本发明可以应用于电子设备。

已经通过第一到第五实施例描述了显示装置的配置。然而，可以采用第一到第五实施例中描述的配置的任何组合作为显示装置的配置。

另外，本技术还可以如下配置。

(1)一种信号处理设备，包括：

信号合成单元，生成由使得用于显示图像的第一发光元件发光的图像信号和使得用于测量亮度的第二发光元件发光的假像素信号配置的第一合成信号；

转换单元，将生成的第一合成信号转换为第二合成信号以仅使得第一发光元件和第二发光元件中的第一发光元件以相同亮度发光，而无论第一发光元件的退化程度如何；和

发光控制单元，基于第二合成信号使得第一发光元件和第二发光元件发光。

(2)根据(1)的信号处理设备，

其中，转换单元基于测量第二发光元件的亮度的测量单元的亮度测量结果，将第一合成信号转换为第二合成信号。

(3)根据(1)或者(2)的信号处理设备，

其中，转换单元校正第一合成信号中包括的图像信号为使得第一发光元件以相同亮度发光而无论第一发光元件的退化程度如何的图像信号，并将第一合成信号转换为包括校正之后的图像信号的第二合成信号。

(4)根据(3)的信号处理设备，

其中，转换单元进一步将第一合成信号中包括的假像素信号校正为具有第一合成信号中包括的假像素信号的同一假像素信号，并将第一合成信号转换为第二合成信号。

(5)根据(2)到(4)的任何一个的信号处理设备，进一步包括：

显示单元，包括显示图像的显示屏幕，并具有内置于其中的第一发光元件、第二发光元件和测量单元，

其中，发光控制单元基于第二合成信号中包括的图像信号使得第一发光元件发光，并在显示屏幕上显示图像，和

发光控制单元基于第二合成信号中包括的假像素信号使得第二发光元件发光，并使得测量单元测量亮度。

顺便提及，上述的一系列处理例如可以由硬件执行，或者可以由软件执行。在该一系列处理由软件执行的情况下，配置该软件的程序从记录程序的介质安装在计算机中。这里，计算机的实例包括并入专用硬件的计算机，和能够通过安装各种程序执行各种功能的通用个人计算机。

该一系列处理可以由专用电路执行，除如图54所示的计算机之外，该专用电路由专用集成电路(ASIC)或者比如现场可编程门阵列(FPGA)之类的可编程LSI配置。

CPU(中央处理单元)561根据ROM(只读存储器)562或者存储单元568中存储的程序执行各种处理。RAM(随机存取存储器)563适当地存储由CPU561执行的程序、数据等。CPU561、ROM562和RAM563通过总线564彼此连接。

另外，输入/输出接口565通过总线564连接到CPU561。输入单元566和输出单元567连接到输入/输出接口565，输入单元566包括键盘、鼠标、麦克风等，输出单元567包括显示器、扬声器等。CPU561根据从输入单元566输入的各个指令执行各种处理。然后，CPU561输出处理结果到输出单元567。

连接到输入/输出接口565的存储单元568例如包括硬盘，并存储要由CPU561执行的程序和各种数据。通信单元569通过比如因特网或者局域网之类的网络与外部设备通信。

另外，程序可以通过通信单元569获取和存储在存储单元568中。

驱动器570连接到输入/输出接口565。当比如磁盘、光盘、磁光盘或者半导体存储器之类的可移除介质571加载到驱动器570上时，驱动器570驱动可移除介质411并获取可移除介质571中存储的程序、数据等。所获取的程序和数据根据需要传送到存储单元568，并存储在存储单元568中。

记录(存储)要安装在计算机中并使得可由计算机执行的程序的记录介质包括：作为封装介质的可移除介质571，包括磁盘(包括软盘)、光盘(包括CD-ROM(致密盘-只读存储器)和DVD(数字多用途盘))、磁光盘(包括MD(迷你盘))、半导体存储器等；临时或者永久地存储程序的ROM562；形成存储单元568的硬盘；等等，如图54所示。程序根据需要通过比如路由器或者调制解调器之类作为接口的通信单元569，或者通过利用比如局域网、因特网或者数字卫星广播之类的有线或者无线通信介质记录在记录介质中。

在本公开中，描述上述一系列处理的步骤可以包括根据描述顺序以时间顺序执行的处理，和不以时间顺序处理而是并行或者单独地执行的处理。

本公开不局限于上面描述的第一到第五实施例的任意一个，且在不脱离本公开的范围的情况下可以做出各种修改和变型。

附图标记列表

1显示装置

21假像素信号生成单元

22信号合成单元

23老化校正单元

24，24_n数据驱动器

25显示单元

25a显示屏幕

25b，25b₁到25b_M亮度传感器

25c温度传感器

26控制单元

71斜度校正单元

72灰度校正单元

73检测单元

74保存单元

101校正量生成单元

102校正量相乘单元

103斜度保存单元

104退化曲线保存单元

105退化曲线估计单元

161偏移量计算单元

162偏移校正单元

181水平选择器

182写入扫描仪

183电源扫描仪

184-(1,1)到184-(N,M)像素电路

201采样晶体管

202驱动晶体管

203存储电容器

204发光元件

205线路

241显示装置

261老化校正单元

281斜度校正单元

282灰度校正单元

283检测单元

284保存单元

301校正量生成单元

321偏移量计算单元

322偏移校正单元

341显示装置

361伽马转换单元

362图像处理单元

363老化校正单元

381逆伽马转换单元

382灰度校正单元

391偏移量计算单元

392偏移校正单元

401显示装置

421老化校正单元

422显示单元

441斜度校正单元

442灰度校正单元

443检测单元

444保存单元

461校正量生成单元

462退化曲线估计单元

501显示装置

521同步信号生成单元

522信号合成单元

523显示单元

541电视接收机

Claims (7)

1.一种信号处理设备，包括：

信号合成单元，生成由使得用于显示图像的第一发光元件发光的图像信号和使得用于测量亮度的第二发光元件发光的假像素信号配置的第一合成信号；

转换单元，将生成的第一合成信号转换为第二合成信号以仅使得第一发光元件和第二发光元件中的第一发光元件以相同亮度发光，而无论第一发光元件的退化程度如何；和

发光控制单元，基于第二合成信号使得第一发光元件和第二发光元件发光。

2.根据权利要求1的信号处理设备，

其中，所述转换单元基于测量第二发光元件的亮度的测量单元的亮度测量结果，将第一合成信号转换为第二合成信号。

3.根据权利要求2的信号处理设备，

其中，所述转换单元校正第一合成信号中包括的图像信号为使得第一发光元件以相同亮度发光而无论第一发光元件的退化程度如何的图像信号，并将第一合成信号转换为包括校正之后的图像信号的第二合成信号。

4.根据权利要求2的信号处理设备，进一步包括：

显示单元，包括显示图像的显示屏幕，并具有内置于所述显示单元中的第一发光元件、第二发光元件和测量单元,

其中，所述发光控制单元基于第二合成信号中包括的图像信号使得第一发光元件发光，并在显示屏幕上显示图像，和

所述发光控制单元基于第二合成信号中包括的假像素信号使得第二发光元件发光，并使得测量单元测量亮度。

5.一种处理信号的信号处理设备的信号处理方法，所述信号处理方法包括：

信号合成步骤，由所述信号处理设备生成由使得用于显示图像的第一发光元件发光的图像信号和使得用于测量亮度的第二发光元件发光的假像素信号配置的第一合成信号；

转换步骤，由所述信号处理设备将生成的第一合成信号转换为第二合成信号以仅使得第一发光元件和第二发光元件中的第一发光元件以同一亮度发光，而无论第一发光元件的退化程度如何；和

发光控制步骤，由所述信号处理设备基于第二合成信号使得第一发光元件和第二发光元件发光。

6.一种具有内置于其中的处理信号的信号处理设备的电子设备，

其中，所述信号处理设备包括

信号合成单元，生成由使得用于显示图像的第一发光元件发光的图像信号和使得用于测量亮度的第二发光元件发光的假像素信号配置的第一合成信号；

转换单元，将生成的第一合成信号转换为第二合成信号以仅使得第一发光元件和第二发光元件中的第一发光元件以同一亮度发光，而无论第一发光元件的退化程度如何，和

发光控制单元，基于第二合成信号使得第一发光元件和第二发光元件发光。

7.一种信号处理设备，包括：

信号合成单元，生成由使得用于显示图像的第一发光元件发光的图像信号和使得用于测量亮度的第二发光元件发光的假像素信号配置的第一合成信号；

转换单元，根据第一发光元件的发光时间将生成的第一合成信号转换为第二合成信号以增大仅流到第一发光元件和第二发光元件中的第一发光元件的电流的量；和

发光控制单元，基于第二合成信号使得第一发光元件和第二发光元件发光。