CN103885021A - 一种电子式互感器校验仪的性能检测方法和*** - Google Patents

Abstract

本发明属于电子式互感器校验仪的检测领域，提供了一种电子式互感器校验仪的性能检测方法和***。在本发明中，通过分别输入数值相同的预设模拟信号量和数字信号量，根据被测电子式互感器校验仪显示的模拟信号量和数字信号量计算被测电子式互感器校验仪的第一误差，然后叠加预设数字信号微差量在原有的数字信号量上，得到被测电子式互感器校验仪显示的理论差值，然后计算实际差值与理论差值的大小得到被测电子式互感器校验仪的第二误差，根据得到的误差和允许最大误差可以判断被测电子式互感器校验仪的性能，本发明提供的电子式互感器校验仪的检测方法简单，根据该检测方法设计的检测***设计简单且可靠性较高。

Description

一种电子式互感器校验仪的性能检测方法和***

技术领域

本发明属于电子式互感器校验仪的检测领域，尤其涉及一种电子式互感器校验仪的性能检测方法和***。

背景技术

随着智能电网技术突飞猛进的发展，数字化变电站的试点建设已经越来越多，根据广东电网公司“十二五”电网规划，在全省21个地级市每个市至少建设一个220kV数字化变电站，全省至少建设一个500kV数字化变电站。数字化变电站由于采用光纤进行数字量的传输，不存在二次压降以及模拟电能表的AD采集误差，这大大减少了传统计量二次回路的误差。数字化是当今世界电力发展的方向。

数字（光电）互感器作为模拟世界到数字世界的桥梁，在数字化变电站中占有举足轻重的地位，可以认为数字（光电）互感器是数字化变电站的基石，所有的数字量都是来源它。因此数字（光电）互感器的精度和性能非常重要。我国计量法规定所有的计量器具都必须得到量传，也就是所有的计量器具都必须能够实现数值朔源。因此在实际应用中需要对数字（光电）互感器进行量传，在现场安装后也需要对其进行校验，验证其测量精度和稳定性，以及对IEC61850协议支持的正确性。

而电子式互感器的校验结果的可靠性也需要根据校验仪本身的精度来决定，但是现有技术对电子式互感器校验仪的性能的检测方法较为复杂且检测***设计复杂，可靠性得不到保证。

发明内容

本发明提供了一种电子式互感器校验仪的性能检测方法，旨在解决现有对电子式互感器校验仪的性能的检测方法复杂，且检测***设计复杂、可靠性低的问题。

为了解决上述技术问题，本发明是这样实现的：一种电子式互感器校验仪的性能检测方法，所述电子式互感器校验仪的检测方法包括以下步骤：

将预设模拟信号量输入被测电子式互感器校验仪；

将数值与所述预设模拟信号量相同的数字信号量输入所述被测电子式互感器校验仪；

获取所述被测电子式互感器校验仪的第一误差值；

将所述数字信号量叠加一个预设数字信号微差量后与所述预设模拟信号量输入所述被测电子式互感器校验仪；

获取所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值。

进一步地，其特征在于，所述获取所述电子式互感器校验仪的第一误差的步骤具体包括以下步骤：

读取所述被测电子式互感器校验仪显示的第一模拟信号量和第一数字信号量；

计算所述第一模拟信号量与第一数字信号量的差值，以作为所述被测电子式互感器校验仪的第一误差值。

进一步地，所述获取所述电子式互感器校验仪的第二误差的步骤具体包括以下步骤：

读取所述被测电子式互感器校验仪显示的第二模拟信号量和第二数字信号量；

计算所述第二模拟信号量与第二数字信号量的差值；

根据所述差值和所述预设数字信号微差量计算所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值。

进一步地，所述根据所述差值和所述预设数字信号微差量计算所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值的步骤具体为：

根据以下算式计算所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值；

ΔH=H₁-H₂；

其中，ΔH表示所述检测电子式互感器校验仪的第二误差值，H1表示所述显示的第二模拟信号量与第二数字信号量的差值，H2表示所述预设数字信号微差量的数值。

进一步地，所述模拟信号量和所述数字信号量均为向量值，所述向量值包括幅值和相位。

本发明还提供了一种电子式互感器校验仪的性能检测***，与被测电子式互感器校验仪连接，所述电子式互感器校验仪的检测***包括：

模拟信号量输出单元，用于将预设模拟信号量输入被测电子式互感器校验仪；

数字信号量输出单元，用于将数值与所述预设模拟信号量相同的数字信号量输入所述被测电子式互感器校验仪；

第一获取单元，用于获取所述被测电子式互感器校验仪的第一误差值；

微差量叠加单元，用于在所述数字信号量上叠加一个预设数字信号微差量；

第二获取单元，用于获取所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值。

进一步地，第一获取单元包括：

第一读取单元，用于读取所述被测电子式互感器校验仪显示的第一模拟信号量和第一数字信号量；

第一计算单元，用于计算所述第一模拟信号量与第一数字信号量的差值，以作为所述被测电子式互感器校验仪的第一误差值。

进一步地，所述第二获取单元包括：

第二读取单元，用于读取所述被测电子式互感器校验仪显示的第二模拟信号量和第二数字信号量；

第二计算单元，用于计算所述第二模拟信号量与第二数字信号量的差值；

第三计算单元，用于根据所述差值和所述预设数字信号微差量计算所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值。

进一步地，所述第三计算单元具体用于：

根据以下算式计算所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值；

ΔH=H₁-H₂；；

其中，ΔH表示所述检测电子式互感器校验仪的第二误差值，H1表示所述显示的第二模拟信号量与第二数字信号量的差值，H2表示所述预设数字信号微差量的数值。

进一步地，所述模拟信号量和所述数字信号量均为向量值，所述向量值包括幅值和相位。

在本发明中，通过分别输入数值相同的预设模拟信号量和数字信号量，根据被测电子式互感器校验仪显示的模拟信号量和数字信号量计算被测电子式互感器校验仪的第一误差，然后叠加预设数字信号微差量在原有的数字信号量上，得到被测电子式互感器校验仪显示的理论差值，然后计算实际差值与理论差值的大小得到被测电子式互感器校验仪的第二误差，根据得到的误差和允许最大误差可以判断被测电子式互感器校验仪的性能，本发明提供的电子式互感器校验仪的检测方法简单，根据该检测方法设计的检测***设计简单且可靠性较高。

附图说明

图1是本发明第一实施例提供的电子式互感器校验仪的性能检测方法的流程图；

图2是本发明第二实施例提供的电子式互感器校验仪的性能检测方法的流程图；

图3是本发明第三实施例提供的电子式互感器校验仪的性能检测方法的流程图；

图4是本发明实施例提供的电子式互感器校验仪的性能检测***的框架结构图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

以下结合具体实施例对本发明的具体实现进行详细描述：

图1示出了本发明实施例提供的电子式互感器校验仪的性能检测方法的流程，为了便于说明，仅列出与本发明第一实施例相关的部分，详述如下：

本发明实施例提供了一种电子式互感器校验仪的性能检测方法，该检测方法包括以下步骤：

步骤S100、将预设模拟信号量输入被测电子式互感器校验仪。

在本发明实施例中，为了对电子式互感器校验仪的性能进行检测，将预先设置的模拟信号量输入被测电子式互感器校验仪的模拟信号输入端，该预设模拟信号输入量为向量值，包括幅值和相位，检测被测电子式互感器校验仪显示的模拟量数值是否与输入的模拟信号量一致，并计算差值，即误差，以便于后续与允许的最大误差进行比较，以判断被测电子互感器校验仪的性能。

步骤S200、将数值与预设模拟信号量相同的数字信号量输入被测电子式互感器校验仪。

在步骤S200中，输入被测电子式互感器校验仪的数字信号量与预设的模拟信号量的数值相同，便于在相同输入量的情况下对显示的模拟信号量和数字信号量进行比较，进而可以得到在该时刻被测电子式互感器校验仪的误差。

步骤S300、获取被测电子式互感器校验仪的第一误差值。

如图2所示，作为本发明一实施例，获取电子式互感器校验仪的第一误差的步骤具体包括以下步骤：

步骤S301、读取被测电子式互感器校验仪显示的第一模拟信号量和第一数字信号量；

步骤S302、计算第一模拟信号量与第一数字信号量的差值，以作为被测电子式互感器校验仪的第一误差值。

在步骤S302中，第一模拟信号量和第一数字信号量分别为输入被测电子式互感器校验仪的预设模拟信号量和数字信号量的检测结果，第一模拟信号量与第一数字信号量的差值即此时被测电子式互感器校验仪的误差值，例如，预设模拟信号量为[100V，0°]，则输入的数字信号量也为[100V，0°]，当第一模拟信号量为[100V，0°]，第一数字信号量为[100V，0°]时，表明此时被测电子式互感器校验仪的误差为0，当第一模拟信号量为[101V，2°]，第一数字信号量为[100V，0°]时，表示此时电子式互感器校验仪的误差为[1V,2°]，依此类推，可以得到被测电子式互感器校验仪的误差值，即性能的好坏。

步骤S400、将该数字信号量叠加一个预设数字信号微差量后与预设模拟信号量输入被测电子式互感器校验仪。

在步骤S400中，在原有的数字信号量上叠加一个预设的数字信号微差量，该数字信号微差量也为向量值，例如[10V，2°]，然后将叠加了数字信号微差量的数字信号量和原有预设模拟信号量均输入被测电子式互感器校验仪，该叠加的数字信号微差量为被测电子式互感器校验仪显示的理论差值。

步骤S500、获取被测电子式互感器校验仪的第二误差值。

如图3所示，作为本发明一实施例，在步骤S500中，获取电子式互感器校验仪的第二误差的步骤具体包括以下步骤：

步骤S501、读取被测电子式互感器校验仪显示的第二模拟信号量和第二数字信号量。

步骤S502、计算第二模拟信号量与第二数字信号量的差值。

在步骤S502中，第二模拟信号量与第二数字信号量的差值为输入预设模拟信号量与叠加了数字信号微差量的数字信号量的检测结果的差值，例如，预设模拟信号量为[100V，0°]，原数字信号量与预设模拟量相同也为[100V，0°]，预设数字信号微差量为[10V，2°]，当第二模拟信号量为[99V，-1°]，第二数字信号量为[110V，2°]时，第二模拟信号量与第二数字信号量的差值为[11V，3°]，在本发明所有实施例中，差值都是取绝对值。

步骤S503、根据差值和预设数字信号微差量计算被测电子式互感器校验仪的第二误差值。

在步骤S503中，根据差值和预设数字信号微差量计算被测电子式互感器校验仪的第二误差值的步骤具体为：

根据以下算式计算被测电子式互感器校验仪的第二误差值；

ΔH=H₁-H₂；；

其中，ΔH表示检测电子式互感器校验仪的第二误差值，H1表示第二模拟信号量与第二数字信号量的差值，H2表示预设数字信号微差量的数值。

在本发明实施例中，ΔH的值为此时被测电子式互感器校验仪的误差，根据上述步骤S502中的举例数据，ΔH=[11V，3°]-[10V，2°]=[1V，1°]，即此时被测电子式互感器校验仪的误差为[1V，1°]。

在本发明实施例中，根据计算得到的误差值即被测电子式互感器校验仪的检测误差，根据该误差和允许的误差范围可以判断被测电子式互感器校验仪的性能，而被测电子式互感器校验仪的性能直接影响到电子式互感器的合格率。

图4示出了本发明实施例提供的电子式互感器校验仪的性能检测***的框架结构，为了便于说明，仅列出与本发明实施例相关的部分，详述如下：

作为本发明一实施例，本发明实施例提供的电子式互感器校验仪的性能检测***10与被测电子式互感器校验仪20连接，包括：

模拟信号量输出单元100，用于将预设模拟信号量输入被测电子式互感器校验仪；

数字信号量输出单元200，用于将数值与模拟信号量相同的数字信号量输入被测电子式互感器校验仪；

第一获取单元300，用于获取被测电子式互感器校验仪的第一误差值；

微差量叠加单元400，用于在数字信号量上叠加一个预设数字信号微差量；

第二获取单元500，用于获取被测电子式互感器校验仪的第二误差值。

在本发明实施例中，数字信号量输出单元200还用于将叠加了数字信号微差量的数字信号量输入被测电子式互感器校验仪20。

作为本发明一实施例，第一获取单元300包括：

第一读取单元301，用于读取被测电子式互感器校验仪显示的第一模拟信号量和第一数字信号量；

第一计算单元302，用于计算第一模拟信号量与第一数字信号量的差值，以作为被测电子式互感器校验仪的第一误差值。

作为本发明一实施例，第二获取单元500包括：

第二读取单元501，用于读取被测电子式互感器校验仪显示的第二模拟信号量和第二数字信号量；

第二计算单元502，用于计算第二模拟信号量与第二数字信号量的差值；

第三计算单元503，用于根据该差值和预设数字信号微差量计算被测电子式互感器校验仪的第二误差值。

作为本发明一实施例，第三计算单元503具体用于：

根据以下算式计算被测电子式互感器校验仪的第二误差值；

ΔH=H₁-H₂；

其中，ΔH表示检测电子式互感器校验仪的第二误差值，H1表示第二模拟信号量与第二数字信号量的差值，H2表示预设数字信号微差量的数值。

作为本发明一实施例，该模拟信号量和该数字信号量均为向量值，该向量值包括幅值和相位。

在本发明实施例中，通过分别输入数值相同的预设模拟信号量和数字信号量，根据被测电子式互感器校验仪显示的模拟信号量和数字信号量计算被测电子式互感器校验仪的第一误差，然后叠加预设数字信号微差量在原有的数字信号量上，得到被测电子式互感器校验仪显示的理论差值，然后计算实际差值与理论差值的大小得到被测电子式互感器校验仪的第二误差，根据得到的误差和允许最大误差可以判断被测电子式互感器校验仪的性能，本发明提供的电子式互感器校验仪的检测方法简单，根据该检测方法设计的检测***设计简单且可靠性较高。

本领域技术人员可以理解为上述实施例包括的各个单元只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。

本领域普通技术人员还可以理解，实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可以在存储于一计算机可读取存储介质中，所述的存储介质，包括ROM/RAM、磁盘、光盘等。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电子式互感器校验仪的性能检测方法，其特征在于，所述电子式互感器校验仪的检测方法包括以下步骤：

将预设模拟信号量输入被测电子式互感器校验仪；

将数值与所述预设模拟信号量相同的数字信号量输入所述被测电子式互感器校验仪；

获取所述被测电子式互感器校验仪的第一误差值；

将所述数字信号量叠加一个预设数字信号微差量后与所述预设模拟信号量输入所述被测电子式互感器校验仪；

获取所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值。

2.如权利要求1所述的电子式互感器校验仪的性能检测方法，其特征在于，所述获取所述电子式互感器校验仪的第一误差的步骤具体包括以下步骤：

读取所述被测电子式互感器校验仪显示的第一模拟信号量和第一数字信号量；

计算所述第一模拟信号量与第一数字信号量的差值，以作为所述被测电子式互感器校验仪的第一误差值。

3.如权利要求1所述的电子式互感器校验仪的性能检测方法，其特征在于，所述获取所述电子式互感器校验仪的第二误差的步骤具体包括以下步骤：

读取所述被测电子式互感器校验仪显示的第二模拟信号量和第二数字信号量；

计算所述第二模拟信号量与第二数字信号量的差值；

根据所述差值和所述预设数字信号微差量计算所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值。

4.如权利要求3所述的电子式互感器校验仪的性能检测方法，其特征在于，所述根据所述差值和所述预设数字信号微差量计算所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值的步骤具体为：

根据以下算式计算所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值；

ΔH=H₁-H₂；

其中，ΔH表示所述检测电子式互感器校验仪的第二误差值，H1表示所述第二模拟信号量与第二数字信号量的差值，H2表示所述预设数字信号微差量的数值。

5.如权利要求1-4任一所述的电子式互感器校验仪的性能检测方法，其特征在于，所述模拟信号量和所述数字信号量均为向量值，所述向量值包括幅值和相位。

6.一种电子式互感器校验仪的性能检测***，与被测电子式互感器校验仪连接，其特征在于，所述电子式互感器校验仪的检测***包括：

模拟信号量输出单元，用于将预设模拟信号量输入被测电子式互感器校验仪；

数字信号量输出单元，用于将数值与所述预设模拟信号量相同的数字信号量输入所述被测电子式互感器校验仪；

第一获取单元，用于获取所述被测电子式互感器校验仪的第一误差值；

微差量叠加单元，用于在所述数字信号量上叠加一个预设数字信号微差量；

第二获取单元，用于获取所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值。

7.如权利要求6所述的电子式互感器校验仪的性能检测***，其特征在于，第一获取单元包括：

第一读取单元，用于读取所述被测电子式互感器校验仪显示的第一模拟信号量和第一数字信号量；

第一计算单元，用于计算所述第一模拟信号量与第一数字信号量的差值，以作为所述被测电子式互感器校验仪的第一误差值。

8.如权利要求6所述的电子式互感器校验仪的性能检测***，其特征在于，所述第二获取单元包括：

第二读取单元，用于读取所述被测电子式互感器校验仪显示的第二模拟信号量和第二数字信号量；

第二计算单元，用于计算所述第二模拟信号量与第二数字信号量的差值；

第三计算单元，用于根据所述差值和所述预设数字信号微差量计算所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值。

9.如权利要求3所述的电子式互感器校验仪的性能检测***，其特征在于，所述第三计算单元具体用于：

根据以下算式计算所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值；

ΔH=H₁一H₂；

其中，ΔH表示所述检测电子式互感器校验仪的第二误差值，H1表示所述第二模拟信号量与第二数字信号量的差值，H2表示所述预设数字信号微差量的数值。

10.如权利要求6-9任一所述的电子式互感器校验仪的性能检测***，其特征在于，所述模拟信号量和所述数字信号量均为向量值，所述向量值包括幅值和相位。

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