CN103884681B - 一种基于shws的相位显微镜成像方法 - Google Patents

一种基于shws的相位显微镜成像方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103884681B
CN103884681B CN201410104330.5A CN201410104330A CN103884681B CN 103884681 B CN103884681 B CN 103884681B CN 201410104330 A CN201410104330 A CN 201410104330A CN 103884681 B CN103884681 B CN 103884681B
Authority
CN
China
Prior art keywords
lens
theta
square formation
row
formation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201410104330.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103884681A (zh
Inventor
刘华锋
黄晨曦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Zhejiang University ZJU
Original Assignee
Zhejiang University ZJU
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zhejiang University ZJU filed Critical Zhejiang University ZJU
Priority to CN201410104330.5A priority Critical patent/CN103884681B/zh
Publication of CN103884681A publication Critical patent/CN103884681A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103884681B publication Critical patent/CN103884681B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Eye Examination Apparatus (AREA)

Abstract

本发明公开了一种基于SHWS的相位显微镜成像方法,包括:(1)采集Hartmanngram;(2)计算质心分布;(3)计算波前斜率;(4)重建波前相位;(5)重建三维断层折射率。本发明有效利用SHWS改善了基于干涉法的相位显微镜存在的硬件搭建复杂,重建步骤繁琐,容易受到振动影响从而引入大量噪声的问题;与现有重建方法的实验比较表明,大大简化了其硬件,也简化了重建步骤,并避免受到振动影响。

Description

一种基于SHWS的相位显微镜成像方法
技术领域
本发明属于显微镜成像技术领域,具体涉及一种基于SHWS(Shack-HartmannWavefrontSensor,沙克哈特曼波前探测器)的相位显微镜成像方法。
背景技术
近年来,随着科技的进步,光学显微镜以更高的空间分辨率,更大的成像深度以及对活体细胞无损探测的可行性,成为生物学家和临床研究人员研究的热点。它已经成为生物学和医学研究中必不可少的工具,是细胞学和细胞生物学得以建立和发展的重要基础。目前在细胞生物学中,除了普通光学显微镜以外、还有荧光显微镜、激光共聚焦显微镜、相位显微镜等多种显微镜。
其中,相位显微技术包括相衬显微镜,微分干涉差显微镜和定量相位显微镜等,它们通过测量样本引起的相位延迟来得到可视化的生物结构。生物细胞内,不同的折射率分布将引起光波不同的相位延迟,这些显微技术将折射率的空间差异转换成为图像的对比度。而折射率是物体固有的对比源,同时也是一个重要的生化参数,与分子的浓度成正比。大多数生物细胞在可见光下的吸收可以忽略,但是其内部不同的细胞器之间存在着折射率的差异。因此,在生物学研究中,折射率已经成为一个比吸收率更好的内生对比源。但是,在通常情况下,活体细胞的折射率差异是非常微弱的,这就需要对光信号进行调制来提高成像对比度。
通常,相衬显微镜采用一个使零频衰减同时相移90°的位相板进行空间滤波,将物体的位相结构转换成像平面上的光强分布。微分干涉差显微镜采用两个渥拉斯顿棱镜使两束光在不同时间经过样品的相邻部位,由于样品的厚度和折射率不同,引起两束光发生光程差,从而将样品中的微小差别转化成图像的明暗区别。这两种显微技术利用干涉技术来提高图像对比度,将细胞内折射率差异引起的透射光的相位变化转换成强度分布。但是,这些技术提供的不是定量的相位变化图。定量相位显微镜通过对参考光束进行调制,使得样本光束和参考光束之间产生相移,再对两光束进行干涉来测量样本微小的折射率差异。而近年来发展的相位显微技术已经可以定量的记录由样本引起的相位延迟。但是相位延迟正比于折射率与路径长度的乘积,更一般的讲是折射率与光学***点扩散函数的卷积。因此,这些技术仅可以提供细胞的平均折射率参数或者细胞的厚度,而没有细胞的详细的三维结构。
最近几年,在定量相位显微技术的基础上,很多研究小组已经开发了能够测量生物细胞三维折射率分布的多种新型显微镜技术,如断层相位显微镜、STPM(syntheticaperturetomographicphasemicroscopy,合成孔径层析相位显微镜)、DHM(digitalholographicmicroscopy,数字全息显微镜)、OSH(opticalscanningholography,光学扫描全息显微镜)等。这些显微镜技术的共同策略是采用计算机断层扫描仪多角度采集吸收系数投影数据的方式,记录不同角度的相位投影数据,从而重建出生物细胞的三维折射率分布。这些新型的显微镜技术具有比传统光学显微镜更高的精度和空间分辨率,并且能够得到样品的三维定量结构信息。
然而,传统的三维定量相位显微镜***是以外差马赫-泽德干涉仪为基础搭建起来的,采用时间频率调制法使参考光相对于样本光波产生一个固定的频率差,然后从随时间变化的干涉场中得到样本的定量相位图像,从而计算出各个位置的折射率,再得到细胞内部的结构信息。这样的方法,使得计算过程十分复杂,另外,振动带来的干扰,对测量结果会引入巨大的噪声,从而使得测量结果不准确。
发明内容
针对现有技术所存在的上述技术问题,本发明提供了一种基于SHWS的相位显微镜成像方法,解决了硬件构造复杂,重建过程繁琐,振动引入噪声等问题。
一种基于SHWS的相位显微镜成像方法,包括如下步骤:
(1)针对不放样品和放样品两种情况,利用SHWS进行探测得到两种情况下各角度光线对应的Hartmanngram(沙克哈特曼图);
(2)根据所述的Hartmanngram计算上述两种情况下SHWS前透镜方阵中每一透镜在各角度光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口的质心分布;
(3)根据所述的质心分布计算出各角度光线通过每一透镜后的波前斜率;
(4)根据所述的波前斜率利用区域迭代法估计每一透镜对各角度光线成像所引入的波前相位,进而得到对应各角度光线的波前相位方阵;
(5)根据所述的波前相位方阵利用FBP法(FilteredBackProjection,滤波后反投影法)对样品进行三维断层折射率重建,得到样品各切片对应的折射率方阵。
所述的步骤(2)中,根据以下算式计算质心分布:
X m , n , θ = Σ i , j M , N x m , n , θ ( i , j ) I m , n , θ ( i , j ) Σ i , j M , N I m , n , θ ( i , j ) Y m , n , θ = Σ i , j M , N y m , n , θ ( i , j ) I m , n , θ ( i , j ) Σ i , j M , N I m , n , θ ( i , j )
其中:Xm,n,θ和Ym,n,θ分别为透镜方阵中第m行第n列透镜在θ°光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口的质心分布横向分量和质心分布纵向分量,xm,n,θ(i,j)和ym,n,θ(i,j)分别为透镜方阵中第m行第n列透镜在θ°光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口内第i行第j列象元的横坐标和纵坐标,Im,n,θ(i,j)为透镜方阵中第m行第n列透镜在θ°光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口内第i行第j列象元的信号强度,i、j、m和n均为自然数且1≤i≤M,1≤j≤N,1≤m≤L,1≤n≤L,M和N分别为透镜方阵中第k透镜在θ°光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口的行数和列数,L为透镜方阵的维度,θ为角度。
所述的步骤(3)中,根据以下算式计算波前斜率:
βx m , n , θ = 1 f ( X m , n , θ c - X m , n , θ r ) βy m , n , θ = 1 f ( Y m , n , θ c - Y m , n , θ r )
其中:βxm,n,θ和βym,n,θ分别为θ°光线通过透镜方阵中第m行第n列透镜后的波前斜率的横向分量和纵向分量,分别为不放样品情况下透镜方阵中第m行第n列透镜在θ°光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口的质心分布横向分量和质心分布纵向分量,分别为放样品情况下透镜方阵中第m行第n列透镜在θ°光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口的质心分布横向分量和质心分布纵向分量,f为SHWS与透镜方阵的焦距,m和n均为自然数且1≤m≤L,1≤n≤L,L为透镜方阵的维度,θ为角度。
所述的步骤(4)中,利用区域迭代法基于以下公式估计波前相位:
ω m , n , θ = 1 g m , n , θ [ ω m + 1 , n , θ * + ω m - 1 , n , θ * + ω m , n - 1 , θ * + ω m , n + 1 , θ * + 1 2 h ( βy m , n + 1 , θ - βy m , n - 1 , θ + βx m + 1 , n , θ - βx m - 1 , n , θ ) ]
其中:ωm,n,θ为当前迭代透镜方阵中第m行第n列透镜对θ°光线成像所引入的波前相位,为前一次迭代透镜方阵中第m+1行第n列透镜对θ°光线成像所引入的波前相位,为前一次迭代透镜方阵中第m-1行第n列透镜对θ°光线成像所引入的波前相位,为前一次迭代透镜方阵中第m行第n-1列透镜对θ°光线成像所引入的波前相位,为前一次迭代透镜方阵中第m行第n+1列透镜对θ°光线成像所引入的波前相位,βym,n+1,θ为θ°光线通过透镜方阵中第m行第n+1列透镜后的波前斜率的纵向分量,βym,n-1,θ为θ°光线通过透镜方阵中第m行第n-1列透镜后的波前斜率的纵向分量,βxm+1,n,θ为θ°光线通过透镜方阵中第m+1行第n列透镜后的波前斜率的横向分量,βxm-1,n,θ为θ°光线通过透镜方阵中第m-1行第n列透镜后的波前斜率的横向分量,h为透镜的直径,m和n均为自然数且1≤m≤L,1≤n≤L,L为透镜方阵的维度,θ为角度。
本发明有效利用SHWS改善了基于干涉法的相位显微镜存在的硬件搭建复杂,重建步骤繁琐,容易受到振动影响从而引入大量噪声的问题;与现有重建方法的实验比较表明,大大简化了其硬件,也简化了重建步骤,并避免受到振动影响。
附图说明
图1为本发明方法的步骤流程示意图。
图2为基于SHWS相位显微镜成像的光学***示意图。
图3(a)为采用传统相位显微镜的重建结果。
图3(b)为采用本发明基于SHWS相位显微镜的重建结果。
具体实施方式
为了更为具体地描述本发明,下面结合附图及具体实施方式对本发明的技术方案进行详细说明。
如图1所示,一种基于SHWS的相位显微镜成像方法,包括如下步骤:
(1)针对不放样品和放样品两种情况,利用SHWS进行探测得到两种情况下各角度光线对应的Hartmanngram;
如图2所示,氦氖激光束He-Ne(λ=633nm)首先入射到扫描振镜GM上。然后,依次穿过透镜L1(f=200mm),油浸聚光透镜CL(Nikon,NA=1.4)后,照射到样品上。GM和样品之间形成4f光学***。样品浸没在一定折射率的溶液中,并放置于两个盖玻片之间,两盖玻片之间用塑料垫片相隔并密封。光束透过样本之后进入一个高数值孔径的油浸物镜OL(Nikon,100×,NA=1.4)中,然后经由镜筒透镜L2(f=200mm)成像于SHWS。
(2)根据Hartmanngram基于以下公式计算上述两种情况下SHWS前透镜方阵中每一透镜在各角度光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口的质心分布:
X m , n , θ = Σ i , j M , N x m , n , θ ( i , j ) I m , n , θ ( i , j ) Σ i , j M , N I m , n , θ ( i , j ) Y m , n , θ = Σ i , j M , N y m , n , θ ( i , j ) I m , n , θ ( i , j ) Σ i , j M , N I m , n , θ ( i , j )
其中:Xm,n,θ和Ym,n,θ分别为透镜方阵中第m行第n列透镜在θ°光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口的质心分布横向分量和质心分布纵向分量,xm,n,θ(i,j)和ym,n,θ(i,j)分别为透镜方阵中第m行第n列透镜在θ°光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口内第i行第j列象元的横坐标和纵坐标,Im,n,θ(i,j)为透镜方阵中第m行第n列透镜在θ°光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口内第i行第j列象元的信号强度,i、j、m和n均为自然数且1≤i≤M,1≤j≤N,1≤m≤L,1≤n≤L,M和N分别为透镜方阵中第k透镜在θ°光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口的行数和列数,L为透镜方阵的维度,θ为角度。
(3)根据质心分布基于以下公式计算出各角度光线通过每一透镜后的波前斜率:
所述的步骤(3)中,根据以下算式计算波前斜率:
βx m , n , θ = 1 f ( X m , n , θ c - X m , n , θ r ) βy m , n , θ = 1 f ( Y m , n , θ c - Y m , n , θ r )
其中:βxm,n,θ和βym,n,θ分别为θ°光线通过透镜方阵中第m行第n列透镜后的波前斜率的横向分量和纵向分量,分别为不放样品情况下透镜方阵中第m行第n列透镜在θ°光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口的质心分布横向分量和质心分布纵向分量,分别为放样品情况下透镜方阵中第m行第n列透镜在θ°光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口的质心分布横向分量和质心分布纵向分量,f为SHWS与透镜方阵的焦距。
(4)根据波前斜率利用区域迭代法基于以下公式估计每一透镜对各角度光线成像所引入的波前相位,进而得到对应各角度光线的波前相位方阵:
ω m , n , θ = 1 g m , n , θ [ ω m + 1 , n , θ * + ω m - 1 , n , θ * + ω m , n - 1 , θ * + ω m , n + 1 , θ * + 1 2 h ( βy m , n + 1 , θ - βy m , n - 1 , θ + βx m + 1 , n , θ - βx m - 1 , n , θ ) ]
其中:ωm,n,θ为当前迭代透镜方阵中第m行第n列透镜对θ°光线成像所引入的波前相位,为前一次迭代透镜方阵中第m+1行第n列透镜对θ°光线成像所引入的波前相位,为前一次迭代透镜方阵中第m-1行第n列透镜对θ°光线成像所引入的波前相位,为前一次迭代透镜方阵中第m行第n-1列透镜对θ°光线成像所引入的波前相位,为前一次迭代透镜方阵中第m行第n+1列透镜对θ°光线成像所引入的波前相位,βym,n+1,θ为θ°光线通过透镜方阵中第m行第n+1列透镜后的波前斜率的纵向分量,βym,n-1,θ为θ°光线通过透镜方阵中第m行第n-1列透镜后的波前斜率的纵向分量,βxm+1,n,θ为θ°光线通过透镜方阵中第m+1行第n列透镜后的波前斜率的横向分量,βxm-1,n,θ为θ°光线通过透镜方阵中第m-1行第n列透镜后的波前斜率的横向分量,h为透镜的直径。
(5)根据波前相位方阵利用FBP法对样品进行三维断层折射率重建,得到样品各切片对应的折射率方阵;三维折射率重建基于如下方程组:
f ( x , y ) = ∫ 0 π q ( s , θ ) | s = x cos θ + y s i n θ d θ
其中:q(s,θ)为投影点在该极坐标位置的值,f(x,y)为重建后的折射率分布。
为了评价层析相位显微镜的成像质量,以下我们采用真实的聚苯乙烯微珠作为样本进行实验。将直径为4.5m,折射率为1.588的聚苯乙烯微珠浸没在折射率为1.518的浸镜油中。微珠中心被放置于显微物镜的焦平面上。入射光束在67到67之间扫描,每隔0.67采集一幅图像,共采集到200幅干涉图像。挑选其中成像质量较好的180幅相位图像用于后续图像的重建,其入射角变化大致在60到60之间。
图3(a)为传统相位显微镜重建结果,图3(b)为本实施方式基于沙克哈特曼波前传感器的相位显微镜重建结果,对沙克哈特曼波前传感器的相位显微镜我们利用了计算可视化技术进行显示。可以看出改进后的显微镜不仅去除了背景伪影而且去除了细胞边缘噪声,分辨率由原来的0.5um左右上升为0.01um左右。非常好的改善了成像质量。

Claims (4)

1.一种基于SHWS的相位显微镜成像方法,包括如下步骤:
(1)针对不放样品和放样品两种情况,利用SHWS进行探测得到两种情况下各角度光线对应的Hartmanngram图;
(2)根据所述的Hartmanngram图计算上述两种情况下SHWS前透镜方阵中每一透镜在各角度光线对应的Hartmanngram图中对应探测窗口的质心分布;
(3)根据所述的质心分布计算出各角度光线通过每一透镜后的波前斜率;
(4)根据所述的波前斜率利用区域迭代法估计每一透镜对各角度光线成像所引入的波前相位,进而得到对应各角度光线的波前相位方阵;
(5)根据所述的波前相位方阵利用FBP法对样品进行三维断层折射率重建,得到样品各切片对应的折射率方阵。
2.根据权利要求1所述的相位显微镜成像方法,其特征在于:所述的步骤(2)中,根据以下算式计算质心分布:
X m , n , θ = Σ i , j M , N x m , n , θ ( i , j ) I m , n , θ ( i , j ) Σ i , j M , N I m , n , θ ( i , j ) Y m , n , θ = Σ i , j M , N y m , n , θ ( i , j ) I m , n , θ ( i , j ) Σ i , j M , N I m , n , θ ( i , j )
其中:Xm,n,θ和Ym,n,θ分别为透镜方阵中第m行第n列透镜在θ°光线对应的Hartmanngram图中对应探测窗口的质心分布横向分量和质心分布纵向分量,xm,n,θ(i,j)和ym,n,θ(i,j)分别为透镜方阵中第m行第n列透镜在θ°光线对应的Hartmanngram图中对应探测窗口内第i行第j列象元的横坐标和纵坐标,Im,n,θ(i,j)为透镜方阵中第m行第n列透镜在θ°光线对应的Hartmanngram图中对应探测窗口内第i行第j列象元的信号强度,i、j、m和n均为自然数且1≤i≤M,1≤j≤N,1≤m≤L,1≤n≤L,M和N分别为透镜方阵中第k透镜在θ°光线对应的Hartmanngram图中对应探测窗口的行数和列数,L为透镜方阵的维度,θ为角度。
3.根据权利要求1所述的相位显微镜成像方法,其特征在于:所述的步骤(3)中,根据以下算式计算波前斜率:
βx m , n , θ = 1 f ( X m , n , θ c - X m , n , θ r ) βy m , n , θ = 1 f ( Y m , n , θ c - Y m , n , θ r )
其中:βxm,n,θ和βym,n,θ分别为θ°光线通过透镜方阵中第m行第n列透镜后的波前斜率的横向分量和纵向分量,分别为不放样品情况下透镜方阵中第m行第n列透镜在θ°光线对应的Hartmanngram图中对应探测窗口的质心分布横向分量和质心分布纵向分量,分别为放样品情况下透镜方阵中第m行第n列透镜在θ°光线对应的Hartmanngram图中对应探测窗口的质心分布横向分量和质心分布纵向分量,f为SHWS与透镜方阵的焦距,m和n均为自然数且1≤m≤L,1≤n≤L,L为透镜方阵的维度,θ为角度。
4.根据权利要求1所述的相位显微镜成像方法,其特征在于:所述的步骤(4)中,利用区域迭代法基于以下公式估计波前相位:
ω m , n , θ = 1 g m , n , θ [ ω m + 1 , n , θ * + ω m - 1 , n , θ * + ω m , n - 1 , θ * + ω m , n + 1 , θ * + 1 2 h ( βy m , n + 1 , θ - βy m , n - 1 , θ + βx m + 1 , n , θ - βx m - 1 , n , θ ) ]
其中:ωm,n,θ为当前迭代透镜方阵中第m行第n列透镜对θ°光线成像所引入的波前相位,为前一次迭代透镜方阵中第m+1行第n列透镜对θ°光线成像所引入的波前相位,为前一次迭代透镜方阵中第m-1行第n列透镜对θ°光线成像所引入的波前相位,为前一次迭代透镜方阵中第m行第n-1列透镜对θ°光线成像所引入的波前相位,为前一次迭代透镜方阵中第m行第n+1列透镜对θ°光线成像所引入的波前相位,βym,n+1,θ为θ°光线通过透镜方阵中第m行第n+1列透镜后的波前斜率的纵向分量,βym,n-1,θ为θ°光线通过透镜方阵中第m行第n-1列透镜后的波前斜率的纵向分量,βxm+1,n,θ为θ°光线通过透镜方阵中第m+1行第n列透镜后的波前斜率的横向分量,βxm-1,n,θ为θ°光线通过透镜方阵中第m-1行第n列透镜后的波前斜率的横向分量,h为透镜的直径,m和n均为自然数且1≤m≤L,1≤n≤L,L为透镜方阵的维度,θ为角度。
CN201410104330.5A 2014-03-20 2014-03-20 一种基于shws的相位显微镜成像方法 Active CN103884681B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410104330.5A CN103884681B (zh) 2014-03-20 2014-03-20 一种基于shws的相位显微镜成像方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410104330.5A CN103884681B (zh) 2014-03-20 2014-03-20 一种基于shws的相位显微镜成像方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103884681A CN103884681A (zh) 2014-06-25
CN103884681B true CN103884681B (zh) 2016-01-20

Family

ID=50953698

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410104330.5A Active CN103884681B (zh) 2014-03-20 2014-03-20 一种基于shws的相位显微镜成像方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103884681B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106204622A (zh) * 2016-07-22 2016-12-07 浙江大学 一种基于tv约束的断层相位显微镜重建方法
CN108572160B (zh) * 2017-03-14 2020-05-19 华中科技大学 一种折射率分布测量的折光计

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5936720A (en) * 1996-07-10 1999-08-10 Neal; Daniel R. Beam characterization by wavefront sensor
CN1784624A (zh) * 2003-05-09 2006-06-07 3M创新有限公司 具有波前传感器的扫描激光显微镜
DE102005031496A1 (de) * 2005-07-06 2007-01-11 Carl Zeiss Surgical Gmbh Vorrichtung zum Bestimmen der Wellenfront von Licht- und Operationsmikroskop mit Vorrichtung zum Bestimmen der Wellenfront von Licht
CN1971222A (zh) * 2006-12-13 2007-05-30 中国科学院光电技术研究所 一种适应背景变化点源目标波前探测的夏克-哈特曼波前传感器
CN101627919A (zh) * 2009-08-20 2010-01-20 浙江大学 有限采样角度下基于卡尔曼滤波的pet浓度重建方法
WO2011121523A2 (en) * 2010-03-28 2011-10-06 Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) Complex index refraction tomography with sub √6-resolution
CN102749143A (zh) * 2012-07-10 2012-10-24 中国科学院光电技术研究所 一种提高夏克-哈特曼波前传感器测量精度的波前重构方法
CN103308187A (zh) * 2013-06-05 2013-09-18 中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所 高频三维夏克哈特曼波前测量装置及其测量方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7768654B2 (en) * 2006-05-02 2010-08-03 California Institute Of Technology On-chip phase microscope/beam profiler based on differential interference contrast and/or surface plasmon assisted interference

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5936720A (en) * 1996-07-10 1999-08-10 Neal; Daniel R. Beam characterization by wavefront sensor
CN1784624A (zh) * 2003-05-09 2006-06-07 3M创新有限公司 具有波前传感器的扫描激光显微镜
DE102005031496A1 (de) * 2005-07-06 2007-01-11 Carl Zeiss Surgical Gmbh Vorrichtung zum Bestimmen der Wellenfront von Licht- und Operationsmikroskop mit Vorrichtung zum Bestimmen der Wellenfront von Licht
CN1971222A (zh) * 2006-12-13 2007-05-30 中国科学院光电技术研究所 一种适应背景变化点源目标波前探测的夏克-哈特曼波前传感器
CN101627919A (zh) * 2009-08-20 2010-01-20 浙江大学 有限采样角度下基于卡尔曼滤波的pet浓度重建方法
WO2011121523A2 (en) * 2010-03-28 2011-10-06 Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) Complex index refraction tomography with sub √6-resolution
CN102749143A (zh) * 2012-07-10 2012-10-24 中国科学院光电技术研究所 一种提高夏克-哈特曼波前传感器测量精度的波前重构方法
CN103308187A (zh) * 2013-06-05 2013-09-18 中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所 高频三维夏克哈特曼波前测量装置及其测量方法

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Correlation matching method for high-precision position detection of optical vortex using Shack–Hartmann wavefront sensor;Chenxi Huang et al.;《OPTICS EXPRESS》;20120919;第20卷(第24期);第26099-26109页 *
Error reduction method for singularity point detection using Shack-Hartmann wavefront sensor;Chenxi Huang et al.;《OPTICS COMMUNICATIONS》;20130830;第311卷;第163-171页 *
Wave-front reconstruction using a Shack–Hartmann sensor;R.G.Lane et al.;《APPLIED OPTICS》;19921110;第31卷(第32期);第6902-6908页 *
夏克-哈特曼波前传感器的波前相位探测误差;沈锋 等;《光学学报》;20000531;第20卷(第5期);第666-671页 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN103884681A (zh) 2014-06-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Kuś et al. Holographic tomography: hardware and software solutions for 3D quantitative biomedical imaging
US11781966B2 (en) 3D diffraction tomography microscopy imaging method based on LED array coded illumination
Bon et al. Quadriwave lateral shearing interferometry for quantitative phase microscopy of living cells
US9546952B2 (en) Distribution of refractive index measurement by synthetic aperture tomography
EP2905645B1 (en) Holographic microscope and holographic image generation method
Sigal et al. Laser speckle contrast imaging with extended depth of field for in-vivo tissue imaging
Zhang et al. Autofocusing of in-line holography based on compressive sensing
CN103884681B (zh) 一种基于shws的相位显微镜成像方法
Hur et al. Polarization-sensitive differential phase-contrast microscopy
Murray et al. Aberration free synthetic aperture second harmonic generation holography
Zhou et al. Quasi-Isotropic High-Resolution Fourier Ptychographic Diffraction Tomography with Opposite Illuminations
CN102878930B (zh) 一种位相物***相分布的定量测量方法和装置及其应用
Popescu The power of imaging with phase, not power
Ghosh et al. Characterization of a three-dimensional double-helix point-spread function for fluorescence microscopy in the presence of spherical aberration
CN104517319A (zh) 一种基于bosvs的三维断层相位显微镜重建方法
CN110619680A (zh) 一种基于图变分的三维断层相位显微镜重建方法
Kuś et al. Advances in design and testing of limited angle optical diffraction tomographysystem for biological applications
Cairós et al. Refractive index estimation in biological tissues by quantitative phase imaging
Moon et al. Second-harmonic generation microscopy with synthetic aperture and computational adaptive optics
Wang et al. Stimulated Raman scattering tomography for rapid three-dimensional chemical imaging of cells and tissue
CN114184553A (zh) 一种基于环形光照明的落射式定量相位显微装置和方法
Kus et al. Limited-angle hybrid diffraction tomography for biological samples
Chen et al. Time-lapse imaging using dual-color coded quantitative differential phase contrast microscopy
Wang et al. Recent progress in the correlative structured illumination microscopy
Xue et al. Quantitative interferometric microscopy with improved full-field phase aberration compensation

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant