CN103782194B

CN103782194B - 接近度传感器校准

Info

Publication number: CN103782194B
Application number: CN201280041534.8A
Authority: CN
Inventors: 利奥尼德·希亚恩布拉特; 契纳·巴亚普雷迪; 吴勇澈
Original assignee: Qualcomm Inc
Current assignee: Qualcomm Inc
Priority date: 2011-08-26
Filing date: 2012-08-06
Publication date: 2016-08-31
Anticipated expiration: 2032-08-06
Also published as: US8826188B2; JP2016006423A; KR101558114B1; JP6084259B2; EP2748632A1; JP2014529740A; CN103782194A; KR20140056359A; WO2013032635A1; JP5808493B2; US20130049641A1

Abstract

本文揭示的标的物涉及用以测量距表面的距离的接近度传感器，且更特定来说涉及校准接近度传感器以针对各种反射表面进行调整。

Description

接近度传感器校准

技术领域

本文揭示的标的物涉及用以测量距一表面的距离的接近度传感器，且更特定来说涉及校准接近度传感器以针对各种反射表面进行调整。

背景技术

例如智能手机或个人数字助理(PDA)等移动装置可包含多种特征，包含数码相机、卫星定位***(SPS)能力、指南针以及无线连接到因特网的能力等等。移动装置经常包含经背光照明以供用户容易观看的小键盘和／或显示器。然而，背光照明可能使用相对大量的电池电力，所述电池电力在电池再充电之前可能是有限的。因此，背光照明可在特定时间周期之后或在移动装置放置于用户头部附近的情况下关断，例如在电话呼叫或使用移动装置拍摄照片期间。

发明内容

在一实施方案中，在传感器处执行的方法可包括检测针对表面而反射的信号的峰强度，以及至少部分地基于将所述检测到的峰强度应用于参考曲线来近似从所述传感器到所述表面的范围的函数。在另一实施方案中，设备可包括用以检测针对表面而反射的信号的峰强度的传感器，以及用以至少部分地基于将所述峰强度应用于参考曲线来近似从所述传感器到所述表面的范围的函数的处理器。在又一实施方案中，设备可包括在传感器处用于检测针对表面而反射的信号的峰强度的装置，以及用于至少部分地基于将所述检测到的峰强度应用于参考曲线来近似从所述传感器到所述表面的范围的函数的装置。在再一实施方案中，包括存储媒体的物品可包括存储于其上的机器可读指令，所述机器可读指令响应于由专用计算装置执行而适于使得所述专用计算装置能够：检测针对表面而反射且在传感器处接收的信号的峰强度，以及至少部分地基于将所述检测到的峰强度应用于参考曲线来近似从所述传感器到所述表面的范围的函数。然而应了解，这些仅是为说明目的而提供的样本实施方案，且所主张标的物在这些方面不受限。

附图说明

将参见附图描述非限制性且非详尽特征，其中在各图中相同参考数字指代相同部分。

图1包含根据一实施方案的展示随着到一表面的距离而变的相对反射强度的绘图。

图2是根据一实施方案的展示移动装置的透视图。

图3是根据一实施方案的用以测量到一表面的距离的移动装置的框图。

图4包含根据一实施方案的展示随着到一表面的距离而变的相对反射强度的绘图。

图5是根据一实施方案的表示移动装置相对于用户的各种位置的图像。

图6是根据另一实施方案的表示移动装置相对于用户的各种位置的图像。

图7是根据一实施方案的用以产生参考曲线的过程的流程图。

图8是根据另一实施方案的用以产生参考曲线的过程的流程图。

图9是根据又一实施方案的用以产生参考曲线的过程的流程图。

图10是根据一实施方案的用以确定参考曲线的峰值的过程的流程图。

具体实施方式

贯穿本说明书对“一个实例”、“一个特征”、“一实例”或“一个特征”的参考意味着结合所述特征或实例描述的特定特征、结构或特性包含在所主张标的物的至少一个特征或实例中。因此，短语“在一个实例中”、“一实例”、“在一个特征中”或“一特征”贯穿本说明书在各处的出现不一定全部指代同一特征或实例。此外，特定特征、结构或特性在一个或一个以上实例或特征中可组合。

在一实施方案中，例如可包括手机、PDA、相机或其任一组合的移动装置(MD)可包含接近度传感器，用以确定从MD到反射表面的距离。特定来说，此反射表面可包括MD的用户的面部或头部的一部分。因此，MD可确定MD是否相对靠近或相对远离用户的面部或头部的一部分。MD可并入有接近度传感器以至少部分地基于反射强度参考曲线而测量到反射表面的距离或范围，如下文详细阐释。下文中，“反射强度参考曲线”简写为“参考曲线”。

在特定实施方案中，MD可执行用以近似到反射表面的范围的函数以考虑反射表面的各种阴影或颜色(例如用户的肤色)的技术。到反射表面的范围的函数的近似可至少部分地基于针对所述表面反射的信号的检测到的峰强度。此信号的峰强度可响应于检测到例如抵靠传感器的表面的物理触碰而发生。估计或近似到反射表面的范围的函数以考虑反射表面的颜色的能力可提供例如改善测量传感器与反射表面之间的距离的准确性的机会。

在一实施方案中，确定MD与用户面部或头部的一部分之间的距离可有用于若干应用。举例来说，MD的电池电力可通过减活或关断用户接口的组件来节省，例如在MD对用户不可见时(例如在电话呼叫期间或在用户正在拍照片或记录视频时)MD的显示器和／或小键盘的背光照明。对于特定实例，MD可包含用以在MD处于距反射表面(例如，用户的头部的任一部分)5.0厘米内的情况下减活或关断背光照明的电子器件。然而，这仅是使用所描述技术获得的测得距离的应用的实例，且所主张标的物不限于此。

在一实施方案中，接近度传感器可包括发射器和接收器，从而形成有源传感器。在特定实例中，接近度传感器可包括例如红外(IR)发光二极管(LED)或IR激光二极管等发射器，以及例如IR检测器、IR传感器和／或光电二极管等接收器，但所主张标的物不限于这些特定实例。检测器可测量从反射表面反射的IR功率或强度的至少一部分。为了测量到反射表面的距离，可根据参考曲线将表示测得IR功率或强度的电子信号转换为表示距离，如下文进一步详细阐释。可与特定MD相关联的此参考曲线可用以针对特定反射表面近似特定MD的特定功能。参考曲线可界定从一表面反射和接收的能量的强度与从传感器到所述表面的范围之间的关系。

参考曲线可表示检测器或传感器相对于特定反射表面的行为。举例来说，相对大距离可导致相对小量的测得IR功率，而相对小距离可导致相对大量的测得IR功率。然而，基于参考曲线的距离测量的准确性可至少部分地取决于反射表面的物理性质，例如反射率。颜色、阴影和纹理是可影响表面的反射率的表面特征的一些实例。表面的反射率经界定为反射光的强度与入射光的强度的比率或百分比。

图1包含根据一实施方案的可表达反射信号的接收功率与到反射表面的范围之间的关系的绘图120和130。绘图120和130例如可用以近似所接收反射功率对MD与具有特定反射率的表面之间的距离的函数。从反射信号接收的功率与到反射表面的范围之间的关系可表达为例如数学绘图、查找表、一个或一个以上代数表达式，或其任一组合。在一实施方案中，反射信号可由光检测器响应于例如撞击在光检测器上的从一表面反射的光而产生。绘图120可具有包含峰值110的特定形状。举例来说，绘图120的大于范围150的一部分可表示与范围的负二次方成比例减小的函数的图案。然而，绘图120的其它部分无需表示特定图案。绘图120的此部分可表示红外传感器对例如针对一表面反射的信号的接收功率的响应。另一方面，绘图120的小于范围150的一部分可表示随着范围增加而从相对小量值增加到峰值110的特定函数。绘图120的此部分可表示红外传感器测量范围对反射表面的小于峰值110的响应。此特定响应可至少部分地取决于朝向表面发射IR信号的IR发射器与测量返回的反射IR信号的IR传感器之间的距离。

绘图130可具有与上文针对绘图120所描述的类似形状或特征，但绘图130的峰值小于绘图120的峰值。举例来说，绘图130的在超过范围150的范围上方的一部分可表示与范围的负二次方成比例减小的函数。另一方面，绘图130的在范围150下方的一部分可表示随着范围增加而从相对小量值增加到峰155的特定函数。绘图130的此部分可表示红外传感器对处于小于范围150的范围处的反射表面的响应。举例来说，绘图120可表示从具有相对高反射率的表面反射的IR信号的接收功率，而绘图130可表示从具有相对低反射率的表面反射的IR信号的接收功率。例如反射表面的不同颜色可导致不同的反射率。

如图1中所示，对于绘图120和130两者，峰值发生于大约范围150处。峰值可在距反射表面特定范围处发生，其中所述特定范围可大体上与反射表面的颜色无关。在特定实例中，范围150可包括约5.0到约7.0mm的值，但所主张标的物不限于此。在一个特定实施方案中，可至少部分地基于接近度传感器的检测器与发射器之间的分离而确定此峰发生的范围。因此，如果IR发射器与IR传感器之间的分离不改变，那么对于具有不同反射率的表面，此峰发生的范围可大体上相同。

如上文指出，绘图120和130可具有彼此不同的峰值。此峰值差可为与绘图120和130相关联的反射表面的不同反射率的结果。

在特定实施方案中，与特定MD相关联的参考曲线可近似所接收反射功率对特定MD与具有特定反射率的表面之间的距离的特定函数。虽然特定参考曲线可表示传感器相对于具有特定反射率的表面的行为，但特定参考曲线可能无法准确地表示另一反射表面。换句话说，在确定到反射表面的距离的过程中使用特定参考曲线在所述表面具有处于第一值范围中的反射率的情况下可为可接受的。但使用相同特定参考曲线来测量与具有其它反射率的反射表面的距离可导致不准确的距离测量。鉴于例如MD的用户的颜色或阴影，在相对淡色皮肤的情况下特定参考曲线可为有用的，而针对具有相对深色皮肤的用户使用同一特定参考曲线可导致不准确的距离测量。因此，为了解决如上文讨论的使用特定参考曲线的可能缺陷，MD可能够至少部分地基于检测针对反射表面的来自红外传感器的信号的峰强度值而估计反射表面的新参考曲线或函数。

图2是根据一实施方案的展示移动装置210的示意图。MD210可包含接近度传感器240和／或用以托管一个或一个以上应用程序的专用处理器，如下文更详细描述。MD210可包含一个或一个以上用户接口，例如小键盘225或显示器220，所述显示器可包括例如触摸屏。接近度传感器240可包括发射器243和检测器246。当然，移动装置的此些细节仅是实例，且所主张标的物不限于此。

图3是根据一实施方案的展示能够测量到反射表面340的距离的移动装置300的示意图。MD300可包括IR发射器320、IR检测器330、模／数转换器(ADC)335、处理器310和／或存储器315。IR发射器320可发射具有特定强度的IR信号325。IR信号325的至少一部分可由表面340反射。此反射由图3中的反射信号328表示。反射信号328的一部分可由IR检测器330收集或接收，所述IR检测器可通过产生具有与所接收反射信号328的强度成比例的量值的电子信号来做出响应。在特定实施方案中，ADC335可接收此电子信号以将模拟电子信号转换为提供到处理器310的数字信号。在一个实施方案中，处理器310可将测得反射信号328的强度与所发射IR信号325的特定强度进行比较。存储器315可用以尤其存储一个或一个以上参考曲线、距离信息和／或ADC信号信息。

如果表面340的反射率已知，那么到所述表面的距离可通过使用对应于已知反射率的已知参考曲线来测量。然而如果表面340的反射率未知，那么可确定新参考曲线且用以测量到表面340的距离。可从已知参考曲线确定新参考曲线：确定新参考曲线可包括测量红外传感器的信号的峰值，所述红外传感器测量从表面340反射且在检测器处接收的信号的功率。可至少部分地基于测得的峰值，通过确定测得峰值与已知参考曲线的峰值之间的比例常数来确定新参考曲线。可例如通过将已知参考曲线的值按比例缩放此比例常数来确定新参考曲线。在一个实施方案中，检测测量从表面340反射的信号的功率或强度的红外传感器的信号的峰值可涉及在到表面340的范围变化的同时对信号的功率或强度进行多次取样。在使用峰值确定表示表面340的反射率的新参考曲线之后，可使用新参考曲线确定到表面340的距离。当然，确定距离的此些细节仅是实例，且所主张标的物不限于此。

图4包含根据一实施方案的随着到一表面的距离而变的相对强度的绘图400。在MD的制造期间可在校准过程期间产生或测量参考曲线420。可使用“基线”反射表面的特定反射率产生参考曲线420。在稍后时间，如果MD将测量与具有不同于基线反射表面的反射率的反射率的表面的距离，那么可确定新参考曲线425。可使用峰值423确定新参考曲线。可通过若干技术中的任一者测量峰值423，如下文阐释(例如，使用过程700或800)。参考曲线420可存储在存储器315(图3)中。在特定实施方案中，可具有小于参考曲线420的峰量值的峰量值的另一参考曲线430也可存储在存储器315中。下文描述用以从其峰值产生或估计新参考曲线的过程。

如上文论述，可使用已知参考曲线通过将已知参考曲线的值按比例缩放一比例常数来确定新参考曲线。此比例常数可包括已知参考曲线的峰值与新参考曲线(待确定)的测得峰值的比率。因此，举例来说，一旦峰值423与峰值410的比率确定，便可使用可存储的参考曲线420来确定新参考曲线425。峰值423发生的范围无需已知，但可推断此范围也将与存储的参考曲线420的峰值410对应，其为如图4中所示的范围450。在一实施方案中，另一存储的参考曲线430可代替存储的参考曲线420使用以确定新参考曲线425。一个或另一存储的参考曲线的选择可至少部分地基于哪一特定存储的参考曲线具有最接近地匹配于测得峰值(例如，峰值423)的峰值(例如，峰值410或433)。具有最接近地匹配于测得峰值的峰值的参考曲线的选择可实现新参考曲线的改善的准确性。当然，参考曲线的此些细节和性质仅是实例，且所主张标的物不限于此。

图5是根据一实施方案的表示移动装置520相对于用户的各种位置的图像。MD520可例如通过在MD520的位置相对于反射表面从相对远距离(例如，大于几厘米)转变到相对近距离(例如，几毫米等等)时反复地测量反射强度，来确定所接收的反射IR光的峰强度，例如图4中所示的峰值423。在一个实施方案中，MD可相对于用户的面部或头部从相对远距离移动到相对近距离。MD的此移动可例如在用户拾起手机来接听或打电话时发生。为了说明，MD520可位于位置530处，所述位置可例如包括例如桌面、口袋、包或手提袋等位置。位置530可位于相对远离用户500的头部或面部的地方。在用户提起MD520时，MD520的位置可从位置530转变到相对近位置536，所述相对近位置可位于例如用户的耳朵的几毫米内。在此位置转变期间，MD520可位于中间位置533处。而且在此位置转变期间，MD520可执行多次测量以确定由IR检测器接收的反射信号的强度峰。在特定中间位置533处，由IR检测器接收的反射信号的此强度峰可发生。由IR检测器接收的反射信号的此强度峰发生的与用户500的距离是先前未知的。然而，峰反射强度的值可用以导出新参考曲线，由此可随后确定用户500与MD520之间的距离。

图6是根据另一实施方案的表示移动装置520相对于用户的各种位置的图像。MD520可例如通过在MD520的位置关于接近用户500的区随机移动时反复地测量反射强度，来确定由IR检测器接收的反射信号的强度峰，例如图4中所示的峰值423。举例来说，运动630可导致MD520随机移动更靠近和接近用户500的头部、耳朵或面部。此情形可例如在用户在延长的时间周期(例如一分钟或更久)中在手机上讲话时发生。在运动630期间，MD520可执行多次测量以确定由IR检测器接收的反射信号的强度峰。如上文提到，由IR检测器接收的反射信号的强度峰的值可用以计算新参考曲线，由此可确定用户500与MD520之间的距离。当然，用户的此些动作或MD的运动仅是实例，且在此方面中所主张标的物不受限。

图7是根据一实施方案的用以估计参考曲线的过程700的流程图。举例来说，过程700可用以使用峰值423和存储的参考曲线(例如参考曲线420或430)来产生或估计参考曲线425。可响应于若干条件或事件中的任一者来起始过程700。特定来说，涉及用户从相对远位置将MD放置于靠近用户的头部或面部(或反之亦然)的动作可有用于执行过程700以例如用新参考曲线来初始化MD。而且，可能希望有时候或例如针对用户的改变来执行过程700。在一个特定实施方案中，MD可自动地且无用户干涉的情况下执行700。相比之下，在另一特定实施方案中，用户可起始过程(例如，过程800，下文论述)来估计参考曲线。起始过程700的一个实例在框710中描述，其中MD接收或做出电话呼叫。举例来说，接收电话呼叫的MD520可提示用户500从位置530拾取MD520且将MD520带到用户的耳朵处，如图5中所示。在另一实例中，做出电话呼叫的用户500可关于用户的头部或面部的区在运动630中移动MD520，如图6中所示，同时用户500在MD520上拨打电话号码且随后收听后续的电话呼叫。在这些实例中的任一者中，MD520可获得在MD520的运动期间来自用户500的头部和／或面部的反射的强度的多个测量。如上文阐释，执行多次强度测量可实现峰反射强度值的可靠确定以用于估计新参考曲线。

在框720处，MD可执行用以确定在MD从相对靠近反射表面的一个位置移动到相对远离反射表面时由IR检测器接收到的反射信号的强度峰的过程。下文针对图10中所示的过程1020论述框720中用以确定峰反射强度的过程的细节。在框730处，MD可执行至少部分地基于在框720中确定的峰反射强度而估计新参考曲线的过程。下文针对图9中所示的过程930论述此过程的细节。

图8是根据另一实施方案的用以估计MD的参考曲线的过程800的流程图。举例来说，如同上文描述的过程700，过程800可用以使用峰值423和存储的参考曲线(例如参考曲线420或430)来估计或计算MD的参考曲线425。可能希望有时候或例如在新用户将要使用MD的情况下执行过程800。可响应于任一数目的条件或事件来起始用以估计参考曲线的过程800。在一个特定实施方案中，如框805中，用户可通过经由MD的用户接口选择起始过程来起始过程800。在框810处，在用户选择执行过程800之后，用户可在相对远离与靠近用户的头部或面部的位置之间移动MD。在MD的此些移动期间，MD可执行对从用户的头部和／或面部反射的所接收IR光的强度的测量序列。如上文阐释，执行反射强度测量序列可实现确定可用以确定新参考曲线的峰反射强度值。

在框820处，MD可执行用以确定由于MD从相对靠近反射表面的一个位置移动到相对远离反射表面而由IR检测器接收到的反射信号的强度峰的过程。下文针对图10中所示的过程1020论述框820中用以确定由IR检测器接收的反射信号的强度峰的过程的细节。在框830处，MD可执行至少部分地基于在框820中确定的峰反射强度而估计新参考曲线的过程。下文针对图9中所示的过程930论述此过程的细节。

图9是根据一实施方案的用以估计参考曲线的过程930的流程图。举例来说，过程930可类似于例如在过程700的框730处或在过程800的框830处执行的过程。过程930可用以使用图4所示的峰值423和存储的参考曲线(例如参考曲线420或430)来估计或计算参考曲线425。在特定实施方案中，在过程930之前可能已获得测得峰值。特定来说，此测得峰值可能已经例如在过程700的框720处或过程800的框820处确定。在框933处，可从存储在存储器中的若干参考曲线选择特定参考曲线。举例来说，可在MD的制造期间在校准过程期间使用“基线”反射表面的特定反射率估计或测量此特定参考曲线。一个存储的参考曲线可代替另一存储的参考曲线使用以确定新计算的参考曲线。如上文阐释，使用一个或另一存储的参考曲线的决策可至少部分地基于哪一存储的参考曲线具有最接近地匹配于测得峰值的峰值。此决策可实现新计算的参考曲线的改善准确性。在框936处，MD可确定选定参考曲线的峰值与测得峰值的比率。此比率或商可包括比例常数，所述比例常数可用以按比例缩放选定参考曲线以计算新参考曲线，如框939处那样。举例来说，参见图4，MD可确定选定参考曲线420的峰值410与测得峰值423的比率。当然，用以估计参考曲线的过程930的此些细节仅是实例，且所主张标的物不限于此。

图10是根据一实施方案的用以确定由IR检测器接收的反射信号的强度峰值的过程1020的流程图。可通过在MD从相对靠近反射表面的一个位置移动到相对远离反射表面时执行反射强度测量序列来确定由IR检测器接收的反射信号的强度峰值，如上文阐释。返回到图3，ADC335可用以将反射强度的模拟检测器信号转换为提供到处理器310的数字ADC信号。在一个实施方案中，处理器310可执行过程1020，但所主张标的物不限于此。在由处理器310执行的应用中可在过程1020中使用可变的“峰ADC(peakADC)”。在框1025处，可将peakADC初始化为零。在框1030处，可激活IR发射器320以发射IR信号，所述IR信号可随后由反射表面反射。在框1035处，可由IR检测器330检测所发射IR信号的一部分的反射强度，所述IR检测器可将反射强度转换为电信号。ADC335可随后将电(模拟)信号转换为可提供到处理器310的ADC信号，如上文提到。在框1040处，可对可变的“tempADC”指派等于在框1035处测得的ADC信号的值。在框1045处，可减活IR发射器320。在菱形1050处，可做出关于可变的tempADC是否大于可变的peakADC的确定。如果大于，那么过程1020可前进到框1055，在此可对可变的peakADC指派可变的tempADC的值。过程1020可随后前进到菱形1060。然而，如果可变的tempADC不大于可变的peakADC，那么过程1020可前进到菱形1060，因此绕过框1055。在菱形1060处，可做出关于是否已确定最终峰值的确定。此确定可至少部分地基于在例如不在框1055处重新指派可变的peakADC的情况下过程1020已循环通过菱形1050的次数。因此，如果峰值尚未确定，那么过程1020可返回到框1030，在此可重复发射器-检测器循环。然而，如果峰值已确定，则过程1020可结束。此峰值随后可在过程930中使用以估计新参考曲线，如上文论述。当然，用以确定峰反射强度值的过程1020的此些细节仅是实例，且所主张标的物不限于此。

本文描述的方法可根据特定特征或实例，取决于应用由各种装置实施。举例来说，此些方法可以硬件、固件、软件或其组合来实施。在例如硬件实施方案中，处理单元可实施于一个或一个以上专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理装置(DSPD)、可编程逻辑装置(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、专用计算装置、处理器、控制器、微控制器、微处理器、电子装置、经设计以执行本文描述的功能的其它装置单元或其组合内。

对于固件或软件实施方案，方法可以执行本文描述的功能的模块(例如，过程、函数等等)来实施。体现机器可读指令的任何非暂时性存储媒体均可用于实施本文描述的方法。举例来说，软件代码可存储在存储器(例如移动台的存储器)中，且由处理器执行。存储器可在处理器内或处理器外实施。如本文使用，术语“存储器”指代任一类型的长期、短期、易失性、非易失性或其它存储器，且不限于任一特定类型的存储器或存储器数目或存储器存储于其上的媒体的类型。

当然，还将了解，虽然刚已描述特定实施例，但所主张标的物的范围不限于特定实施例或实施方案。举例来说，一个实施例在硬件中，例如实施于装置或装置组合上，例如先前所描述。同样，虽然所主张标的物的范围在此方面不受限，但一个实施例可包括例如上文描述的一个或一个以上物品，例如一或多个存储媒体，其上可存储有指令，所述指令在由例如特定或专用***或设备执行的情况下可使得根据所主张标的物的方法的实施例被执行，例如先前描述的实施例中的一者。作为一个潜在实例，特定或专用计算平台可包含一个或一个以上处理单元或处理器、一个或一个以上输入／输出装置(例如显示器、键盘或鼠标)、或一个或一个以上存储器(例如静态随机存取存储器、动态随机存取存储器、快闪存储器或硬驱动器)，但同样所主张标的物的范围不限于此实例。

在前述描述中，已描述所主张标的物的各种方面。为了阐释的目的，已陈述特定数字、***或配置来提供对所主张标的物的详尽理解。然而得益于本发明的所属领域的技术人员应了解，可在无这些具体细节的情况下实践所主张标的物。在其它实例中，省略或简化了所属领域的技术人员将了解的特征，以免混淆所主张标的物。虽然本文已说明或描述某些特征，但所属领域的技术人员现在可想到许多修改、替代、改变或等效物。因此应了解，所附权利要求书既定涵盖落在所主张标的物的真实精神内的所有此些修改或改变。

Claims

1.一种用于测量距离的方法，其包括：

在接近度传感器处检测针对表面而反射的信号的峰强度；

识别所述信号的所述峰强度；以及

至少部分地基于将所识别的峰强度应用于第一参考曲线来近似第二参考曲线，其中所述第二参考曲线界定从所述传感器至具有未知反射率的所述表面的距离上的强度，且所述第一参考曲线界定从所述传感器到具有已知反射率的所述表面的距离上的强度。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述检测所述峰强度进一步包括响应于检测到所述表面针对所述传感器的物理触碰而检测所述峰强度。

3.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括至少部分地基于所述峰强度而从多个参考曲线中选择所述第一参考曲线。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述检测所述峰强度进一步包括响应于检测到用户接口处的选择而检测所述峰强度。

5.根据权利要求1所述的方法，其中所述峰强度在距所述表面特定距离处发生，其中所述特定距离与所述表面的颜色大体上无关。

6.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：

至少部分地基于所述第二参考曲线而后续测量到所述表面的所述距离；以及

至少部分地基于所述测量的距离而激活或减活显示器的背光照明。

7.根据权利要求1所述的方法，其中所述表面包括用户的头部的一部分。

8.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括在到所述表面的所述距离变化的同时测量所述峰强度。

9.一种用于测量距离的设备，其包括：

接近度传感器，其用以检测针对表面而反射的信号的峰强度；以及

处理器，其用以：

识别所述峰强度，以及

10.根据权利要求9所述的设备，其中所述峰强度在距所述表面特定距离处发生，且所述特定距离与所述表面的反射率大体上无关。

11.根据权利要求9所述的设备，其进一步包括：

发射器，其用以向所述表面发射能量；

检测器，其用以检测从所述表面反射的所述能量的至少一部分；以及

模/数转换器ADC，其用以至少部分地基于从所述表面反射和接收的所述能量的检测到的所述部分而产生所述峰强度。

12.根据权利要求11所述的设备，其中所述峰强度发生的距离是至少部分地基于所述发射器与检测器之间的分离。

13.根据权利要求9所述的设备，其进一步包括：

显示器；以及

电子器件，其用以至少部分地基于所述距离而激活或减活所述显示器的背光照明。

14.根据权利要求9所述的设备，其中所述表面包括用户的头部的一部分。

15.一种用于测量距离的设备，其包括：

用于在接近度传感器处检测针对表面而反射的信号的峰强度的装置；

用于识别所述信号的所述峰强度的装置；以及

用于至少部分地基于将所识别的峰强度应用于第一参考曲线来近似第二参考曲线的装置，其中所述第二参考曲线界定从所述传感器至具有未知反射率的所述表面的距离上的强度，且所述第一参考曲线界定从所述传感器到具有已知反射率的所述表面的距离上的强度。

16.根据权利要求15所述的设备，其中所述用于检测所述峰强度的装置进一步包括用于响应于检测到所述表面针对所述传感器的物理触碰而检测所述峰强度的装置。

17.根据权利要求15所述的设备，其进一步包括用于至少部分地基于所述峰强度而从多个参考曲线中选择所述第一参考曲线的装置。

18.根据权利要求15所述的设备，其中所述用于检测所述峰强度的装置进一步包括用于响应于检测到用户接口处的选择而检测所述峰强度的装置。

19.根据权利要求15所述的设备，其中所述峰强度在距所述表面特定距离处发生，其中所述特定距离与所述表面的颜色大体上无关。

20.根据权利要求15所述的设备，其进一步包括：

用于至少部分地基于所述第二参考曲线而后续测量到所述表面的所述距离的装置；以及

用于至少部分地基于所述测量的距离而激活或减活显示器的背光照明的装置。

21.根据权利要求15所述的设备，其中所述表面包括用户的头部的一部分。

22.根据权利要求15所述的设备，其进一步包括用于在到所述表面的所述距离变化的同时测量所述峰强度的装置。