CN103759760B - 测试的方法与装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种测试的方法与装置,方法包括:接收自动测试设备ATE发送的申请请求,所述申请请求用于申请仪表使用;获取空闲的仪表的信息,并建立所述ATE与所述仪表之间的连接;通过光纤向所述ATE传输所述仪表的测试信号,以使所述ATE使用所述仪表进行测试。根据本发明的测试的方法与装置,通过光纤来传输仪表发送的测试信号,例如射频信号,能够降低测试信号在传输中的损耗,使得测试信号传输可以达到几十公里,这样就增大了仪表与ATE之间的距离,进而使得仪表可以连接到不同地方的ATE,使得仪表共享规模大幅度提升,有利于提高仪表的利用率。

Description

测试的方法与装置
技术领域
本发明涉及测试技术,尤其涉及一种测试的方法与装置。
背景技术
在生产中,一般采用ATE(AutomaticTestEquipment,自动化测试设备)对被测对象(UnitUnderTest,UUT)进行大批量测试。由于ATE测试时所采用的射频仪表非常贵重,现在一般采用多台ATE共享一台射频仪表的方式进行测试。具体地,射频仪表通过射频电缆、射频矩阵开关与ATE连接。但是,上述连接方式只能在短距离的几台ATE之间实现仪表共享,射频仪表使用率不高。
发明内容
本发明提供一种测试的方法与装置,以解决现有技术中仪表使用率不高的问题。
本发明第一方面提供一种测试的方法,包括:
接收自动测试设备ATE发送的申请请求,所述申请请求用于申请仪表使用;
获取空闲的仪表的信息,并建立所述ATE与所述仪表之间的连接;
通过光纤向所述ATE传输所述仪表的测试信号,以使所述ATE使用所述仪表进行测试。
在第一种可能的实现方式中,根据第一方面,所述通过光纤向所述ATE传输所述仪表的测试信号包括:
采用所述光纤向所述ATE传输所述仪表通过光电转换装置发送的测试信号,所述光电转换装置用于将电信号转换为光信号或者将光信号转换为电信号。
在第二种可能的实现方式中,根据第一方面,所述建立所述ATE与所述仪表之间的连接包括:
切换所述仪表对应的矩阵光开关,以使所述仪表与所述ATE建立连接,所述矩阵光开关用于控制仪表与ATE之间的连接。
在第三种可能的实现方式中,根据第一方面或第一种可能的实现方式或第二种可能的实现方式,还包括:
接收所述ATE发送的使用结束信息或仪表控制信息;
根据所述使用结束信息断开所述ATE与所述仪表之间的连接,或者根据所述仪表控制信息控制所述仪表的工作状态。
在第四种可能的实现方式中,根据第三种可能的实现方式,还包括:
若在预设时间内未接收到所述ATE发送的使用结束消息,则断开所述ATE与所述仪表之间的连接。
本发明第二方面提供一种测试的方法,包括:
接收仪表发出的测试信号;
将所述测试信号分为多路子测试信号,并通过光纤将所述子测试信号传输给相同的多个自动测试设备ATE,以使各相同的ATE使用所述仪表进行测试。
在第一种可能的实现方式中,根据第二方面,所述接收仪表发出的测试信号包括:
接收所述仪表通过第一光电转换装置发送的测试信号,所述第一光电转换装置用于将电信号转换为光信号。
在第二种可能的实现方式中,根据第二方面,所述通过光纤将所述子测试信号提供给相同的多个自动测试设备ATE包括:
采用所述光纤并通过第二光电转换装置将所述子测试信号发送到多个ATE,所述第二光电转换装置用于将光信号转换为电信号。
本发明第三方面提供一种测试的装置,包括:
第一接收单元,用于接收自动测试设备ATE发送的申请请求,所述申请请求用于申请仪表使用;
控制单元,用于获取空闲的仪表的信息,并建立所述ATE与所述仪表之间的连接;
第一传输单元,用于通过光纤向所述ATE传输所述仪表的测试信号,以使所述ATE使用所述仪表进行测试。
在第一种可能的实现方式中,根据第三方面,所述第一传输单元具体用于:
采用所述光纤向所述ATE传输所述仪表通过光电转换装置发送的测试信号,所述光电转换装置用于将电信号转换为光信号或者将光信号转换为电信号。
在第二种可能的实现方式中,根据第三方面,所述控制单元具体用于:
切换所述仪表对应的矩阵光开关,以使所述仪表与所述ATE建立连接,所述矩阵光开关用于控制仪表与ATE之间的连接。
在第三种可能的实现方式中,根据第三方面或第一种可能的实现方式或第二种可能的实现方式,
所述第一接收单元还用于:接收所述ATE发送的使用结束信息或仪表控制信息;
所述控制单元还用于:根据所述使用结束信息断开所述ATE与所述仪表之间的连接,或者根据所述仪表控制信息控制所述仪表的工作状态。
在第四种可能的实现方式中,根据第三方种可能的实现方式,所述控制单元还用于:
若在预设时间内未接收到所述ATE发送的使用结束消息,则断开所述ATE与所述仪表之间的连接。
本发明第四方面提供一种测试的装置,包括:
第二接收单元,用于接收仪表发出的测试信号;
第二传输单元,用于将所述测试信号分为多路子测试信号,并通过光纤将所述子测试信号传输给相同的多个自动测试设备ATE,以使各相同的ATE使用所述仪表进行测试。
在第一种可能的实现方式中,根据第四方面,所述第二接收单元具体用于:
接收所述仪表通过第一光电转换装置发送的测试信号,所述第一光电转换装置用于将电信号转换为光信号。
在第二种可能的实现方式中,根据第四方面,所述第二传输单元具体用于:
采用所述光纤并通过第二光电转换装置将所述子测试信号发送到多个ATE,所述第二光电转换装置用于将光信号转换为电信号。
由上述技术方案可知,本发明提供的测试的方法和装置,通过光纤来传输仪表发送的测试信号,例如射频信号,能够降低测试信号在传输中的损耗,使得测试信号传输可以达到几十公里,这样就增大了仪表与ATE之间的距离,进而使得仪表可以连接到不同地方的ATE,使得仪表共享规模大幅度提升,有利于提高仪表的利用率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为根据本发明一实施例的测试的方法的流程示意图;
图2A为根据本发明另一实施例的测试的***的结构示意图;
图2B为根据本发明另一实施例的光电转换装置的结构示意图;
图3为根据本发明再一实施例的测试的方法的流程示意图;
图4为根据本发明又一实施例的测试的装置的结构示意图;
图5为根据本发明另一实施例的测试的装置的结构示意图;
图6为根据本发明又一实施例的测试的装置的结构示意图;
图7为根据本发明另一实施例的测试的装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例一
本实施例提供一种测试的方法,该测试的方法的执行主体为测试的装置。该测试的装置可以集成在调度服务器中,该调度服务器包括矩阵光开关和控制该矩阵光开关的计算机。该矩阵光开关用于控制仪表与ATE(AutomaticTestEquipment,自动测试设备)之间的连接,实现仪表共享,即该矩阵光开关能够控制多台仪表与多台ATE之间的连接。
如图1所示,为根据本实施例的测试的方法的流程示意图。该测试的方法包括:
步骤101,接收ATE发送的申请请求。
其中,申请请求用于申请仪表使用。ATE与测试的装置之间的信息交互可以通过通信网络,例如以太网进行信息交互,本实施例中不做限定。
步骤102,获取空闲的仪表的信息,并建立ATE与仪表之间的连接。
本实施例的空闲的仪表指的是当前未使用的仪表,即当前未与ATE连接进行测试的仪表。测试的装置具体可以通过实时检测各个仪表的工作状态来获知哪一个仪表处于空闲状态,也可以向各个仪表发送上报工作状态的指令,根据各个仪表反馈的信息来获知哪一个仪表处于空闲状态,当然,还可以通过记录各个仪表的历史工作状态来获取当前哪个仪表处于空闲状态。具体测试的装置如何获取空闲的仪表的信息,本实施例中不做限定。
步骤103,通过光纤向ATE传输仪表的测试信号,以使ATE使用仪表进行测试。
测试的装置将空闲的某个仪表与发送申请请求的ATE连接起来,并采用光纤向ATE传输该仪表发送的测试信号,以使该ATE使用该仪表进行测试。
假设仪表是射频仪表,其发出的测试信号为射频信号,该射频信号属于电信号,这样,可以采用光电转换装置将电信号转换为光信号。具体地,在仪表和测试装置之间也可以设置一光电转换装置以用于将电信号转换为光信号。测试的装置可以通过切换仪表对应的矩阵光开关来使仪表与ATE建立连接,具体ATE如何使用仪表进行测试属于现有技术,在此不再赘述。能够想象到的是,该光电转换装置同样可以将光信号转换为电信号,以便接受ATE通过测试的装置返回的光信号,并将该光信号转换为射频信号提供给射频仪表。
根据本实施例的测试的方法,通过光纤来传输仪表发送的测试信号,例如射频信号,能够降低测试信号在传输中的损耗,使得测试信号传输可以达到几十公里,这样就增大了仪表与ATE之间的距离,进而使得仪表可以连接到不同地方的ATE,使得仪表共享规模大幅度提升,有利于提高仪表的利用率。
实施例二
本实施例基于实施例一提供一种测试的方法。
本实施例中的测试的方法还包括:
接收ATE发送的使用结束信息或仪表控制信息;
根据使用结束信息断开ATE与仪表之间的连接,或者根据仪表控制信息控制仪表的工作状态。
当ATE使用仪表进行测试的工作完成后,就可以通过光纤向ATE发送使用结束信息,以告知测试的装置断开自己与仪表之间的连接,使得仪表重新变成空闲的仪表供其他ATE使用。ATE还可以发送仪表控制信息,以控制仪表进行相应的测试,具体不再赘述。
可选地,本实施例的测试的方法还包括:
若在预设时间内未接收到ATE发送的使用结束消息,则断开ATE与仪表之间的连接。
本实施例的预设时间可以根据实际需要进行设定,例如根据ATE需使用仪表的最长时间来确定,还可以适当的预留一定余量。具体举例来说,如果需使用仪表的最长时间为5分钟,可以再预留出2分钟,即该预设时间可以使5分钟加上2分钟共7分钟。当超过7分钟,测试的装置仍未接收到ATE发送的使用结束消息,则断开ATE与仪表之间的连接。若超过预设时间测试的装置没有接收到ATE发送的使用结束消息,说明有可能该ATE发生故障,则测试的装置可以强行断开该ATE与仪表之间的连接,以尽量避免发生故障的ATE长时间占用仪表的情况,提高仪表的使用率。
根据本实施例的测试的方法,当ATE使用仪表结束之后,由测试的装置及时断开该ATE与仪表之间的连接,可以使得该仪表重新变为空闲的仪表供其它ATE使用,大大提高了仪表的使用率。
实施例三
本实施例举出一具体实例来说明上述实施例的测试的方法。本实施例采用仪表为射频仪表进行具体举例说明。
如图2A所示,本实施例的各射频仪表201与光电转换装置202连接,各光电转换装置202分别与测试的装置203连接,测试的装置203通过光纤204与各光电转换装置205连接,各光电转换装置205分别与各ATE206连接。每台ATE206连接一被测对象207。其中,射频仪表的个数为N个,ATE206的个数为M个,矩阵光开关呈N×M阵列(图中未示出)。其中,N和M均为大于或等于1的整数。
其中,各光电转换装置202以及各光电转换装置205的内部结构如图2B所示。光电转换装置202包括衰减器211、增益放大器212和激光二极管213,光电转换装置205包括光电二极管214、增益放大器215和衰减器216。射频仪表201的电信号经过光电转换装置202中的衰减器211进入增益放大器212之后,再进入激光二极管213进行调制,成为光信号。光信号进入测试的装置203,由测试的装置203通过光纤204发送至光电转换装置205,光信号经过光电二极管214调制之后,再经过增益放大器215预放,然后通过衰减器216中的压控数控衰减芯片组合进行衰减调整为电信号,再通过射频信号整形输出至ATE206。其中,衰减器216可以是可调的衰减器,这样可以灵活控制输出的电信号的增益。
需要指出的是,光电转换装置202可同时包括电二极管214、增益放大器215和衰减器216(图中未示出)以将光信号转换为电信号。同理,光电转换装置205可同时包括衰减器211、增益放大器212和激光二极管213(图中未示出)以将电信号转换为光信号。
本实施例中,射频仪表201的数量可以由ATE206的数量,以及ATE206测试一个被测对象的时间与射频仪表201参与的时间的比例决定。具体举例来说,一个ATE的测试过程中只有30%时间需要用到仪表,仪表和ATE数量可以按3:10进行配置。实际操作中,可以根据实际需要进行设定,本实施例中不再赘述。
具体地,本实施例中,某一ATE206需要对被测对象进行测试,通过通信网络(图中未示出)向测试的装置203发送申请请求,该申请请求用于申请射频仪表使用。测试的装置203接收ATE206通过通信网络发送的申请请求,该申请请求中具体可包括发送申请请求的ATE206的标识信息。测试的装置203接收到该申请请求后,获取空闲的射频仪表201的信息,并通过控制矩阵光开关(图中未示出)将该空闲的射频仪表201与发送申请请求的ATE206连接起来,这样,该ATE206就能够使用射频仪表201对被测对象进行测试。具体地,可以射频仪表201可以通过光纤204向该ATE206发送测试信号。当ATE206测试完毕之后,向测试的装置203发送使用结束信息,告知测试的装置203其测试完毕。测试的装置203接收到该使用结束信息之后,就断开ATE206与射频仪表201之间的连接。
实施例四
本实施例提供一种测试的方法,该测试的方法的执行主体为测试的装置,该测试的装置包括光分路器。
如图3所示,为根据本实施例的测试的方法的流程示意图。该测试的方法包括:
步骤301,接收仪表发出的测试信号。
本实施例的仪表可以是射频仪表,测试信号相应的可以是射频信号,具体不做限定。测试的装置具体可以通过第一光电转换装置接收仪表发出的测试信号。例如,当仪表为射频仪表时,射频仪表发出的射频信号为电信号,通过第一光电转换装置将电信号转换为光信号,并发送到测试的装置中。该第一光电转换装置具体用于将电信号转换为光信号。该第一光电转换装置的结构与实施例三中的光电转换装置202一致,在此不再赘述。
步骤302,将测试信号分为多路子测试信号,并通过光纤将子测试信号传输给相同的多个ATE,以使各相同的ATE使用仪表进行测试。
具体地,当仪表为射频仪表时,测试的装置将射频信号分成多个射频子信号,例如广播信号,然后通过光纤将该射频子信号提供给相同的多个ATE。更为具体地,测试的装置采用光纤并通过第二光电转换装置将子信号发送到多个ATE,第二光电转换装置用于将光信号转换为电信号。该第二光电转换装置的结构与实施例三中的光电转换装置205一致,在此不再赘述。
本实施例中,由于相同的多个ATE所进行的测试是相同的,即对仪表的需求是相同的,因此,该多个相同的ATE可以同时采用该仪表进行测试。具体地,射频仪表输出射频信号给多个相ATE测试使用,ATE对仪表的输出信号要求相同,信号增益大小可以通过光电转换装置内置的可调衰减器调整,以适配不同ATE链路的衰减,因此该多个相同的ATE可以同时采用该仪表进行测试,举例来说,可以为多个相同ATE进行射频灵敏度测试。
根据本实施例的测试的方法,通过光纤来传输测试信号,例如射频信号,能够降低测试信号在传输中的损耗,使得测试信号传输可以达到几十公里,这样就增大了仪表与ATE之间的距离,进而使得仪表可以连接到不同地方的ATE,使得仪表共享规模大幅度提升,有利于仪表的利用率。而且,本实施例中,通过将仪表发出的测试信号分成多路子测试信号,然后提供给相同的ATE,使得这些相同的ATE可以同时使用该仪表进行测试,进一步提高了仪表的使用率。
实施例五
本实施例提供一种测试的装置,用于执行实施例一至实施例三的测试的方法。该测试的装置可以集成在调度服务器中。
如图4所示,为根据本实施例的测试的装置的结构示意图。该测试的装置400包括第一接收单元401、控制单元402和第一传输单元403。
其中,第一接收单元401用于接收ATE发送的申请请求,申请请求用于申请仪表使用;控制单元402用于获取空闲的仪表的信息,并建立ATE与仪表之间的连接;第一传输单元403用于通过光纤向ATE传输仪表的测试信号,以使ATE使用仪表进行测试。
可选地,第一传输单元403具体用于采用光纤向ATE传输仪表通过光电转换装置发送的测试信号,光电转换装置用于将电信号转换为光信号或者将光信号转换为电信号。
可选地,控制单元402具体用于切换仪表对应的矩阵光开关,以使仪表与ATE建立连接,矩阵光开关用于控制仪表与ATE之间的连接。
具体地,本实施例的测试的装置400的具体操作方法与实施例一一致,在此不再赘述。
根据本实施例的测试的装置400,通过光纤来传输仪表发送的测试信号,例如射频信号,能够降低测试信号在传输中的损耗,使得测试信号传输可以达到几十公里,这样就增大了仪表与ATE之间的距离,进而使得仪表可以连接到不同地方的ATE,使得仪表共享规模大幅度提升,有利于提高仪表的利用率。
可选地,本实施例的测试的装置400中的第一接收单元401还用于:接收ATE发送的使用结束信息或仪表控制信息;
控制单元402还用于:根据使用结束信息断开ATE与仪表之间的连接,或者根据仪表控制信息控制仪表的工作状态。
可选地,控制单元402还用于:
若在预设时间内未接收到ATE发送的使用结束消息,则断开ATE与仪表之间的连接。
其操作方式与实施例二中的一致,在此不再赘述。
实施例六
本实施例提供另一种测试的装置,用于执行实施例四的测试的方法。
如图5所示,为根据本实施例的测试的装置的结构示意图。该测试的装置500包括第二接收单元501和第二传输单元502。
其中,第二接收单元501用于接收仪表发出的测试信号;第二传输单元502用于将测试信号分为多路子测试信号,并通过光纤将子测试信号传输给相同的多个自动测试设备ATE,以使各相同的ATE使用仪表进行测试。
具体地,第二接收单元501具体用于:接收仪表通过第一光电转换装置发送的测试信号,第一光电转换装置用于将电信号转换为光信号。
第二传输单元502具体用于:采用光纤并通过第二光电转换装置将子测试信号发送到多个ATE,第二光电转换装置用于将光信号转换为电信号。
本实施例的测试的装置500的具体操作方法与实施例四一致,在此不再赘述。
根据本实施例的测试的装置500,通过光纤来传输测试信号,例如射频信号,能够降低测试信号在传输中的损耗,使得测试信号传输可以达到几十公里,这样就增大了仪表与ATE之间的距离,进而使得仪表可以连接到不同地方的ATE,使得仪表共享规模大幅度提升,有利于仪表的利用率。而且,本实施例中,通过将仪表发出的测试信号分成多路子测试信号,然后提供给相同的ATE,使得这些相同的ATE可以同时使用该仪表进行测试,进一步提高了仪表的使用率。
实施例七
本实施例提供另一种测试的装置,用于执行实施例一至实施例三的测试的方法。
如图6示,为根据本实施例的测试的装置的结构示意图。该测试的装置600包括至少一个第一处理器601、第一通信总线602、第一存储器603以及至少一个第一通信接口604。
其中,第一通信总线602用于实现上述组件之间的连接并通信,第一通信接口604用于与网络设备连接并通信。该总线可以是ISA(IndustryStandardArchitecture,工业标准体系结构)总线、PCI(PeripheralComponent,外部设备互连)总线或EISA(ExtendedIndustryStandardArchitecture,扩展工业标准体系结构)总线等。总线可以是一条或多条物理线路,当是多条物理线路时可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。
其中,第一存储器603用于存储可执行程序代码,其中,第一处理器601通过读取第一存储器603中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序,以用于:
接收自动测试设备ATE发送的申请请求,申请请求用于申请仪表使用;
获取空闲的仪表的信息,并建立ATE与仪表之间的连接;
通过光纤向ATE传输仪表的测试信号,以使ATE使用仪表进行测试。
可选地,第一处理器601通过读取第一存储器603中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序,以用于通过光纤向ATE传输仪表的测试信号时,具体可以是:
采用光纤向ATE传输仪表通过光电转换装置发送的测试信号,光电转换装置用于将电信号转换为光信号或者将光信号转换为电信号。
可选地,第一处理器601通过读取第一存储器603中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序,以用于建立ATE与仪表之间的连接,具体可以是:
切换仪表对应的矩阵光开关,以使仪表与ATE建立连接,矩阵光开关用于控制仪表与ATE之间的连接。
可选地,第一处理器601还通过读取第一存储器603中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序,以用于:
接收ATE发送的使用结束信息或仪表控制信息;
根据使用结束信息断开ATE与仪表之间的连接,或者根据仪表控制信息控制仪表的工作状态。
可选地,第一处理器601还通过读取第一存储器603中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序,以用于:
若在预设时间内未接收到ATE发送的使用结束消息,则断开ATE与仪表之间的连接。
根据本实施例的测试的装置600,通过光纤来传输仪表发送的测试信号,例如射频信号,能够降低测试信号在传输中的损耗,使得测试信号传输可以达到几十公里,这样就增大了仪表与ATE之间的距离,进而使得仪表可以连接到不同地方的ATE,使得仪表共享规模大幅度提升,有利于提高仪表的利用率。
实施例八
本实施例提供另一种测试的装置,用于执行实施例一至实施例三的测试的方法。
如图7示,为根据本实施例的测试的装置的结构示意图。该测试的装置700包括至少一个第二处理器701、第二通信总线702、第二存储器703以及至少一个第二通信接口704。
其中,第二通信总线702用于实现上述组件之间的连接并通信,第二通信接口704用于与网络设备连接并通信。该总线可以是ISA(IndustryStandardArchitecture,工业标准体系结构)总线、PCI(PeripheralComponent,外部设备互连)总线或EISA(ExtendedIndustryStandardArchitecture,扩展工业标准体系结构)总线等。总线可以是一条或多条物理线路,当是多条物理线路时可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。
其中,第二存储器703用于存储可执行程序代码,其中,第二处理器701通过读取第二存储器703中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序,以用于:
接收仪表发出的测试信号;
将测试信号分为多路子测试信号,并通过光纤将子测试信号传输给相同的多个自动测试设备ATE,以使各相同的ATE使用仪表进行测试。
可选地,第二处理器701通过读取第二存储器703中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序,以用于接收仪表发出的测试信号,具体可以是:
接收仪表通过第一光电转换装置发送的测试信号,第一光电转换装置用于将电信号转换为光信号。
可选地,第二处理器701通过读取第二存储器703中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序,以用于通过光纤将子测试信号提供给相同的多个自动测试设备ATE,具体可以是:
采用光纤并通过第二光电转换装置将子测试信号发送到多个ATE,第二光电转换装置用于将光信号转换为电信号
根据本实施例的测试的装置700,通过光纤来传输测试信号,例如射频信号,能够降低测试信号在传输中的损耗,使得测试信号传输可以达到几十公里,这样就增大了仪表与ATE之间的距离,进而使得仪表可以连接到不同地方的ATE,使得仪表共享规模大幅度提升,有利于仪表的利用率。而且,本实施例中,通过将仪表发出的测试信号分成多路子测试信号,然后提供给相同的ATE,使得这些相同的ATE可以同时使用该仪表进行测试,进一步提高了仪表的使用率。
本发明还提供一种测试的***,包括实施例四描述的测试的装置,还包括:仪表、光电转换装置和ATE。
本发明还提供另外一种测试的***,包括实施例五描述的测试的装置,还包括:仪表、第一光电转换装置、第二光电转换装置和ATE。
本领域普通技术人员可以理解:实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成,前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,执行包括上述方法实施例的步骤;而前述的存储介质包括:ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (12)

1.一种测试的方法,其特征在于,包括:
接收自动测试设备ATE发送的申请请求,所述申请请求用于申请仪表使用;
获取空闲的仪表的信息,并建立所述ATE与所述仪表之间的连接;
通过光纤向所述ATE传输所述仪表的测试信号,以使所述ATE使用所述仪表进行测试;
接收所述ATE发送的使用结束信息;
根据所述使用结束信息断开所述ATE与所述仪表之间的连接;
若在预设时间内未接收到所述ATE发送的使用结束消息,则断开所述ATE与所述仪表之间的连接。
2.根据权利要求1所述的测试的方法,其特征在于,所述通过光纤向所述ATE传输所述仪表的测试信号包括:
采用所述光纤向所述ATE传输所述仪表通过光电转换装置发送的测试信号,所述光电转换装置用于将电信号转换为光信号或者将光信号转换为电信号。
3.根据权利要求1所述的测试的方法,其特征在于,所述建立所述ATE与所述仪表之间的连接包括:
切换所述仪表对应的矩阵光开关,以使所述仪表与所述ATE建立连接,所述矩阵光开关用于控制仪表与ATE之间的连接。
4.一种测试的方法,其特征在于,包括:
接收仪表发出的测试信号;
将所述测试信号分为多路子测试信号,并通过光纤将所述子测试信号传输给相同的多个自动测试设备ATE,以使各相同的ATE使用所述仪表进行测试。
5.根据权利要求4所述的测试的方法,其特征在于,所述接收仪表发出的测试信号包括:
接收所述仪表通过第一光电转换装置发送的测试信号,所述第一光电转换装置用于将电信号转换为光信号。
6.根据权利要求5所述的测试的方法,其特征在于,所述通过光纤将所述子测试信号提供给相同的多个自动测试设备ATE包括:
采用所述光纤并通过第二光电转换装置将所述子测试信号发送到多个ATE,所述第二光电转换装置用于将光信号转换为电信号。
7.一种测试的装置,其特征在于,包括:
第一接收单元,用于接收自动测试设备ATE发送的申请请求,所述申请请求用于申请仪表使用;
控制单元,用于获取空闲的仪表的信息,并建立所述ATE与所述仪表之间的连接;
第一传输单元,用于通过光纤向所述ATE传输所述仪表的测试信号,以使所述ATE使用所述仪表进行测试;
所述第一接收单元还用于:接收所述ATE发送的使用结束信息;
所述控制单元还用于:根据所述使用结束信息断开所述ATE与所述仪表之间的连接;
所述控制单元还用于:若在预设时间内未接收到所述ATE发送的使用结束消息,则断开所述ATE与所述仪表之间的连接。
8.根据权利要求7所述的测试的装置,其特征在于,所述第一传输单元具体用于:
采用所述光纤向所述ATE传输所述仪表通过光电转换装置发送的测试信号,所述光电转换装置用于将电信号转换为光信号或者将光信号转换为电信号。
9.根据权利要求7所述的测试的装置,其特征在于,所述控制单元具体用于:
切换所述仪表对应的矩阵光开关,以使所述仪表与所述ATE建立连接,所述矩阵光开关用于控制仪表与ATE之间的连接。
10.一种测试的装置,其特征在于,包括:
第二接收单元,用于接收仪表发出的测试信号;
第二传输单元,用于将所述测试信号分为多路子测试信号,并通过光纤将所述子测试信号传输给相同的多个自动测试设备ATE,以使各相同的ATE使用所述仪表进行测试。
11.根据权利要求10所述的测试的装置,其特征在于,所述第二接收单元具体用于:
接收所述仪表通过第一光电转换装置发送的测试信号,所述第一光电转换装置用于将电信号转换为光信号。
12.根据权利要求10所述的测试的装置,其特征在于,所述第二传输单元具体用于:
采用所述光纤并通过第二光电转换装置将所述子测试信号发送到多个ATE,所述第二光电转换装置用于将光信号转换为电信号。
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