CN103575972B - 输电线路绝缘子内部阻性电流测量*** - Google Patents
输电线路绝缘子内部阻性电流测量*** Download PDFInfo
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Abstract
本发明公开了一种输电线路绝缘子内部阻性电流测量***,其包括:电流互感器检测绝缘子ABC三相的全电流;电流传感器检测绝缘子ABC三相的表面泄露电流;第一信号调理电路,对电流互感器检测到的全电流信号进行调理;第二信号调理电路,对电流传感器检测到的表面泄露电流信号进行调理;同步采样单元,其与所述第一信号调理电路和第二信号调理电路分别连接,同步采集经过信号调理的全电流信号和表面泄露电流信号并进行AD转换输出;一MCU,其与所述同步采样单元连接,所述MCU同步采集绝缘子的全电流It和表面泄露电流Il,根据全电流It和表面泄露电流Il得到绝缘子内部阻性电流Iin。
Description
技术领域
本发明涉及一种电流测量***,尤其涉及一种输电线路绝缘子电流测量***。
背景技术
复合绝缘子由于其优异的耐污闪性能越来越广泛地应用到输电线路中,特别是特高压输电线路,目前基本上是采用复合绝缘子。断裂和脆断是复合绝缘子故障的主要表现形式之一。由于绝缘子在发生断裂和脆断之前没有有效的手段来检测,绝缘子一旦发生断裂,必将引起线路突发性故障,降低了整个***的可靠性。因此研究绝缘子断裂和脆断的有效监测方法是绝缘子检测最有前景的课题之一。
由于绝缘子长期工作在稳定的电压下,其内部阻性电流可有效表征绝缘子内部劣化状态,因此复合绝缘子的内部阻性电流可较为有效地表征绝缘子的绝缘状态。复合绝缘子的等效电路可以化简为阻容并联,如图1所示,Ig为绝缘子容性电流,I为绝缘子阻性电流(包括绝缘子内部泄露电流Iin和绝缘子表面泄露电流Il),Rin为绝缘子内部等效电阻,Rl为绝缘子表面泄露电阻,Cg为绝缘子等效电容,It为绝缘子的全电流。当绝缘子内部出现劣化时,绝缘子阻性电流会发生明显变化,同时环境变化时,如湿度变大、下雨时表面泄露电流变化也会引起绝缘子阻性电流的变化,因此要监测绝缘子内部劣化状态必须从阻性电流成分中消除掉表面阻性泄露电流。而现在使用较多的绝缘子监测方法是绝缘子表面泄露电流测量方法。
公开号为CN102654527A,公开日为2012年9月5号,名称为“绝缘子阻性电流峰值检波电路”的中国专利文献以及公开号为CN102654525A,公开日为2012年9月5号,名称为“绝缘子阻性电流分离电路”的中国专利文献公开了一种绝缘子阻性电流的分离方法,但实际上上述方法仅仅只是分离了容性电流,测量的只是绝缘子内部泄露电流和绝缘子表面泄露电流之和。
发明内容
本发明的目的在于提供一种输电线路绝缘子内部阻性电流测量***,其能准确测量绝缘子的内部阻性电流。
为了实现上述目的,本发明提出了一种输电线路绝缘子内部阻性电流测量***,其包括:
三个电流互感器,其分别检测绝缘子ABC三相的全电流;
三个电流传感器,其分别检测绝缘子ABC三相的表面泄露电流;
第一信号调理电路,其与所述三个电流互感器连接,对三个电流互感器检测到的全电流信号进行调理;
第二信号调理电路,其与所述三个电流传感器连接,对三个电流传感器检测到的表面泄露电流信号进行调理;
同步采样单元,其与所述第一信号调理电路和第二信号调理电路分别连接,同步采集经过信号调理的全电流信号和表面泄露电流信号并进行AD转换输出;
一MCU,其与所述同步采样单元连接,所述MCU根据全电流信号表征的全电流It=K1cos(ωt)和表面泄露电流信号表征的表面泄露电流的采样值确定全电流和表面泄露电流的幅值K1、K2,以及全电流和与其对应的表面泄露电流的相位差和角频率ω;所述MCU包括:乘法器模块,其将全电流信号表征的全电流It=K1cos(ωt)与表面泄露电流信号表征的表面泄露电流做乘法后得到结果低通滤波器,其与所述乘法器连接,接收乘法器输出的结果并从结果中滤除高频分量C1,得到低频分量C2;所述MCU根据低频分量C2和表面泄露电流的幅值K2得到绝缘子内部阻性电流Iin的幅值2C2/K2-K2,然后输出缘子内部阻性电流
优选地,在本发明所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***中,所述电流互感器为零磁通电流互感器。
进一步地,在本发明所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***中,所述第一信号调理电路包括放大电路和容阻滤波电路。
进一步地,在本发明所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***中,所述第一信号调理电路包括:瞬态抑制二极管,其与电压抑制二极管并联,所述瞬态抑制二极管接收所述全电流信号的一端还与第一运算放大器的正输入端连接,所述瞬态抑制二极管的另一端接地,该接地端还与第一电阻的一端连接,第一电阻的另一端与第一运算放大器的负输入端连接,第一电阻的另一端还串接第二电阻后与第一运算放大器的输出端连接,第一运算放大器的输出端通过第三电阻输出经过信号调理的全电流信号。
在上述第一信号调理电路中,瞬态抑制二极管起到瞬变和浪涌保护的作用;电压抑制二极管将输入电压限制在一固定范围内;第一运算放大器的作用是完成信号的隔离传输;第一电阻、第二电阻和第三电阻构成同相放大器。
上述第一运算放大器可以采用型号为OP27的运算放大器,其电源端接+5VDC和-5VDC。OP27精密运算放大器具有低失调电压、漂移、高速、低噪声的特性。
进一步地,在本发明所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***中,所述第二信号调理电路包括:串联的第一采样电阻和第二采样电阻,所述第一采样电阻的一端接收所述表面泄露电流信号,第一采样电阻接收表面泄露电流信号的一端还与第一采样输出电路连接,该第一采样输出电路输出小量程采样信号,所述第一采样电阻的另一端与第二采样电阻的一端连接,第二采样电阻的另一端接地,第二采样输出电路连接于第一采样电阻和第二采样电阻的连接线上,该第二采样输出电路输出大量程采样信号。
更进一步地,在本发明所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***中,所述第一采样输出电路包括:第二运算放大器,其正输入端通过第四电阻连接所述第一采样电阻的一端,所述第二运算放大器的正输入端还通过第一二极管接地,第二运算放大器的正输入端还通过第五电阻连接第二运算放大器的输出端,第二运算放大器的负输入端接偏置电压,同时通过第一电容接地,所述第二运算放大器的输出端输出所述小量程采样信号;所述第二采样输出电路包括:第三运算放大器,其正输入端通过第六电阻接所述第二采样电阻的一端,第三运算放大器的正输入端还通过第二二极管接地,所述第三运算放大器的正输入端还通过第七电阻连接第三运算放大器的输出端,所述第三运算放大器的负输入端接偏置电压,同时通过第二电容接地,所述第三运算放大器的输出端输出所述大量程采样信号。
在上述第二信号调理电路中,选择合适的采样电阻,可以在量程上和精度上同时满足要求。测量范围为小量程和大量程两个区间,当表面泄露电流信号的电流值在小量程区间时,***自动测量第一采样电阻和第二采样电阻串联的输出电压;当所述表面泄露电流信号的电流值在大量程区间时,***自动测量采样电阻Rb上的输出电压。
进一步地,在本发明所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***中,所述同步采样单元包括多通道同步AD转换器。
更进一步地,在上述输电线路绝缘子内部阻性电流测量***中,所述多通道同步AD转换器型号为AD7606-6。AD7606-6是一款16位、6通道同步采样AD转换数据采集***。需要了解的是,本领域内技术人员也可以选择其他合适的多通道同步采用单元,AD7606-6多通道同步AD转换器不应作为对本技术方案的限制。
进一步地,在本发明所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***中,所述MCU的型号为LPC2292。需要了解的是,本领域内技术人员也可以选择其他合适的MCU,例如芯片型号为LPC2294的MCU,因此型号为LPC2292的MCU不应作为对本技术方案的限制。
本发明提供的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***,其能测量绝缘子内部阻性电流,解决了绝缘子阻性电流难以获取的问题,为绝缘子的劣化程度判定提供数据支撑,为绝缘子的断裂和脆断提供有效监测,从而有效避免线路突发性故障,提高整个***的可靠性。
附图说明
图1为输电线路中的绝缘子等效电路图。
图2为输电线路中的绝缘子电流向量图。
图3为本发明所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***在一种实施方式下的结构示意框图。
图4为本发明所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***在一种实施方式下的第一信号调理电路的电路图。
图5为本发明所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***在一种实施方式下的第二信号调理电路的电路图。
图6为本发明所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***在一种实施方式下的同步采样单元的电路图。
图7为本发明所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***在一种实施方式下的MCU的电路图。
图8为本发明所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***在一种实施方式下的部分实施流程图。
具体实施方式
下面将结合说明书附图和具体的实施例对本发明所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***做出进一步的解释和说明。
如图1所示,复合绝缘子的等效电路可以化简为绝缘子内部等效电阻Rin与绝缘子表面泄露电阻Rl的并联。Ig为绝缘子容性电流,I为绝缘子阻性电流,其包括绝缘子内部阻性电流Iin和绝缘子表面泄露电流Il,Cg为绝缘子等效电容。It为绝缘子的全电流。当绝缘子内部出现劣化时,绝缘子阻性电流I会发生明显变化,同时环境变化时,如湿度变大或下雨时,表面泄露电流Il的变化也会引起绝缘子阻性电流I的变化。因此要监测绝缘子内部阻性电流必须从阻性电流成分中消除掉表面泄露电流。
根据图1所示的等效电路可得到绝缘子内部阻性电流Iin、表面泄露电流Il、全电流It、容性电流Ig的向量图如图2所示。由图2可知,
根据式1,可以:同步采集绝缘子的全电流It和表面泄露电流Il,利用It和Il之间的相差计算出容性电流Ig和阻性电流I,绝缘子内部阻性电流为Iin=I-Il。设It=K1cos(ωt),则
然后滤除高频分量,即可得到C2。
令可得到
再由和差化积公式可将It分解为
式2中C3为绝缘子阻性电流,C4为绝缘子容性电流,对比式2和Il的表达式可得到绝缘子内部阻性电流可表示为
基于上述原理分析,本技术方案提供了一种输电线路绝缘子内部阻性电流测量***。图3显示了本发明所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***在一种实施方式下的结构示意框图。如图3所示,在本实施例的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***包括:三个零磁通电流互感器,其分别检测绝缘子ABC三相的全电流It;三个表面泄露电流传感器,其分别检测绝缘子ABC三相的表面泄露电流Il;第一信号调理电路,其与三个零磁通电流互感器连接,对零磁通电流互感器检测到的全电流信号进行调理;第二信号调理电路,其与三个表面泄露电流传感器连接,对表面泄露电流传感器检测到的表面泄露电流信号进行调理;同步采样单元,其与第一信号调理电路和第二信号调理电路分别连接,同步采集经过信号调理的全电流信号和表面泄露电流信号并进行AD转换输出;MCU与同步采样单元连接,MCU根据全电流信号表征的全电流It=K1cos(ωt)和表面泄露电流信号表征的表面泄露电流的采样值确定全电流和表面泄露电流的幅值K1、K2,以及全电流和与其对应的表面泄露电流的相位差和角频率ω;该MCU包括:乘法器模块,其将全电流信号表征的全电流It=K1cos(ωt)与表面泄露电流信号表征的表面泄露电流做乘法后得到结果低通滤波器,其与所述乘法器连接,接收乘法器输出的结果并从结果中滤除高频分量C1,得到低频分量C2;所述MCU根据低频分量C2和表面泄露电流的幅值K2得到绝缘子内部阻性电流Iin的幅值2C2/K2-K2,然后输出缘子内部阻性电流
图4显示了本技术方案中采用的一种第一信号调理电路的电路图。如图4所示,该第一信号调理电路包括:瞬态抑制二极管D204(型号TSMB6.8CA),其与电压抑制二极管D205(型号GBLC03)并联,瞬态抑制二极管D204的一端接收全电流信号,该接收全电流信号的一端与运算放大器U204的正输入端连接,瞬态抑制二极管D204的另一端接地,瞬态抑制二极管D204的接地端与第一电阻R210的一端连接,第一电阻R210的另一端与运算放大器U204的负输入端连接,第一电阻R210的另一端通过第二电阻R211与运算放大器U204的输出端连接,运算放大器U204的输出端通过第三电阻R212输出经过信号调理的全电流信号。在这种实施例中,电压抑制二极管D205可以将输入电压限制在3V内;第一电阻R210阻值位10kΩ、第二电阻R211阻值为10kΩ、第三电阻R212阻值为1kΩ,这三个电阻构成了同相放大器,放大倍数为2倍。在本实施例中,运算放大器U204可以为型号OP27的运算放大器,其电源端接+5VDC和-5VDC。
图5显示了本技术方案中采用的一种第二信号调理电路的电路图。如图5所示,第二信号调理电路包括:串联的第一采样电阻Ra和第二采样电阻Rb,其中第一采样电阻Ra的一端接收表面泄露电流信号,该接收表面泄露电流信号的一端还与第一采样输出电路连接,第一采样输出电路输出小量程采样信号Vout1,第一采样电阻Ra的另一端与第二采样电阻Rb连接,第二采样电阻Rb的另一端接地,第二采样输出电路连接于第一采样电阻R和第二采样电阻Rb之间的连接线上,第二采样输出电路输出大量程采样信号Vout2。其中,在第一采样输出电路中,运算放大器U1A为单电源型,其第四引脚接地,第八引脚接电源VCC,其正输入端通过第四电阻R1接第一采样电阻Ra的一端,运算放大器U1A的正输入端还通过第一二极管D1接地,运算放大器U1A的正输入端还通过第五电阻R2接运算放大器U1A的输出端,运算放大器U1A的负输入端接偏置电压Vref,运算放大器U1A的负输入端还通过第一电容C1接地,运算放大器U1A的输出端输出小量程采样信号Vout1;在第二采样输出电路中,运算放大器U2A为单电源型,其第四引脚接地,第八引脚接电源VCC,其正输入端通过第六电阻R3接第二采样电阻Rb的一端,运算放大器U2A的正输入端还通过第二二极管D2接地,运算放大器U2A的正输入端还通过第七电阻R4接运算放大器U2A的输出端,运算放大器U2A的负输入端接偏置电压Vref,运算放大器U2A的负输入端还通过第二电容C2接地,运算放大器U2A的输出端输出大量程采样信号Vout2。在上述第二信号调理电路中,选择合适的采样电阻,可以在量程上和精度上同时满足要求。测量范围为小量程(例如,10uA~2.4mA)和大量程(例如,2mA~100mA)两个区间,当表面泄露电流信号的电流值在小量程(10uA~2.4mA)区间时,***自动测量第一采样电阻Ra和第二采样电阻Rb串联的输出电压;当表面泄露电流信号的电流值在大量程(2mA~100mA)区间时,***自动测量采样电阻Rb上的输出电压。由于表面泄露电流信号的电流值一般情况下都是在小量程(10uA~2.4mA)区间,在实际实现的时候,本实施例对小量程采样信号Vout1采样1s,称之为预采样,然后对采样值进行计算,如果确实有Vout1<1.2V,表明表面泄露电流信号的电流值的确在小量程(10uA~2.4mA)区间,那么就可以按规定的采样时间采样小量程采样信号Vout1,进而分析计算。反之,如果发现小量程采样信号Vout1>1.2V,就认为表明表面泄露电流信号的电流值在大量程(2mA~100mA)区间,那么就可以按规定的采样时间采样大量程采样信号Vout2。小量程采样信号Vout1和大量程采样信号Vout2同时接入一个模拟开关,由程序控制选通某一通路。运算放大器U1A和运算放大器U2A均可以采用型号为LMV358的运算放大器。
图6显示了本技术方案中采用的一种同步采样单元的电路图。如图6所示,图中3、4、5号引脚为过采样选择端,分别与MCU的对应的过采样选择输出引脚相连,进行过采样选择;6号引脚为6通道同步AD转换器(型号AD7606-6)接口方式选择,接低电平时选择并行输出方式,接高电平选择串行输出方式,本实施例中接低电平选择并行方式;7号引脚为挂起引脚,由LPC2292控制AD7606-6是否挂起,低电平有效;8号引脚为RANGE选择输入端,通过电阻R500(阻值100KΩ)接地,同时与LPC2292的AD_RangeSel引脚相连,当RANGE输入端为低电平时,采样范围为±5V,当RANGE输入端为高电平时,采样范围为±10V;23号引脚为VDRIE引脚,采用3.3V;9、10号引脚为前三路、后三路采样频率输入引脚;11号脚为RST引脚,当AD7606-6正常工作前,需要对其进行复位操作,由LPC2292进行控制;12、13脚分别为读取控制数据时AD7606-6的读信号输入引脚以及片选信号输入引脚;14号脚为中断输出引脚,每次采样完成,AD7606-6将输出中断信号通知LPC2292采样结束;15号脚为FirstData标志引脚,用于串行输出方式中起标记作用;44、45脚分别为前三路、后三路参考电容引脚,接10uF电容C504后接46号脚AGND,保证采样过程中参考电压波形稳定。
图7显示了本技术方案中采用的一种MCU的电路图。该MUC采用了型号为LPC2292的芯片。如图7所示,J40、R40(4k7Ω)、R41(1kΩ)、R42(100kΩ)、R45(1kΩ)以及C40(10uF)共同组成LPC2292的程序下载接口及***上电复位电路;42和49脚为串口通信端口,主要与61850规约转换模块通信;33脚和99脚为触发信号输入端口,当有触发信号时,由LPC2292启动数据采样程序;59、61、68和12脚构成SPI通信端口,LPC2292主要通过SPI端口向DA转换器输出设定阀值;100脚为AD转换完毕信号,当其为低电平时,表明AD转换结束,LPC2292可按照规定时序读取AD转换值;C43(30pF)、C44(30pF)、JT40(18.432MHz)以及R45(10MΩ)构成LPC2292的振荡时钟,为***提供稳定时钟;Exi_DATA0-15为***数据线;AD_RangeSel、AD_RST、AD_nSTBY、AD_OverSmpl0-2及AD_FstData在AD7606-6部分已经介绍;xi_ADD0-23为***地址线;Exi_nRD、Exi_nWR分别为读写控制信号;CS_SRAM和AD_CS分别为存储器和AD转换器的选通线。
图8为本发明所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***在一种实施方式下的部分实施流程图。如图8所示,采用本技术方案所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***按照下列步骤,可以精确测得绝缘子的内部阻性电流:
(1)采用三个零磁通电流互感器分别检测绝缘子ABC三相的全电流;采用三个表面泄露电流传感器分别检测绝缘子ABC三相的表面泄露电流;
(2)采用第一信号调理电路对零磁通电流互感器检测到的全电流信号进行放大和容阻滤波;同时采用第二信号调理电路也对表面泄露电流传感器检测到的表面泄露电流信号进行调理;
(3)采用同步采样装置同步采集绝缘子的全电流It和表面泄露电流Il其中表面泄露电流全电流式中为全电流和与其对应的表面泄露电流的相位差,K1和K2分别为全电流和表面泄露电流的幅值,ω表示角频率;
(4)根据表面泄露电流Il和全电流It的采样值确定K1、K2、ω和
(5)采用乘法器对表面泄露电流Il和全电流It做乘法,得到采用数字低通滤波器滤除乘法结果中的高频分量C1,得到低频分量C2;
根据上述步骤中得到的K2和C2得到绝缘子内部阻性电流Iin的幅值2C2/K2-K2;
得到绝缘子内部阻性电流
要注意的是,以上列举的仅为本发明的具体实施例,显然本发明不限于以上实施例,随之有着许多的类似变化。本领域的技术人员如果从本发明公开的内容直接导出或联想到的所有变形,均应属于本发明的保护范围。
Claims (9)
1.一种输电线路绝缘子内部阻性电流测量***,其特征在于,包括:
三个电流互感器,其分别检测绝缘子ABC三相的全电流;
三个电流传感器,其分别检测绝缘子ABC三相的表面泄露电流;
第一信号调理电路,其与所述三个电流互感器连接,对三个电流互感器检测到的全电流信号进行调理;
第二信号调理电路,其与所述三个电流传感器连接,对三个电流传感器检测到的表面泄露电流信号进行调理;
同步采样单元,其与所述第一信号调理电路和第二信号调理电路分别连接,同步采集经过信号调理的全电流信号和表面泄露电流信号并进行AD转换输出;
一MCU,其与所述同步采样单元连接,所述MCU根据全电流信号表征的全电流It=K1cos(ωt)和表面泄露电流信号表征的表面泄露电流的采样值确定全电流和表面泄露电流的幅值K1、K2,以及全电流和与其对应的表面泄露电流的相位差和角频率ω;所述MCU包括:乘法器模块,其将全电流信号表征的全电流It=K1cos(ωt)与表面泄露电流信号表征的表面泄露电流做乘法后得到结果其中,低通滤波器,其与所述乘法器连接,接收乘法器输出的结果并从结果中滤除高频分量C1,得到低频分量C2;所述MCU根据低频分量C2和表面泄露电流的幅值K2得到绝缘子内部阻性电流Iin的幅值2C2/K2-K2,然后输出缘子内部阻性电流
2.如权利要求1所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***,其特征在于,所述电流互感器为零磁通电流互感器。
3.如权利要求1所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***,其特征在于,所述第一信号调理电路包括放大电路和容阻滤波电路。
4.如权利要求1所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***,其特征在于,所述第一信号调理电路包括:瞬态抑制二极管(D204),其与电压抑制二极管(D205)并联,所述瞬态抑制二极管(D204)接收所述全电流信号的一端还与第一运算放大器(U204)的正输入端连接,所述瞬态抑制二极管(D204)的另一端接地,该接地端还与第一电阻(R210)的一端连接,第一电阻(R210)的另一端与第一运算放大器(U204)的负输入端连接,第一电阻(R210)的另一端还串接第二电阻(R211)后与第一运算放大器(U204)的输出端连接,第一运算放大器(U204)的输出端通过第三电阻(R212)输出经过信号调理的全电流信号。
5.如权利要求1所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***,其特征在于,所述第二信号调理电路包括串联的第一采样电阻(Ra)和第二采样电阻(Rb),所述第一采样电阻(Ra)的一端接收所述表面泄露电流信号,第一采样电阻(Ra)接收表面泄露电流信号的一端还与第一采样输出电路连接,该第一采样输出电路输出小量程采样信号(Vout1),所述第一采样电阻(Ra)的另一端与第二采样电阻(Rb)的一端连接,第二采样电阻(Rb)的另一端接地,第二采样输出电路连接于第一采样电阻(Ra)和第二采样电阻(Rb)的连接线上,该第二采样输出电路输出大量程采样信号(Vout2)。
6.如权利要求5所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***,其特征在于:
所述第一采样输出电路包括:第二运算放大器(U1A),其正输入端通过第四电阻(R1)连接所述第一采样电阻(Ra)的一端,所述第二运算放大器(U1A)的正输入端还通过第一二极管(D1)接地,第二运算放大器(U1A)的正输入端还通过第五电阻(R2)连接第二运算放大器(U1A)的输出端,第二运算放大器(U1A)的负输入端接偏置电压Vref,同时通过第一电容(C1)接地,所述第二运算放大器(U1A)的输出端输出所述小量程采样信号Vout1;
所述第二采样输出电路包括:第三运算放大器(U2A),其正输入端通过第六电阻(R3)接所述第二采样电阻(Rb)的一端,第三运算放大器(U2A)的正输入端还通过第二二极管(D2)接地,所述第三运算放大器(U2A)的正输入端还通过第七电阻(R4)接第三运算放大器(U2A)的输出端,所述第三运算放大器(U2A)的负输入端接偏置电压Vref,同时通过第二电容(C2)接地,所述第三运算放大器(U2A)的输出端输出所述大量程采样信号Vout2。
7.如权利要求1所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***,其特征在于,所述同步采样单元包括多通道同步AD转换器。
8.如权利要求7所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***,其特征在于,所述多通道同步AD转换器型号为AD7606-6。
9.如权利要求1所述的输电线路绝缘子内部阻性电流测量***,其特征在于,所述MCU的型号为LPC2292。
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