CN103487768A - 灯具批量老化及检测***和方法 - Google Patents

灯具批量老化及检测***和方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103487768A
CN103487768A CN201310400710.9A CN201310400710A CN103487768A CN 103487768 A CN103487768 A CN 103487768A CN 201310400710 A CN201310400710 A CN 201310400710A CN 103487768 A CN103487768 A CN 103487768A
Authority
CN
China
Prior art keywords
light fixture
detection
aging
frame
industrial computer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201310400710.9A
Other languages
English (en)
Inventor
陈春根
程爱群
王鹏
邱燕
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Sansi Technology Co Ltd
Jiashan Sansi Photoelectric Technology Co Ltd
Original Assignee
Shanghai Sansi Technology Co Ltd
Jiashan Sansi Photoelectric Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Sansi Technology Co Ltd, Jiashan Sansi Photoelectric Technology Co Ltd filed Critical Shanghai Sansi Technology Co Ltd
Priority to CN201310400710.9A priority Critical patent/CN103487768A/zh
Publication of CN103487768A publication Critical patent/CN103487768A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)

Abstract

一种灯具批量老化及检测***和方法,包括***工控机以及与***工控机通讯连接的N组机架,N≥2,每组机架包括M层灯架,M≥2、以及由一个电压数据采集单元和M个电流数据采集单元组成的控制器,M个电流数据采集单元分别与M层灯架的输出端连接,一个电压数据采集单元分别与各层灯架上的驱动板连接,用于驱动和控制该层灯具的通断,控制器将其采集到的工作电压和工作电流输出到***工控机,***工控机运行相关程序,进行数据保存、分档标注以及检测。本发明所提供的***和方法,将人工工作模式转换为自动工作模式,不仅自动完成老化程序,同时可以完成检测、数据记录和保存、数据分档标注的功能。

Description

灯具批量老化及检测***和方法
技术领域
本发明涉及灯具领域,更具体的说,涉及一种灯具批量老化及检测***和方法。
背景技术
象大多数电子类产品一样,灯具在出厂前必须经过长时间的老化,来检测性能是否稳定。通常,灯具厂进行老化的方法是,将需要老化和检测的灯具放置在老化架上,人工上电、计时。在老化过程中,依靠人工定时或不定时观察异常情况,并手工记录和保存数据。这种操作方法,不仅浪费大量的人力成本,且不可避免的出现疏漏现象。
发明内容
本发明为解决上述现有技术中存在的技术问题,提供一种灯具批量老化及检测***和方法,将人工工作模式转换为自动工作模式,不仅自动完成老化程序,同时可以完成检测、数据记录和保存、数据分档标注的功能。
为达到上述目的,本发明采用的技术方案如下:
    一种灯具批量老化及检测***,包括***工控机以及与***工控机通讯连接的N组机架,N≥2,每组机架包括M层灯架,M≥2、以及由一个电压数据采集单元和M个电流数据采集单元组成的控制器,M个电流数据采集单元分别与M层灯架的输出端连接,电压数据采集单元分别与各层灯架上的驱动板连接,用于驱动和控制该层灯架的通断,控制器将其采集到的工作电压和工作电流输出到***工控机,***工控机运行相关程序,进行数据保存、分档标注以及检测。
    所述每层灯架由多个灯具组成。
    所述电流数据采集单元采用多路复用电路结构,使N组机架共用M个电流数据采集单元,该M个电流数据采集单元分别安装在M层灯架的输出端上。
    所述***工控机对于不同组机架上的灯具运行的相关程序不相同。 
    所述***工控机对于不同组机架上的灯具运行的相关程序相同。 
    所述***工控机对于同一组机架的不同层上的灯具运行的相关程序相同。
    所述***工控机对于同一组机架的不同层上的灯具运行的相关程序不相同。
    所述同一组机架的不同层上的灯具于不同时刻电气连通。 
    一种灯具批量老化及检测***的方法,采用前述的***,包括步骤如下:
(1)将待老化和检测的灯具放置在灯架上;
(2)将所有驱动板上的控制开关接通,各个灯具按***工控机中相关程序设定好的时间、次数进行通电老化,各组控制开关的通断按照***工控机中相关程序的设定值运行;
(3)当对某组机架完成老化进行检测时,断开所有控制开关,暂停老化动作;
(4)接通需要检测的灯具锁住的该组机架的控制开关;
(5)数秒后,记录电流数据采集单元以及电压数据采集单元采集到的电流和电压值,断开该组机架的控制开关;
(6)恢复到检测前的状态,继续执行未完成的老化和检测。
本发明技术方案所带来的有益效果如下:
本发明由一个以工控机为核心的控制***和若干机架组成,***配置灵活,可扩展性强,一套***可以配置多达32个机架,每个机架可以配置多达5行×6列,即480个灯具,从而使***容量可以同时进行多达32×480个灯具的老化和检测。老化和检测程序可以无缝连接,即,检测操作可任意次穿插于老化过程中。***采用分组扫描、电流数据采集单元多路复用电路结构,提高***的检测速度。各机架的老化、检测进程按照各自的“工艺文件”运行,互不影响,使用者可以根据产品类型及工艺要求方便的编制程序修改各个机架的“工艺文件”,该“工艺文件”可以编辑、导入和导出。在执行“工艺文件”过程中自动保存相关数据,为质量追溯提供了基础依据。同一组机架的不同层上的灯具采用独立异步运行,在时域上既均匀分布了电网负载,也均匀分布了产量负载。在检测过程中,按预先设定的各项参数的分档值对检测数据进行分档标注。本发明***,不仅功能齐全,且工作可靠性高,有效提高了生产效率。
附图说明
以下结合附图对本发明技术方案做详细的描述:
图1是本发明***实施例的结构组成框图;
图2是本发明***实施例的电路原理图;
图3是本发明***实施例的工作流程图。
具体实施方式
如图1、图2所示,本发明所提供的灯具批量老化及检测***,包括***工控机1以及与***工控机通过RS485或其他通讯形式连接的N组机架,其中N≥2。每组机架包括M层灯架,M≥2。每层灯架由一串或多串灯具组成。本实施例中,N=32、M=6,每层灯架由5行×16列个灯具组成,即,本实施例可同时工作的灯具数量为32×6×480=15360盏。每组机架均包含一个控制器和多个驱动板。控制器由一个电压数据采集单元和M个电流数据采集单元组成。M个电流数据采集单元分别与M层灯架的输出端连接,电压数据采集单元分别与各层灯架上的驱动板连接,用于驱动和控制该层灯具的通断。控制器将其采集到的工作电压和工作电流输出到***工控机,***工控机1运行相关程序,进行数据保存、分档标注以及检测,同时,接受***工控机1的指令,控制每组机架的控制开关K1~Kn的打开和闭合。
为了提高***检测的速度,***设计时采用分组扫描,数据采集单元多路复用的电路结构,如图2所示。一路电压数据采集单元可以分别连接到N组机架的输入端,用于检测每组机架的工作电压。电流数据采集单元的电流传感器S1~Sm分别连接到每组机架的M层灯架的输出端,用于检测各层中的各串灯具的工作电流。
图3是本发明工作的流程图,在老化阶段,各组灯具按***工控机的程序中设定的时间、次数进行通断老化。各组开关的通断按各自的设定值运行,相互独立,互不影响。在检测阶段,当有某组机架完成老化需要检测时,由控制器暂时断开所有控制开关,暂停正在进行的老化动作。接通需要检测的灯具所在的控制开关,延时数秒后由电流数据采集单元和电压数据采集单元测量当前的电压电流值,读完该组灯具的电压电流数据后断开该组的控制开关,再恢复到检测前的状态,之后,继续执行未完成的老化和检测。

Claims (9)

1.一种灯具批量老化及检测***,包括***工控机以及与***工控机通讯连接的N组机架,N≥2,其特征在于,每组机架包括M层灯架,M≥2、以及由一个电压数据采集单元和M个电流数据采集单元组成的控制器,M个电流数据采集单元分别与M层灯架的输出端连接,一个电压数据采集单元分别与各层灯架上的驱动板连接,用于驱动和控制该层灯具的通断,控制器将其采集到的工作电压和工作电流输出到***工控机,***工控机运行相关程序,进行数据保存、分档标注以及检测。
2.根据权利要求1所述的灯具批量老化及检测***,其特征在于,所述每层灯架由一串或多串灯具组成。
3.根据权利要求1所述的灯具批量老化及检测***,其特征在于,所述电流数据采集单元采用多路复用电路结构,使N组机架共用M个电流数据采集单元,该M个电流数据采集单元分别安装在M层灯架的输出端上。
4.根据权利要求1所述的灯具批量老化及检测***,其特征在于,所述***工控机对于不同组机架上的灯具运行的相关程序不相同。
5.根据权利要求1所述的灯具批量老化及检测***,其特征在于,所述***工控机对于不同组机架上的灯具运行的相关程序相同。
6.根据权利要求4所述的灯具批量老化及检测***,其特征在于,所述***工控机对于同一组机架的不同层上的灯具运行的相关程序相同。
7.根据权利要求4所述的灯具批量老化及检测***,其特征在于,所述***工控机对于同一组机架的不同层上的灯具运行的相关程序不相同。
8.根据权利要求6所述的灯具批量老化及检测***,其特征在于,所述同一组机架的不同层上的灯具于不同时刻电气连通。
9.根据权利要求1~8中任一所述的灯具批量老化及检测***的方法,其特征在于,包括步骤如下:
(1)将待老化和检测的灯具放置在灯架上;
(2)将所有驱动板上的控制开关接通,各个灯具按***工控机中相关程序设定好的时间、次数进行通电老化,各组控制开关的通断按照***工控机中相关程序的设定值运行;
(3)当对某组机架完成老化进行检测时,断开所有控制开关,暂停老化动作;
(4)接通需要检测的灯具锁住的该组机架的控制开关;
(5)数秒后,记录电流数据采集单元以及电压数据采集单元采集到的电流和电压值,断开该组机架的控制开关;
(6)恢复到检测前的状态,继续执行未完成的老化和检测。
CN201310400710.9A 2013-09-06 2013-09-06 灯具批量老化及检测***和方法 Pending CN103487768A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310400710.9A CN103487768A (zh) 2013-09-06 2013-09-06 灯具批量老化及检测***和方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310400710.9A CN103487768A (zh) 2013-09-06 2013-09-06 灯具批量老化及检测***和方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN103487768A true CN103487768A (zh) 2014-01-01

Family

ID=49828140

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310400710.9A Pending CN103487768A (zh) 2013-09-06 2013-09-06 灯具批量老化及检测***和方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103487768A (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103995197A (zh) * 2014-05-21 2014-08-20 杭州互诚控制技术有限公司 一种电子产品的老化测试设备
CN104062471A (zh) * 2014-06-30 2014-09-24 深圳市迈昂科技有限公司 一种灯具老化架老化方法及老化***
CN112098884A (zh) * 2020-08-25 2020-12-18 烟台辉图电子科技有限公司 一种led灯具老化冲击与数据采集方法及***
CN112285594A (zh) * 2019-07-25 2021-01-29 漳州立达信灯具有限公司 一种灯具老化检测方法、装置及老化线***

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103995197A (zh) * 2014-05-21 2014-08-20 杭州互诚控制技术有限公司 一种电子产品的老化测试设备
CN103995197B (zh) * 2014-05-21 2017-06-20 松阳西屏永新机械厂 一种电子产品的老化测试设备
CN104062471A (zh) * 2014-06-30 2014-09-24 深圳市迈昂科技有限公司 一种灯具老化架老化方法及老化***
CN104062471B (zh) * 2014-06-30 2017-01-18 深圳市迈昂科技有限公司 一种灯具老化架、老化方法及老化监控***
CN112285594A (zh) * 2019-07-25 2021-01-29 漳州立达信灯具有限公司 一种灯具老化检测方法、装置及老化线***
CN112285594B (zh) * 2019-07-25 2024-03-29 漳州立达信灯具有限公司 一种灯具老化检测方法、装置及老化线***
CN112098884A (zh) * 2020-08-25 2020-12-18 烟台辉图电子科技有限公司 一种led灯具老化冲击与数据采集方法及***

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101329387B (zh) 电源测试***
CN202548240U (zh) 光伏并网微逆变器自动化测试平台
CN103487768A (zh) 灯具批量老化及检测***和方法
CN104345285B (zh) 一种节能的电源转换器老化测试装置
CN202815197U (zh) 一种led灯具老化测试设备
CN106294043A (zh) 一种自动开关机测试的方法
CN201110878Y (zh) 一种老化测试***
CN203396869U (zh) 综合测试设备
CN104360265A (zh) 多路转换型继电器测试仪
CN101533074B (zh) 一种多通道宽电压输入电能回馈型电子负载
CN204966408U (zh) 一种小型断路器过载保护自动检测生产线
CN207689602U (zh) 自动化充电模块老化***
CN204779824U (zh) 恒电位仪同步通断器
CN102636715B (zh) 一种集成化电气试验综合测试***
CN204116575U (zh) 一种节能的电源转换器老化测试装置
CN203054172U (zh) 一种低压电器自动耐压测试台
CN202548234U (zh) 光伏逆变器的测试设备
CN210401533U (zh) 母线干线热循环测试装置
CN208984723U (zh) 配电终端安规自动测试***
CN204118852U (zh) 电源切换装置
CN202994940U (zh) 一种plc的自动化单板测试平台
CN103513215A (zh) 电能表自动切换检测装置
CN203688774U (zh) 一种用于检测马达的多工位综合测试设备
CN102269976B (zh) 一种多功能精确控制试验平台
CN202351701U (zh) Led控制***终端控制器板的检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20140101

RJ01 Rejection of invention patent application after publication