CN103454619A - 一种星载微波跟瞄雷达的电轴光学标定***及其标定方法 - Google Patents
一种星载微波跟瞄雷达的电轴光学标定***及其标定方法 Download PDFInfo
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Abstract
本发明公开了一种星载微波跟瞄雷达的电轴光学标定***及其标定方法,标定***包含雷达测试子***、标定子***、雷达装置、目标模拟子***;目标模拟子***包含目标模拟源、二维测试转台、与二维测试转台连接的二维测试转台控制器、二维扫描架及设置在二维扫描架上的目模喇叭天线。标定方法包含:步骤1、标定雷达天线和驱动机构的安装精度;步骤2、标定雷达电轴和雷达天线机械轴的一致性;步骤3、根据标定结果对雷达进行校准。本发明可以在紧缩场中对雷达进行高精度的标定,满足雷达对使用环境温湿度、洁净度的要求,实现对星载微波跟瞄雷达的非接触式标定,用到的测量仪器少、精度高,可以自动化完成数据的解算,确保雷达的高精度和高可靠性。
Description
技术领域
本发明涉及航天空间测量有效载荷的试验及测试技术领域,具体涉及一种星载微波跟瞄雷达的电轴光学标定***及其标定方法。
背景技术
现有技术中,星载雷达主要通过安装在雷达和航天器本体上的立方镜来保证在雷达测量坐标系与航天器本体坐标系中获得目标信息的一致性。因此,精确标定雷达测量坐标系与立方镜坐标系之间的旋转关系,才能保证星载雷达给航天器提供精确、可靠的目标信息。为达到此目的,必须标定雷达天线和驱动机构的安装精度、雷达电轴与天线机械轴的一致性。
雷达电轴定义为雷达天线差波瓣零值点指向;天线机械轴定义为通过天线口径平面中心并垂直口径平面的轴线;雷达的标定,是指在规定的条件下,利用专用设备对雷达某些参数进行测定的过程。传统雷达(如地基雷达)的标定和校准方法已较为成熟,该方法主要都是利用光学瞄准镜(或电视望远镜)在外场环境中测出目标的信息,然后与雷达测得的目标信息比对进行雷达的标定和校准。但对于机械尺寸小、结构复杂、有高精度和高可靠性要求的星载微波跟瞄雷达来说,已不便在雷达产品上安装光学瞄准镜(一般安装立方镜);而且,利用该方法获得的标定精度有限,难以满足星载微波跟瞄雷达的要求;另外,星载雷达试验均在紧缩场(微波暗室)中进行,外场环境温湿度难以保证。因此,需要在紧缩场中,利用高精度的光学仪器对星载微波跟瞄雷达进行非接触式的标定。
文献《空间交会对接微波雷达测量***地面校准技术研究》(“宇航计测技术”,Vol. 31 No.6,Dec. 2011) 利用6台电子经纬仪组成一个标定***,在紧缩场中完成交会对接微波雷达的标定。交会对接微波雷达由雷达主机和应答机组成,所以文献中利用应答机完成雷达主机的标定:在雷达天线和应答机天线上分别安装一个立方镜,通过移动应答机,利用标定***分别测量两立方镜的坐标系,然后与雷达测量的信息比对进行雷达的标校。此方法主要用于标校交会对接等合作工作体制的雷达。但该方法在标定时,每移动一次应答机,都需要利用标定***对应答机上的立方镜重新测量其坐标系。为了得到较高的标定精度,需要反复移动应答机,这就存在大量复杂的测量工作。另外,对于非合作自主工作的雷达,通常使用目标模拟器来模拟目标回波信号,在目标模拟器(通常为喇叭天线)上不便于安装立方镜,即使安装,也难以保证安装精度。因此,此文献给出的标定方法无法有效的用于星载微波跟瞄雷达的电轴标定。
发明内容
本发明的目的在于提供一种星载微波跟瞄雷达的电轴光学标定***及其标定方法,本发明的标定***和标定方法可以在紧缩场中对雷达进行高精度的标定,满足星载微波跟瞄雷达对使用环境温湿度、洁净度的要求,实现对星载微波跟瞄雷达的非接触式标定,标定精度高,用到的测量仪器少,可以自动化完成数据的解算,确保雷达的高精度和高可靠性。
为了达到上述目的,本发明通过以下技术方案实现:一种星载微波跟瞄雷达的电轴光学标定***,其特征在于,包含:雷达测试子***、标定子***、雷达装置、目标模拟子***;
所述的目标模拟子***包含目标模拟源、二维测试转台、与二维测试转台连接的二维测试转台控制器、二维扫描架及设置在二维扫描架上的目模喇叭天线;
所述的雷达测试子***包含测试设备及示波器;
所述的示波器与测试设备连接;
所述的雷达装置、目模喇叭天线及测试设备分别与目标模拟源连接;
所述的标定子***包含多路数据采集器以及分别与多路数据采集器连接的数据处理单元、激光跟踪仪、第一经纬仪、第二经纬仪及第三经纬仪;
所述的第一经纬仪、第二经纬仪及第三经纬仪设置在雷达装置和二维扫描架之间。
所述的雷达装置包含信号收发处理组件、机构控制器、驱动机构支撑基座、设置在驱动机构支撑基座中间部位的驱动机构及设置在驱动机构上的雷达天线;
所述的测试设备、机构控制器及雷达天线及目标模拟源分别与信号收发处理组件连接;
所述的机构控制器与驱动机构连接;
所述的驱动机构底座平面上设有第一立方镜;
所述的雷达天线上设有第二立方镜。
一种用于上述星载微波跟瞄雷达的电轴光学标定***的标定方法,其特征在于,至少包含以下步骤:
步骤1、标定雷达天线和驱动机构的安装精度;
步骤2、标定雷达电轴和雷达天线机械轴的一致性;
步骤3、根据标定结果对雷达进行校准,或者对雷达测量结果进行修正,或者通过坐标系旋转,将标定结果转换到第一立方镜的坐标系中。
所述的步骤1还包含以下步骤:
步骤1.1、确定第一立方镜的坐标系;
步骤1.2、确定第一立方镜的坐标系指向与雷达坐标系的指向一致;
步骤1.3、确定第二立方镜的坐标系;
步骤1.4、调整雷达天线,使得第二立方镜坐标系的Xb轴和第一立方镜坐标系的Xa轴平行,确保雷达天线的高精度安装。
所述的步骤1.1还包含以下步骤:
步骤1.1.1、将第一经纬仪与第一立方镜自准直,准直方向为垂直于驱动机构底座平面;
步骤1.1.2、确定第一立方镜的Xa轴,利用第二经纬仪和第三经纬仪(26)测量第一经纬仪和第一立方镜,使得第一经纬仪和第一立方镜平行于驱动机构底座平面的工作面十字线中心三维坐标;
步骤1.1.3、重复步骤1.1.2得到第一立方镜的Ya轴;
步骤1.1.4、根据右手螺旋定则确定第一立方镜的坐标系。
所述的步骤1.2还包含以下步骤:
步骤1.2.1、将激光跟踪仪的测头放置到雷达天线的中心;
步骤1.2.2、驱动机构俯仰方向工作且方位方向置零位;
步骤1.2.3、数据处理单元得到驱动机构的俯仰方向和方位方向;
步骤1.2.4、调整第一立方镜,使得第一立方镜的Ya轴和Za轴分别与驱动机构的俯仰方向和方位方向一致。
所述的步骤2还包含以下步骤:
步骤2.1、调整驱动机构支撑基座与二维测试转台,使第一立方镜的Ya轴平行于大地水平面;
步骤2.2、将驱动机构底座平面与目摸喇叭天线二维运动平面保持平行;
步骤2.3、利用激光跟踪仪测出驱动机构(34)旋转中心Oq的三维坐标;
步骤2.4、将目模喇叭天线放置到雷达天线机械轴所在的直线上;
步骤2.5、确定雷达电轴和雷达天线机械轴的角度偏差即标定结果。
所述的步骤2.2还包含以下步骤:
步骤2.2.1、将激光跟踪仪的测头放置在目模喇叭天线上;
步骤2.2.2、运动二维扫描架,使激光跟踪仪的测头在垂直方向和水平方向上均有运动;
步骤2.2.3、激光跟踪仪测出目模喇叭天线的二维运动平面;
步骤2.2.4、将激光跟踪仪的测头分别放置在驱动机构底座平面的上下左右任意四点;
步骤2.2.5、激光跟踪仪测出四点的坐标,数据处理单元计算每一点到目模喇叭天线二维运动平面的距离;
步骤2.2.6、在俯仰方向和方位方向上分别调整二维测试转台,使得四点到目模喇叭天线二维运动平面的距离相等。
所述的步骤2.4还包含以下步骤:
步骤2.4.1、水平移动二维扫描架,测得目模喇叭天线在二维扫描架水平方向上任意两个位置A、B的三维坐标,A、B两点与驱动机构旋转中心Oq点构成一个三角形;
步骤2.4.2、根据三角形垂线定理求取过顶点Oq垂直于二维扫描架二维运动平面的点P的水平位置P1;
步骤2.4.3、在激光跟踪仪坐标系中,根据A点、B点、P1点的坐标求出A P1的距离l1,B P1的距离l2,
步骤2.4.4、将目模喇叭天线从A点向B点移动l1,或者从B点向A点移动l2,即目模喇叭天线的中心与P1点重合;
步骤2.4.5、求取P点在垂直方向上的位置P2;
步骤2.4.6、将目模喇叭天线的中心移至P点。
所述的步骤2.5还包含以下步骤:
步骤2.5.1、打开雷达,将驱动机构归零位,模喇叭天线释放目标模拟回波信号;
步骤2.5.2、雷达跟踪目标,读数稳定后记录测试设备上雷达测量的目标方位角度和俯仰角度;
步骤2.5.3、改变雷达工作频率,雷达测量目标的方位角度和俯仰角度;
步骤2.5.4、在水平方向和垂直方向分别移动二维扫描架;
步骤2.5.5、计算目模喇叭天线相对于雷达移动的角度;
步骤2.5.6、读取雷达测量的目标视线角度;
步骤2.5.7、将目模喇叭天线相对于雷达移动的角度与雷达测量的目标视线角度进行对比,得到雷达电轴与雷达天线机械轴的角度偏差;
步骤2.5.8、多次测量后统计得到标定结果。
本发明一种星载微波跟瞄雷达的电轴光学标定***及其标定方法与现有技术相比具有以下优点:本发明可以在紧缩场中对雷达进行高精度的标定,满足星载微波跟瞄雷达对使用环境温湿度、洁净度的要求;本发明采用非接触式的光学仪器组成标定***,不需要安装光学瞄准镜(或电视望远镜),可以对星载微波跟瞄雷达非接触式标定;本发明可以直接标定雷达测量角度在立方镜坐标系中的偏差,且可以直接通过坐标旋转,将该偏差转换到航天器坐标系上,方便航天器对雷达传递的测量结果进行修正,能够满足卫星总体利用立方镜做安装参考的需求;本发明不需要在目标模拟器上安装立方镜,直接利用激光跟踪仪获得目标模拟器相对于雷达的真实角度和距离信息,便于反复测量,提高标定精度;本发明使用经纬仪和激光跟踪仪结合,测量仪器较少,且所有仪器均通过多路数据采集器连接至数据处理单元,可以自动化完成数据的解算;本发明对雷达***进行了全面的标定,可标定雷达的测量结果,还可标定雷达的安装精度,确保雷达的高精度和高可靠性。
附图说明
图1为本发明一种星载微波跟瞄雷达的电轴光学标定***的整体结构示意图。
图2为本发明一种星载微波跟瞄雷达的电轴光学标定***的雷达测试子***整体结构示意图。
图3为本发明一种星载微波跟瞄雷达的电轴光学标定***的标定子***整体结构示意图。
图4为本发明一种星载微波跟瞄雷达的电轴光学标定方法的流程图。
图5为本发明激光跟踪仪测量驱动机构旋转中心Oq和方位方向、俯仰方向示意图。
图6确定驱动机构旋转中心O q在二维扫描架上的垂足P的示意图。
图7移动二维扫描架后目模喇叭天线移动角度理论计算示意图。
具体实施方式
以下结合附图,通过详细说明一个较佳的具体实施例,对本发明做进一步阐述。
如图1和图2所示,一种星载微波跟瞄雷达的电轴光学标定***,包含雷达测试子***、标定子***、雷达装置、目标模拟子***;目标模拟子***包含目标模拟源41、二维测试转台42、与二维测试转台42连接的二维测试转台控制器43、二维扫描架44及设置在二维扫描架44上的目模喇叭天线45;雷达测试子***包含测试设备11及示波器12;示波器12与测试设备11连接;雷达装置、目模喇叭天线45及测试设备11分别与目标模拟源41连接;
标定子***包含多路数据采集器21以及分别与多路数据采集器21连接的数据处理单元(T-LINK)22、激光跟踪仪23、第一经纬仪24、第二经纬仪25及第三经纬仪26;第一经纬仪24、第二经纬仪25及第三经纬仪26设置在雷达装置和二维扫描架44之间。雷达装置包含信号收发处理组件31、机构控制器32、驱动机构支撑基座33、设置在驱动机构支撑基座33中间部位的驱动机构34及设置在驱动机构34上的雷达天线35;测试设备11、机构控制器32及雷达天线35及目标模拟源41分别与信号收发处理组件31连接;机构控制器32与驱动机构34连接;驱动机构34底座平面上设有第一立方镜341;雷达天线35上设有第二立方镜351。
如图3所示,一种用于上述星载微波跟瞄雷达的电轴光学标定***的标定方法,该标定方法至少包含以下步骤:
步骤1、标定雷达天线35和驱动机构34的安装精度;
步骤1.1、确定第一立方镜341的坐标系;
步骤1.1.1、将第一经纬仪24与第一立方镜341自准直,准直方向为垂直于驱动机构34底座平面(如果雷达天线35阻挡第一经纬仪的视线,可将雷达天线35旋转至一侧,也可测量后在安装雷达天线35);
步骤1.1.2、确定第一立方镜341的Xa轴,利用第二经纬仪25和第三经纬仪26测量第一经纬仪24和第一立方镜341,使得第一经纬仪24和第一立方镜341平行于驱动机构34底座平面的工作面十字线中心三维坐标;
步骤1.1.3、重复步骤1.1.2得到第一立方镜341的Ya轴;
步骤1.1.4、根据右手螺旋定则确定第一立方镜341的坐标系;
步骤1.2、确定第一立方镜341的坐标系指向与雷达坐标系的指向一致(如果不能调整立方镜,可记录指向偏差,然后对测量结果进行相应的修正);
步骤1.2.1、将激光跟踪仪23的测头放置到雷达天线35的中心;
步骤1.2.2、驱动机构34俯仰方向工作且方位方向置零位,激光跟踪仪23的测头的运动轨迹如图4所示;
步骤1.2.3、数据处理单元22得到驱动机构34的俯仰方向,同理得到驱动机构34的方位方向;
步骤1.2.4、调整第一立方镜341,使得第一立方镜341的Ya轴和Za轴分别与驱动机构34的俯仰方向和方位方向一致;
步骤1.3、运用步骤1.1.1到1.1.4中的方法,确定第二立方镜351的坐标系;
步骤1.4、调整雷达天线35,使得第二立方镜351坐标系的Xb轴和第一立方镜341坐标系的Xa轴平行,确保雷达天线35的高精度安装。
步骤2、标定雷达电轴5和雷达天线机械轴6的一致性;
步骤2.1、调整驱动机构支撑基座33与二维测试转台42,使第一立方镜341的Ya轴平行于大地水平面(一经纬仪24、第二经纬仪25及第三经纬仪26已经根据水平尺调整到垂直大地水平面放置);
步骤2.2、将驱动机构34底座平面与目摸喇叭天线45二维运动平面保持平行;
步骤2.2.1、将激光跟踪仪23的测头放置在目模喇叭天线45上;
步骤2.2.2、运动二维扫描架44,使激光跟踪仪23的测头在垂直方向和水平方向上均有运动;
步骤2.2.3、激光跟踪仪23测出目模喇叭天线45的二维运动平面,得到平面方程ax+by+cz+d=0;
步骤2.2.4、将激光跟踪仪23的测头分别放置在驱动机构34底座平面的上下左右任意四点(如果视线有遮挡,则可选择驱动机构支撑基座33的平面);
步骤2.2.5、激光跟踪仪23测出四点的坐标,数据处理单元22计算每一点到目模喇叭天线45二维运动平面的距离,如点A0(x0,y0,z0)到平面的距离为d0=|ax0+by0+cz0+d|,式中a、b、c、d已归一化;
步骤2.2.6、在俯仰方向和方位方向上分别调整二维测试转台42,使得四点到目模喇叭天线45二维运动平面的距离相等;
步骤2.3、运用步骤1.2.1至步骤1.2.4的方法,利用激光跟踪仪23测出驱动机构35旋转中心Oq的三维坐标;
步骤2.4、将目模喇叭天线45放置到雷达天线35机械轴所在的直线上(雷达测量坐标系和激光跟踪仪23的坐标系不一致);
步骤2.4.1、水平移动二维扫描架44,测得目模喇叭天线45在二维扫描架44水平方向上任意两个位置A、B的三维坐标,A、B两点与驱动机构34旋转中心Oq点构成一个三角形;
步骤2.4.2、如图5所示,根据三角形垂线定理求取过顶点Oq垂直于二维扫描架44二维运动平面的点P的水平位置P1;
步骤2.4.3、在激光跟踪仪坐标系中,根据A点、B点、P1点的坐标求出A P1的距离l1,B P1的距离l2,
步骤2.4.4、将目模喇叭天线45从A点向B点移动l1,或者从B点向A点移动l2,即目模喇叭天线45的中心与P1点重合;
步骤2.4.5、求取P点在垂直方向上的位置P2;
步骤2.4.6、将目模喇叭天线45的中心移至P点;
步骤2.5、确定雷达电轴5和雷达天线机械轴6的角度偏差即标定结果;
步骤2.5.1、打开雷达,将驱动机构34归零位,模喇叭天线45释放目标模拟回波信号;
步骤2.5.2、雷达跟踪目标,读数稳定后记录测试设备11上雷达测量的目标方位角度和俯仰角度;
步骤2.5.3、改变雷达工作频率,雷达测量目标的方位角度和俯仰角度;
步骤2.5.4、在水平方向和垂直方向分别移动二维扫描架44;
步骤2.5.5、计算目模喇叭天线45相对于雷达移动的角度;
步骤2.5.6、读取雷达测量的目标视线角度;
步骤2.5.7、如图6所示,将目模喇叭天线45相对于雷达移动的角度与雷达测量的目标视线角度进行对比,得到雷达电轴5与雷达天线机械轴6的角度偏差;
步骤2.5.8、多次测量后统计得到标定结果。
步骤3、根据标定结果对雷达进行校准,或者对雷达测量结果进行修正,或者通过坐标系旋转,将标定结果转换到第一立方镜341的坐标系中。
尽管本发明的内容已经通过上述优选实施例作了详细介绍,但应当认识到上述的描述不应被认为是对本发明的限制。在本领域技术人员阅读了上述内容后,对于本发明的多种修改和替代都将是显而易见的。因此,本发明的保护范围应由所附的权利要求来限定。
Claims (10)
1.一种星载微波跟瞄雷达的电轴光学标定***,其特征在于,包含:雷达测试子***、标定子***、雷达装置、目标模拟子***;
所述的目标模拟子***包含目标模拟源(41)、二维测试转台(42)、与二维测试转台(42)连接的二维测试转台控制器(43)、二维扫描架(44)及设置在二维扫描架(44)上的目模喇叭天线(45);
所述的雷达测试子***包含测试设备(11)及示波器(12);
所述的示波器(12)与测试设备(11)连接;
所述的雷达装置、目模喇叭天线(45)及测试设备(11)分别与目标模拟源(41)连接;
所述的标定子***包含多路数据采集器(21)以及分别与多路数据采集器(21)连接的数据处理单元(22)、激光跟踪仪(23)、第一经纬仪(24)、第二经纬仪(25)及第三经纬仪(26);
所述的第一经纬仪(24)、第二经纬仪(25)及第三经纬仪(26)设置在雷达装置和二维扫描架(44)之间。
2.如权利要求1所述的电轴光学标定***,其特征在于,所述的雷达装置包含信号收发处理组件(31)、机构控制器(32)、驱动机构支撑基座(33)、设置在驱动机构支撑基座(33)中间部位的驱动机构(34)及设置在驱动机构(34)上的雷达天线(35);
所述的测试设备(11)、机构控制器(32)及雷达天线(35)及目标模拟源(41)分别与信号收发处理组件(31)连接;
所述的机构控制器(32)与驱动机构(34)连接;
所述的驱动机构(34)底座平面上设有第一立方镜(341);
所述的雷达天线(35)上设有第二立方镜(351)。
3.一种用于上述星载微波跟瞄雷达的电轴光学标定***的标定方法,其特征在于,至少包含以下步骤:
步骤1、标定雷达天线(35)和驱动机构(34)的安装精度;
步骤2、标定雷达电轴和雷达天线(35)机械轴的一致性;
步骤3、根据标定结果对雷达进行校准,或者对雷达测量结果进行修正,或者通过坐标系旋转,将标定结果转换到第一立方镜(341)的坐标系中。
4.如权利要求3所述的电轴光学标定方法,其特征在于,所述的步骤1还包含以下步骤:
步骤1.1、确定第一立方镜(341)的坐标系;
步骤1.2、确定第一立方镜(341)的坐标系指向与雷达坐标系的指向一致;
步骤1.3、确定第二立方镜(351)的坐标系;
步骤1.4、调整雷达天线(35),使得第二立方镜(351)坐标系的Xb轴和第一立方镜(341)坐标系的Xa轴平行,确保雷达天线(35)的高精度安装。
5.如权利要求4所述的电轴光学标定方法,其特征在于,所述的步骤1.1还包含以下步骤:
步骤1.1.1、将第一经纬仪(24)与第一立方镜(341)自准直,准直方向为垂直于驱动机构(34)底座平面;
步骤1.1.2、确定第一立方镜(341)的Xa轴,利用第二经纬仪(25)和第三经纬仪(26)测量第一经纬仪(24)和第一立方镜(341),使得第一经纬仪(341)和第一立方镜(341)平行于驱动机构(34)底座平面的工作面十字线中心三维坐标;
步骤1.1.3、重复步骤1.1.2得到第一立方镜(341)的Ya轴;
步骤1.1.4、根据右手螺旋定则确定第一立方镜(341)的坐标系。
6.如权利要求4所述的电轴光学标定方法,其特征在于,所述的步骤1.2还包含以下步骤:
步骤1.2.1、将激光跟踪仪(23)的测头放置到雷达天线(35)的中心;
步骤1.2.2、驱动机构(34)俯仰方向工作且方位方向置零位;
步骤1.2.3、数据处理单元(22)得到驱动机构(34)的俯仰方向和方位方向;
步骤1.2.4、调整第一立方镜(341),使得第一立方镜(341)的Ya轴和Za轴分别与驱动机构(34)的俯仰方向和方位方向一致。
7.如权利要求3所述的电轴光学标定方法,其特征在于,所述的步骤2还包含以下步骤:
步骤2.1、调整驱动机构支撑基座(33)与二维测试转台(42),使第一立方镜(341)的Ya轴平行于大地水平面;
步骤2.2、将驱动机构(34)底座平面与目摸喇叭天线(45)二维运动平面保持平行;
步骤2.3、利用激光跟踪仪(23)测出驱动机构(34)旋转中心Oq的三维坐标;
步骤2.4、将目模喇叭天线(45)放置到雷达天线(35)机械轴所在的直线上;
步骤2.5、确定雷达电轴和雷达天线机械轴的角度偏差即标定结果。
8.如权利要求7所述的电轴光学标定方法,其特征在于,所述的步骤2.2还包含以下步骤:
步骤2.2.1、将激光跟踪仪(23)的测头放置在目模喇叭天线(45)上;
步骤2.2.2、运动二维扫描架(44),使激光跟踪仪(23)的测头在垂直方向和水平方向上均有运动;
步骤2.2.3、激光跟踪仪(23)测出目模喇叭天线(45)的二维运动平面;
步骤2.2.4、将激光跟踪仪(23)的测头分别放置在驱动机构(34)底座平面的上下左右任意四点;
步骤2.2.5、激光跟踪仪(23)测出四点的坐标,数据处理单元(22)计算每一点到目模喇叭天线(45)二维运动平面的距离;
步骤2.2.6、在俯仰方向和方位方向上分别调整二维测试转台(42),使得四点到目模喇叭天线(45)二维运动平面的距离相等。
9.如权利要求7所述的电轴光学标定方法,其特征在于,所述的步骤2.4还包含以下步骤:
步骤2.4.1、水平移动二维扫描架(44),测得目模喇叭天线(45)在二维扫描架(44)水平方向上任意两个位置A、B的三维坐标,A、B两点与驱动机构(34)旋转中心Oq点构成一个三角形;
步骤2.4.2、根据三角形垂线定理求取过顶点Oq垂直于二维扫描架(44)二维运动平面的点P的水平位置P1;
步骤2.4.3、在激光跟踪仪坐标系中,根据A点、B点、P1点的坐标求出A P1的距离l1,B P1的距离l2,
步骤2.4.4、将目模喇叭天线(45)从A点向B点移动l1,或者从B点向A点移动l2,即目模喇叭天线(45)的中心与P1点重合;
步骤2.4.5、求取P点在垂直方向上的位置P2;
步骤2.4.6、将目模喇叭天线(45)的中心移至P点。
10.如权利要求7所述的电轴光学标定方法,其特征在于,所述的步骤2.5还包含以下步骤:
步骤2.5.1、打开雷达,将驱动机构(34)归零位,模喇叭天线(45)释放目标模拟回波信号;
步骤2.5.2、雷达跟踪目标,读数稳定后记录测试设备(11)上雷达测量的目标方位角度和俯仰角度;
步骤2.5.3、改变雷达工作频率,雷达测量目标的方位角度和俯仰角度;
步骤2.5.4、在水平方向和垂直方向分别移动二维扫描架(44);
步骤2.5.5、计算目模喇叭天线(45)相对于雷达移动的角度;
步骤2.5.6、读取雷达测量的目标视线角度;
步骤2.5.7、将目模喇叭天线(45)相对于雷达移动的角度与雷达测量的目标视线角度进行对比,得到雷达电轴与雷达天线机械轴的角度偏差;
步骤2.5.8、多次测量后统计得到标定结果。
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