CN103326776B - 一种检测光网络故障的测量方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种检测光网络故障的测量方法及装置，该测量方法包括：设置产生伪随机序列的参数，根据所述参数产生伪随机序列，并连续发射所述伪随机序列；根据所述伪随机序列产生光信号，发送至待测光纤进行光时域反射测量。本发明以为克服用单脉冲式OTDR及互补序列式OTDR时要求的高空间分辨率带来的弱信号、高带宽，要将这种弱信号用高带宽放大器放大足够高增益的缺点，用连续伪随机序列式OTDR，增大接收光功率，减少增益级数，解决现有技术中存在的设计难度大、成本高的问题。

Description

一种检测光网络故障的测量方法及装置

技术领域

本发明涉及一种连续伪随机序列检测光网络故障的测量装置及方法，属于光通信网领域。

背景技术

光纤通信是现代通信网的主要传输手段，它的诞生和发展是电信史上的一次重要革命，与卫星通信、移动通信并列为20世纪90年代的技术。进入21世纪后，由于因特网业务的迅速发展和音频、视频、数据、多媒体应用的增长，对大容量(超高速和超长距离)光波传输***和网络有了更为迫切的需求。

随着光纤通信技术的成熟发展和“三网融合”服务需求的不断推动，大到省与省，国家与国家之间的主干网络，小到普通的城市内部的主干网基本都是采用光纤做主干线。主干网是构建企业网的一个重要的体系结构元素。它为不同局域网或子网间的信息交换提供了路径。通常情况下，主干网的容量要大于与之相连的网络的容量。主干网是一种大型的传输网路，它用于连接小型传输网络，并传送数据。

FTTB(Fiber to The Building，光纤到楼)、FTTH((Fiber To The Home，光纤到家)也已经成为解决接入网带宽瓶颈问题的最佳手段，而无源光网络技术以其高带宽、远距离传输以及点到多点拓扑等优势备受青睐，已经成为各国部署FTTH、FTTB的主要应用架构。PON(Passive Optical Network，无源光纤网络)是一种采用点到多点拓扑结构的无源光接入技术。当前，xPON***已经在国内外大量部署商用，与此同时，PON网络的运营维护技术也不断发展壮大。

在光纤故障诊断方面，借助OTDR(光时域反射计)进行光纤故障诊断仍然是PON***的首选方案，主干网上也可以应用。

目前常用的OTDR测量方法有单脉冲法和互补序列法，主要的指标有动态范围、空间分辨率和盲区等。在实际应用中，对于单脉冲式OTDR，测量脉冲宽度的增加可以增加测量的动态范围，但与空间分辨率是矛盾关系，如需要更高的空间分辨率(如1m)及更小的盲区，则必须减小测量脉冲宽度；而高带宽的激光器发射功率受限，减小测量脉冲宽度，即降低了注入光纤的能量，噪声却没有变化，这样就降低了信噪比，从而降低了测量的动态范围，因此为了兼顾分辨率和动态范围，单脉冲式OTDR只能提高测量脉冲的光功率，受当前技术的限制，发射光功率不能做得过高。另外，A/D(模数转换器)的分辨率也是限定其动态范围的一个重要因素。

用互补序列式OTDR可以有效解决单脉冲式OTDR带来的信噪比恶化的问题，也能突破AD分辨率的限制，大大提高测量的动态范围。但和单脉冲OTDR一样，要实现高空间分辨率，需要更窄的测量脉冲，在硬件电路上的实现的难度相对较大，需要把要识别的微弱光信号转成电信号，再放大到足够大，才达到AD的采样范围。为了兼顾测量强光信号与弱光信号，需要较宽的可调增益放大器。另外，众所周知，窄脉冲的带宽高，因此硬件接收电路***需要上百兆的带宽，这样综合起来，设计难度增加了，其成本也不会降得很低。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种检测光网络故障的测量方法及装置，以为克服用单脉冲式OTDR及互补序列式OTDR时要求的高空间分辨率带来的弱信号、高带宽，要将这种弱信号用高带宽放大器放大足够高增益的缺点，用连续伪随机序列式OTDR，增大接收光功率，减少增益级数，解决现有技术中存在的设计难度大、成本高的问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种检测光网络故障的测量方法，包括：

设置产生伪随机序列的参数，根据所述参数产生伪随机序列，并连续发射所述伪随机序列；

根据所述伪随机序列产生光信号，发送至待测光纤进行光时域反射测量。

进一步地，上述方法还具有下面特点：

所述根据所述伪随机序列产生光信号包括：

将所述伪随机序列直接转换为光信号；

将所述伪随机序列处理成极性相反的伪随机序列后，再转换为光信号，

所述进行光时域反射测量的过程中包括：

将接收到的两种不同极性的伪随机序列的测量数据求差后得到的序列，与所述伪随机序列进行相关。

进一步地，上述方法还具有下面特点：所述进行光时域反射测量的过程中包括：

将接收到的所述伪随机序列的测量数据，与所述伪随机序列与其极性相反的伪随机序列之差的序列进行相关。

进一步地，上述方法还具有下面特点：所述产生伪随机序列的参数包括：

测量脉冲的宽度和产生伪随机序列寄存器的个数m。

进一步地，上述方法还具有下面特点：m满足以下条件：

$2^{m-1}<\frac{{2L}_{\max }}{\mathrm{vT}}\&le;2^m-1,$

其中，L_max为估算出的从测量点到光网络的最远点的距离；

T为脉冲宽度，其中，

x为空间分辨率，v为光在光纤中的传播速度。

进一步地，上述方法还具有下面特点：根据所述参数产生的伪随机序列之后，还包括：

在所述伪随机序列中的每个码元前或后***n个连续的0。

进一步地，上述方法还具有下面特点：所述产生伪随机序列的参数包括：

测量脉冲的宽度和产生伪随机序列寄存器的个数m，其中，m满足以下条件：

$2^{m-1}<\frac{{2L}_{\max }}{\mathrm{vT}\&CenterDot;2^n}\&le;2^m-1,$

其中，L_max为估算出的从测量点到光网络的最远点的距离；

T为脉冲宽度，其中，

x为空间分辨率，v为光在光纤中的传播速度。

为了解决上述问题，本发明还提供了一种检测光网络故障的测量装置，包括：

第一模块，用于设置产生伪随机序列的参数，根据所述参数产生伪随机序列，并连续发射所述伪随机序列；

第二模块，用于根据所述伪随机序列产生光信号，发送至待测光纤进行光时域反射测量。

进一步地，上述装置还具有下面特点：还包括第三模块，

所述第二模块，具体用于将所述伪随机序列直接转换为光信号，发送至待测光纤进行光时域反射测量；将所述伪随机序列处理成极性相反的伪随机序列后，再转换为光信号，发送至待测光纤进行光时域反射测量；

所述第三模块，用于进行光时域反射测量的过程中，将接收到的两种不同极性的伪随机序列的测量数据求差后得到的序列，与所述伪随机序列进行相关。

进一步地，上述装置还具有下面特点：还包括：

第四模块，用于对所述伪随机序列与其极性相反的伪随机序列进行求差操作；

第五模块，用于将接收到的所述伪随机序列的测量数据与所述第四模块求差后的序列进行相关。

进一步地，上述装置还具有下面特点：所述产生伪随机序列的参数包括：

测量脉冲的宽度和产生伪随机序列寄存器的个数m，其中，m满足以下条件：

$2^{m-1}<\frac{{2L}_{\max }}{\mathrm{vT}}\&le;2^m-1,$

其中，L_max为估算出的从测量点到光网络的最远点的距离；

T为脉冲宽度，其中，

x为空间分辨率，v为光在光纤中的传播速度。

进一步地，上述装置还具有下面特点：所述第一模块，在根据所述参数产生伪随机序列之后还用于：在所述伪随机序列中的每个码元前或后***n个连续的0，

所述产生伪随机序列的参数包括：测量脉冲的宽度和产生伪随机序列寄存器的个数m，其中，m满足以下条件：

$2^{m-1}<\frac{{2L}_{\max }}{\mathrm{vT}\&CenterDot;2^n}\&le;2^m-1,$

其中，L_max为估算出的从测量点到光网络的最远点的距离；

T为脉冲宽度，其中，

x为空间分辨率，v为光在光纤中的传播速度。

本发明提供一种检测光网络故障的测量方法及装置，以为克服用单脉冲式OTDR及互补序列式OTDR时要求的高空间分辨率带来的弱信号、高带宽，要将这种弱信号用高带宽放大器放大足够高增益的缺点，用连续伪随机序列式OTDR，增大接收光功率，减少增益级数，解决现有技术中存在的设计难度大、成本高的问题。

附图说明

图1为本发明实施例的检测光网络故障的测量装置的示意图；

图2为本发明应用示例的检测光网络故障的测量***的结构图；

图3为本发明实施例的检测光网络故障的测量方法的流程图；

图4为伪随机序列的变换波形图；

图5为伪随机序列经过变换处理后相关的波形图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

图1是本发明实施例的检测光网络故障的测量装置的示意图，如图1所示，本实施例的装置包括以下模块：

第一模块，用于设置产生伪随机序列的参数，根据所述参数产生伪随机序列，并连续发射所述伪随机序列；

第二模块，用于根据所述伪随机序列产生光信号，发送至待测光纤进行光时域反射测量。

在一优选实施例中，所述装置还可以包括第三模块，

所述第二模块，具体用于将所述伪随机序列直接转换为光信号，发送至待测光纤进行光时域反射测量；将所述伪随机序列处理成极性相反的伪随机序列后，再转换为光信号，发送至待测光纤进行光时域反射测量；

所述第三模块，用于进行光时域反射测量的过程中，将接收到的两种不同极性的伪随机序列的测量数据求差后得到的序列，与所述伪随机序列进行相关。

在一优选实施例中，所述装置还可以包括：

第四模块，用于对所述伪随机序列与其极性相反的伪随机序列进行求差操作；

第五模块，用于将接收到的所述伪随机序列的测量数据与所述第四模块求差后的序列进行相关。

其中，所述产生伪随机序列的参数包括：

测量脉冲的宽度和产生伪随机序列寄存器的个数m，其中，m满足以下条件：

$2^{m-1}<\frac{{2L}_{\max }}{\mathrm{vT}}\&le;2^m-1,$

其中，L_max为估算出的从测量点到光网络的最远点的距离；

T为脉冲宽度，其中，

x为空间分辨率，v为光在光纤中的传播速度。

在一优选实施例中，所述第一模块，在根据所述参数产生伪随机序列之后还用于：在所述伪随机序列中的每个码元前或后***n个连续的0，

所述产生伪随机序列的参数包括：测量脉冲的宽度和产生伪随机序列寄存器的个数m，其中，m满足以下条件：

$2^{m-1}<\frac{{2L}_{\max }}{\mathrm{vT}\&CenterDot;2^n}\&le;2^m-1,$

其中，L_max为估算出的从测量点到光网络的最远点的距离；

T为脉冲宽度，其中，

x为空间分辨率，v为光在光纤中的传播速度。

图2为本发明一应用示例的测量***的示意图，如图2所示，本应用示例的测量***包括以下部分：

激光器104、光环行或耦合器105、待测光纤106、光电二极管107、放大器108、时钟发生器109、ADC 110、平均器112、相关器113和后续处理电路114，还包括：伪随机序列发生器101、信号变换处理器102、2选1开关103和多路开关111。

时钟发生器109为测试***提供时钟；也是为了实现发送及接收的同步。

伪随机序列发生器101根据所配置的参数，产生伪随机序列，一旦测试开始，伪随机序列将连接发送；

由伪随机序列发生器101产生的序列，经过信号变换处理器102变成极性相反的两种序列P、1-P，用2选1开关103选择其中一种，送给激光器104；

激光器接收到伪随机序列后，立即把电序列变成光序列，实现电光转换，最后通过光环行器或耦合器进入待测光纤。

发送出去的光信号，由于瑞利散射或事件点反射，会有光信号返回到光环行器或耦合器，进入光电二极管107；

光电二极管107用于实现光电转换，把光信号变成电路能识别的电信号；

由于光信号很弱，通过光电二极管107后的电信号还是很弱，所以要经过放大器108进行放大，这样后端的ADC110才能采样到。

ADC110采样后的值经过加减开关，进入平均器112，多次平均后，将数据送到相关器113中，跟P序列进行相关，将相关的结果送给后续处理电路114。

后续处理电路114对所测得的OTDR曲线数据进行分析，分析光纤中衰减及反射事件，以判断是否要派人去维修。

发送是连续发送序列，接收时，需要从第二组序列以后开始采样，累加；

当发送端103切换到P序列时，接收端多路开关切换到加法累加器；当发送端103切换到1-P序列时，接收瑞多路开关切换到减法累加器上；

只有发送及接收完所有的数据时，平均器再取平均，平均后，把数据送给相关器。

伪随机序列发生器101连续产生一定长度的伪随机序列，由于瑞利散射是与光强和脉宽成正比，一串序列进入光纤时，相当于脉宽增加了，这样通过激光器注入光纤的能量就很强，使得瑞利散射后向返回的光也就大大增强，再加上菲涅耳反射光，照射到光电二极管107端的光就已经非常强了，光电二极管产生的电流也很强，这就大大提高了信噪比，对后端放大器108的增益要求大大降低。

伪随机序列发生器101产生的P序列(如100010011010111)，通过信号变换处理分成两路，一路是P(100010011010111)，另一路是1-P(011101100101000)。当2选1开关103切换为P时，多路开关111切换到加法累加，相反，当2选1开关切换到1-P时，多路开关111切换到减法累加。

本发明实施例提供一种检测光网络故障的测量方法，主要是：利用伪随机序列自相关具有二值特性，通过对伪随机序列进行简单变换处理，提高相关后的峰值，可以把旁瓣大小降到0，这样可以解决由于旁瓣的问题造成测量波形不规则、事件点分析困难的问题。

图3为本发明实施例的检测光网络故障的测量方法的流程图，如图3所示，本实施例的测量方法包括下面步骤：

S10、设置产生伪随机序列的参数，根据所述参数产生伪随机序列，并连续发射所述伪随机序列；

S20、根据所述伪随机序列产生光信号，发送至待测光纤进行光时域反射测量。

以下结合附图对本发明的实施例1、实施例2和实施3进行说明，应当理解，此处所描述的实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。

实施例1：

步骤101、测量之前要先设置产生伪随机序列的参数，包括测量脉冲的宽度、伪随机序列的长度。

计算伪随机序列的长度时需要估算出光纤最远距离，伪随机序列要求具有二值相关特性。

图4是伪随机序列的变换波形图，测量所用的序列是利用伪随机序列自相关后具有二值的特性，如15位的m序列100010011010111由连续伪随机序列发生器101产生，经过信号变换处理102变换成两种序列P及1-P，连续的P序列用f₁(n)来表示，连续的1-P序列用f₂(n)表示，与前者的关系为f₂(n)＝1-f₁(n)，f₁(n)-f₂(n)得到一组双极性的连续序列f₃(n)，它与f₁(n)相关后也是双值，如图5所示。

$\underset{-\&infin;}{\overset{+\&infin;}{\mathrm{\&Sigma;}}}{f}_1\left(l\right)f_3(n+l)\mathrm{dl}=\left\{\begin{array}{cc}{2}^{m-1}& n=k(2^n-1)\\ 0& n\&NotEqual;k(2^m-1)\end{array}\right.$

其中，m为产生伪随机序列寄存器的个数，k为任何整数。

发送伪随机序列要有两个参数，一是脉冲宽度；二是序列长度(2^m-1)，或是产生伪随机序列寄存器的个数m。根据需要的空间分辨率来设置脉冲宽度T，设空间分辨率为x，v为光在光纤中的传播速度，则另外需要估算出从测量点到光网络的最远点的距离L_max。

L_max可以人为估算，或多次测量，从测量波形中看出光纤的最长距离。

为了降低测量时间、减少计算复杂度，需要计算出最少所需寄存器的个数，设m为寄存器的个数，则符合的m值，称为最佳优选值。

前两个参数设置完了，可以测量了。在开始测量时，连续发送伪随机序列P，前一组序列与后一组序列不能有时间间隔，或时间间隔为0，这样才能保证相关的二值特性不被破坏。

步骤102、为了去除直流分量的影响，这里采用双极性测量序列进行测量，而光脉冲没有负信号，故需要变换成0或1的单极性序列，即由原伪随机序列变换成两种序列，分成两种连续的测量序列进行测量，接收机将接收的光信号转成电信号，并进行放大，再同步采样放大后的测量信号。

接收机为由图1中的光电二极管107、放大器108、AD采样器110组成。

如果第一种序列测量N次，那么第二种序列也要测量N次，将两种序列测量的数据相减后，再求平均。若平均后再相减，也可以，这时两种序列的测量次数可以不完全一致。这里以从连续的序列中采样一组完整的序列算一次测量，也可以采样多组完整的序列算一次测量。

将2选1开关104拨到P序列，把多路开关111拨到加法累加器上进行测量；测量时要注意要从发送完第一组P序列之后，开始发送第二组P序列时开始同步启动AD采样110进行采样，发完一组序列P，采样到一组数据，算一次测量，再发送完另一组序列P，又采样到另一组数据，算另一次测量。后一组数据要和前面测的数据进行对应加法累加。

测量N次之后，将2选1开关104拨到1-P序列上，把多路开关111拨到减法累加器上进行测量，根据前面所述的方法进行测量，把测量的数据对应累加到测量前一种序列P的数据上，也测量N次。实际上就是将两种不同序列的测量数据进行相减的操作，再求平均，平均后的数据为序列S。

步骤103、为了方便相关运算，在相关运算之前，对于采样一组完整的序列算一次测量的数据，可以扩展成两组相同的序列，与原伪随机序列进行相关；或将原伪随机序列至少扩展成两组相同的序列，与所测的数据进行相关。

如果在步骤102中，以采样多组完整的序列算一次测量的话，这里就可以直接与原伪随机序列进行相关，无需要再扩展。

S序列和P序列相关时，至少需要将S或P扩展成两组完全相同的序列，再和另一组序列进行相关。具体相关计算方法如下：

$R\left(n\right)=\underset{l=1}{\overset{2^m-1}{\mathrm{\&Sigma;}}}{P}_2(l+n)S\left(l\right)$ 或 $R\left(n\right)=\underset{l=1}{\overset{2^m-1}{\mathrm{\&Sigma;}}}P\left(l\right)S_2(l+n)$

P₂是由两个P序列扩展而成，S₂是由两个S序列扩展而成。

步骤104、将相关结果送到后续电路处理，结束测量。

实施例2：

与实施例1的区别是，伪随机序列发生器在伪随机序列中每个码元前(或后)***“0”，可以插一个“0”，也可以插多个连续的“0”，以更好地分辨出弱信号事件，需要拉开强光事件与弱光事件在时间上的距离，为了保证相关的二值特性，需要做一些处理。这里为了说明方便，以***一个“0”为例，详细介绍与实施例1处理的不同点。

还以前面说的15位m序列为例，产生的伪随机序列经过信号变换处理102进行插“0”，15位的P序列(100010011010111)变换为30位的P’序列(10-00-00-00-10-00-00-10-10-00-10-00-10-10-10)，15位的1-P序列(0111011001 01000)变换为30位的(1-P)’序列(00-10-10-10-00-10-10-00-00-10-00-10-00-00-00)。发送测量序列时就连续发送这两种序列P’和(1-P)’，接收电路AD采样时钟需要与此序列发送时钟同步。

接收电路部分相关器113进行相关处理前，也要预先把P序列变成P’序列，其它的操作步骤与实施例1一样。

对产生伪随机序列的寄存器个数，其计算方式同样也需要调整一下。设光在光纤中的速度为v，脉冲宽度为T，m为寄存器的个数，每位码***连续“0”的个数为n，则最佳优选值为符合不等式的m值。

这种方法可以在时间上拉开强光与弱光之间的距离，有利于对弱光事件的测量和识别。

实施例3：

为了说明与实施例1的区别，这里还以15位的m序列为例，发射端只发送连续的P(100010011010111)序列，即实施例1中的f₁(n)，接收端也只接收一种序列，进行累加平均之后送给相关器113。从连续伪随机序列发生器101出来给相关器113的序列要做一下变换，变成连续的2P-1(1-1-1-11-1-111-11-1111)，即与实施例1中的f₃(n)，其他的方法步骤同实施例1。

这种方法测量时，只要发送一种连续的伪随机序列，简化了发送和接收器的复杂度。

由于，光能量＝光强度*光脉宽，采用序列法相当于增大发送的脉宽，而且还能保证的***的分辨率，因此，采用本发明实施例所述的装置和方法，与现有技术相比，达到了增强接收光信号的能量及信噪比的效果，大大减少了高带宽放大器的级数，降低了***设计的难度，提高了***设计的可靠性。

本领域普通技术人员可以理解上述方法中的全部或部分步骤可通过程序来指令相关硬件完成，所述程序可以存储于计算机可读存储介质中，如只读存储器、磁盘或光盘等。可选地，上述实施例的全部或部分步骤也可以使用一个或多个集成电路来实现。相应地，上述实施例中的各模块/单元可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。本发明不限制于任何特定形式的硬件和软件的结合。

以上仅为本发明的优选实施例，当然，本发明还可有其他多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种检测光网络故障的测量方法，包括：

设置产生伪随机序列的参数，根据所述参数产生伪随机序列，并连续发射所述伪随机序列；

根据所述伪随机序列产生光信号，发送至待测光纤进行光时域反射测量；

所述根据所述伪随机序列产生光信号包括：

将所述伪随机序列直接转换为光信号；

将所述伪随机序列处理成极性相反的伪随机序列后，再转换为光信号，

所述进行光时域反射测量的过程中包括：

将接收到的两种不同极性的伪随机序列的测量数据求差后得到的序列，与所述伪随机序列进行相关。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述进行光时域反射测量的过程中包括：

将接收到的所述伪随机序列的测量数据，与所述伪随机序列与其极性相反的伪随机序列之差的序列进行相关。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于：所述产生伪随机序列的参数包括：

测量脉冲的宽度和产生伪随机序列寄存器的个数m。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于：m满足以下条件：

$2^{m-1}<\frac{2L_{max}}{vT}\&le;2^m-1,$

其中，L_max为估算出的从测量点到光网络的最远点的距离；

T为脉冲宽度，其中，

x为空间分辨率，v为光在光纤中的传播速度。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于：根据所述参数产生的伪随机序列之后，还包括：

在所述伪随机序列中的每个码元前或后***n个连续的0。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于：所述产生伪随机序列的参数包括：

测量脉冲的宽度和产生伪随机序列寄存器的个数m，其中，m满足以下条件：

$2^{m-1}<\frac{2L_{max}}{vT\&CenterDot;2^n}\&le;2^m-1,$

其中，L_max为估算出的从测量点到光网络的最远点的距离；

T为脉冲宽度，其中，

x为空间分辨率，v为光在光纤中的传播速度。

7.一种检测光网络故障的测量装置，包括：

第一模块，用于设置产生伪随机序列的参数，根据所述参数产生伪随机序列，并连续发射所述伪随机序列；

第二模块，用于根据所述伪随机序列产生光信号，发送至待测光纤进行光时域反射测量；

还包括第三模块，

所述第二模块，具体用于将所述伪随机序列直接转换为光信号，发送至待测光纤进行光时域反射测量；将所述伪随机序列处理成极性相反的伪随机序列后，再转换为光信号，发送至待测光纤进行光时域反射测量；

所述第三模块，用于进行光时域反射测量的过程中，将接收到的两种不同极性的伪随机序列的测量数据求差后得到的序列，与所述伪随机序列进行相关。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于：还包括：

第四模块，用于对所述伪随机序列与其极性相反的伪随机序列进行求差操作；

第五模块，用于将接收到的所述伪随机序列的测量数据与所述第四模块求差后的序列进行相关。

9.如权利要求7或8所述的装置，其特征在于：所述产生伪随机序列的参数包括：

测量脉冲的宽度和产生伪随机序列寄存器的个数m，其中，m满足以下条件：

$2^{m-1}<\frac{2L_{max}}{vT}\&le;2^m-1,$

其中，L_max为估算出的从测量点到光网络的最远点的距离；

T为脉冲宽度，其中，

x为空间分辨率，v为光在光纤中的传播速度。

10.如权利要求7所述的装置，其特征在于：

所述第一模块，在根据所述参数产生伪随机序列之后还用于：在所述伪随机序列中的每个码元前或后***n个连续的0，

所述产生伪随机序列的参数包括：测量脉冲的宽度和产生伪随机序列寄存器的个数m，其中，m满足以下条件：

$2^{m-1}<\frac{2L_{max}}{vT\&CenterDot;2^n}\&le;2^m-1,$

其中，L_max为估算出的从测量点到光网络的最远点的距离；

T为脉冲宽度，其中，

x为空间分辨率，v为光在光纤中的传播速度。