CN103309064B - 传感器、检测装置及检测方法 - Google Patents

传感器、检测装置及检测方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种传感器、检测装置及方法,该方法包括:A、将第一传感器、第二传感器对应与相邻两条待检测数据线连接;B、第一传感器向待检测数据线输入检测信号,同时控制第二传感器接收经过待检测的数据线传输的检测信号;C、判断第二传感器是否接收到检测信号;当第二传感器接收到信号时,则转入步骤D;当第二传感器未接收到信号时,则转入步骤E;D、判定所述相邻的两条待测数据线之间存在短路;E、控制第一传感器及第二传感器按照预设的方向移动。本发明通过将第一传感器和第二传感器对应与相邻的两条待检测数据线连接,控制第一传感器及第二传感器按照预设的方向移动,对每一条数据线进行检测,提高了短路检测的效率。<!--1-->

Description

传感器、检测装置及检测方法
技术领域
本发明涉及到液晶显示领域,特别涉及到一种用于检测液晶面板的传感器、检测装置及检测方法。
背景技术
目前,随着液晶显示技术的不断发展,人们对于液晶显示产品画面的要求也越来越高。而影响液晶显示产品画面好坏的主要因素为液晶显示产品中薄膜晶体管及彩色滤光片制作的好坏。
现有对薄膜晶体管中制作过程中数据线短路检测装置中的感应距离为2mm,而液晶面板的数据线与数据线之间距离为10um,由于数据线短路检测装置中的感应距离过大,亦造成将相邻的两条数据线当作一条数据线检测,造成数据线短路无法检测出来。
因此,找到一种检测装置及检测方法,能对液晶面板的每一条数据线进行检测,提高数据线中短路检测的准确性,成为液晶面板行业亟待解决的问题之一。
发明内容
本发明的主要目的为提供一种传感器、检测装置及检测方法。旨在对每一条数据线进行短路检测,提高数据线的短路检测的效率。
一种传感器,用于检测液晶面板的数据线,该传感器的宽度小于数据线的宽度与相邻两条数据线之间间距的和。
优选地,所述传感器由半导体积体电路玻璃晶片板制成,宽度为0.002mm至0.01mm。
一种检测装置,用于检测液晶面板的数据线,该检测装置包括:第一传感器、第二传感器、控制模块及讯号模块;所述控制模块与讯号模块连接,用于向讯号模块发出控制信号;所述控制模块与第二传感器连接,用于控制第二传感器接收信号,并根据第二传感器是否接收到信号来判断待检测数据线是否短路;所述讯号模块与第一传感器及控制模块连接,用于根据控制模块发出的控制信号向第一传感器输入检测信号或者停止向第一传感器输入检测信号;所述第一传感器及第二传感器分别与相邻的两条待检测数据线连接,所述第一传感器用于接收讯号模块输入的检测信号,并将接收到的检测信号输送至待检测数据线;所述第二传感器用于接收经过待检测数据线传输的检测信号。
优选地,所述第一传感器、第二传感器由半导体积体电路玻璃晶片板制成,宽度为0.002mm至0.01mm。
优选地,所述第一传感器与第二传感器连接在待检测数据线的两侧或同一侧。
优选地,该检测装置还包括计时模块及计算模块,所述计时模块用于根据控制模块发出的控制信号开始计时或停止计时,并将计时结果传送至计算模块;所述计算模块用于根据计时模块输入的计时结果、相邻两待检测数据线之间的间距以及检测信号的传输速度计算获得相邻两待检测数据线之间的短路位置。
一种检测方法,用于检测液晶面板的数据线,该方法包括:A、将第一传感器、第二传感器对应与相邻两条待检测数据线连接;B、第一传感器向待检测数据线输入检测信号,同时控制第二传感器接收经过待检测的数据线传输的检测信号;C、判断第二传感器是否接收到检测信号;当第二传感器接收到信号时,则转入步骤D;当第二传感器未接收到信号时,则转入步骤E;D、判定所述相邻的两条待测数据线之间存在短路;E、控制第一传感器及第二传感器按照预设的方向移动。
优选地,所述步骤A具体为:将所述第一传感器与第二传感器设置于相邻的两待测数据线的同一侧。
优选地,所述步骤B具体为:第一传感器向输入待检测数据线发出检测信号,同时开始计时,并控制第二传感器接收经过待检测的数据线传输的检测信号;所述步骤D具体为:判定所述相邻的两条待测数据线之间存在短路同时停止计时、计算获得短路的位置。
优选地,所述计算短路的位置具体为:计算检测信号在待检测数据线内的传输时间;根据检测信号在待检测数据线内的传输时间、传输速度及相邻两数据线之间的间距计算获得短路的位置。
本发明通过将第一传感器和第二传感器对应与相邻的两条待检测数据线连接,在第二传感器接收到待检测数据线传递的讯号时,对相邻的两条待检测数据线进行短路标记。通过对每一条数据线进行短路检测,提高了短路检测的效率。
附图说明
图1为本发明检测装置的第一实施例的示意图;
图2为本发明检测装置的第二实施例的示意图;
图3为本发明检测方法的第一实施例的流程图;
图4、图5为本发明检测装置根据图3所示的检测方法检测液晶面板的数据线的示意图;
图6为图5中第二传感器接收的检测信号图;
图7为本发明检测方法的第二实施例的流程图;
图8、图9为本发明检测装置根据图7所示的检测方法检测液晶面板的数据线的示意图;
图10为图9中第二传感器接收的检测信号图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
如图1所示,为本发明检测装置第一实施例的示意图,其用于检测液晶面板的待检测数据线。所述检测装置包括第一传感器11、第二传感器12、控制模块13及讯号模块14。
所述控制模块13与讯号模块14连接,用于向讯号模块14发出控制信号。所述控制模块13还与第二传感器12连接,用于控制第二传感器12接收信号,并根据第二传感器是否接收到信号来判断待检测数据线是否短路;
讯号模块14与第一传感器11及控制模块13连接,用于根据控制模块13发出的控制信号向第一传感器11输入检测信号或者停止向第一传感器11输入检测信号。
所述第一传感器11与第二传感器12分别与相邻的两条待检测数据线连接,所述第一传感器11与第二传感器12可分别连接在待检测数据线的两侧,或连接在待检测数据线的同一侧。所述第一传感器11与第二传感器12分别与一条待检测数据线对应,即在检测时,第一传感器11与第二传感器12仅与一条待检测数据线连接,所述第一传感器11、第二传感器12的宽度应小于待检测数据线的宽度与相邻两条数据线之间的间距之和;优选的,所述第一传感器11、第二传感器12的宽度小于待检测数据线的宽度,在本发明其他实施例中,所述第一传感器11及第二传感器12的宽度还可以是其他任意在0.002mm至0.01mm之间,优选的,其宽度为0.002mm。所述第一传感器11及第二传感器12由半导体积体电路玻璃晶片制成。
所述第一传感器11与讯号模块14及待检测数据线的一端连接,用于接收讯号模块14输入的检测信号,并将接收到的检测信号输送至待检测数据线。所述第二传感器12,用于接收经过待检测数据线传输的检测信号。在本发明其他实施例中,所述检测装置还可以包括多组一一对应的第一传感器11及第二传感器12。
控制模块13用于控制讯号模块14向第一传感器11发出检测信号,并同时控制第二传感器12接收信号。在第一传感器11向待检测数据线输入检测信号后,判断第二传感器12是否接收到信号,当第二传感器12接收到信号时,判定该相邻的两待测数据线之间存在短路,对该相邻的两待检测数据线进行短路标记;当传感器12未接收到信号时,判定该相邻的两待检测数据线之间不存在短路。检测完该相邻的两条待检测数据线之后,控制模块13再控制传感器11、12按照预设的方向移动,依次检测液晶面板的待检测数据线,直到所有的待检测数据线均检测结束。
本发明实施例的检测装置的传感器1通过由半导体积体电路玻璃晶片制成的第一传感器11及第二传感器12,使得第一传感器11及第二传感器12的宽度可以达到很小,从而使第一传感器11及第二传感器12可以对应仅与一条待检测数据线连接,提高了短路检测的检测效率。
请参阅图2,其为本发明检测装置的第二实施例的示意图,其用于检测液晶面板的待检测数据线。在第一实施例的基础上,第二实施例的检测装置还包括计时模块15和计算模块16。
在本实施例中,所述第一传感器11与第二传感器12连接在待检测数据线的同一侧。
所述计时模块15与控制模块13及计算模块16连接,用于根据控制模块13发出的控制信号开始计时或停止计时,并将计时结果传送至计算模块16。所述控制模块13在控制讯号模块14向第一传感器11输入检测信号的同时控制计时模块15开始计时,并在第二传感器12接收到检测信号时控制计时模块15停止计时。
所述计算模块16用于根据计时模块15输入的计时结果、相邻两待检测数据线之间的间距以及检测信号的传输速度计算相邻两待检测数据线之间的短路位置,然后标记该短路位置。
请一并参阅图3至图6,图3为本发明检测方法第一实施例的具体流程图,图4、图5为本发明检测装置根据图3所示的检测方法检测液晶面板的数据线的示意图;图6为图5中第二传感器接收的检测信号图。
本实施例的检测方法采用图1所示的检测装置对液晶面板的数据线进行检测,在此不做赘述。本实施例的检测方法包括以下步骤:
步骤S101,将检测装置的第一传感器及第二传感器对应与相邻两条待检测数据线连接;
如图4及图5所示;所述第一传感器11、第二传感器12分别连接在相邻两条待检测数据线102、101或104、103的末端,并且第一传感器11、第二传感器12位于待检测数据线101、102、103、104的两侧。
步骤S102,控制第一传感器向待检测数据线输入接收到检测信号,同时控制第二传感器接收经过待检测的数据线传输的检测信号;
如图4所示,所述控制模块13向讯号模块14发出控制信号,讯号模块14根据该控制信号向第一传感器11输入检测信号,第一传感器11将接收到的检测信号输入待检测数据线102,所述第二传感器12用于接收经过待检测数据线101传递的检测信号。如图5所示,第一传感器11将接收到的检测信号输入待检测数据线104,所述第二传感器12用于接收经待检测数据线103传递的检测信号。
步骤S103,判断第二传感器是否接收到检测信号;
在向待检测数据线102输入检测信号后,判断第二传感器12是否接收到检测信号,当第二传感器12接收到检测信号时(如图6所示的尖峰信号105),执行步骤S104;当第二传感器12未接收到检测信号时,执行步骤S105。
如图4所示,当第一传感器11向待检测数据线102输入检测信号时,待检测数据线102与相邻的待检测数据线101之间无电性连接,因此,与待检测数据线101一端连接的第二传感器12接收不到检测信号时。
如图5所示,当第一传感器11向待检测数据线104输入检测信号时,待检测数据线104与相邻的待检测数据线103之间存在短路连接106,则第一传感器11输入的检测信号的一部分将沿待检测数据线104继续传递,另一部分则经过短路连接106后沿待检测数据线103传送,因此与待检测数据线103一端连接的第二传感器12会接收到检测信号,如图6所示的尖峰信号105。
步骤S104,判定所述相邻的两条待测数据线之间存在短路;
当第二传感器12接收到检测信号时,则可以判定所述相邻的两条待检测数据线之间存在短路,并对其短路标记。
如图5及图6所示,当第二传感器12接收到检测信号,则表示待检测数据线103与待检测数据线104之间存在短路连接,对待检测数据线103、104进行标记。
步骤S105,控制第一传感器及第二传感器按照预设的方向移动。
在该相邻的两条待检测数据线检测结束后,则控制第一传感器11及第二传感器12按照预设的方向移动,并返回步骤S101,对待检测数据线进行检测,直至所有待检测数据线全部检测完毕。
本实施例通过第一传感器、第二传感器对待检测数据线逐条检测,从而可准确判断存在短路连接的相邻两条待检测数据线,提高了短路检测的效率。
请一并参阅图7至图10,图7为本发明检测方法第一实施例的具体流程图,图8、图9为本发明检测装置根据图7所示的检测方法检测液晶面板的数据线的示意图;图10为图5中第二传感器接收的检测信号图。
本实施例的检测方法采用图1所示的检测装置对液晶面板的数据线进行检测,在此不做赘述。本实施例的检测方法包括以下步骤:
步骤S201,将检测装置的第一传感器及第二传感器对应与相邻两条待检测数据线连接;
如图8及图9所示;所述第一传感器11、第二传感器12分别连接在相邻两条待检测数据线102、101或104、103的末端,并且第一传感器11、第二传感器12位于待检测数据线101、102、103、104的同一侧。
步骤S202,控制第一传感器向待检测数据线输入接收的检测信号,同时开始计时,并控制第二传感器接收经过待检测的数据线传输的检测信号;
如图8所示,所述控制模块13向讯号模块14发出控制信号,讯号模块14根据该控制信号向第一传感器11输入检测信号,第一传感器11将接收到的检测信号输入待检测数据线102,所述第二传感器12用于接收经待检测数据线101传递的检测信号。如图9所示,第一传感器11将接收到的检测信号输入待检测数据线104,所述第二传感器12用于接收经待检测数据线103传递的检测信号。
步骤S203,判断第二传感器是否接收到检测信号;
在向待检测数据线102输入检测信号后,判断第二传感器12是否接收到信号,当第二传感器12接收到信号时(如图10所示的尖峰信号105),执行步骤S204;当第二传感器12未接收到检测信号时,执行步骤S205。
如图8所示,当第一传感器11向待检测数据线102输入检测信号时,待检测数据线102与相邻的待检测数据线101之间无电性连接,因此,与待检测数据线101一端连接的第二传感器12接收不到检测信号时。
如图9所示,当第一传感器11向待检测数据线104输入检测信号时,待检测数据线104与相邻的待检测数据线103之间存在短路连接106,则第一传感器11输入的检测信号的一部分将沿待检测数据线104继续传递,另一部分则经过短路连接106后沿待检测数据线103传送,因此与待检测数据线103一端连接的第二传感器12会接收到检测信号,如图10所示的尖峰信号105。
步骤S204,判定所述相邻的两条待测数据线之间存在短路同时停止计时、计算短路的位置,并转入步骤S205;
当第二传感器12接收到检测信号时,则可以判定所述相邻的两条待检测数据线之间存在短路。如图9及图10所示,当第二传感器12接收到检测信号,则表示待检测数据线103与待检测数据线104之间存在短路连接,对待检测数据线103、104进行标记。
计算短路的位置具体为:计算检测信号在待检测数据线内的传输时间;根据检测信号在待检测数据线内的传输时间、传输速度及相邻两数据线之间的间距计算短路的位置。
在本实施例中,步骤S202中第一传感器11向待检测数据线104输入检测信号时开始计时,并且在第二传感器12接收到检测信号时停止计时,因此计算可得出检测信号在待检测数据线内的传输时间t;并且检测信号为电信号,其传输速度v已知,即可计算检测信号的传输距离S,S=vt。此外待检测数据线之间的间距D已知,并且第一传感器11与第二传感器12并列设置,因此短路位置与第一传感器11或第二传感器12之间的距离L=(S-D)/2,即可得出待检测数据线103、104之间的短路连接106的位置。在其他实施例中,在确定短路连接106的位置后,可采用激光切割等方法,断开短路连接106,从而可修复相邻两条待检测数据线之间的短路缺陷。
步骤S205,控制第一传感器及第二传感器按照预设的方向移动。
在该相邻的两条待检测数据线检测结束后,则控制第一传感器11及第二传感器12按照预设的方向移动,并返回步骤S201,对待检测数据线进行检测,直至所有待检测数据线全部检测完毕。
本实施例的检测方法,不但可以准确地检测出存在短路的数据线,而且还能精确地标记出两数据线之间短路的具***置,进一步提高了短路检测的效率。
以上所述仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种检测装置,用于检测液晶面板的数据线,其特征在于,该检测装置包括:第一传感器、第二传感器、控制模块及讯号模块;所述控制模块与讯号模块连接,用于向讯号模块发出控制信号;所述控制模块与第二传感器连接,用于控制第二传感器接收信号,并根据第二传感器是否接收到信号来判断待检测数据线是否短路;所述讯号模块与第一传感器及控制模块连接,用于根据控制模块发出的控制信号向第一传感器输入检测信号或者停止向第一传感器输入检测信号;所述第一传感器及第二传感器分别与相邻的两条待检测数据线连接,所述第一传感器用于接收讯号模块输入的检测信号,并将接收到的检测信号输送至待检测数据线;所述第二传感器用于接收经过待检测数据线传输的检测信号。
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述第一传感器、第二传感器由半导体积体电路玻璃晶片板制成,宽度为0.002mm至0.01mm。
3.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述第一传感器与第二传感器连接在待检测数据线的两侧或同一侧。
4.根据权利要求3所述的检测装置,其特征在于,该检测装置还包括计时模块及计算模块,所述计时模块用于根据控制模块发出的控制信号开始计时或停止计时,并将计时结果传送至计算模块;所述计算模块用于根据计时模块输入的计时结果、相邻两待检测数据线之间的间距以及检测信号的传输速度计算获得相邻两待检测数据线之间的短路位置。
5.一种检测方法,用于检测液晶面板的数据线,其特征在于,该方法包括:
A、将第一传感器、第二传感器对应与相邻两条待检测数据线连接;
B、第一传感器向待检测数据线输入检测信号,同时控制第二传感器接收经过待检测的数据线传输的检测信号;
C、判断第二传感器是否接收到检测信号;当第二传感器接收到信号时,则转入步骤D;当第二传感器未接收到信号时,则转入步骤E;
D、判定所述相邻的两条待测数据线之间存在短路;
E、控制第一传感器及第二传感器按照预设的方向移动。
6.根据权利要求5所述的检测方法,其特征在于,所述步骤A具体为:
将所述第一传感器与第二传感器设置于相邻的两待测数据线的同一侧。
7.根据权利要求6所述的检测方法,其特征在于,所述步骤B具体为:第一传感器向输入待检测数据线发出检测信号,同时开始计时,并控制第二传感器接收经过待检测的数据线传输的检测信号;
所述步骤D具体为:判定所述相邻的两条待测数据线之间存在短路同时停止计时、计算获得短路的位置。
8.根据权利要求7所述的检测方法,其特征在于,所述计算获得短路的位置具体为:
计算检测信号在待检测数据线内的传输时间;
根据检测信号在待检测数据线内的传输时间、传输速度及相邻两数据线之间的间距计算获得短路的位置。
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Granted publication date: 20151125