CN103261837A - 位置识别 - Google Patents

Abstract

本发明的主题涉及用于记录物品以及再次找到物品的片段的方法。

Description

位置识别

本发明涉及用于记录物品以及再次找到物品的片段的方法。

很多工业货物和产品的生产和加工过程中的自动化需要物品和/或物品片段的自动化的识别和再次找到。

例如，公开的专利申请DE3704313A1涉及识别物品的非接触的光学方法。在物品上施加全息图。将全息图用相干光照射并将从全息图返回的射线用相机捕获。从返回的射线可以得出关于物品的种类、它在空间中的位置、形态变化和动态行为的结论。

该方法的缺点是需要必须施加于物品上的媒介（全息图）。因此该方法不适用于不能提供相应的媒介的物品。此外，必须为物品提供多个全息图，以便能够识别和再次找到物品的不同片段。

在膜和涂层的生产过程中，例如会发生杂质的纳入或者一般地说产生缺陷，其必须在进一步的加工之前被识别并在合适的情况下被去除。在很多工艺中，将可能在加工步骤过程中产生的缺陷在该加工步骤过程中进行标记是不可能的。

因此，本发明解决如下问题：识别和/或再次找到物品的片段，而不必为该片段提供标记。所寻求的方法应当非接触地实施，以允许在识别和/或再次找到过程中高的速度，并且实施起来简单且需要少的维护。

该问题通过根据独立权利要求1、2和3的方法得到解决。优选的实施方案存在于从属权利要求中。

本发明基于如下发现：物品的固有结构性质，特别是物品的表面结构，产生用于物品片段的明确识别和/或再次找到的特征。然而，在这种情况下，如下所述将是太复杂的：通过图像处理***检测物品完整的固有结构性质并储存于数据库中，以便能够在随后的时间点再次找到特定的片段。

出人意料地发现，用具有线性束轮廓的电磁辐射进行的物品扫描简单且快速地产生足够的信息，以便以高的精确度并且同样快速地再次找到物品的各个片段。

因而，本发明的第一个主题是物品的记录方法，其特征在于，用电磁辐射扫描物品的一个区域并将由于扫描而从物品发射的电磁辐射的至少一部分捕获，并将获得的扫描信号在合适的情况下在信号处理后与物品的各个片段有关的其它参数一起以参考轮廓的形式储存于数据库中，其中用于扫描的电磁辐射具有线性束轮廓。

本发明的另一个主题是用于识别和/或再次找到物品的片段的方法，包括下列步骤：

-基于关于物品的参考轮廓，确定预定的参数存在于物品的哪一个片段中，

-用电磁辐射扫描所确定的片段，将由于扫描而从物品发射的电磁辐射的至少一部分捕获，并由获得的扫描信号产生局部轮廓，在合适的情况下使用信号处理方法，其中用于扫描的电磁辐射具有线性束轮廓，

-将局部轮廓与参考轮廓的与所确定的片段相对应的那部分进行比较。

本发明的另一个主题是用于将处理过的物品的片段分配至未处理的物品的相应片段的方法，包括下列步骤：

-用电磁辐射扫描处理过的物品的片段，将由于扫描而从处理过的物品发射的电磁辐射的至少一部分捕获，并由获得的扫描信号产生局部轮廓，在合适的情况下使用信号处理方法，其中用于扫描的电磁辐射具有线性束轮廓，

-逐段地将局部轮廓与未处理的物品的参考轮廓进行比较，并识别与局部轮廓具有最大相似性的参考轮廓的那个片段。

本发明可以在形式上细分为两个阶段。在一个第一阶段（下文也称为第一阶段）将物品记录。在该记录过程中产生参考轮廓，该参考轮廓被储存于数据库中。该参考轮廓含有关于物品的固有结构性质以及固有结构性质出现的物品位置的信息。

该参考轮廓在一定程度上代表物品的一种地图，在该地图上将关于固有结构性质的信息标记为位置的函数。

此外，参考轮廓含有关于物品的各个片断的参数。这些参数与关于物品的固有结构性质的信息一起记录在参考轮廓中。这意味着，关于通过一个或多个参数表征的各个片断，参考轮廓含有关于在所述片断中物品的固有结构性质的信息。

为了继续以上使用的地图的比喻，参数标出地图上的特定特征，例如灯塔。

在本发明的一个随后的第二阶段（下文也称为第二阶段），物品的一部分被识别和/或再次找到。

在基于优选实施方案更详细地解释本发明之前，将给出本发明的具体的应用可能性，以便使以上使用的术语更清楚。

一种可以考虑的应用可能性为例如缺陷的再次找到。可以想到的是在物品的生产和加工过程中产生缺陷，例如刮痕或杂质。此外，可以想到的是这些缺陷不能立即去除，例如因为立即去除将意味着打断生产或加工方法。借助本发明，所述缺陷首先被检测。物品通过电磁辐射扫描，以便产生特征扫描信号，该特征扫描信号表征物品的各个片断以使得所述片断可以随后明确地再次找到。由扫描信号产生参考轮廓。关于缺陷产生位置的细节包括在参考轮廓中。也可以包括关于在各种情况下涉及何种缺陷的细节。关于缺陷的这种信息在这里一般地称为参数。

缺陷可以例如用在线分析方法检测。如果涉及光学可确认的缺陷，也可以考虑它们可以直接在扫描信号中识别，以便可以省略进一步的分析方法。例如，原本平的表面上的刮痕在用根据本发明的电磁辐射进行扫描过程中产生可清楚地识别的信号。

缺陷应在随后的时间点被再次找到，例如为了将其去除。基于参考信号，确定其中产生缺陷的物品片断。该物品片断被重新扫描，以产生局部轮廓。通过局部轮廓与具有缺陷的参考信号的片断的比较，可以检查是否存在正确的物品片断。

该比较相当于验证；进行了检查以确定是否在参考轮廓中识别的、具有特定特征（缺陷）的片断确实存在于参考轮廓所指示的地方。

通常，局部轮廓和参考轮廓的识别片断之间的比较揭示了之前确定的应当具有特定特征的位置也实际上位于形成局部轮廓的区域。因此，如果确定的具有特定特征的位置实际上位于物品上，那么可以随后进行进一步的步骤，例如缺陷的去除。

如果在局部轮廓和参考轮廓之间的分配过程中出现局部轮廓不包括应当具有特定特征的确定位置的情况，可以通过分配找到位置确定过程中的错误，并且重新确定应当具有特定特征的正确区域。

在另一应用中，第二阶段例如可以用于在分割的物品中将一个部分分配至未分割的物品的相应片断。未分割的物品对应于以上提及的未处理的物品；分割的物品对应于以上提及的处理过的物品。

术语“未处理”和“处理过”应当指的是在第一阶段中的记录（未处理状态）和第二阶段中的重新扫描之间物品经受了一定的处理，该处理不一定导致物品的变化。该处理因此也可以例如是储存。然而，处理通常是其中物品经受了变化的过程。

在第一阶段，建立关于未分割的物品的参考轮廓。然后物品被分割成多个部分。然后对于第二阶段存在用于分配的部分。将所述部分扫描以建立局部轮廓。将局部轮廓逐段地与参考轮廓比较，以便能够将局部轮廓分配给参考轮廓的片断。由分配确定之前该部分在未分割的对应物中位于哪里。

其它应用是可以想到的。

具有第一阶段中的记录和第二阶段中的不同变化的发明可以合并形成下列总的方法，其同样是本发明的主题：

用于识别和/或再次找到物品的片段的方法，包括以下阶段

-检测物品，其特征在于以下步骤：

○用电磁辐射扫描物品的第一区域，并捕获由物品返回的电磁辐射的一部分以产生扫描信号

○由扫描信号产生参考轮廓，并将参考轮廓储存于数据库中

-识别物品的片断，其特征在于以下步骤：

○用电磁辐射扫描物品的第二区域，并捕获由物品返回的电磁辐射的一部分以产生扫描信号

○由扫描信号产生局部轮廓

○将局部轮廓分配至参考轮廓的一个片断

其中检测和识别过程中的电磁辐射具有线性束轮廓。

物品的区域的扫描优选地在两个阶段中以相同方式进行，以便获得高的可再现性。在第一阶段中扫描的区域在此也称为第一区域，在第二阶段中扫描的区域在此也称为第二区域。

第二区域通常位于第一区域内或者至少部分地与第一区域重叠，以使得局部轮廓和参考轮廓的片断之间的分配实际上成为可能。

参考轮廓的片断应当理解为参考轮廓的一个连续部分，该连续部分比参考轮廓自身小。

在扫描过程中电磁辐射入射在物品上。在扫描过程中入射的辐射和物品相对于彼此移动，使得电磁辐射扫过物品的区域。该扫过的过程在此也称为扫描。可以进行物品和入射束之间的相对移动，以使得物品移动并且辐射源保持固定，或者使得辐射源移动并且物品保持固定。也可以考虑，物品和辐射源都移动。也可以考虑将物品和辐射源保持固定，并且例如借助可移动的镜子将扫描束引导在物品的区域上。

相对移动可以连续地以恒定的速度、以加速方式或者减速方式进行，或者不连续地即例如以分阶段方式进行。移动优选以恒定的速度进行。

扫描用电磁辐射进行。使用的电磁辐射的波长取决于在各种情况下存在的物品的固有结构性质。根据固有结构性质的种类，特定的波长范围可以是有利的，因为它例如导致特别强的信号。可以考虑以经验方式确定最优波长范围。通常使用可见光至红外光。

使用的电磁辐射可以是相干的或不相干的，这取决于干涉现象例如散斑图对于参考轮廓的产生是有用或是干扰性的。在此，在照射中用于产生特征信号的物品的固有结构性质同样也对于使用的辐射的性质的选择是关键的。该选择优选地以经验方式进行。

作为辐射源，通常使用可以在必要时被降低散斑的激光，或者不相干的辐射源，例如LED（LED=发光二极管）。用于降低相干辐射中的散斑现象的方法是本领域技术人员已知的（参见例如DE102004062418B4）。也可以考虑使用LED阵列，即多个LED的布置。

在照射物品的区域的过程中，在入射的辐射与物品、更准确地说与物品的固有结构之间发生相互作用。所述相互作用的结果是由物品发出的、带有关于固有结构的信息的特征辐射。将它至少部分地捕获。根据物品的种类，从物品发出的特征辐射在反射或透射中被捕获。也可以考虑捕获发生在反射和透射中。

由于大多数物品对于宽波长范围内的电磁辐射是不透明的，因此由物品发出的特征辐射通常在反射中被捕获。为了简化，在本说明书中仅仅对反射方案进行更详细的说明；然而，根据本发明的方法不限于在反射中捕获辐射，而是还包括在透射中捕获辐射。光学领域的技术人员知晓必须如何修改这里更详细说明的方法以在透射中捕获辐射。

优选地，物品的表面借助聚焦的光束扫描。该束例如通过透镜聚焦于表面上。

如果将该束聚焦于一点并且将该点引导在物品表面上以在第一阶段中产生参考轮廓，那么必须在第二阶段中再次找到该点在第一阶段中扫描的区域，显而易见，这由于扫描过的区域范围小而非常困难。

在这种情况下，有利的是使得扫描过的区域特别窄。该区域越窄，可以越快地进行扫描，作为扫描信号或参考轮廓获得的数据量越小，并且在阶段2中用于分配的计算时间越短。另一方面，随着宽度降低，实际上变得越来越难以在阶段2的扫描过程中进入该区域。

一种明显的方案是进行多个相邻的扫描而不是单个扫描，并由此产生参考轮廓。

然而，根据本发明，线性束轮廓用于扫描，其中束轮廓相对于扫描方向横向扩展。结果，在单个扫描过程中，束扫过比使用点状束轮廓时更大的区域，并且该更大的区域可以随后相应地更容易地再次进入并且至少部分地再次被扫描。

用线性束轮廓的扫描基本上对应于在多个扫描信号上的平均，所述扫描信号由使用点状束轮廓沿着多个紧密相邻的平行线进行的扫描得到。出人意料的是，由在宽区域上的该平均，可以产生作为物品的各个片断的特征的参考轮廓，使得各个片断可以随后明确地被再次找到。

使用线性束轮廓使得可以在阶段1的检测过程中快速且简单地将物品记录。

束轮廓或者理解为在焦平面中在截面中聚焦于物品上的束的强度轮廓。

线性束轮廓在此定义如下：通常，强度在辐射的截面中心中最高，并且向外降低。强度可以在所有方向上均一地降低——在这种情况下存在圆形截面轮廓。在所有其它情况下，存在至少一个其中强度梯度最大的方向以及至少一个其中强度梯度最小的方向。在下文中，束宽度理解为指的是在最小强度梯度的方向上与截面轮廓中心的距离，在该距离上强度已降至其在中心的值的一半。此外，束厚度理解为指的是在最高强度梯度的方向上与截面轮廓中心的距离，在该距离上强度已降至其在中心的值的一半。线性束轮廓指的是其中束宽度比束厚度大得超过10倍的束轮廓。优选地，束宽度比束厚度大得超过50倍，特别优选超过100倍，并且尤其优选超过150倍。

在一种优选的实施方案中，束厚度在存在的表面的平均沟槽宽度范围内（对于平均沟槽宽度的定义，参见DIN EN ISO4287:1998）。

对于大量的物品，特别是对于由纸组成的物品，已证明下列束厚度和宽度是合适的：

束宽度在2mm至7mm范围内，优选在3mm至6.5mm范围内，特别优选在4mm至6mm范围内，尤其优选在4.5mm至5.5mm范围内。

束厚度在5μm至35μm范围内，优选在10μm至30μm范围内，特别优选在15μm至30μm范围内，尤其优选在20μm至27μm范围内。

光学领域的技术人员知晓如何可以通过光学元件产生相应的束轮廓。光学元件用于束的塑造和聚焦。特别是透镜、遮光物、衍射光学元件等被称为光学元件。

已令人惊讶地发现，针对束厚度和束宽度的以上所述范围一方面非常适合获得对于可再现性而言足够精确的定位，另一方面非常适合获得对于将局部轮廓足够精确地分配至参考轮廓的片断而言足够的信噪比。

由物品发出的特征辐射借助于一个或多个检测器进行捕获。常规的检测器为相机、光电二极管或光电晶体管。

辐射源、物品和一个或多个检测器可以相对于彼此以不同的方式布置。通常，物品的固有结构性质决定最优布置。下面将更详细地讨论两种优选的布置，而本发明不局限于此。

在用电磁辐射照射时产生高比例的漫反射辐射的物品情况下，扫描束优选垂直地入射于物品的表面上（图4）。一个或多个检测器优选地相对于扫描束在侧面布置，以便捕获漫反射（散射）的辐射。可用于实施根据本发明的方法的该实施方案的相应传感器记载于例如公开文本WO2010/118835（A1）或申请文件DE102010015014.2中，这两份文献的内容将通过引用纳入本说明书中。

在用电磁辐射照射时产生高比例的镜面反射辐射的物品情况下，扫描束优选倾斜地入射于物品，即相对于所述物品表面的法向以10°至80°范围内的入射角入射，特别优选在20°至70°范围内，尤其优选在30°至60°范围内。根据反射定律，镜面反射的辐射从物品以对应于入射角的反射角返回。一个或多个检测器优选地相对于反射角在侧面布置，处于相对于反射角在5°至30°的角度范围内（图1）。可用于实施根据本发明的方法的该实施方案的相应传感器记载于例如公开文本WO2010/040422（A1）或申请文件DE102009059054.4中，这两份文献的内容将通过引用纳入本说明书中。

借助于检测器，由捕获的辐射产生信号，该信号在此也称为扫描信号。最后，由扫描信号产生参考轮廓或局部轮廓。

在物品和冲击于物品上的束的相对移动情况下并且在将由于照射而从物品发出的特征辐射的一部分捕获的情况下照射物品的区域的过程在此被统称为扫描。

如上所述，物品和扫描束之间的相对移动可以以恒定方式或者不连续方式进行。通常，在扫描过程中到达检测器的辐射用离散和恒定的扫描频率检测并数字化。因而扫描信号通常是强度-时间函数。如果物品的区域用恒定速度扫描，在捕获强度值的时间和照射过程中各个强度值出现的物品位置之间存在线形关系，使得可以以简单的方式由强度-时间函数计算强度-位置函数。如果物品和扫描信号之间的相对移动不是恒定的，那么在强度-时间函数和强度-位置函数之间产生相应地更复杂的关系。在任何情况下，必须已知用于将强度-时间函数变换成强度-位置函数的变换函数。在此，可以借助于现有技术已知的编码方法。

可以考虑例如使用机械、光学或磁力编码器来确定变换函数。例如，在WO05/088533A1的情况下，具有300微米的均匀间距的标记用于将强度-时间信号变换成强度-位置信号（参见WO05/088533A1，第23页）。这些标记通过独立的光电探测器以光学方式检测。由于恒定的测量频率（扫描）和标记的间距是已知的，聚焦的扫描束所处的位置可以在每一时间点确定。因而可以借助编码器将时间依赖性的扫描信号变换成时间依赖性的强度-位置信号。

在一些物品的情况下，不需要施加标记，因为它们具有可用于位置和时间之间的关联的恒定波动（参见例如申请文件DE102010021380.2）。

同样可以考虑的是通过斑点测速方法（参见例如EP0947833B1）或者类似方法跟踪物品和扫描信号之间的相对移动。

用于确定变换函数的再一种可能性记载于申请文件DE102010020810.8中，该文献的内容将通过引用纳入本说明书中。

通常，参考轮廓和局部轮廓通过多种数学方法例如过滤和/或背景提取或者其它信号处理方法由扫描信号产生。这些数学方法最大程度地消除例如由单独测量导致的随机或***波动。

如上所述，关于物品的各个片断的参数包括在参考轮廓中。也可以考虑将关于物品的其它信息包括在参考轮廓中，例如批次号、身份号、图像、性质参数等等。

参考轮廓储存于数据库中以便能够在随后的时间点（在第二阶段）借助于它，其中术语“数据库”应当一般地理解为数据或信息的储存。

储存可以例如在电子储存介质（半导体记忆体）、光学储存介质（例如压缩盘）、磁性储存介质（例如硬盘）或者用于储存信息的一些其它介质上进行。也可以考虑将签名作为光学编码（条码、矩阵码）储存于纸上或物品本身上，或者作为全息图。

一旦参考轮廓已产生并储存，就已记录相应的物品。

在随后的时间点，将物品再次扫描。通常，在第二阶段比在第一阶段扫描更小的区域。

在将局部轮廓分配至参考轮廓的过程中，将局部轮廓与参考轮廓的一个或多个片断比较，以便找到与局部轮廓最相似的参考轮廓片断，或者以便证实局部轮廓与参考轮廓的预定片断相同。

比较本身可以使用本领域技术人员充分已知的数学方法进行。例如，可以使用已知的模式匹配方法，它检索数据组之间的相似性（参见例如Image Analysis and Processing：第8届国际会议，ICIAP’95，意大利圣雷莫，1995年9月13-15日，会议录（计算机科学的讲稿）；WO2005088533（A1）；WO2006016114（A1）；C.Demant，B.Streicher-Abel，P.Waszkewitz，Industrielle Bildverarbeitung[Industrial Image Processing]，Springer-Verlag，1998，第133页起；J.Rosenbaum，Barcode，VerlagTechnik Berlin，2000，第84页起；US7333641B2；DE10260642A1；DE10260638A1；EP1435586B1）。也可以考虑光学相关方法。

计算机通常用于产生参考轮廓和/或局部轮廓并用于分配和比较轮廓和/或轮廓片断。分配和/或比较的结果通常在屏幕上显示给用户。也可以考虑将结果转移给用于物品的进一步加工的机器。这些和其它可能性是自动化技术领域的技术人员公知的。

下面参照附图更详细地解释本发明，而不局限于其中所示的实施方案。

图1示意性地示出用于扫描物品的表面1的本发明方法。表面1的区域7通过电磁辐射源2照射。反射的辐射4的一部分借助检测器5捕获以记录扫描信号。将物品相对于辐射源2和检测器5的布置进行移动（用粗黑箭头表示）。线性束轮廓6存在于表面平面中，所述束轮廓的较长维度相对于移动方向横向取向。

图2（a）和2（b）说明具有束宽度SB和束厚度SD的线性束轮廓。图2（a）说明电磁束在焦点处的二维截面轮廓。最高强度I存在于截面轮廓的中心。强度I向外降低，在这种情况下存在第一方向（x），在该第一方向上强度I在最大的程度上随着与中心的距离A增加而降低，并且存在垂直于第一方向（y）的另一个方向（y），在该另一个方向上强度I在最低的程度上随着与中心的距离A增加而降低。图2（b）示出作为与中心的距离A的函数的强度轮廓I。束宽度和束厚度定义为从中心到强度I已降至其在中心的最大值的50%之处的那些距离，在这里束宽度处于y方向而束厚度处于x方向。

图3（a）和3（b）通过实例示出可以如何借助平凸柱状透镜300产生线性束轮廓。柱状透镜300在一个平面中充当凸透镜（图3（b））。它在垂直于其的平面中没有折射作用。根据近轴近似法，下式对于该透镜的焦距f成立：

$f=\frac{R}{n-1}$    等式1

其中R是圆柱半径并且n是透镜材料的折射率。

图4示出用于扫描物品的一种优选布置，其中扫描束3垂直地入射于物品的表面上。两个检测器5、5’相对于辐射源2在侧面布置，所述检测器捕获漫反射的辐射4。

图5a、5b和5c示出用线性束轮廓扫描物品得到的扫描信号。在各种情况下通过根据申请文件DE102009059054.4的图3的传感器记录扫描信号。在各种情况下的纵坐标表示使用的光电检测器的电压信号I（任意单位），所述信号与入射辐射的强度成比例。在扫描过程中沿着单一的线覆盖的距离X以cm为单位的绘制在横坐标上。第二展开段（Durchführung）（12）中的单一光电检测器用于所有三种情况中。扫描的物品为复合材料，它由来自3M的特种纸7110（3M7110石印纸，白色）和层合于其上的来自UPM Raflatac的保护膜PET Overlam RP35组成。使用的辐射源是减少了斑点的激光二极管（Flexpoint线模块FP-HOM-SLD，Laser Components GmbH）。束轮廓为线性的，具有5mm的束宽度和25μm的束厚度。

在图5a和5b的情况下扫描相同的区域。信号非常相似。在图5c的情况下扫描与图5a和5b的情况不同的区域。图5c中的信号明显不同于图5a和5b中的信号。来自图5a和5b的信号的比较产生了0.98的相关系数，而来自图5a和5c的信号的比较产生了0.6的相关系数。即使在相对长的时间后仍然可以非常良好地重现扫描信号。

图5a、5b和5c中的扫描信号具有使得能够再次识别物品的片段的多个特有特征。

扫描信号可以直接作为参考轮廓储存。

附图标记：

1   表面

2   电磁辐射源

3   扫描束

4   反射的辐射

5   电磁辐射检测器

5’ 电磁辐射检测器

6   线性束轮廓

7   扫描区域

20  焦点

300 圆柱形透镜

Claims (8)

1.用于记录物品的方法，其特征在于，用电磁辐射扫描物品的一个区域并将由于扫描而从物品发射的电磁辐射的至少一部分捕获，并将获得的扫描信号在必要时在信号处理后与物品的各个片段有关的其它参数一起以参考轮廓的形式储存于数据库中，其中用于扫描的电磁辐射具有线性束轮廓。

2.用于识别和/或再次找到物品的片段的方法，包括下列步骤：

-基于关于物品的参考轮廓，确定预定的参数存在于物品的哪一个片段中，

-用电磁辐射扫描所确定的片段，将由于扫描而从物品发射的电磁辐射的至少一部分捕获，并由获得的扫描信号在必要时使用信号处理方法产生局部轮廓，其中用于扫描的电磁辐射具有线性束轮廓，

-将局部轮廓与参考轮廓的与所确定的片段相对应的那部分进行比较。

3.用于将处理过的物品的片段分配至未处理的物品的相应片段的方法，包括下列步骤：

-用电磁辐射扫描处理过的物品的片段，将由于扫描而从处理过的物品发射的电磁辐射的至少一部分捕获，并由获得的扫描信号在必要时使用信号处理方法产生局部轮廓，其中用于扫描的电磁辐射具有线性束轮廓，

-逐段地将局部轮廓与未处理的物品的参考轮廓进行比较，并识别与局部轮廓具有最大相似性的参考轮廓的那个片段。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，线性束轮廓的束宽度比束厚度大得超过50倍。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，束宽度在2mm至7mm范围内，优选在3mm至6.5mm范围内，特别优选在4mm至6mm范围内，尤其优选在4.5mm至5.5mm范围内，而束厚度在5μm至35μm范围内，优选在10μm至30μm范围内，特别优选在15μm至30μm范围内，尤其优选在20μm至27μm范围内。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其特征在于，具有可见光至红外光范围内的波长的电磁辐射用于扫描。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，扫描束垂直入射于物品表面上，并且从表面漫反射的辐射相对于扫描束在侧面被捕获。

8.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，扫描束倾斜地入射于物品的表面上，并且用于捕获返回的辐射的一个或多个检测器相对于镜面反射的束在侧面安装。

Images