CN103246412A - 检测触摸的方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及检测触摸的方法。一种触摸面板装置，包括：触摸面板单元，具有在X方向和Y方向上布置的透明电极；电势检测单元，被构造为扫描所述电极并且检测X方向和Y方向上的静电电容值；对象类型检测单元，被构造为基于由电势检测单元检测的静电电容值的分布形状来检测接近触摸面板单元的表面的对象的类型；以及操作位置检测单元，被构造为基于检测的对象的类型来改变用于计算对象的触摸位置的数据提取阈值，并且基于改变后的数据提取阈值来检测对象接近或接触触摸面板单元的表面的位置的坐标。

Description

检测触摸的方法

相关申请的交叉引用

本申请涉及并要求于2012年2月8日提交的序号为61/596,264的美国临时申请的优先权，该美国临时申请的内容以引用方式并入本文。

技术领域

本公开涉及能够通过检测例如静电电容的变化来检测用户的手指等的触摸或靠近的触摸面板装置、包括该触摸面板装置的移动终端、用于此的检测方法和记录介质，更具体地讲，涉及用于提高操作输入的检测准确度的技术。

背景技术

迄今，在其屏幕上显示图像并且能够由操作者通过直接触摸屏幕进行操作的触摸面板是已知的。这些触摸面板通常应用于诸如PDA（个人数字助手）、便携式电话终端或智能电话的移动终端中或者应用于各种家用电器中等。触摸面板的类型包括具有检测触摸的部分的电阻值的变化的电阻膜方法、检测触摸的部分的电容的变化的静电电容方法和通过使用产生磁场的专用指示器的电磁能来检测指示器的位置的电磁感应方法的这些类型。具体地讲，在便携式电话终端和智能电话的市场中，在近些年，静电电容型触摸面板的使用正在不断增加。

例如，PTL1公开了一种静电电容型触摸面板。在这个专利文献中公开的静电电容型触摸面板传感器包括透明基底材料、许多透明电极单元和定位在许多透明电极单元的外缘的***布线。许多透明电极单元被布置为在x和y方向上在透明基底材料的顶侧表面上进行排列，并且由通过x方向连接单元在x方向上进行连接的x方向透明电极单元、和定位在x方向透明电极单元之间的y方向透明电极单元形成。***布线定位于许多透明电极单元的外缘，并且连接到x方向透明电极单元和y方向透明电极单元。相邻y方向电极单元自身通过y方向连接单元进行连接，y方向连接单元布置在x方向连接单元之上并且在y方向连接单元与x方向连接单元之间布置有绝缘层。然后，通过使用与***布线的材料相同的材料，y方向连接单元与***布线形成一体。

[引用列表]

[专利文献]

[PTL1]日本未审专利申请公布No.2011-86122

发明内容

在这种静电电容型触摸面板中，基于当例如对象（诸如用户的手指）接近触摸面板的传感器的表面时的坐标值和静电电容值，对有无在触摸面板上通过用户的手指执行的输入进行确定。此外，在对象（诸如用户的手指）与触摸面板进行彼此接触的区域中，通过计算触摸位置，识别已经使用用户的手指等执行操作的触摸面板上的坐标。

通过以在对象（诸如用户的手指）与触摸面板之间的整个触摸区域中获得的所有静电电容值为目标执行触摸位置的计算是惯用手段，但是仅仅通过使用超过一定信号电平的静电电容值来执行计算。即，仅仅超过预设的预定阈值的静电电容值被采样，并且触摸位置的计算被执行。作为以上的结果，可以防止噪声分量被包含在用于计算触摸位置的数据中。

经常关于用于对有无使用对象（诸如用户的手指）在触摸面板上执行的触摸操作进行确定的阈值相对地和固定地来设置这个阈值。具体地讲，例如，比用于对有无触摸触摸面板的对象进行确定的触摸确定的阈值小预定水平的值被设置为用于提取触摸位置计算数据的阈值。

此时，用于计算触摸位置的数据提取阈值与触摸确定阈值的差值被设置为当例如人的食指执行触摸操作时获得最佳触摸位置的值。具体地讲，假设7毫米的对象（被暂时设置为人的标准食指的直径）的情况下，从而差值被设置为在这种情况下计算最佳触摸位置的值。作为如上所述进行设置的结果，通过用户的耳朵、持有终端的手掌等等进行的无意输入不会被检测到，由此使得可以仅仅检测有意执行的输入。

然而，作为以通过食指进行校准并且排除如上所述其它对象的方式编写检测算法的结果，会产生新的问题。在例如使用直径大于7毫米的食指或拇指、直径明显小于7毫米的孩子的手指或者直径小于3毫米的诸如触笔的笔来执行输入的情况下，不能够恰当计算它们的触摸位置。即，不能够正确地计算执行操作的坐标。

本公开的发明人已经认识到当具有一定直径的对象与触摸面板接触时自动计算与对象的尺寸对应的最佳触摸位置的必要性。

根据本公开的实施例的触摸面板装置被构造为包括静电电容型触摸面板单元、电势检测单元、对象类型检测单元和操作位置检测单元，并且每个单元的结构和功能如下进行构造。在静电电容型触摸面板单元中，在X方向或Y方向上布置有多个透明电极单元。电势检测单元扫描所述多个透明电极单元中的每一个并且检测X方向和Y方向上的坐标处的静电电容值的变化。对象类型检测单元基于从由电势检测单元检测的静电电容值的分布形状获得的信息，检测接近或接触触摸面板单元的表面的对象的类型。操作位置检测单元根据检测的对象的类型，改变用于计算触摸位置的数据量或数据提取阈值。然后，操作位置检测单元基于使用改变量数据计算的触摸位置，检测对象接近或接触的位置的坐标。

根据本公开的实施例的移动终端被构造为包括静电电容型触摸面板单元和控制单元，控制单元具有电势检测单元、对象类型检测单元和操作位置检测单元。每个单元的结构和功能被构造如下。在静电电容型触摸面板单元中，在X方向和Y方向上布置有多个透明电极。电势检测单元扫描所述多个透明电极并且检测X方向和Y方向上的坐标处的静电电容值的变化。对象类型检测单元基于从由电势检测单元检测的静电电容值的分布形状获得的信息，检测接近或接触触摸面板单元的表面的对象的类型。类似地，控制单元内的操作位置检测单元根据由对象类型检测单元检测的对象的类型，改变对象接近或接触触摸面板单元的表面的位置处用于计算对象的触摸位置的数据量。然后，操作位置检测单元基于使用改变量数据计算的触摸位置，检测对象接近或接触的位置的坐标。

在根据本公开的实施例的检测方法中，首先，扫描在X方向和Y方向上布置多个透明电极单元的静电电容型触摸面板单元的多个透明电极单元的每一个并且检测X方向和Y方向上的坐标处的静电电容值的变化。接下来，基于从检测的静电电容值的分布形状获得的信息，检测接近或接触触摸面板单元的表面的对象的类型。接下来，根据检测的对象的类型，改变对象接近或接触触摸面板单元的表面的位置处用于计算对象的触摸位置的数据量。接下来，基于使用改变量数据计算的触摸位置，检测对象接近或接触的位置的坐标。

根据本公开的实施例的记录介质记录有使得计算机执行如下处理的程序，该处理包括：扫描在X方向和Y方向上布置多个透明电极的静电电容型触摸面板单元的多个透明电极，并且检测X方向和Y方向上的坐标处的静电电容值的变化；基于从检测的静电电容值的分布形状获得的信息，检测接近或接触触摸面板单元的表面的对象的类型；以及根据检测的对象的类型来改变用于计算对象的触摸位置的数据量，并且基于使用改变量数据计算的触摸位置来检测对象接近或接触的位置的坐标。

根据本公开，基于从检测的静电电容值的分布形状获得的信息，改变对象接近或接触触摸面板单元的表面的位置处的用于计算对象的触摸位置的数据量。然后，基于使用改变量数据计算的触摸位置，检测对象接近或接触的坐标。

根据本公开，基于从由于对象的直径等等而改变的静电电容值的分布形状获得的信息，改变用于计算触摸位置的数据的提取水平。因此，自动计算与对象的尺寸对应的最佳触摸位置。

附图说明

图1示出了本公开的示例性实施例中的静电电容型触摸面板的示意性结构。

图2示意性示出了本公开的示例性实施例中的静电电容型触摸面板的近方形透明电极单元被扩展的状态。

图3示出了本公开的示例性实施例中的由触摸面板扫描单元检测的静电电容值的信号电平的X方向分布的例子。

图4是示出本公开的示例性实施例中的移动终端的示意性结构例子的分解透视图。

图5是示出本公开的示例性实施例中的包括触摸面板的移动终端的示意性内部框结构例子。

图6是示出形成由本公开的示例性实施例中的触摸面板扫描单元检测的静电电容值的分布形状的参数的例子的图示。

图7是示出本公开的示例性实施例中的用于计算触摸位置的数据提取阈值的优化过程的例子的流程图。

图8是示出本公开的示例性实施例中的触摸面板的X方向（水平方向）和Y方向（垂直方向）上的对象的检测宽度与对象的类型之间的关系的图示。

图9是示出本公开的示例性实施例中的用于计算触摸位置的数据提取阈值的优化过程的例子的流程图。

图10是示出本公开的示例性实施例中的计算触摸位置的数据提取阈值的优化过程的例子的流程图。

图11是示出本公开的示例性实施例中的静电电容的分布形状的信号电平的变化率的例子的曲线图。

图12是示出本公开的示例性实施例中的操作输入的路径的跟踪的结果、与由现有技术执行的操作输入的路径的跟踪的结果之间的比较的例子的图示。

图13是示出通过本公开的示例性实施例的检测技术识别的对象的类型的例子的图示。

具体实施方式

将在下面描述用于实现本发明的实施方式（下文中称作实施例）。将基于下面顺序进行描述。

1.触摸面板的示意性结构例子

2.应用了触摸面板的移动终端的外部结构的例子

3.包括触摸面板的移动终端的内部结构的例子

4.用于计算触摸位置的数据提取阈值的计算方法

[1.触摸面板的示意性结构]

图1示出了本公开的实施例的触摸面板单元30的示意性结构。图1A是当从正面观看触摸面板单元30时的视图，图1B是当从侧面观看触摸面板单元30时的视图。图2示出了触摸面板单元30部分扩展的部分。本公开应用于静电电容型触摸面板。

在图1A中，触摸面板单元30被构造为具有X-Y透明电极图案部分31、柔性印刷基板34、用作控制单元的IC（集成电路）35、传感器玻璃单元36、等等。

在从透明玻璃片形成的传感器玻璃单元36的表面上形成X-Y透明电极图案部分31。例如，如图2中所示，多个方形透明电极单元40X被布置在X方向上的多列中，并且多个方形透明电极单元40Y被布置在Y方向上的多列中。

关于被布置在X方向上的多列中的图2中所示的方形透明电极单元40X，互相相邻的方形透明电极单元40X通过由透明电极形成的连接单元进行连接。类似地，关于被布置在Y方向上的多列中的方形透明电极单元40Y，互相相邻的方形透明电极单元40Y通过连接单元进行连接。

另外，方形透明电极单元40X之中的最外缘部分之一中的每个方形透明电极单元40X连接到外缘布线图案43X，并且通过外缘布线图案43X连接到柔性印刷基板34的布线图案。类似地，方形透明电极单元40Y之中的最外缘部分之一中的方形透明电极单元40Y连接到外缘布线图案43Y，并且通过外缘布线图案43Y连接到柔性印刷基板34的布线图案。

柔性印刷基板34被形成为具有连接到X-Y透明电极图案部分31的外缘布线图案43X和外缘布线图案43Y中的每一个的布线图案。在图1中所示的例子的情况下，柔性印刷基板34在平面上进行扩展的状态下进行描述，但不限于此。例如，当触摸面板单元30被设置在移动终端等等的壳体内时，触摸面板单元30弯曲并且被布置在移动终端的壳体内的预定位置处。

IC35安装在柔性印刷基板34上，并且通过柔性印刷基板34上的布线图案连接到X-Y透明电极图案部分31的外缘布线图案43X和外缘布线图案43Y。IC35包括用作电势检测单元的触摸面板扫描单元和操作位置检测单元（在图1中省去了它们二者的图示）。触摸面板扫描单元扫描X-Y透明电极图案部分31的X方向上的每个方形透明电极单元40X和Y方向上的每个方形透明电极单元40Y，并且检测X和Y方向上的静电电容的变化。更具体地讲，当对象（诸如用户的手指）靠近或触摸触摸面板单元30的传感器表面时，触摸面板扫描单元计算坐标值和静电电容值。

操作位置检测单元计算由对象（诸如用户的手指）触摸的触摸面板的区域的触摸位置，并且由此识别已经使用用户的手指等等执行操作的触摸面板上的坐标。如上所述，当对象（诸如用户的手指）靠近触摸面板单元30时，在X-Y透明电极图案部分31与对象之间形成静电电容。在更靠近对象的位置处的电极中检测到的静电电容的值增加。

图3通过曲线图示出了在X-Y透明电极图案部分31的每个电极与对象之间形成的X方向上的静电电容值的分布的例子，这些静电电容值是由IC35的触摸面板扫描单元检测的。这里，为了简化描述，将使用一维分布表来进行描述。图3仅仅示出了X方向上的分布的例子。然而，实际上，通过参照关于Y轴方向上的分布的信息来执行触摸位置的坐标的计算。

图3中的水平轴表示X-Y透明电极图案部分31的X方向，垂直轴表示检测的静电电容值的信号电平的大小。作为在垂直轴上表示的静电电容值，示出了A/D转换以后的数字值。

如图3中所示，由触摸面板扫描单元检测的静电电容值的分布变得几乎关于峰值Xp对称，该峰值Xp处于静电电容值达到最高点的电极位置。使用在峰值Xp获得的静电电容值、还有在峰值Xp的左右的多个电极获得的静电电容值，作为用于计算触摸位置的静电电容值，使得可以提高触摸位置计算的准确度。作为用于计算触摸位置的静电电容值，使用地址在峰值Xp的左右的那些电极（峰值Xp位于中心），即，可以根据为静电电容值的信号电平设置的阈值的大小，改变在布置方向上具有用于计算触摸位置的静电电容值的电极的数目。

在本公开中，基于从由触摸面板扫描单元检测的静电电容值的X方向和Y轴方向的分布形状获得的信息来自动优化阈值的大小。将在以后描述阈值的优化方法的详情。这里，仅仅描述X-Y透明电极图案部分31的X方向上的触摸位置的计算。此外，还对Y轴方向执行相同计算，并且基于为两个轴方向获得的值来计算最终触摸位置。在下面的描述中，对象（诸如用户的手指）靠近传感器表面等等将被称作“触摸”。

[2.包括触摸面板的移动终端的外部结构的例子]

接下来，将参照图4描述包括触摸面板的移动终端的外部结构的例子。图4是示出移动终端1的结构的例子的分解透视图。移动终端1由壳体50、触摸面板单元30和窗玻璃51形成。在触摸面板单元30安置在壳体50内的状态下安装窗玻璃51，由此形成本实施例的移动终端。另外，柔性印刷基板34和IC35连接到触摸面板单元30。

[3.包括触摸面板的移动终端的内部结构的例子]

接下来，将参照图5描述包括本公开的触摸面板的移动终端的内部结构的例子。

图5是示出包括触摸面板装置20的移动终端1的内部结构的例子的示意性框图。在本公开中，给出了触摸面板应用于移动终端的例子，但是触摸面板不限于此。作为例子，触摸面板可以应用于平板电脑终端、游戏机、音乐再现装置、数字静止相机、等等。

移动终端1包括通信单元2、控制单元3、按钮操作单元4、存储单元5、外部输入/输出端子单元6和外部存储器插槽7。另外，移动终端1包括音频处理单元10、显示处理单元13、图像拍摄控制计算单元15、触摸面板装置20和IC35。

通信单元2包括用于通过通信天线、便携式电话网络和公共无线通信网络执行通信的通信单元。由主CPU（中央处理单元）形成的控制单元3控制诸如通信单元2、显示处理单元13、音频处理单元10、外部输入/输出端子单元6、外部存储器插槽7、图像拍摄控制计算单元15和IC35的各种单元，并且根据需要执行各种计算。控制单元3执行存储在存储单元5中的各种程序等等。由控制单元3执行基于触摸面板装置20的输出的操作控制程序和应用程序的执行。另外，控制单元3基于由触摸面板装置20检测的对象的尺寸、形状等等来确定是否执行了用户意图的操作。按钮操作单元4由设置在本实施例的移动终端1的壳体上的硬键及其***电路组成。

存储单元5由设置在移动终端1内部的内置存储器、可移动卡状存储器等等形成。可移动卡状存储器的例子包括存储所谓的SIM（用户识别模块）信息等等的卡。内置存储器由ROM和RAM形成。ROM被形成为可重写ROM。在ROM内存储有OS（操作***）、控制单元3控制移动终端1的整体和每个单元的控制程序、包括与触摸面板装置20的输出对应的操作控制程序的各种应用程序、以及各种初始设置值、各种数据、等等。RAM用作当控制单元3、图像拍摄控制计算单元15等等执行各种数据处理时的工作区域和缓冲区域，并且根据期望存储数据。

外部输入/输出端子单元6例如由当通过线缆执行数据通信时使用的用于外部数据通信的线缆连接接头和接口电路、以及当通过供电线缆对内部电池进行充电时使用的充电端子和用于此的充电接口电路等等形成。本实施例的移动终端1被构造为能够从连接到外部输入/输出端子单元6的外部装置获得包括根据本实施例的操作控制程序的应用程序、其它各种程序和数据。

外部存储器插槽7由存储器可移动单元、接口电路等等组成，其中，从该存储器可移动单元装载/卸载由半导体存储介质形成的外部存储器8等等，该接口电路用于向被装载到存储器可移动单元中的外部存储器发送或从其接收数据、程序等等。外部存储器8还可以是记录有包括根据本发明的实施例的操作控制程序的应用程序等等的记录介质。在这种情况下，移动终端1可以从外部存储器8获得这些应用程序等等。

音频处理单元10是用于从麦克风11输入的音频信号和输出到扬声器12的音频信号的处理电路。麦克风11执行外部音频的声音收集、传输的电话谈话的声音收集、等等。扬声器12执行音乐再现、接收的电话谈话的输出、铃声的输出、等等。

显示处理单元13包括产生要在显示器14上进行显示的图像信号的图像信号处理电路、和基于图像信号来驱动显示器14的显示的驱动电路。显示器14是由例如液晶面板或有机EL面板形成的显示面板。在显示器14上显示诸如邮件显示屏幕、网页屏幕和字符输入屏幕的显示图像、静止图像、运动图像、等等。

在控制单元3的控制之下，图像拍摄控制计算单元15允许相机单元16中的图像拍摄操作和自动对焦机构的自动对焦操作、自动光圈机构的自动光圈调整操作、快门速度调整机构的快门速度调整操作、相机抖动校正机构的相机抖动校正操作等等的执行。另外，图像拍摄控制计算单元15控制发光单元17的发光驱动电路，从而使得发光单元17执行图像拍摄照明光的发光操作、和图像拍摄辅助光的发光操作。

相机单元16包括用于拍摄静止图像和运动图像的图像拍摄元件、用于在图像拍摄元件上形成被摄体图像的光学***、驱动光学***的透镜以执行自动对焦的自动对焦机构、驱动光学***的光圈以执行自动光圈调整的自动光圈机构、通过机械式或电子式调整快门速度的快门速度调整机构、校正所谓的相机抖动的相机抖动校正机构、用于驱动这些机构的驱动电路、等等。

发光单元17由照明单元（未示出）和发光驱动电路形成。照明单元由LED形成，该LED用于发射用于在使用相机单元16执行图像拍摄时对被摄体进行照明的图像拍摄照明光、或用于获得正常操作自动对焦的亮度的图像拍摄辅助光。发光驱动电路驱动照明单元以发光。

IC35对应于用于上述的触摸面板单元30的IC35（见图1），并且包括触摸面板扫描单元35a、对象类型检测单元35b和操作位置检测单元35c。触摸面板扫描单元35a扫描触摸面板装置20的X-Y透明电极图案部分31（见图1），以检测X和Y方向上的静电电容的变化，并且还获得静电电容变化的方形透明电极单元的坐标值。关于由触摸面板扫描单元35a获得的坐标值和变化的静电电容值的信息被发送到对象类型确定单元35b和操作位置检测单元35c。

对象类型确定单元35b基于从由触摸扫描单元35a检测的静电电容值的X方向或Y方向上的分布的形状获得的信息，确定靠近或接触触摸面板单元30的对象的类型。如上所述，操作位置检测单元35c计算由对象（例如用户的手指）触摸的触摸面板单元30的区域的触摸位置，并且由此识别已经使用用户的手指等等执行操作的触摸面板上的坐标（操作位置）。触摸位置计算方法的例子包括计算对象与触摸面板单元30之间的触摸区域的重心的位置的方法。可通过使用下面的式子执行重心位置rc的计算。在下面的式子中，“m”指示由每个透明电极单元检测的电容静电值，“M”指示由透明电极单元检测的静电电容值的总和，并且“ri”指示每个透明电极单元的坐标。

$\underset{i}{\mathrm{\Σ}}{m}_i=M$ (式1)

$r_c=\frac{\underset{i}{\mathrm{\Σ}}{m}_i{r}_i}{M}$ (式2)

由操作位置检测单元35c计算的操作位置信息被发送到控制单元3。将在以后描述操作位置计算方法的详情。

触摸面板装置20包括如上参照图1和图2描述的触摸面板单元30。

尽管在图5中省去了图示，但是本实施例的便携式终端包括在典型便携式终端1中设置的部件，这些部件例如是用于测量时间段和时间的时钟单元、用于向每个单元供电的电池、用于控制电力的电力管理IC、用于接收数字电视广播和数字无线电广播的数字广播接收模块、例如所谓的RFID（射频识别）、非接触型IC卡等中使用的用于执行非接触通信的非接触通信模块、用于通过使用来自GPS（全球定位***）测地卫星的GPS信号获得便携式终端的当前位置的纬度和经度的GPS模块、例如用于无线LAN和蓝牙（注册商标）的短距离无线通信单元、各种传感器单元（诸如重力传感器、倾度传感器、加速度传感器、方向传感器、温度传感器、湿度传感器和亮度传感器）。

[4.用于计算触摸位置的数据提取阈值的计算的例子]

接下来，将描述根据本示例性实施例的用于计算触摸位置的数据提取阈值的计算方法。在本公开中，用于计算触摸位置的数据提取阈值根据从由触摸面板扫描单元35a（见图5）获得的静电电容值的分布形状获得的信息（参数）进行改变。

执行这种控制的目的在于即使当任何尺寸的对象触摸时也能够最恰当地计算触摸位置，并且能够尽可能准确地获得由用户输入的操作的位置（坐标）。换言之，目的在于使得作为检测结果获得的操作位置的移动路径尽可能无限地接近由用户实际输入的路径。

出于这个目的，提取“适于触摸位置的计算的数据”并且通过使用该值计算触摸位置就足够了。本公开的发明人已经认识到，可以通过使用静电电容值的分布形状的特征来定义“适于触摸位置的计算的数据”。实现触摸位置的容易计算的分布形状是满足下面两个条件的形状。

（1）对于位置检测计算有效的信号电平的分布不是均匀的，并且分布中的信号电平的曲折部分的数目尽可能小。

（2）在对于布置物理电极的间隔足够大的区域中，获得对于位置检测计算有效的信号。

在其（近乎）中心具有峰值并且在相邻电极之间获得的信号电平的差大的部位获得（1）的形状。在（2）中所示的“区域”显现为在静电电容值的分布形状中具有与用于计算触摸位置的数据提取阈值相同的值的部位的水平宽度。具体地讲，在X-Y电极的间距是5毫米的情况下、以及在用作输入对象的手指在表面上的布置区域是7毫米的情况下，可以看出当这个宽度设置到5毫米时，能够最恰当地计算触摸位置。在下面的描述中，这个宽度将被称作“最佳阈值宽度”。

在实际检测的静电电容值的分布形状内的该部位处，最适于触摸位置的计算的这种分布形状显现为根据对象的尺寸而变化。换言之，可以识别能够基于实际检测的静电电容值的分布形状的信息来提取“‘最适于触摸位置的计算的分布形状’的部位”，该部位根据对象的尺寸而变化。然后，通过在该部位设置用于计算触摸位置的数据提取阈值，可以提取最适于触摸位置的计算的数据。

图6示出了从静电电容值的分布形状获得的信息内的被认为有助于“最适于触摸位置的计算的分布形状”的识别的信息。图6的水平轴表示X-Y透明电极图案部分31（见图1）的X方向，垂直轴表示检测的静电电容值的信号电平的大小。在具有7毫米的直径的对象（假设为食指）触摸的情况下获得在图6中所示的静电电容值的分布。

最大高度Hm指示分布形状中静电电容值最高的部位的高度，并且底边的宽度Wm指示随对象靠近而改变的静电电容值之中的信号电平最低的部位在X方向（或Y方向）上的宽度。开阈值宽度Wt指示信号电平信号具有与触摸确定阈值Th1相同值的部分的水平宽度，如上所述的最佳阈值宽度Wb指示被认为最适于作为具有与用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2相同值的部分的水平宽度的宽度。最佳阈值高度Hb指示从信号电平最低的底部的地方（形成底边的宽度Wm的地方）到最佳阈值宽度Wb的高度。

用于通过使用这些参数提取“最适于触摸位置的计算的分布形状”（即，用于优化用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2）的特定技术的例子是下面三个技术。

（技术1）根据底边的宽度Wm的尺寸调整最佳阈值高度Hb

（技术2）调整最佳阈值高度Hb从而使得最佳阈值宽度Wb（第一宽度）变成与通过使用食指作为模型设置的最佳阈值宽度Wb（第二宽度：例如，5毫米）相同的值

（技术3）基于分布形状中的弯曲的角度的信息调整最佳阈值高度Hb

技术不限于这些，并且还可应用这些以外的技术，只要该技术能够提取在以上的（1）和（2）中描述的“最适于触摸位置的计算的分布形状”即可。

首先，将参照图7的流程图描述根据技术1的用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2的优化。初始时，确定由触摸面板扫描单元35a（见图5）检测的静电电容值是否超过触摸确定阈值Th1（步骤S1）。当它没有超过触摸确定阈值Th1时，步骤S1的确定继续。当它超过触摸确定阈值Th1时，然后确定分布的底边的宽度Wm是否小于3毫米（步骤S2）。

当底边的宽度Wm小于3毫米时，确定触摸对象是触笔（步骤S3），并且通过触摸面板扫描单元35a（见图5）执行的扫描的刷新率增加（步骤S4）。作为增加刷新率的结果，电极的静电电容值和地址的组合被输出到对象类型检测单元35b和操作位置检测单元35c（见图5）的时间有关间隔被缩短。同时，由操作位置检测单元35c检测的位置坐标被输出到控制单元3的时间有关间隔被缩短。结果，相对于诸如使用笔等等的字符输入的操作提高了输入路径的跟随性。这是针对对于人使用笔等等的抄写输入的输入速度高于使用手指的输入这一事实的对策。因此，变得可以自动实现适于抄写输入的跟随性而不使得用户执行附加处理。

接下来，用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2被设置成最佳阈值高度Hb变成1/50乘以迄今已经以固定方式提供的用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2的值Hbo的值（步骤S5）。然后，通过使用超过设置的用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2的数据执行触摸位置的计算（步骤S6）。

当在步骤S2中确定底边的宽度Wm大于或等于3毫米时，接下来，确定是否底边的宽度Wm小于7毫米（步骤S7）。当底边的宽度Wm小于7毫米时，对象类型检测单元35b确定触摸对象是具有标准尺寸的食指（步骤S8）。然后，用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2设置成最佳阈值高度Hb变成1/5乘以现有的用于计算触摸位置的数据提取值Th2的值Hbo的值（步骤S9），并且过程进入步骤S6。

当在步骤S7中确定底边的宽度Wm大于或等于7毫米时，接下来，确定底边的宽度Wm是否小于10毫米（步骤S10）。当底边的宽度Wm小于10毫米时，确定触摸对象是尺寸大于标准手指的食指（步骤S11）。然后，用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2被设置成最佳阈值高度Hb变成与现有的用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2的值Hbo相同值的值（步骤S12），并且过程进入步骤S6。即，迄今已经进行设置的用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2的值Hbo被原样使用。

当在步骤S10中确定底边的宽度Wm大于或等于10毫米时，接下来确定是否底边的宽度Wm小于20毫米（步骤S13）。当底边的宽度Wm小于20毫米时，对象类型检测单元35b确定触摸对象是具有标准尺寸的拇指（步骤S14）。更具体地讲，接下来，用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2被设置成最佳阈值高度Hb变成1.8乘以现有的用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2的值Hbo的值（步骤S15），并且过程进入步骤S6。

当在步骤S10中确定底边的宽度Wm大于或等于20毫米时，对象类型检测单元35b确定触摸对象是大尺寸的拇指（步骤S16），并且应用均值滤波（步骤S17）。这里，通过在时间轴方向上对静电电容值求平均，用作用于判断检测值作为“移动量”的材料的阈值的值增加，从而其灵敏度下降。

在具有非常大的直径（即，超标准尺寸的分类）的对象被触摸的情况下，会出现一种现象，其中，在触摸位置在电极之间横贯的情况下检测的静电电容值根据触摸位置明显不同。在例如具有大手的用户的拇指这样的非常大对象执行触摸操作的情况下，检测的信号电平在除对象的***部分以外的中心部分饱和，并且在相邻的检测单元之间存在可忽略的信号电平差。即，出现一种状态，其中，作为用于“允许触摸位置的容易计算的分布形状”的条件进行描述的要求（1）的“对于位置检测计算有效的信号电平的分布是不均匀的”没有被满足。在这种情况下，对象的***部分中的信号电平的非常小的变化会明显影响检测位置，并且即使用户认为他/她已经停止移动他的/她的手指，检测位置仍移动。通过执行在步骤S17中描述的过程，变得可以抑制这种现象的出现。即，即使在具有超标准尺寸的对象被触摸的情况下，仍变得可以准确地跟踪操作的路径。

在步骤S17中应用均值滤波以后，用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2被设置成最佳阈值高度Hb变成2.6乘以用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2的值Hbo的值（步骤S18），并且过程进入步骤S6。

要在步骤S5、S9、S12、S15和S18中与值Hbo相乘的各个系数的值被设置成一定值以使得最佳阈值宽度Wb变成与通过使用食指作为模型进行设置的最佳阈值宽度Wb（例如，5毫米）近似相同程度的值。即，根据对象的尺寸设置能够实现最佳阈值宽度Wb=5毫米的高度。作为实现最佳阈值宽度Wb=5毫米的结果，变得可以提取对于执行触摸位置的计算充分且必要的数目的数据。系数的值是例子，并且根据设置为最佳阈值宽度Wb的值恰当地设置最佳值。

图8示出了一个例子，其中，已经通过上述的技术1优化用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2。图8的水平轴表示X-Y透明电极图案部分31（见图1）的X方向，垂直轴表示检测的静电电容值的信号电平的大小。

图8A示出了在诸如触笔的直径被认为小于3毫米的非常细小的对象被触摸的情况下的静电电容值的分布形状。图8B示出了在诸如孩子的手指的直径被认为小于7毫米的细小对象被触摸的情况下的静电电容值的分布形状。图8C示出了在直径被认为近似7毫米的食指被触摸的情况下的静电电容值的分布形状。图8D示出了在直径被认为大于或等于7毫米并小于20毫米的标准尺寸的拇指被触摸的情况下的静电电容值的分布形状。图8E示出了在具有大尺寸的、直径被认为大于或等于20毫米的拇指的情况下的静电电容值的分布形状。图8针对每个尺寸的每个对象示出了形成静电电容值的分布形状的各个参数的例子。

如图8A中所示，在直径非常小的对象（诸如笔）被触摸的情况下，静电电容值的分布形状的最大高度Hm变成75毫米那样低，并且底边的宽度Wm变成1毫米那样非常小。当针对这种分布形状的对象，用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2被设置成现有值时，被采样作为触摸位置计算数据的值的数目被减小到非常小的数目。即，计算的触摸位置的准确度变低。

相反，根据上述的技术1，从底边到用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2的最佳阈值高度Hb是值Hbo×1/50=1毫米。即，用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2的值被设置成非常小的值。然后，作为实现最佳阈值宽度Wb=5毫米的结果，变得可以提取对于计算触摸位置充分且必要的数目的数据。

在直径小的对象（诸如孩子的手指）被触摸的情况下（如图8B所示），静电电容值的分布形状的最大高度Hm为80毫米那样低，并且底边的宽度Wm为3毫米那样小。相反，根据上述的技术1，从底边到用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2的最佳阈值高度Hb是值Hbo×1/5=10毫米，并且实现了最佳阈值宽度Wb=5毫米。

如图8C所示，在假定为具有标准尺寸的食指的对象被触摸的情况下，现有值Hbo应用于用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2。也就是说，可以以与直到现在相同的方式最适当地计算触摸位置。

如图8D中所示，在具有大直径的对象（诸如标准尺寸的拇指）被触摸的情况下，静电电容值的分布形状的最大高度Hm变成近似100毫米，这与食指被触摸的情况并没有不同。另一方面，底边的宽度Wm变成20毫米那样大。当针对这种分布形状的对象，用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2被设置成现有值时，要提取的数据的分布形状是接近梯形的形状。即，由此可见，在相邻电极之间检测的信号电平之间几乎没有差别的位置处的大量的数据被提取。在通过使用这种数据计算触摸位置的情况下，与对象的原始触摸位置不同的位置被计算为触摸位置的可能性变高。

相反，根据上述的技术1，从底边到用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2的最佳阈值高度Hb是值Hbo×1.8=90毫米，这比在食指被触摸的情况下的静电电容值的分布形状的最佳阈值高度Hb（50毫米）要高。结果，用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2位于底边的分布形状更接近三角形。即，由于相邻电极之间的信号电平的差别大的位置处的数据被提取，所以能够计算最佳触摸位置。

另外在具有非常大尺寸的拇指被触摸的情况下，获得相同优点。另外，在这种情况下，如图8E所示，静电电容值的分布形状的最大高度Hm变成近似100毫米，这与在食指被触摸的情况相同。另一方面，底边的宽度Wm变成30毫米那样非常大。当针对这种分布形状的对象，用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2被设置成现有值时，提取的数据的分布形状几乎接近梯形，并且梯形的上底和下底的长度非常长。

相反，根据上述的技术1，从底边到用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2的最佳阈值高度Hb是值Hbo×2.5=125毫米，这比在食指被触摸的情况下的静电电容值的分布形状的最佳阈值高度Hb（50毫米）要高很多。结果，用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2位于底边的分布形状更接近三角形。即，由于相邻电极中的信号电平的差别大的位置处的数据被提取，所以能够计算最佳触摸位置。

接下来，将参照图9的流程图描述根据上述的技术2的用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2的优化。首先，确定由触摸面板扫描单元35a（见图5）检测的静电电容值是否超过触摸确定阈值Th1。当它没有超过触摸确定阈值Th1时，步骤S21的确定继续。当它超过触摸确定阈值Th1时，接下来，最佳阈值高度Hb被设置成等于5毫米的值，这是使用食指作为模型进行设置的最佳阈值宽度Wb。然后，通过使用已经作为调整的结果被优化的用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2，执行触摸位置的计算（步骤S23）。

在技术2中，同样，期望实现的内容与期望在技术1中解决的内容相同。在技术2中，通过从底边对静电电容值进行积分来计算最佳阈值宽度Wb=5毫米的高度，并且该高度被设置为最佳阈值高度Hb。

接下来，将参照图10的流程图描述根据技术3的用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2的优化。首先，确定由触摸面板扫描单元35a（见图5）检测的静电电容值是否超过触摸确定阈值Th1（步骤S31）。当它没有超过触摸确定阈值Th1时，步骤S31的确定继续。当它超过触摸确定阈值Th1时，执行静电电容值的信号电平分布的变化率的检测（步骤S32）。

本文涉及的“信号电平分布的变化率”是指以静电电容值的信号电平分布的中心作为边界的两个区域中的信号电平的变化率。图11通过曲线图示出了信号电平分布的变化率的例子。图11的水平轴表示电极布置中的X方向（或Y方向），垂直轴表示信号电平。由实线指示的分布Db1显示了以分布的中心用作边界的左右区域中的信号电平的变化率恒定的例子。由短虚线指示的分布Db2显示了以分布的中心作为边界的中心的左右的区域中的信号电平的变化率相对于中心增加的例子。由交替一长两短虚线指示的分布Db3显示了以分布的中心用作边界的左右区域中的信号电平的变化率相对于中心下降的例子。

返回参照图10的流程图，继续描述。在步骤S32中检测的信号电平分布的变化率恒定的情况下，预指定的预定值被设置为用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2（步骤S33）。然后，通过使用设置的用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2执行触摸位置的计算（步骤S34）。当在步骤S32中检测的信号电平分布的变化率不恒定时，即，当信号电平分布的变化率是诸如图12中所示的分布Db2或分布Db3的分布时，信号电平的变化率最大的位置处的信号电平值被设置为用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2（步骤S35）。然后，通过使用该用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2，执行触摸位置的计算（步骤S34）。

作为执行这个过程的结果，在如例如在图8A和图8B中所示具有小直径的对象被触摸的情况下，信号电平的变化率最大的位置处的信号电平值被设置为用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2。即，最佳阈值高度Hb被设置到分布形状的倾度最陡的位置。如在图8A和图8B中所示，在底边的宽度Wm小的分布形状中，信号电平的变化率最大的位置显现在靠近底边的位置（分布形状的弯曲适中的部位与分布形状的弯曲强烈的部位之间的边界的位置）。因此，用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2被设置成明显小于迄今已经以固定方式进行设置的用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2的值的值。结果，与现有技术相比较，可以明显增加使用用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2提取的数据的数目。结果，变得可以提高触摸位置的计算准确度。

另一方面，在例如如图8D和图8E中所示具有大直径的对象被触摸的情况下，信号电平的变化率最大的位置显现在分布形状的倾度最陡的部位终止的地方。分布形状的倾度最陡的部位终止的地方存在于如图8D和图8E中所示的分布形状的顶点（中心）的附近。因此，用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2被设置到靠近分布形状的顶点。

结果，在底边通过使用用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2提取的分布形状变成允许触摸位置的容易计算的分布形状。换言之，变得可以提取在分布形状的中心具有峰值并且在相邻电极之间获得的信号电平的差大的部位。作为通过使用以这种方式提取的部位的数据执行触摸位置的计算的结果，可以将计算的触摸位置与由用户实际执行操作输入的位置的坐标之间的误差大幅减小至小于现有技术。

图12示出了在通过使用迄今已经以固定方式进行设置的用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2执行触摸位置的计算的情况下、和在通过本公开的技术执行触摸位置的计算的情况下的操作输入的路径的跟踪的结果的例子。在图12中所示的例子中，通过两种方法（即，现有技术和本公开的技术）通过将各种尺寸的对象从触摸面板单元30的屏幕的左上端直线地向其右下端进行移动，执行触摸位置的计算。

在根据现有技术的通过使用直径小于3毫米的对象（假设为触笔）绘制直线的情况下，假设跟踪结果的路径是连续的。其原因的在于，在对象的直径小于布置感测静电电容值的电极的间隔的情况下，在由对象触摸的位置处不存在电极的概率增加。在这样的位置处，还没有检测到静电电容值的变化。因此，实际上，即使当输入直线时，跟踪结果显示细线是离散式连续的。

相反，根据本公开，在直径小于3毫米的对象被触摸的情况下，基于静电电容值的分布形状，用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2被设置成非常低的值。结果，与现有技术相比较，被提取作为触摸位置计算数据的数据的数目大幅增加。因此，如图12中的“本公开的技术”所示，操作输入的跟踪结果变得连续。

即使在使用直径为3毫米到7毫米的对象（假设为孩子的手指）执行操作输入的情况下，与使用假设为触笔的对象执行输入的情况类似，用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2被设置成比现有值低的值。结果，与现有技术相比较，被提取作为触摸位置计算数据的数据的数目增加。因此，如图12中的“本公开的技术”所示，可以使得操作输入的跟踪结果几乎等于实际输入的路径。

在通过使用直径20毫米的对象（假设为与普通尺寸的拇指相同）绘制直线的情况下，根据现有技术，跟踪结果的路径左右摇摆。在对象的直径大的情况下，如图8D所示，静电电容值的分布形状接近梯形，并且梯形的上边和下边增加。在已经通过食指校准的、现有的用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2应用于具有这些特征量的数据组的情况下，要提取的所有数据变成使得在相邻电极之间的信号电平没有太大差别，并且信号电平高。其原因在于，作为以上的结果，误差可能出现在计算的触摸位置处。

在使用大的超标准手指绘制例如在图8E中所示的直线的情况下，这个误差更加显著。如图12中所示，操作输入的跟踪结果显示了不连续并且偏离实际路径的部分。

相反，根据本公开的技术，在直径大于或等于7毫米的对象被触摸的情况下，基于静电电容值的分布形状，用于计算触摸位置的数据提取阈值Th2被设置成高值。结果，在分布形状的中心具有峰值并且在相邻电极之间获得的信号电平的差大的部位被提取作为触摸位置计算数据。因此，在操作输入的跟踪结果中出现连续性，并且与实际操作输入的路径的误差下降至非常小。

即，根据本实施例，当任何尺寸的对象触摸触摸面板时，可以恰当地计算已经执行操作的位置的触摸位置。因此，可以提高操作的跟随的线性。

另外，根据上述的实施例，根据由触摸面板扫描单元35a（见图5）检测的静电电容值的X方向和Y方向上的宽度（分布形状的底边的宽度Wm），由操作位置检测单元35c恰当识别对象的类型。图13通过图表示出了能够由本公开的检测方法识别的对象的类型。该图表的水平轴表示在X方向上检测的对象的宽度，垂直轴表示在Y方向上检测的对象的宽度。根据本公开的检测方法，当在X方向上检测的宽度和在Y方向上检测的宽度二者均小于3毫米时，触摸对象被识别为触笔。

即使当在X方向或在Y方向上检测的宽度小于3毫米时，在另一方向上检测的宽度是3毫米到20毫米的情况下，触摸对象被识别为手指（食指）。当在X方向或Y方向上检测的宽度为3毫米到7毫米时，如果在另一方向上检测的宽度在3毫米到20毫米的范围内，则触摸对象被识别为手指（食指）。

在X方向或Y方向上检测的宽度是7毫米到20毫米的情况下，如果在另一方向上检测的宽度在0毫米到20毫米的范围内，则触摸对象被识别为手指（食指）。在宽度在20毫米到30毫米的范围内的情况下，触摸对象被识别为具有超标准尺寸的大手指（拇指）。当在X方向和Y方向之一上检测到20毫米到30毫米的宽度时，如果在另一方向上检测的宽度是7毫米到20毫米，则触摸对象被识别为大手指（具有超标准尺寸的拇指）。在图13中所示的值是例子，并且可根据设计设置其它最佳值。

如上所述，作为基于在X方向和Y方向上检测的电极的静电电容值的分布宽度来识别对象的类型的结果，还可以根据对象的类型来优化操作位置检测的后置处理。

当例如识别的对象的类型是触笔时，如参照图7的流程图所述，通过增加刷新率，变得可以实时跟踪笔输入的快速移动。另外，当识别的对象的类型是具有超标准尺寸的拇指时，均值滤波应用于由触摸面板扫描单元35a（见图5）检测并且经历了A/D转换的静电电容值，由此抑制抖动的发生。

通过根据检测的对象的类型执行这些调整，变得可以向应用侧传送假设从各种对象体进行输入的为每个应用优化的数据。例如，在用于浏览地图的应用中，常常使用一般称作捏拉/缩放（pinch/zoom）的通过使用拇指和食指实现扩展/收缩的操作。根据本情况，通过执行最适于食指和拇指的每个的位置检测设置，可以实现适于用户的意图的容易操作。

另外，同样，在由用户操作3D图形对象的游戏应用中，对诸如通过使用拇指或食指的捏拉或旋转的操作执行最适于食指和拇指的每个的位置检测设置，从而实现适于用户的意图的容易操作。另外，同样，在一起使用笔和手指输入的应用中，即，在通过使用右手在触摸屏幕上记笔记的同时使用左手翻页的应用中，可以执行最适于各个输入对象的位置检测设置。

此外，对于以上全部，根据本情况，不需要使得用户执行附加设置操作，并且另外，在应用和CPU侧不需要特殊通信过程。本情况特别展示了在难于估计在何时何地输入具有不同特征的多个输入对象的使用情况下的效果。

上述实施例中的一系列处理能够由硬件也能够由软件进行执行。当要通过软件执行这一系列处理时，能够通过组成软件的程序并入专用硬件中的计算机、或安装有用于执行各种功能的程序的计算机来执行这一系列处理。例如，组成期望软件的程序可以安装在通用计算机等等中，由此执行该程序。

另外，在其上记录有实现上述的示例性实施例的功能的软件的程序码的记录介质可以被提供给***或设备。另外，当然，由***或设备的计算机（或者控制装置，例如CPU）通过读取存储在记录介质上的程序码并且执行它们来实现这些功能。

在这种情况下用于提供程序码的可用记录介质的例子包括软盘、硬盘、光盘、磁光盘、CD-ROM、CD-R、磁带、非易失性记忆卡和ROM。

另外，通过执行由计算机读取的程序码，实现上述的示例性实施例的功能。此外，在计算机上运行的OS等等基于程序码的指令执行实际处理的一部分或全部。还包括由这些过程实现上述的示例性实施例的功能的情况。

本公开不限于上述的示例性实施例，并且当然，在不脱离在权利要求中描述的本公开的精神的情况下能够采取其它各种应用例子和变型。本领域技术人员当然应该明白，可以根据设计或其它元素做出各种变型、组合和其它实施例，只要它们位于权利要求及其等同物的范围内即可。

本公开可采取下面的结构。

（1）一种触摸面板装置，包括：

静电电容型触摸面板单元，其中在X方向和Y方向上布置有多个透明电极；

电势检测单元，被构造为扫描所述多个透明电极并且检测X方向和Y方向上的坐标处的静电电容值的变化；

对象类型检测单元，被构造为基于从由电势检测单元检测的静电电容值的分布形状获得的信息，检测接近或接触触摸面板单元的表面的对象的类型；以及

操作位置检测单元，被构造为根据由对象类型检测单元检测的对象的类型，改变用于计算对象的触摸位置的数据量，并且被构造为基于使用改变量数据计算的触摸位置，检测对象接近或接触的位置的坐标。

（2）如在（1）中阐述的触摸面板装置，其中，用于计算触摸位置的数据是超过预设的用于计算触摸位置的数据提取阈值的数据。

（3）如在（1）或（2）中阐述的触摸面板装置，其中，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置到能够提取在相邻的透明电极之中静电电容值之间的差大的部位并且在静电电容值的分布形状的中心附近存在峰值的位置。

（4）如在（1）到（3）之一中阐述的触摸面板装置，其中，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置为与形成静电电容值的分布形状的参数之中的分布形状的底边的宽度对应的值。

（5）如在（1）到（4）之一中阐述的触摸面板装置，其中，当分布形状的底边的宽度小时，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置为与该宽度对应的低值，并且当分布形状的底边的宽度大时，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置为与该宽度对应的高值。

（6）如在（1）到（3）之一中阐述的触摸面板装置，其中，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置为第一宽度变成与第二宽度相同的值的值，其中，第一宽度是分布形状中的具有与用于计算触摸位置的数据提取阈值相同的值的部分的宽度，第二宽度是当具有假设成食指拥有的直径的直径的对象触摸触摸面板装置时获得的分布形状中的、具有与被优化以计算人的食指的触摸位置的用于计算触摸位置的数据提取阈值相同的值的部分的宽度。

（7）如在（1）到（3）之一中阐述的触摸面板装置，其中，用于计算触摸位置的数据提取阈值基于形成静电电容值的分布形状的参数之中的分布形状的倾度的信息而改变。

（8）如在（1）到（7）之一中阐述的触摸面板装置，其中，当分布形状的底边的宽度小于预先指定的预定宽度时，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置到分布形状的倾度最陡的部位，并且当分布形状的底边的宽度大于或等于预先指定的预定宽度时，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置到分布形状的倾度最陡的部位与倾度适中的部位之间的边界中的静电电容值较高的边界。

（9）如在（1）到（3）之一中阐述的触摸面板装置，其中，当分布形状的底边的宽度小于预设的预定宽度时，操作位置检测单元确定触摸触摸面板装置的对象是笔，并且增加电势检测单元的扫描速率。

（10）如在（1）到（9）之一中阐述的触摸面板装置，其中，预定宽度是3毫米。

（11）如在（1）到（3）之一中阐述的触摸面板装置，其中，当分布形状的底边的宽度大于或等于预设的预定宽度时，操作位置检测单元确定触摸触摸面板的对象是具有非常大尺寸的手指，并且向由电势检测单元扫描的数据应用均值滤波。

（12）如在（1）到（11）之一中阐述的触摸面板装置，其中，预定宽度是20毫米。

（13）如在（1）到（3）之一中阐述的触摸面板装置，其中，触摸位置的计算是基于根据从由电势检测单元检测的静电电容值的分布形状获得的信息计算的触摸位置而执行的。

（14）一种移动终端，包括：

静电电容型触摸面板单元，其中在X方向和Y方向上布置有多个透明电极；以及

控制单元，包括：电势检测单元，被构造为扫描所述多个透明电极并且检测X方向和Y方向上的坐标处的静电电容值的变化；对象类型检测单元，被构造为基于从由电势检测单元检测的静电电容值的分布形状获得的信息，检测接近或接触触摸面板单元的表面的对象的类型；以及操作位置检测单元，被构造为根据由对象类型检测单元检测的对象的类型，改变用于计算对象的触摸位置的数据量，并且被构造为基于使用改变量数据计算的触摸位置，检测对象接近或接触的位置的坐标。

（15）一种检测方法，包括：

扫描在X方向和Y方向上布置有多个透明电极的静电电容型触摸面板单元的多个透明电极，并且检测X方向和Y方向上的坐标处的静电电容值的变化；

基于从检测的静电电容值的分布形状获得的信息，检测接近或接触触摸面板单元的表面的对象的类型；以及

根据检测的对象的类型，改变用于计算对象的触摸位置的数据量，并且基于使用改变量数据计算的触摸位置，检测对象接近或接触的位置的坐标。

（16）一种记录介质，其上记录有使得计算机执行如下处理的程序，该处理包括：

扫描在X方向和Y方向上布置有多个透明电极的静电电容型触摸面板单元的多个透明电极，并且检测X方向和Y方向上的坐标处的静电电容值的变化；

基于从检测的静电电容值的分布形状获得的信息，检测接近或接触触摸面板单元的表面的对象的类型；以及

根据检测的对象的类型，改变用于计算对象的触摸位置的数据量，并且基于使用改变量数据计算的触摸位置，检测对象接近或接触的位置的坐标。

[标号列表]

1 移动终端，2 通信单元，3 控制单元，4 按钮操作单元，5 存储单元，6 外部输入/输出端子单元，7 外部存储器插槽，8 外部存储器，10 音频处理单元，11 麦克风，12 扬声器，13 显示处理单元，14显示器，15 图像拍摄控制计算单元，16 相机单元，17 发光单元，20触摸面板装置，30 触摸面板单元，31 X-Y透明电极图案部分，34 柔性印刷基板，35 IC，35a 触摸面板扫描单元，35b 对象类型检测单元，35c 操作位置检测单元，36 传感器玻璃单元，40X 方形透明电极单元，40Y 方形透明电极单元，43X 外缘布线图案，43Y 外缘布线图案，50 壳体，51 窗玻璃，Th1 触摸确定阈值，Th2 用于计算触摸位置的数据提取阈值

Claims (11)

1.一种触摸面板装置，包括：

静电电容型触摸面板单元，具有在X方向和Y方向上布置的多个透明电极；

电势检测单元，被构造为扫描所述多个透明电极并且检测X方向和Y方向上的坐标处的静电电容值；

对象类型检测单元，被构造为基于从由电势检测单元检测的静电电容值的分布形状获得的信息，检测接近或接触触摸面板单元的表面的对象的类型；以及

操作位置检测单元，被构造为基于由对象类型检测单元检测的对象的类型，改变用于计算对象的触摸位置的数据提取阈值，并且基于改变后的数据提取阈值，检测对象接近或接触触摸面板单元的表面的位置的坐标。

2.根据权利要求1所述的触摸面板装置，其中，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置到能够提取在相邻的透明电极之中静电电容值之间的差大的部位的位置，并且在静电电容值的分布形状的中心附近存在峰值。

3.根据权利要求1所述的触摸面板装置，其中，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置为与形成静电电容值的分布形状的参数之中的分布形状的底边的宽度对应的值。

4.根据权利要求3所述的触摸面板装置，其中，当分布形状的底边的宽度小时，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置为与该宽度对应的低值，并且当分布形状的底边的宽度大时，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置为与该宽度对应的高值。

5.根据权利要求3所述的触摸面板装置，其中，当分布形状的底边的宽度小于预定宽度时，操作位置检测单元确定触摸触摸面板装置的对象是笔或触笔，并且增加电势检测单元的扫描速率。

6.根据权利要求3所述的触摸面板装置，其中，当分布形状的底边的宽度大于或等于预定宽度时，操作位置检测单元确定触摸触摸面板的对象是具有非常大尺寸的手指，并且向由电势检测单元扫描的数据应用均值滤波。

7.根据权利要求1所述的触摸面板装置，其中，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置为第一宽度变成与第二宽度相同的值的值，其中，第一宽度是分布形状中的具有与用于计算触摸位置的数据提取阈值相同的值的部分的宽度，第二宽度是当具有假设为人的食指拥有的直径的直径的对象触摸触摸面板装置时获得的分布形状中的、具有与被优化以计算人的食指的触摸位置的用于计算触摸位置的数据提取阈值相同的值的部分的宽度。

8.根据权利要求1所述的触摸面板装置，其中，用于计算触摸位置的数据提取阈值基于形成静电电容值的分布形状的参数之中的分布形状的倾度的信息而改变。

9.根据权利要求8所述的触摸面板装置，其中，当分布形状的底边的宽度小于预定宽度时，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置到分布形状的倾度最陡的部位，并且当分布形状的底边的宽度大于或等于预定宽度时，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置到分布形状的倾度最陡的部位与倾度适中的部位之间的边界中的静电电容值较高的边界。

10.一种在包括具有布置在X方向和Y方向上的多个透明电极的静电电容型触摸面板单元的触摸面板装置上实现的检测方法，包括：

扫描所述多个透明电极并且检测X方向和Y方向上的坐标处的静电电容值；

基于从检测的静电电容值的分布形状获得的信息，检测接近或接触触摸面板单元的表面的对象的类型；以及

基于检测的对象的类型，改变用于计算对象的触摸位置的数据提取阈值，并且基于改变后的数据提取阈值，检测对象接近或接触触摸面板单元的表面的位置的坐标。

11.一种计算机可读存储介质，其上记录有使得具有布置在X方向和Y方向上的多个透明电极的静电电容型触摸面板单元执行一种方法的程序，所述方法包括：

扫描所述多个透明电极并且检测X方向和Y方向上的坐标处的静电电容值；

基于从检测的静电电容值的分布形状获得的信息，检测接近或接触触摸面板单元的表面的对象的类型；以及

基于检测的对象的类型，改变用于计算对象的触摸位置的数据提取阈值，并且基于改变后的数据提取阈值，检测对象接近或接触触摸面板单元的表面的位置的坐标。

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