CN103208313A - 一种检测方法及*** - Google Patents
一种检测方法及*** Download PDFInfo
- Publication number
- CN103208313A CN103208313A CN2013101556496A CN201310155649A CN103208313A CN 103208313 A CN103208313 A CN 103208313A CN 2013101556496 A CN2013101556496 A CN 2013101556496A CN 201310155649 A CN201310155649 A CN 201310155649A CN 103208313 A CN103208313 A CN 103208313A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- detected
- unit
- result
- described current
- detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
本发明中公开了一种检测方法及***，所述方法应用于存储器的检测中，将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区，所述待检测区又分成若干待检测单元，获取所述当前待检测单元的初始值，依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式计算，得到计算结果，当所述计算结果符合预设条件时，则生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果，所述方法中，将所述待检测区分成了若干待检测单元，当需要开始检测时，则只需要检测当前待检测单元，并且会在不同的时间内完成，而不需要将所述待检测区全部一次检测一遍，这样就避免了出现运算量大，速度慢的问题。
Description
技术领域
本发明涉及嵌入式***领域，特别是一种检测方法及***。
背景技术
随着嵌入式***的高速发展，单片微机越来越多的应用于国民经济的各个领域中，在各种单片机***当中，存储器是其中的一个极其重要的组成部分。
存储器常用存储程序和各种数据，并能在单片机运行过程高速、自动地完成程序或数据的存取。一旦存储器发生失效，将直接影响嵌入式***的可靠性。因此，嵌入式***在正常运行时能够对其存储单元进行周期性的自检测，对提高***的稳定性、降低***危险失效起到至关重要的作用。因此，在***固件设计中单片机应该具有存储单元周期自检测能力。
目前，常用的检测存储的方法是读写检测法，所述读写检测法的检测方法为：对待检测的地址空间分别写固定数据，如0X0000、0X5555、0XAAAA；从地址空间读出数据，查看读到的数据值是否与写入值一致，如果一致表明存储单元检测正常，否则表明检测到故障，但是这种方法是存储缺点的，在检测过程中存储数据容易被破坏，即该方法需要对一整片的存储空间进行读、写数据操作，因此在检测前需要将待检测空间中的数据搬移到其他的空闲地址中，待检测结束后再从空闲的地址空间中将存储的数据搬移回到原地址中，这样在反复的搬移过程中存储单元中的有效数据就很容易遭到破坏，而发生不预期的失效，而且在检测时***都要从所有待检测地址空间中写入数据，并读出数据进行比较，遍历数次，使得运算数据量很大，这样就会对降低检测的速度。
发明内容
本发明提供一种检测方法及***，以解决使用现有技术中对存储器的检测存在运算量大，检测速度慢的问题。
具体技术方案如下：
一种检测方法，所述方法应用于存储器的检测中，将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区，所述待检测区又分成至少两个待检测单元，所述方法包括：
获取所述当前待检测单元的初始值；
依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式计算，得到计算结果；
判断所述计算结果是否符合预设条件，如果是，生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果，如果否，不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果。
优选地，所述获取所述当前待检测单元预先的初始值包括：
确定预期计算结果为所述当前待检测单元的逆运算算法输入值；
依据所述逆运算算法输入值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式逆运算，得到运算结果；
将所述运算结果作为所述当前待检测单元的初始值。
优选地，所述判断所述计算结果是否符合预设条件，如果是，生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果，如果否，不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果包括：
判断所述计算结果是否符合所述预期计算结果，如果是，生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果，如果否，不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果。
优选地，还包括：
所述当前待检测单元的初始值存储在与所述当前待检测单元对应的所述不检测区位置中。
一种检测***，所述***应用于存储器的检测中，将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区，所述待检测区又分成至少两个待检测单元，所述***包括：获取模块、计算模块和判断模块；
其中，所述获取模块用于，获取所述当前检测单元的初始值；
所述计算模块用于，依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式计算，得到计算结果；
所述判断模块用于，判断所述计算结果是否符合预设条件，如果是，生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果，如果否，不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果。
优选地，所述获取模块包括：确定单元、逆运算单元和赋值单元；
所述确定单元用于，确定预期计算结果为所述当前待检测单元的逆运算算法输入值；
所述逆运算单元用于，依据所述逆运算算法输入值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式逆运算，得到运算结果；
所述初始值确定单元用于，将所述运算结果作为所述当前待检测单元的初始值。
从以上技术方案可以看出，本发明中提供的一种检测方法及***，所述方法应用于存储器的检测中，将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区，所述待检测区又分成若干待检测单元，获取所述当前待检测单元的初始值，依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式计算，得到计算结果，当所述计算结果符合预设条件时，则生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果，所述方法中，将所述待检测区分成了若干待检测单元，当需要开始检测时，则只需要检测当前待检测单元，并且会在不同的时间内完成，而不需要将所述待检测区全部一次检测一遍，这样就避免了出现运算量大，速度慢的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对发明或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例一公开的一种检测方法流程示意图；
图2为本发明实施例公开的被检测存储器存储空间分配示意图；
图3为本发明实施例二公开的一种获取所述当前待检测单元的初始值的方法流程示意图；
图4为本发明实施例三公开的一种检测方法流程示意图；
图5为本发明实施例公开的一种所述初始值存储地址空间位置的示意图；
图6为本发明实施例四公开的一种检测***结构示意图；
图7为本发明实施例五公开的一种检测***结构示意图。
具体实施方式
下面结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明的保护范围。
本发明实施例一公开一种检测方法，参见图1所示，所述方法应用于存储器的检测中，将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区，所述待检测区又分成至少两个待检测单元，步骤包括：
步骤S101：获取所述当前待检测单元的初始值；
需要说明的是，所述当前待检测单元的初始值是存储在与所述当前待检测单元对应的所述不检测区位置中；
步骤S102：依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式（CRC）计算，得到计算结果；
其中，根据预先编写好的循环冗余码校验算法，并依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行计算，得到了计算结果，需要说明的是，所述循环冗余码校验是利用除法及余数的原理来作错误检测的，具有很强的诊断覆盖能力；
步骤S103：判断所述计算结果是否符合预设条件，如果是，执行步骤S104，如果否，执行步骤S105；
需要说明的是，此处的预设条件即为预期计算结果，也就是说，判断所述计算结果是否符合所述预期计算结果，如果是，执行步骤S104，如果否，执行步骤S105；
步骤S104：生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果，
步骤S105：不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果。
对于实施例来说，需要说明的是，所述方法将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区，所述待检测区又分成若干待检测单元，可以参见图2所示，本具体实例以程序代码为60K（bytes）为例，占用的地址空间为0x000000～0x00EFFF。根据程序执行时间的限制，将待检区分为n个待检测单元，其中，所述存储器地址空间分为了待检区和未检区，所述待检区开始地址为0x000000，而所述未检区开始地址为0X010000。
本实施例公开了一种检测方法，所述方法应用于存储器的检测中，将所述检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区，所述待检测区又分成至少两个待检测单元，获取所述当前待检测单元的初始值，依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式计算，得到计算结果，当所述计算结果符合预设条件时，则生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果，所述方法中，不需要将存储器中的数据做搬移操作，因此存储数据不容易遭受破坏，而且，所述方法中将所述待检测区分成了若干待检测单元，当需要开始检测时，则只需要检测当前待检测单元，并且会在不同的时间内完成，而不需要将所述待检测区全部一次检测一遍，这样就避免了出现运算量大，速度慢的问题。
本发明实施例二中公开了一种检测方法，所述方法公开了获取所述当前待检测单元的初始值的方法，参见图3所示，
步骤S201：确定预期计算结果为所述当前待检测单元的逆运算算法输入值；
步骤S202：依据所述逆运算算法输入值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式（CRC）逆运算，得到运算结果；
步骤S203：将所述运算结果作为所述当前待检测单元的初始值；
需要说明的是，所述获取当前待检测单元的初始值的方法是在检测之前事前完成的。
本实施例公开了一种获取当前待检测单元的初始值的方法，所述方法包括：确定预期计算结果为所述当前待检测单元的输入值，依据所述输入值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式逆运算，得到运算结果，将所述运算结果作为所述当前检测单元的初始值，所述获取当前待检测单元的初始值是在检测之前完成的，而在需要进行检测所述当前待检测单元时，会依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式计算，得到计算结果，当所述计算结果符合预设条件时，则生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果，这样，就不需要将存储器中的数据做搬移操作，因此存储数据不容易遭受破坏，而且，所述方法中将所述待检测区分成了若干待检测单元，当需要开始检测时，则只需要检测当前待检测单元，并且会在不同的时间内完成，而不需要将所述待检测区全部一次检测一遍，这样就避免了出现运算量大，速度慢的问题，并且本方法还可以解决由于反复擦、写而造成存储器的寿命减低的问题。
本发明实施例三公开了一种检测方法，参见图4所示，所述方法应用于存储器的检测中，将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区，所述待检测区又分成至少两个待检测单元，步骤包括：
步骤S301：获取所述当前待检测单元的初始值；
步骤S302：所述当前待检测单元的初始值存储在与所述当前待检测单元对应的所述不检测区位置中；
为了方便理解，参见图5所示，延用图2中的实例，以程序代码为60K（bytes）为例，占用的地址空间为0x000000～0x00EFFF。根据程序执行时间的限制，将待检区分为n个待检测单元，其中，所述存储器地址空间分为了待检测区和不检测区，所述待检测区开始地址为0x000000，而所述不检测区开始地址为0X010000；
当所述当前待检测单元为第n个单元时，在计算了所述第n个单元的初始值后，从图5中可以得到，将所述初始值存储在所述不检测区0x010000+(n-1)*4地址空间中，这是因为，由于每个待检测单元的初始值为两个字，即4个字节，所以将所述初始值存储在所述不检测区的0x010000+(n-1)*4地址空间中。
步骤S303：依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式计算，得到计算结果；
其中，根据预先编写好的循环冗余码校验算法，并依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行计算，得到了计算结果，需要说明的是，所述循环冗余码校验是利用除法及余数的原理来作错误检测的，具有很强的诊断覆盖能力；
步骤S304：判断所述计算结果是否符合预设条件，如果是，执行步骤S305，如果否，执行步骤S306；
需要说明的是，此处的预设条件即为预期计算结果，也就是说，判断所述计算结果是否符合所述预期计算结果，如果是，执行步骤S305，如果否，执行步骤S306；
步骤S305：生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果；
步骤S306：不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果。
本实施例中公开了一种检测方法，所述方法应用于存储器的检测中，将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区，所述待检测区又分成至少两个待检测单元，获取所述当前待检测单元的初始值，依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式计算，得到计算结果，当所述计算结果符合预设条件时，则生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果，所述待检测单元的初始值存储在与所述当前待检测单元对应的所述不检测区位置中，由于使用了循环冗余码校验法，所以本实施例公开的检测方法具有很强的校验和诊断覆盖能力。
本发明实施例四公开了一种检测***，参见图6所示，所述***应用于存储器的检测中，将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区，所述待检测区又分成至少两个待检测单元，所述***包括：获取模块101、计算模块102和判断模块103；
所述获取模块101用于，获取所述当前检测单元的初始值；
需要说明的是，所述当前待检测单元的初始值是存储在与所述当前待检测单元对应的所述不检测区位置中；
所述计算模块102用于，依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式计算，得到计算结果；
其中，根据预先编写好的循环冗余码校验算法，并依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行计算，得到了计算结果，需要说明的是，所述循环冗余码校验是利用除法及余数的原理来作错误检测的，具有很强的诊断覆盖能力；
所述判断模块103用于，判断所述计算结果是否符合预设条件，如果是，生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果，如果否，不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果。
需要说明的是，此处的预设条件即为预期计算结果。
本实施例公开了一种检测***，所述***应用于存储器的检测中，将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区，所述待检测区又分成至少两个待检测单元，所述***包括：获取模块、计算模块和判断模块，所述获取模块用于，获取所述当前检测单元的初始值，所述计算模块用于，依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式计算，得到计算结果，所述判断模块用于，判断所述计算结果是否符合预设条件，如果是，生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果，如果否，不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果，不需要将存储器中的数据做搬移操作，因此存储数据不容易遭受破坏，而且，所述方法中将所述待检测区分成了若干待检测单元，当需要开始检测时，则只需要检测当前待检测单元，并且会在不同的时间内完成，而不需要将所述待检测区全部一次检测一遍，这样就避免了出现运算量大，速度慢的问题。
本发明实施例五公开了一种检测***，参见图7所示，所述***应用于存储器的检测中，将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区，所述待检测区又分成至少两个待检测单元，所述***包括：获取模块101、计算模块102和判断模块103；
其中，所述计算模块102与所述判断模块103与实施例四公开的所述计算模块102与所述判断模块103一致；
所述获取模块101包括：确定单元104、逆运算单元105和初始值确定单元106；
所述确定单元104用于，确定预期计算结果为所述当前待检测单元的逆运算算法输入值；
所述逆运算单元105用于，依据所述逆运算算法输入值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式逆运算，得到运算结果；
所述初始值确定单元106用于，将所述运算结果作为所述当前待检测单元的初始值。
本实施例公开了一种检测***，细化了实施例四中的获取模块，所述获取模块包括：确定单元、逆运算单元和初始值确定单元，所述确定单元用于，确定预期计算结果为所述当前待检测单元的逆运算算法输入值，所述逆运算单元用于，依据所述逆运算算法输入值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式逆运算，得到运算结果，所述初始值确定单元用于，将所述运算结果作为所述当前待检测单元的初始值，所述获取当前待检测单元的初始值是在检测之前完成的，而在需要进行检测所述当前待检测单元时，会由实施例四中公开的计算模块和判断模块来完成整个对所述待检测单元的检测，这样，就不需要将存储器中的数据做搬移操作，因此存储数据不容易遭受破坏，而且，所述方法中将所述待检测区分成了若干待检测单元，当需要开始检测时，则只需要检测当前待检测单元，而不需要将所述待检测区全部检测一遍，这样就避免了出现运算量大，速度慢的问题，并且本方法还可以解决由于反复擦、写而造成存储器的寿命减低的问题。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽范围。
Claims (6)
1.一种检测方法，其特征在于，所述方法应用于存储器的检测中，将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区，所述待检测区又分成至少两个待检测单元，所述方法包括：
获取所述当前待检测单元的初始值；
依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式计算，得到计算结果；
判断所述计算结果是否符合预设条件，如果是，生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果，如果否，不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述当前待检测单元预先的初始值包括：
确定预期计算结果为所述当前待检测单元的逆运算算法输入值；
依据所述逆运算算法输入值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式逆运算，得到运算结果；
将所述运算结果作为所述当前待检测单元的初始值。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述判断所述计算结果是否符合预设条件，如果是，生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果，如果否，不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果包括：
判断所述计算结果是否符合所述预期计算结果，如果是，生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果，如果否，不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
所述当前待检测单元的初始值存储在与所述当前待检测单元对应的所述不检测区位置中。
5.一种检测***，其特征在于，所述***应用于存储器的检测中，将被检测存储器的存储空间分成待检测区和不检测区，所述待检测区又分成至少两个待检测单元，所述***包括：获取模块、计算模块和判断模块；
其中，所述获取模块用于，获取所述当前检测单元的初始值；
所述计算模块用于，依据所述初始值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式计算，得到计算结果；
所述判断模块用于，判断所述计算结果是否符合预设条件，如果是，生成所述当前待检测单元没有故障的判断结果，如果否，不会生成所述当前检测单元没有故障的判断结果。
6.根据权利要求5所述的***，其特征在于，所述获取模块包括：确定单元、逆运算单元和初始值确定单元；
所述确定单元用于，确定预期计算结果为所述当前待检测单元的逆运算算法输入值；
所述逆运算单元用于，依据所述逆运算算法输入值和所述当前待检测单元值进行循环冗余码校验多项式逆运算，得到运算结果；
所述初始值确定单元用于，将所述运算结果作为所述当前待检测单元的初始值。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201310155649.6A CN103208313B (zh) | 2013-04-26 | 2013-04-26 | 一种检测方法及*** |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201310155649.6A CN103208313B (zh) | 2013-04-26 | 2013-04-26 | 一种检测方法及*** |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN103208313A true CN103208313A (zh) | 2013-07-17 |
| CN103208313B CN103208313B (zh) | 2017-04-19 |
Family
ID=48755509
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201310155649.6A Active CN103208313B (zh) | 2013-04-26 | 2013-04-26 | 一种检测方法及*** |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN103208313B (zh) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103473312A (zh) * | 2013-09-11 | 2013-12-25 | 北京思特奇信息技术股份有限公司 | 一种独立的依据信息获取方法 |
| CN104407929A (zh) * | 2014-12-19 | 2015-03-11 | 重庆川仪自动化股份有限公司 | 一种可变存储器校验的方法及*** |
| CN107544860A (zh) * | 2017-08-29 | 2018-01-05 | 新华三技术有限公司 | 一种磁盘数据检测方法及装置 |
| CN108021482A (zh) * | 2017-12-28 | 2018-05-11 | 杭州迪普科技股份有限公司 | 一种Boot Loader下检测内存的方法及装置 |
| CN108037753A (zh) * | 2017-12-15 | 2018-05-15 | 北京经纬恒润科技有限公司 | 一种数据检测方法和装置 |
| CN108153611A (zh) * | 2018-01-10 | 2018-06-12 | 芜湖美的厨卫电器制造有限公司 | 故障自检方法、故障自检装置、微控制器和可读存储介质 |
| CN111613264A (zh) * | 2020-05-26 | 2020-09-01 | 地平线(上海)人工智能技术有限公司 | 电路检测方法和数据检测电路 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61846A (ja) * | 1984-05-28 | 1986-01-06 | Fujitsu Ltd | メモリ内容の正常性試験方法 |
| CN1417682A (zh) * | 2001-11-06 | 2003-05-14 | 华为技术有限公司 | 动态存储器功能测试方法 |
| CN102024502A (zh) * | 2010-12-09 | 2011-04-20 | 福建星网锐捷网络有限公司 | 闪存器件测试方法、装置及板卡和网络设备 |
| CN103021468A (zh) * | 2012-12-21 | 2013-04-03 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 存储器的出错信息记录方法及冗余替代方法 |
-
2013
- 2013-04-26 CN CN201310155649.6A patent/CN103208313B/zh active Active
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61846A (ja) * | 1984-05-28 | 1986-01-06 | Fujitsu Ltd | メモリ内容の正常性試験方法 |
| CN1417682A (zh) * | 2001-11-06 | 2003-05-14 | 华为技术有限公司 | 动态存储器功能测试方法 |
| CN102024502A (zh) * | 2010-12-09 | 2011-04-20 | 福建星网锐捷网络有限公司 | 闪存器件测试方法、装置及板卡和网络设备 |
| CN103021468A (zh) * | 2012-12-21 | 2013-04-03 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 存储器的出错信息记录方法及冗余替代方法 |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103473312A (zh) * | 2013-09-11 | 2013-12-25 | 北京思特奇信息技术股份有限公司 | 一种独立的依据信息获取方法 |
| CN104407929A (zh) * | 2014-12-19 | 2015-03-11 | 重庆川仪自动化股份有限公司 | 一种可变存储器校验的方法及*** |
| CN104407929B (zh) * | 2014-12-19 | 2017-10-24 | 重庆川仪自动化股份有限公司 | 一种可变存储器校验的方法及*** |
| CN107544860A (zh) * | 2017-08-29 | 2018-01-05 | 新华三技术有限公司 | 一种磁盘数据检测方法及装置 |
| CN108037753A (zh) * | 2017-12-15 | 2018-05-15 | 北京经纬恒润科技有限公司 | 一种数据检测方法和装置 |
| CN108037753B (zh) * | 2017-12-15 | 2019-10-15 | 北京经纬恒润科技有限公司 | 一种数据检测方法和装置 |
| CN108021482A (zh) * | 2017-12-28 | 2018-05-11 | 杭州迪普科技股份有限公司 | 一种Boot Loader下检测内存的方法及装置 |
| CN108153611A (zh) * | 2018-01-10 | 2018-06-12 | 芜湖美的厨卫电器制造有限公司 | 故障自检方法、故障自检装置、微控制器和可读存储介质 |
| CN108153611B (zh) * | 2018-01-10 | 2021-02-23 | 芜湖美的厨卫电器制造有限公司 | 故障自检方法、故障自检装置、微控制器和可读存储介质 |
| CN111613264A (zh) * | 2020-05-26 | 2020-09-01 | 地平线(上海)人工智能技术有限公司 | 电路检测方法和数据检测电路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN103208313B (zh) | 2017-04-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN103208313A (zh) | 一种检测方法及*** | |
| US7409623B2 (en) | System and method of reading non-volatile computer memory | |
| KR101317720B1 (ko) | 데이터 엔코딩 시스템 및 방법 | |
| CN102521062B (zh) | 可全面在线自检测单粒子翻转的软件容错方法 | |
| JP4901987B1 (ja) | 記憶装置、電子機器及び誤りデータの訂正方法 | |
| CN102693760B (zh) | Nand快闪存储器的错误校正方法 | |
| CN102541676B (zh) | 一种nand flash的状态检测及映射方法 | |
| CN103578565B (zh) | 一种NAND Flash存储芯片的校验方法及装置 | |
| TWI529735B (zh) | 二次組態記憶體裝置之錯誤更正碼方法與裝置 | |
| US8910018B2 (en) | Memory with dynamic error detection and correction | |
| KR20190003591A (ko) | 통합 패키지 후 복구 | |
| US10248497B2 (en) | Error detection and correction utilizing locally stored parity information | |
| CN103955430A (zh) | 一种闪存存储设备中数据管理的方法及装置 | |
| CN103680639A (zh) | 一种随机存储器的周期性自检错恢复方法 | |
| JP2013117840A (ja) | メモリアクセス制御装置および方法 | |
| CN103092728A (zh) | 一种非易失性内存的磨损错误恢复方法和装置 | |
| CN103218271A (zh) | 一种数据纠错方法及装置 | |
| CN101916306A (zh) | 一种用于fpga芯片敏感区域定位的***及其方法 | |
| CN103257905B (zh) | 一种嵌入式计算机***内存数据校验电路及方法 | |
| CN104809031A (zh) | 操作存储器的方法及存储器装置 | |
| CN101794248A (zh) | 构建多重引导存储结构与备份的方法 | |
| CN104794019B (zh) | 一种嵌入式存储器的数据保护方法及装置 | |
| CN103823637B (zh) | 一种数据处理方法及设备 | |
| CN102866963B (zh) | 控制器数据存储与读取方法 | |
| CN102511040B (zh) | 一种Nand Flash页的检测方法和装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
| CB03 | Change of inventor or designer information |
Inventor after: Han Jianguo Inventor after: He Jianfeng Inventor after: Wu Youfu Inventor after: Zhou Youzheng Inventor after: Hu Xiaoyi Inventor after: Ji Yunfeng Inventor after: Wen Yiming Inventor after: Wei Fuxiang Inventor after: Shen Tiezhi Inventor before: Zhou Youzheng Inventor before: Hu Xiaoyi Inventor before: Ji Yunfeng Inventor before: Wen Yiming Inventor before: Wei Fuxiang |
|
| COR | Change of bibliographic data | ||
| TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20170110 Address after: 310018 Hangzhou City, Zhejiang Province Economic and Technological Development Zone No. 19 North Road No. 1 Applicant after: Helishi Automation Co., Ltd., Hangzhou Applicant after: Shenhua Group Co., Ltd. Address before: 310018 Hangzhou City, Zhejiang Province Economic and Technological Development Zone No. 19 North Road No. 1 Applicant before: Helishi Automation Co., Ltd., Hangzhou |
|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |