CN103164313A - 调试***及方法 - Google Patents

调试***及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103164313A
CN103164313A CN2011104117190A CN201110411719A CN103164313A CN 103164313 A CN103164313 A CN 103164313A CN 2011104117190 A CN2011104117190 A CN 2011104117190A CN 201110411719 A CN201110411719 A CN 201110411719A CN 103164313 A CN103164313 A CN 103164313A
Authority
CN
China
Prior art keywords
module
data
control module
iic
writing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2011104117190A
Other languages
English (en)
Inventor
王康斌
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN2011104117190A priority Critical patent/CN103164313A/zh
Priority to TW100146758A priority patent/TW201324126A/zh
Priority to US13/559,543 priority patent/US20130151902A1/en
Publication of CN103164313A publication Critical patent/CN103164313A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/36Preventing errors by testing or debugging software
    • G06F11/362Software debugging
    • G06F11/3648Software debugging using additional hardware
    • G06F11/3656Software debugging using additional hardware using a specific debug interface

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

一种调试***,所述调试***包括一电脑及一调试装置,所述调试装置包括一IIC读写模块、一第一控制模块及一信号收发模块,所述电脑包括一第二控制模块,所述IIC读写模块用于连接一IIC设备,所述第二控制模块用于通过所述信号收发模块发送一输入的命令给所述第一控制模块,所述第一控制模块用于根据所述命令通过所述IIC读写模块读取或写入数据于所述IIC设备。本发明还提供一种调试方法。

Description

调试***及方法
技术领域
本发明涉及一种调试***及方法,尤指一种基于IIC(Inter-Integrated Circuit)总线的调试***及方法。
背景技术
IIC是一种新型总线标准,具有控制方式简单、通信速率高等优点,近年来在微电子、通信控制及服务器管理等领域被广泛应用。IIC总线主要用于连接微控制器于周边设备以使测试人员可对各周边设备进行读写处理。传统的调试方法是测试人员通过示波器或逻辑分析仪去分析IIC总线中的数据,示波器或逻辑分析仪分析数据非常繁琐,且不便于输入命令来读取或写入于连接的周边设备。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种方便读取或写入数据的调试***及方法。
一种调试***,所述调试***包括一电脑及一调试装置,所述调试装置包括一IIC读写模块、一第一控制模块及一信号收发模块,所述电脑包括一第二控制模块,所述IIC读写模块用于连接一IIC设备,所述第二控制模块用于通过所述信号收发模块发送一输入的命令给所述第一控制模块,所述第一控制模块用于根据所述命令通过所述IIC读写模块读取或写入数据于所述IIC设备。
一实施例中,所述调试装置还包括一第一存储模块,所述电脑还包括一第二存储模块及一显示模块,所述命令为一读命令,所述IIC读写模块用于读取所述数据并存储所述数据于所述第一存储模块中,所述第一控制模块还用于通过所述信号收发模块发送所述数据给所述第二控制模块,所述第二控制模块还用于存储所述数据于所述第二存储模块并显示所述数据于所述显示模块上。
一实施例中,所述IIC读写模块用于在读取完所述数据后发送一读取完成的信号给所述第一控制模块,所述第一控制模块用于在接收到所述读取完成的信号后从所述第一存储模块中获取所述数据并发送给所述第二控制模块。
一实施例中,所述命令为一写命令,所述写命令包括一写指令、一对应所述IIC设备的位址及一写入数据,所述第一控制模块用于写入所述写入数据于所述IIC设备中。
一实施例中,所述电脑还包括一显示模块,所述IIC读写模块还用于在写入所述写入数据于所述IIC设备后发送一写入完成信号给所述第一控制模块,所述第一控制模块还用于将所述写入完成信号通过所述信号收发模块发送给所述第二控制模块,所述第二控制模块还用于显示所述写入完成信号于所述显示模块上。
一实施例中,所述调试装置还包括一连接所述信号收发模块的第一无线模块,所述电脑还包括一连接所述第二控制模块的第二无线模块,所述对应的数据用于通过所述第一无线模块传送给所述第二无线模块。
一种调试方法,应用于一调试***中,所述调试***包括一调试装置及一电脑,所述调试装置连接一IIC设备,所述调试方法包括:
所述电脑发送一输入的读命令给所述调试装置;
所述调试装置根据所述读命令读取所述IIC设备上的数据并存储所述数据;
所述调试装置发送所述数据给所述电脑;
所述电脑存储所述数据并显示所述数据。
一实施例中,所述调试装置通过无线方式发送所述数据给所述电脑。
一实施例中,所述调试装置包括一微控制单元,所述微控制单元从所述IIC设备上读取所述数据。
一实施例中,所述调试装置包括一用于指示所述微控制单元的工作状态的LED灯。
与现有技术相比,在上述***及方法中,电脑将一输入的命令发给调试装置,调试装置根据所述命令对所述IIC设备进行读取或写入,简单方便。
附图说明
图1是本发明较佳实施例调试***的示意图。
图2是本发明较佳实施例读取数据的调试方法的流程图。
图3是本发明较佳实施例写入数据的调试方法的流程图。
主要元件符号说明
调试装置 10
控制芯片 11
IIC读写模块 111
第一存储模块 113
第一控制模块 115
UART模块 117
IIC设备 119
第一无线模块 13
指示模块 15
电脑 20
命令生成模块 21
第二控制模块 23
显示模块 25
第二无线模块 27
第二存储模块 29
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1,本发明较佳实施例调试***包括一调试装置10及一电脑20。
所述调试装置10包括一控制芯片11、一连接所述控制芯片11的第一无线模块13及一连接所述控制芯片11的指示模块15。在一实施例中,所述控制芯片11为一微控制单元(Micro Control Unit,MCU),所述第一无线模块13为型号PRT2000的IC芯片,所述指示模块15为一LED(light-emitting diode)灯。所述指示模块15用于指示所述控制芯片11的工作状态。
所述控制芯片11包括一IIC读写模块111、一第一存储模块113、一第一控制模块115及一信号收发模块。在一实施例中,所述信号收发模块可以为一UART模块(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter,通用异步收发模块)117,所述第一存储模块113为一双口随机存储器(DPRAM)。所述IIC读写模块111用于连接一个或多个IIC设备119,例如,温度传感器。所述IIC读写模块111用于在接收到一读命令时,从IIC设备119中读取数据并存储在所述第一存储模块113中。
所述电脑20包括一命令生成模块21、一第二控制模块23、一显示模块25、一第二无线模块27及一第二存储模块29。在一实施例中,所述第二控制模块23为一中央处理器,所述显示模块25为一液晶显示器(LCD),所述第二存储模块29为一硬盘。所述第二无线模块27与所述第一无线模块13之间用于传输信号。检修人员通过一写入装置,例如键盘,写入读命令或写命令于所述命令生成模块21中,所述读命令包括一读指令及一IIC设备位址,所述写命令包括一写指令、一IIC设备位址及写入数据。
请参阅图1及图2,本发明的读取数据的调试方法包括如下步骤:
S201,所述电脑20将一读命令通过所述第二无线模块27发送给所述调试装置10的第一无线模块13。所述第一无线模块13将所述读命令传送给所述UART模块117,所述UART模块117将所述读命令传送给所述第一控制模块115;
S202,所述调试装置10的第一控制模块115根据所读命令从所述第一存储模块113中读取对应所述命令的数据;在本实施例中,所述IIC读写模块111读取完所述数据并存储于所述第一存储模块113中,然后发送一读取完成的信号给所述第一控制模块115,所述第一控制模块115在接收到所述读取完成的信号后从所述第一存储模块113中获取所述数据;
S203,所述调试装置10的第一控制模块115将所述数据通过所述UART模块117及所述第一无线模块13发送给所述电脑20的第二无线模块27,所述第二无线模块27将所述数据发送给所述电脑20的第二控制模块23。
S204,所述电脑的第二控制模块23存储所述数据于所述第二存储模块29并将所述数据显示于所述显示模块25上。
请参阅图1及图3,本发明的写数据的调试方法包括如下步骤:
S301,所述电脑20将一写命令通过所述第二无线模块27发送给所述调试装置10的第一无线模块13。所述第一无线模块13将所述写命令传送给所述UART模块117,所述UART模块117将所述写命令传送给所述第一控制模块115;
S302,所述调试装置10的第一控制模块115根据所述写命令将所述写命令中的写入数据通过所述IIC读写模块111写入所述IIC设备119中;
S303,所述IIC读写模块111将所述写入数据写入所述IIC设备119后发送一写入完成信号给所述第一控制模块115,所述第一控制模块115将所述写入完成信号通过所述UART模块117及所述第一无线模块13发送给所述电脑20的第二无线模块27,所述第二无线模块27将所述写入完成信号发送给所述电脑20的第二控制模块23。
S304,所述电脑的第二控制模块23显示所述写入完成信号于所述显示模块25上。
对本领域的技术人员来说,可以根据本发明的发明方案和发明构思结合生产的实际需要做出其他相应的改变或调整,而这些改变和调整都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种调试***,所述调试***包括一电脑及一调试装置,其特征在于:所述调试装置包括一IIC读写模块、一第一控制模块及一信号收发模块,所述电脑包括一第二控制模块,所述IIC读写模块用于连接一IIC设备,所述第二控制模块用于通过所述信号收发模块发送一输入的命令给所述第一控制模块,所述第一控制模块用于根据所述命令通过所述IIC读写模块读取或写入数据于所述IIC设备。
2.如权利要求1所述的调试***,其特征在于:所述调试装置还包括一第一存储模块,所述电脑还包括一第二存储模块及一显示模块,所述命令为一读命令,所述IIC读写模块用于读取所述数据并存储所述数据于所述第一存储模块中,所述第一控制模块还用于通过所述信号收发模块发送所述数据给所述第二控制模块,所述第二控制模块还用于存储所述数据于所述第二存储模块并显示所述数据于所述显示模块上。
3.如权利要求2所述的调试***,其特征在于:所述IIC读写模块用于在读取完所述数据后发送一读取完成的信号给所述第一控制模块,所述第一控制模块用于在接收到所述读取完成的信号后从所述第一存储模块中获取所述数据并发送给所述第二控制模块。
4.如权利要求1所述的调试***,其特征在于:所述命令为一写命令,所述写命令包括一写指令、一对应所述IIC设备的位址及一写入数据,所述第一控制模块用于写入所述写入数据于所述IIC设备中。
5.如权利要求4所述的调试***,其特征在于:所述电脑还包括一显示模块,所述IIC读写模块还用于在写入所述写入数据于所述IIC设备后发送一写入完成信号给所述第一控制模块,所述第一控制模块还用于将所述写入完成信号通过所述信号收发模块发送给所述第二控制模块,所述第二控制模块还用于显示所述写入完成信号于所述显示模块上。
6.如权利要求1所述的调试***,其特征在于:所述调试装置还包括一连接所述信号收发模块的第一无线模块,所述电脑还包括一连接所述第二控制模块的第二无线模块,所述对应的数据用于通过所述第一无线模块传送给所述第二无线模块。
7.一种调试方法,应用于一调试***中,所述调试***包括一调试装置及一电脑,所述调试装置连接一IIC设备,其特征在于:所述调试方法包括:
所述电脑发送一输入的读命令给所述调试装置;
所述调试装置根据所述读命令读取所述IIC设备上的数据并存储所述数据;
所述调试装置发送所述数据给所述电脑;
所述电脑存储所述数据并显示所述数据。
8.如权利要求7所述的调试方法,其特征在于:所述调试装置通过无线方式发送所述数据给所述电脑。
9.如权利要求7所述的调试方法,其特征在于:所述调试装置包括一微控制单元,所述微控制单元从所述IIC设备上读取所述数据。
10.如权利要求9所述的调试方法,其特征在于:所述调试装置包括一用于指示所述微控制单元的工作状态的LED灯。
CN2011104117190A 2011-12-12 2011-12-12 调试***及方法 Pending CN103164313A (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2011104117190A CN103164313A (zh) 2011-12-12 2011-12-12 调试***及方法
TW100146758A TW201324126A (zh) 2011-12-12 2011-12-16 調試系統及方法
US13/559,543 US20130151902A1 (en) 2011-12-12 2012-07-26 Debug system and method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2011104117190A CN103164313A (zh) 2011-12-12 2011-12-12 调试***及方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN103164313A true CN103164313A (zh) 2013-06-19

Family

ID=48573188

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2011104117190A Pending CN103164313A (zh) 2011-12-12 2011-12-12 调试***及方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20130151902A1 (zh)
CN (1) CN103164313A (zh)
TW (1) TW201324126A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103440216A (zh) * 2013-08-22 2013-12-11 深圳市汇顶科技股份有限公司 一种通过i2c从设备调试mcu的芯片及方法
CN104407956A (zh) * 2014-12-03 2015-03-11 天津大学 通过串口调试的iic总线实验装置

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105808469B (zh) * 2016-03-21 2018-12-25 北京小米移动软件有限公司 数据处理方法、装置、终端及智能设备
CN106598873A (zh) * 2017-01-11 2017-04-26 深圳市博巨兴实业发展有限公司 一种实现mcu芯片的用户调试模式的方案

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IN155448B (zh) * 1980-03-19 1985-02-02 Int Computers Ltd
US4899306A (en) * 1985-08-26 1990-02-06 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories Test interface circuit which generates different interface control signals for different target computers responding to control signals from host computer
US5404526A (en) * 1992-10-20 1995-04-04 Dosch; Daniel G. Improved method for accessing machine state information
US6957180B1 (en) * 2001-11-15 2005-10-18 Cypress Semiconductor Corp. System and a method for communication between an ICE and a production microcontroller while in a halt state
US7650542B2 (en) * 2004-12-16 2010-01-19 Broadcom Corporation Method and system of using a single EJTAG interface for multiple tap controllers
CN100458722C (zh) * 2005-12-12 2009-02-04 深圳艾科创新微电子有限公司 一种通过pc对i2c接口器件进行调试的***及方法
US8010843B2 (en) * 2005-12-14 2011-08-30 American Megatrends, Inc. System and method for debugging a target computer using SMBus
KR100801759B1 (ko) * 2005-12-29 2008-02-11 엠텍비젼 주식회사 슬레이브의 디버깅 방법 및 시스템
US8154759B2 (en) * 2007-05-15 2012-04-10 Ricoh Company, Ltd. Image forming apparatus, image forming method and computer readable information recording medium
US8176310B2 (en) * 2009-06-19 2012-05-08 Phoenix Technologies Ltd. Debugger application configured to communicate with a debugger module via a GPIO
CN201518128U (zh) * 2009-07-27 2010-06-30 青岛海信电器股份有限公司 一种软件升级及调试工具
US8479054B2 (en) * 2010-04-21 2013-07-02 Nintendo Of America Inc. SD card memory tool
US8436587B2 (en) * 2010-05-05 2013-05-07 Ove T. Aanensen Bipolar overvoltage battery pulser and method
US9477634B2 (en) * 2010-06-04 2016-10-25 Intersil Americas LLC I2C address translation
CN102033807B (zh) * 2010-12-17 2013-08-07 青岛海信信芯科技有限公司 Soc芯片调试设备、方法及装置
CN202110533U (zh) * 2011-06-09 2012-01-11 深圳市同洲电子股份有限公司 一种多接口软件调试工具
US8639981B2 (en) * 2011-08-29 2014-01-28 Apple Inc. Flexible SoC design verification environment
US10296433B2 (en) * 2012-06-01 2019-05-21 Litepoint Corporation Method for transferring and confirming transfer of predefined data to a device under test (DUT) during a test sequence

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103440216A (zh) * 2013-08-22 2013-12-11 深圳市汇顶科技股份有限公司 一种通过i2c从设备调试mcu的芯片及方法
CN104407956A (zh) * 2014-12-03 2015-03-11 天津大学 通过串口调试的iic总线实验装置

Also Published As

Publication number Publication date
TW201324126A (zh) 2013-06-16
US20130151902A1 (en) 2013-06-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9159451B2 (en) Testing system and testing method thereof
CN104239169A (zh) 信号测试卡及方法
CN102270167A (zh) 主板多硬盘端口测试***与方法
CN103076858A (zh) 扩展卡及支持所述扩展卡的主板
CN103605359A (zh) 汽车诊断***和方法
CN203260029U (zh) 基于fpga的***芯片原型验证调试装置
CN101739322B (zh) 嵌入式***的测试装置及方法
CN102736014A (zh) Usb接口测试装置
CN103164313A (zh) 调试***及方法
CN103856364A (zh) 总线信号监测装置及方法
CN102053898A (zh) 针对主机pcie插槽上总线接口的测试方法及其读写测试方法
CN103517085A (zh) 一种基于视频解码设计实现远程服务器管理的方法
CN102214108A (zh) 一种闪存存储设备的量产装置及量产方法
CN103164308A (zh) 调试***及方法
CN105573947B (zh) 一种基于apb总线的sd/mmc卡控制方法
CN104123246A (zh) 接口扩展装置及串行连接接口扩展器
CN203133695U (zh) 一种基于ast2300 控制芯片的bmc卡
CN113204456A (zh) 一种服务器vpp接口的测试方法、治具、装置及设备
CN103164307A (zh) 调试***及方法
CN105094886A (zh) 一种从pc机烧录序列号至含rs485总线的下位机的装置和方法
CN104572515B (zh) 跟踪模块、方法、***和片上***芯片
CN102568602B (zh) 闪速存储器发展***
CN103366830A (zh) 存储卡的测试装置
CN114443404B (zh) 一种ocp接口测试用板卡、测试***及测试方法
TWI507696B (zh) 輸入資料的測試系統及其測試方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20130619