CN103163488A - 电压测试装置 - Google Patents

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陈应飞
陈元喜
李辉
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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    • G01R31/40—Testing power supplies

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Abstract

本发明提供一种电压测试装置，包括测试电路及示波器，该测试电路包括滤波单元、整流单元及分压单元，所述滤波单元用以接收一待测的交流电压，并滤除该交流电压中的高频杂波及干扰信号，该整流单元连接至滤波单元，用以接收来自滤波单元的交流电压，并将所述交流电压转换为一第一直流电压输出，所述分压单元连接至所述整流单元，用以将所述第一直流电压转换为一第二直流电压输出，所述示波器用以测试并显示该第二直流电压值。本发明的电压测试装置通过将对交流电压的测试转换为对直流电压的测试，并传送至示波器进行显示，其结构较简单，测试方便，且可有效降低测试成本。

Description

电压测试装置
技术领域
本发明关于一种测试装置，尤其涉及一种在电脑***中测试电源供应器的电气参数的电压测试装置。
背景技术
在电脑主机中一般安装了电源供应器（power supply unit，PSU），用于将交流电转换为不同电压的稳定直流电压，以供电脑主机中各零组件使用。在对PSU的性能进行测试时，一般需要对输入至PSU的交流电压进行测试。例如，测试当所述PSU分别处于开、关状态时，所述交流电源输出的交流电压值及该交流电源的裕量。然而，现有技术中，一般是利用现有的测试设备，例如ATE测试机对该输入至PSU的交流电压进行测试。显然，该ATE测试机占用空间较大，移动不便，且价格昂贵，不利于测试成本的降低。
发明内容
针对上述问题，有必要提供一种可对输入至PSU的交流电压进行有效测试且成本较低的电压测试装置。
一种电压测试装置，包括示波器；该电压测试装置包括测试电路，该测试电路包括滤波单元、整流单元及分压单元，所述滤波单元用以接收一待测的交流电压，并滤除该交流电压中的高频杂波及干扰信号，该整流单元连接至滤波单元，用以接收来自滤波单元的交流电压，并将所述交流电压转换为一第一直流电压输出，所述分压单元连接至所述整流单元，用以将所述第一直流电压转换为一第二直流电压输出，所述示波器连接至所述分压单元，用以测试并显示该第二直流电压值。
上述电压测试装置将对输入至PSU的交流电压的测试转换为对直流电压的测试，并传送至示波器进行显示，其结构较简单，测试方便，且可有效降低测试成本。
附图说明
图1为本发明较佳实施方式的电压测试装置的功能框图。
图2为图1所示电压测试装置中测试电路的电路图。
图3为图1所示电压测试装置中壳体的示意图。
主要元件符号说明
电压测试装置 100
交流电源 200
PSU 300
接口 11
测试电路 13
滤波单元 131
整流单元 133
分压单元 135
第一测试端 out1
第二测试端 out2
示波器 15
测试探针 151
接地探针 152
壳体 17
第一二极管 D1
第二二极管 D2
第三二极管 D3
第四二极管 D4
电容 C1
第一电阻 R1
第二电阻 R2
第三电阻 R3
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1，本发明较佳实施方式提供一种电压测试装置100，连接至一交流电源200，该交流电源200连接至一电源供应器（power supply unit，PSU）300，用以为该PSU300提供一交流电压。该电压测试装置100用于对交流电源200输出的所述交流电压进行测试。
该电压测试装置100包括接口11、测试电路13、第一测试端out1、第二测试端out2及示波器15。
该接口11可以为一插头，用以插设于该交流电源200上，以接收该交流电源200输出的交流电压。
请一并参阅图2，该测试电路13包括滤波单元131、整流单元133及分压单元135。该滤波单元131可以为滤波器或具有滤波功能的滤波电路。该滤波单元131连接至该接口11，用以通过该接口11连接至该交流电源200，进而滤除该交流电压中的高频杂波及干扰信号。
所述整流单元133连接至该滤波单元131，用以接收来自滤波单元131的交流电压，并将所述交流电压转换为一第一直流电压输出。在本实施例中，所述整流单元133为一桥式电路，包括首尾相连的第一二极管D1、第二二极管D2、第三二极管D3及第四二极管D4。所述第一二极管D1及第二二极管D2之间的连接节点电性连接至所述滤波单元131的其中一输出端。所述第三二极管D3及第四二极管D4之间的连接节点电性连接所述滤波单元131的另一输出端。所述第二二极管D2及第三二极管D3之间的连接节点连接至所述分压单元135，用于输出所述第一直流电压。所述第一二极管D1及第四二极管D4之间的连接节点接地。
可以理解，该第二二极管D2及第三二极管D3之间的连接节点还通过一电容C1接地。该电容C1用以与该滤波单元131相配合，使得所述整流单元133输出较为纯净的第一直流电压。在本实施例中，所述电容C1容量大小为1μF。
所述分压单元135接收来自所述整流单元133输出的第一直流电压，并将所述第一直流电压转换为一第二直流电压输出。具体地，该分压单元135包括第一电阻R1、第二电阻R2及第三电阻R3。该第一电阻R1的一端连接至该第二二极管D2及第三二极管D3之间的连接节点，该第一电阻R1的另一端通过串联的第二电阻R2及第三电阻R3接地。
该第一测试端out1连接至该第一电阻R1及第二电阻R2之间，该第二测试端out2接地。
请一并参阅图3，在本实施例中，该示波器15上的测试探针151及接地探针152可分别连接至该第一测试端out1及第二测试端out2上，用以测得所述第二直流电压的值，并显示于该示波器15上。
可以理解，该电压测试装置100还包括壳体17，该接口11、第一测试端out1及第二测试端out2均设置在所述壳体17的表面。该测试电路13则设置在该壳体17的内部，用于防止操作者因为交流电暴露在外而触电。
该电压测试装置100工作时，先将测试电路13放置于所述壳体17内，并与该接口11、第一测试端out1及第二测试端out2建立电性连接。接着，通过所述接口11将所述电压测试装置100连接至该交流电源200，并将所述示波器15上的测试探针151及接地探针152分别连接至该第一测试端out1及第二测试端out2上。所述滤波单元131将接收到的交流电压进行滤波处理后，传送至所述整流单元133。该整流单元133将该交流电压转换为第一直流电压                                               
Figure 2011104237135100002DEST_PATH_IMAGE001
。该第一直流电压
Figure 543362DEST_PATH_IMAGE001
满足下列公式（1）：
（1）
其中，
Figure 2011104237135100002DEST_PATH_IMAGE003
代表该交流电压的有效值。
该分压单元135再将所述第一直流电压
Figure 212241DEST_PATH_IMAGE001
转换为第二直流电压
Figure 2011104237135100002DEST_PATH_IMAGE004
输出。该第二直流电压
Figure 143288DEST_PATH_IMAGE004
满足下列公式（2）：
Figure 2011104237135100002DEST_PATH_IMAGE005
（2）
将上述公式（1）代入公式（2），可获得公式（3）：
Figure 2011104237135100002DEST_PATH_IMAGE006
（3）
因此，通过选择具有相应阻值的第一电阻R1、第二电阻R2及第三电阻R3，且使得该第一电阻R1、第二电阻R2及第三电阻R3的阻值满足公式（4）：
Figure 2011104237135100002DEST_PATH_IMAGE007
（4）
则可使得该第二直流电压
Figure 835300DEST_PATH_IMAGE004
等于该交流电压的有效值
Figure 572312DEST_PATH_IMAGE003
。如此，可将所述交流电源200输出的交流电压转换为相应的直流电压，进而传送至所述示波器15上进行显示。
显然，本发明的电压测试装置100在使用时，仅需选择具有相应阻值的第一电阻R1、第二电阻R2及第三电阻R3，并使得第一电阻R1、第二电阻R2及第三电阻R3的阻值之间满足一定的关系，便可将对该输入至PSU300的交流电压的测试转换为对直流电压的测试，并传送至示波器15进行显示，其结构较简单，测试方便，且可有效降低测试成本。

Claims (9)

1.一种电压测试装置，包括示波器；其特征在于：该电压测试装置包括测试电路，该测试电路包括滤波单元、整流单元及分压单元，所述滤波单元用以接收一待测的交流电压，并滤除该交流电压中的高频杂波及干扰信号，该整流单元连接至滤波单元，用以接收来自滤波单元的交流电压，并将所述交流电压转换为一第一直流电压输出，所述分压单元连接至所述整流单元，用以将所述第一直流电压转换为一第二直流电压输出，所述示波器连接至所述分压单元，用以测试并显示该第二直流电压值。
2.如权利要求1所述的电压测试装置，其特征在于：所述电压测试装置包括接口，分别连接至一交流电源及滤波单元，用于接收所述交流电源输出的交流电压，并输出至所述滤波单元。
3.如权利要求1所述的电压测试装置，其特征在于：所述整流单元为一桥式电路，包括首尾相连的第一二极管、第二二极管、第三二极管及第四二极管，所述第一二极管及第二二极管之间的连接节点电性连接至所述滤波单元的其中一输出端，所述第三二极管及第四二极管之间的连接节点电性连接所述滤波单元的另一输出端，所述第二二极管及第三二极管之间的连接节点连接至所述分压单元，用于输出所述第一直流电压，所述第一二极管及第四二极管之间的连接节点接地。
4.如权利要求3所述的电压测试装置，其特征在于：所述第二二极管及第三二极管之间的连接节点还通过一电容接地。
5.如权利要求4所述的电压测试装置，其特征在于：所述电容的容量大小为1μF。
6.如权利要求3所述的电压测试装置，其特征在于：所述分压单元包括第一电阻、第二电阻及第三电阻，该第一电阻的一端连接至该第二二极管及第三二极管之间的连接节点，该第一电阻的另一端通过串联的第二电阻及第三电阻接地。
7.如权利要求6所述的电压测试装置，其特征在于：所述第一电阻的阻值R1、第二电阻的阻值R2及第三电阻的阻值R3的数值满足等式                                               
Figure 2011104237135100001DEST_PATH_IMAGE001
。
8.如权利要求6所述的电压测试装置，其特征在于：所述电压测试装置包括第一测试端及第二测试端，该第一测试端连接至该第一电阻及第二电阻之间，该第二测试端接地，该示波器的测试探针及接地探针分别连接至该第一测试端及第二测试端上。
9.如权利要求8所述的电压测试装置，其特征在于：所述电压测试装置还包括壳体，该接口、第一测试端及第二测试端均设置在所述壳体的表面，该测试电路设置在该壳体的内部。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110488205A (zh) * 2018-10-24 2019-11-22 新华三技术有限公司 一种故障识别装置
CN114740297A (zh) * 2022-04-12 2022-07-12 湖南炬神电子有限公司 一种功率器件测试方法及***

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3400320A (en) * 1965-12-14 1968-09-03 Automatic Elect Lab Converter having diode rectifiers in a feedback voltage divider circuit for temperature compensation
US6169406B1 (en) * 1998-05-02 2001-01-02 Stanley G. Peschel Very low frequency high voltage sinusoidal electrical testing method, systems and apparatus

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110488205A (zh) * 2018-10-24 2019-11-22 新华三技术有限公司 一种故障识别装置
WO2020083061A1 (zh) * 2018-10-24 2020-04-30 新华三技术有限公司 故障识别
US11719757B2 (en) 2018-10-24 2023-08-08 New H3C Technologies Co., Ltd. Fault recognition
CN114740297A (zh) * 2022-04-12 2022-07-12 湖南炬神电子有限公司 一种功率器件测试方法及***
CN114740297B (zh) * 2022-04-12 2022-12-02 湖南炬神电子有限公司 一种功率器件测试方法及***

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