CN103162823A - 一种多工位全自动激光功率测试方法及*** - Google Patents

一种多工位全自动激光功率测试方法及*** Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种多工位全自动激光功率测试方法及***，包括：一个或多个激光器、与所述激光器分别一一相对应的主电控制电路板、分光镜和继电器；所述主电控制电路板接收与其相对应的所述分光镜反射来的所述激光器的激光，并对反射来的激光进行分析判断，当确定反射来的激光出现异常时，则通过所述继电器控制所述激光器的电源关闭，通过该方法操作人员不需要亲自对激光器进行监控，从而减少了操作人员受辐射的几率，且通过主电控制电路板对反射来的激光进行分析判断基本不存在漏报的可能性，大大提高了测试效率。

Description

一种多工位全自动激光功率测试方法及***
技术领域
本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种多工位全自动激光功率测试方法及***。
背景技术
在激光器搭建完成时，需要进行拷机测试，以排除早期失效，尽早进入激光器的稳定工作期；或者在激光器寿命测试试验中，需要对激光器进行长时间连续工作，并记录相应的数据。若按通常方法，常常是采用人工用光功率计一台台进行测试，操作人员必须亲自对激光器进行监控。从而造成操作人员长时间处于激光环境中，容易影响身体健康，而且不易及时发现故障，效率低。
发明内容
鉴于上述的分析，本发明旨在提供一种多工位全自动激光功率测试方法及***，用以解决上述问题。
本发明的目的主要是通过以下技术方案实现的：
一种多工位全自动激光功率测试***，包括：一个或多个激光器、与所述激光器分别一一相对应的主电控制电路板、分光镜和继电器；
所述激光器，用于发出激光光束；
所述主电控制电路板，用于接收与其相对应的分光镜反射来的所述激光器的激光，并对所述激光进行分析判断，当确定所述激光出现异常时，则触发所述继电器；
所述继电器，用于关闭所述激光器的电源。
优选地，所述主电控制电路板包括：硅光电探测电路和脉冲检测电路；
所述硅光电探测电路，用于将所述分光镜反射来的所述激光器的激光的光信号转化为电信号，并发送给所述脉冲检测电路；
所述脉冲检测电路，用于接收所述硅光电探测电路发送来的电信号，将所述光信号进一步转化为高电平信号，并对转化后的高电平信号进行分析判断，当确定所述高电平信号出现异常时，则触发所述继电器。
优选地，所述主电控制电路板还包括：加电控制按键电路；
所述加电控制按键电路，用于控制所述主电控制电路板工作与否。
优选地，还包括：电动平移台、控制器和与所述激光器分别一一相对应的光功率计；
所述控制器，用于间隔预定的测试时间控制所述电动平移台上的所述光功率计分别读取所述光功率计所对应的分束镜透射来的所述激光器的激光，并对透射过来的激光的功率进行记录、分析和判断，如果确定某一台激光器发出的激光出现异常，则触发所述继电器；
所述光功率计，用于读取与其相对应的分束镜透射来的所述激光器发出的透射激光，并将透射来的所述激光的功率发送给所述控制器。
优选地，所述控制器还用于，控制所述电动平移台移动使所述分光镜透射来的激光到达与所述分光镜相对应的光功率计上。
本发明还提供了一种多工位全自动激光功率测试方法，该方法应用一种多工位全自动激光功率测试***，该***包括：一个或多个激光器、与所述激光器分别一一相对应的主电控制电路板、分光镜和继电器；
该方法包括：
所述主电控制电路板接收与其相对应的分光镜反射来的所述激光器的激光，并对反射来的激光进行分析判断，当确定反射来的激光出现异常时，则通过所述继电器关闭所述激光器的电源。
优选地，所述主电控制电路板包括：硅光电探测电路和脉冲检测电路；
所述硅光电探测电路将所述分光镜反射来的所述激光器的激光的光信号转化为电信号，并发送给所述脉冲检测电路；
所述脉冲检测电路接收所述硅光电探测电路发送来的电信号，将所述电信号进一步转化为高电平信号，并对转化后的高电平信号进行分析判断，当确定所述高电平信号出现异常时，则控制所述激光器的电源关闭。
优选地，所述主电控制电路板还包括：加电控制按键电路；
通过所述加电控制按键电路控制所述主电控制电路板工作与否。
优选地，还包括：电动平移台、控制器和与所述激光器分别一一相对应的光功率计；
所述控制器间隔预定的测试时间控制所述电动平移台上的所述光功率计分别读取所述光功率计所对应的分束镜透射来的所述激光器的激光，并对该激光的功率进行记录、分析和判断，如果确定某一台激光器发出的激光出现异常，则控制该激光器的电源关闭。
优选地，所述控制器控制所述电动平移台移动使所述分光镜透射来的激光到达与所述分光镜相对应的光功率计上。
本发明有益效果如下：
本发明提供了一种多工位全自动激光功率测试方法及***，通过分光镜将激光器发出的激光反射到主电控制电路板上，经主电控制电路板对反射来的激光进行分析判断，当确定所述激光出现异常时，则触发所述继电器关闭所述激光器的电源，通过该方法操作人员不需要亲自对激光器进行监控，从而减少了操作人员受辐射的几率，且通过主电控制电路板对反射来的激光进行分析判断基本不存在漏报的可能性，大大提高了测试效率，本发明实施例还通过控制器记录、分析和判断所述激光器的激光是否出现异常，如果确定某一台激光器发出的激光出现异常，则控制该激光器的电源关闭，保证同时对多台激光器同时进行全自动的功率测试，且实时反映激光器的工作状态。
本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分的从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
图1为本发明实施例1和2中的多工位全自动激光功率测试***示意图；
图2为本发明实施例1和2中的主电控制电路板示意图。
具体实施方式
下面结合附图来具体描述本发明的优选实施例，其中，附图构成本申请一部分，并与本发明的实施例一起用于阐释本发明的原理。为了清楚和简化目的，当其可能使本发明的主题模糊不清时，将省略本文所描述的器件中已知功能和结构的详细具体说明。
实施例1
本发明实施例提供了一种多工位全自动激光功率测试方法，该方法应用一种多工位全自动激光功率测试***，参见图1，该***包括：一个或多个激光器、与所述激光器分别一一相对应的主电控制电路板、分光镜和继电器；
所述主电控制电路板接收与其相对应的所述分光镜反射来的所述激光器的激光，并对反射来的激光进行分析判断，当确定反射来的激光出现异常时，则通过所述继电器控制所述激光器的电源关闭。
其中，所述主电控制电路板包括：硅光电探测电路和脉冲检测电路，参见图2；
所述硅光电探测电路将所述分光镜反射来的激光的光信号转化为电信号，并发送给所述脉冲检测电路；
所述脉冲检测电路接收所述硅光电探测电路发送来的电信号，将所述电信号进一步转化为高电平信号，并对转化后的高电平信号进行分析判断，当确定所述高电平信号出现异常时，则控制所述激光器的电源关闭。
本发明实施例中脉冲检测电路通过将激光器发出的激光对应的高电平信号的电压与实际采集到的激光器的激光对应的高电平信号的电压进行比较，当二者不同时，则确定该激光器的高电平信号出现异常，此时控制所述激光器的电源关闭。
本发明实施例中的所述主电控制电路板还包括：加电控制按键电路；
通过所述加电控制按键电路控制所述主电控制电路板工作与否。
还包括：电动平移台、控制器和与所述激光器分别一一相对应的光功率计；
所述控制器间隔预定的测试时间控制所述电动平移台上的所述光功率计分别读取所述光功率计各自对应的所述分束镜透射来的所述激光器的激光，并对该激光的功率进行记录、分析和判断，如果确定某一台激光器发出的激光出现异常，则控制该激光器的电源关闭。
其中，所述控制器控制所述电动平移台移动使所述分光镜透射来的激光能够到达与所述分光镜相对应的所述光功率计上。
本发明实施例提供的一种多工位全自动激光功率测试方法，通过分光镜将激光器发出的激光反射到主电控制电路板上，经主电控制电路板对反射来的激光进行分析判断，当确定所述激光出现异常时，则触发所述继电器关闭所述激光器的电源，通过该方法操作人员不需要亲自对激光器进行监控，从而减少了操作人员受辐射的几率，且通过主电控制电路板对反射来的激光进行分析判断基本不存在漏报的可能性，大大提高了测试效率，本发明实施例还通过控制器记录、分析和判断所述激光器的激光是否出现异常，如果确定某一台激光器发出的激光出现异常，则控制该激光器的电源关闭，保证同时对多台激光器同时进行全自动的功率测试，且实时反映激光器的工作状态。
实施例2
本发明实施例提供了一种多工位全自动激光功率测试***，参见图1，该***包括：一个或多个激光器、与所述激光器分别一一相对应的主电控制电路板、分光镜和继电器；
所述激光器，用于发出激光光束；
所述主电控制电路板，用于接收与其相对应的分光镜反射来的所述激光器的激光，并对所述激光进行分析判断，当确定所述激光出现异常时，则触发所述继电器；
所述继电器，用于关闭所述激光器的电源。
优选地，所述主电控制电路板包括：硅光电探测电路和脉冲检测电路，参见图2；
所述硅光电探测电路，用于将所述分光镜反射来的所述激光器的激光的光信号转化为电信号，并发送给所述脉冲检测电路；
所述脉冲检测电路，用于接收所述硅光电探测电路发送来的电信号，将所述光信号进一步转化为高电平信号，并对转化后的高电平信号进行分析判断，当确定所述高电平信号出现异常时，则触发所述继电器。
所述主电控制电路板还包括：加电控制按键电路；
所述加电控制按键电路，用于控制所述主电控制电路板工作与否。
该***还包括：电动平移台、控制器和与所述激光器分别一一相对应的光功率计；
所述控制器，用于间隔预定的测试时间控制所述电动平移台上的所述光功率计分别读取所述光功率计所对应的分束镜透射来的所述激光器的激光，并对透射过来的激光的功率进行记录、分析和判断，如果确定某一台激光器发出的激光出现异常，则触发所述继电器，并控制所述电动平移台移动使所述分光镜透射来的激光到达与所述分光镜相对应的光功率计上。
所述光功率计，用于读取与其相对应的分束镜透射来的所述激光器发出的透射激光，并将透射来的所述激光的功率发送给所述控制器。
综上所述，本发明实施例提供了一种多工位全自动激光功率测试方法及***，通过分光镜将激光器发出的激光反射到主电控制电路板上，经主电控制电路板对反射来的激光进行分析判断，当确定所述激光出现异常时，则触发所述继电器关闭所述激光器的电源，通过该方法操作人员不需要亲自对激光器进行监控，从而减少了操作人员受辐射的几率，且通过主电控制电路板对反射来的激光进行分析判断基本不存在漏报的可能性，大大提高了测试效率，本发明实施例还通过控制器记录、分析和判断所述激光器的激光是否出现异常，如果确定某一台激光器发出的激光出现异常，则控制该激光器的电源关闭，保证同时对多台激光器同时进行全自动的功率测试，且实时反映激光器的工作状态。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种多工位全自动激光功率测试***，其特征在于，包括：一个或多个激光器、与所述激光器分别一一相对应的主电控制电路板、分光镜和继电器；
所述激光器，用于发出激光光束；
所述主电控制电路板，用于接收与其相对应的分光镜反射来的所述激光器的激光，并对所述激光进行分析判断，当确定所述激光出现异常时，则触发所述继电器；
所述继电器，用于关闭所述激光器的电源。
2.根据权利要求1所述的***，其特征在于，所述主电控制电路板包括：硅光电探测电路和脉冲检测电路；
所述硅光电探测电路，用于将所述分光镜反射来的所述激光器的激光的光信号转化为电信号，并发送给所述脉冲检测电路；
所述脉冲检测电路，用于接收所述硅光电探测电路发送来的电信号，将所述光信号进一步转化为高电平信号，并对转化后的高电平信号进行分析判断，当确定所述高电平信号出现异常时，则触发所述继电器。
3.根据权利要求2所述的***，其特征在于，所述主电控制电路板还包括：加电控制按键电路；
所述加电控制按键电路，用于控制所述主电控制电路板工作与否。
4.根据权利要求1-3任意一项所述的***，其特征在于，还包括：电动平移台、控制器和与所述激光器分别一一相对应的光功率计；
所述控制器，用于间隔预定的测试时间控制所述电动平移台上的所述光功率计分别读取所述光功率计所对应的分束镜透射来的所述激光器的激光，并对透射过来的激光的功率进行记录、分析和判断，如果确定某一台激光器发出的激光出现异常，则触发所述继电器；
所述光功率计，用于读取与其相对应的分束镜透射来的所述激光器发出的透射激光，并将透射来的所述激光的功率发送给所述控制器。
5.根据权利要求4所述的***，其特征在于，
所述控制器还用于，控制所述电动平移台移动使所述分光镜透射来的激光到达与所述分光镜相对应的光功率计上。
6.一种多工位全自动激光功率测试方法，其特征在于，应用一种多工位全自动激光功率测试***，该***包括：一个或多个激光器、与所述激光器分别一一相对应的主电控制电路板、分光镜和继电器；
多工位全自动激光功率测试方法包括：
所述主电控制电路板接收与其相对应的分光镜反射来的所述激光器的激光，并对反射来的激光进行分析判断，当确定反射来的激光出现异常时，则通过所述继电器关闭所述激光器的电源。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述主电控制电路板包括：硅光电探测电路和脉冲检测电路；
所述硅光电探测电路将所述分光镜反射来的所述激光器的激光的光信号转化为电信号，并发送给所述脉冲检测电路；
所述脉冲检测电路接收所述硅光电探测电路发送来的电信号，将所述电信号进一步转化为高电平信号，并对转化后的高电平信号进行分析判断，当确定所述高电平信号出现异常时，则控制所述激光器的电源关闭。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述主电控制电路板还包括：加电控制按键电路；
通过所述加电控制按键电路控制所述主电控制电路板工作与否。
9.根据权利要求6-8任意一项所述的方法，其特征在于，还包括：电动平移台、控制器和与所述激光器分别一一相对应的光功率计；
所述控制器间隔预定的测试时间控制所述电动平移台上的所述光功率计分别读取所述光功率计所对应的分束镜透射来的所述激光器的激光，并对该激光的功率进行记录、分析和判断，如果确定某一台激光器发出的激光出现异常，则控制该激光器的电源关闭。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述控制器控制所述电动平移台移动使所述分光镜透射来的激光到达与所述分光镜相对应的光功率计上。
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