CN103135077A - 探测磁场强度的简易装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种探测磁场强度的简易装置,在有机玻璃或透明塑料制作的测试筒(2)内放置有钢球(1),在测试筒(2)的上端口放置采用钢板制作的顶板(3)。钢球(1)直径为10~28mm。在测试筒(2)的上端口放置钢球(1)替代顶板(3)。测试筒(2)圆筒的内径比钢球直径大2~3mm。将本发明的装置放到需要施焊的位置,如果有强磁场,让钢球接触到钢顶板,钢球就由于磁性吸附在钢顶板上。用钕铁硼强磁体与原磁场相反地靠近测试筒,抵消和减弱电解槽原来的磁场。当磁场减弱到钢球脱离开钢顶板,落到筒底,就知道测试筒处的磁场减弱到可以进行焊接了。采用不同大小的钢球直径制作一系列的钢球和测试筒,可测试不同的磁场强度。
Description
技术领域
本发明涉及一种探测磁场强度的装置。
背景技术
铝电解用直流电流进行熔盐电解。现在电解槽越来越大,国内最大的电解槽已经是500kA的电流强度。强大的电流必然产生强磁场。电解车间中都有上百台电解槽串联,个别电解槽如果内衬损坏就需停槽大修。停槽时,仍有母线从停槽的槽底穿过,这时,穿槽底的母线附近的磁场比正常电解时的磁场更强。停槽大修过程中,有阴极钢棒需要焊接连接,现在都是用手工电弧焊焊接。强磁场对焊接电弧有偏吹作用,磁场越强偏吹越厉害,300kA以上电解槽的有的阴极钢棒就几乎没法施焊。在强磁场中进行能确保焊接质量的电弧焊接一直是铝行业的难题。
在采取措施减小磁场的过程中,需要检测焊接处的磁场强度。常用的高斯计是精密仪器,每个上十万元,一次投入大,成本高,难于普遍使用。
发明内容
本发明的目的是:提供一种探测磁场强度的简易装置,以克服现有技术存在的精密仪器价格高,投资大,成本高,难于普遍使用等不足。
本发明采用以下技术方案:在有机玻璃或透明塑料制作的测试筒内放置有钢球,在测试筒的上端口放置采用钢板制作的顶板;或者,在测试筒的上端口放置钢球替代顶板。
钢球直径为10~28mm。
采用普通碳钢制作钢球和顶板即可。普通碳钢是磁性材料,在磁场中会相互吸引。
测试筒用有机玻璃或透明塑料做圆筒及底板,圆筒的内径比钢球大2~3mm,让钢球在圆筒内可自如的上下移动。将本发明的装置放到需要施焊的位置,如果有强磁场,让钢球接触到钢顶板,钢球就由于磁性吸附在钢顶板上。用钕铁硼强磁体与原磁场相反地靠近测试筒,抵消和减弱电解槽原来的磁场。当磁场减弱到钢球脱离开钢顶板,落到筒底,就知道测试筒处的磁场减弱到可以进行焊接了。
采用不同大小的钢球直径制作一系列的钢球和测试筒,就可以测试不同的磁场强度。
附图说明
图1为本发明的结构示意图,测试筒的上端口放置采用钢板制作的顶板;
图2为本发明的另一结构示意图,在测试筒的上端口放置钢球。
具体实施方式
本发明的实施例:
实施例1:如图1所示意,在有机玻璃或透明塑料制作的测试筒2内放置有钢球1,在测试筒2的上端口放置采用钢板制作的顶板3。采用普通碳钢制作钢球和顶板即可。
钢球1直径为10~28mm,测试筒2圆筒的内径比钢球直径大2~3mm,即12~31mm。
实施例2:如图2所示意,在测试筒2的上端口放置钢球1替代顶板3,其他同实施例1。
图2的测试筒的使用方法跟图1的类似。对相同直径的钢球,钢球对钢球的接触面积较小,所以吸引力比钢板对钢球的吸引力小,钢球脱离开的磁场值也较小。
此种测试筒结构简单,测试直观可靠。
Claims (4)
1.一种探测磁场强度的简易装置,其特征在于:在有机玻璃或透明塑料制作的测试筒(2)内放置有钢球(1),在测试筒(2)的上端口放置采用钢板制作的顶板(3)。
2.根据权利要求1所述的探测磁场强度的简易装置,其特征在于:钢球(1)直径为10~28mm。
3.根据权利要求1所述的探测磁场强度的简易装置,其特征在于:在测试筒(2)的上端口放置钢球(1)替代顶板(3)。
4.根据权利要求1所述的探测磁场强度的简易装置,其特征在于:测试筒(2)圆筒的内径比钢球直径大2~3mm。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2011
- 2011-11-25 CN CN2011103802710A patent/CN103135077A/zh active Pending
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20130605 |