CN103019950B - 一次性可编程芯片的空间分配方法、使用方法,及装置 - Google Patents
一次性可编程芯片的空间分配方法、使用方法,及装置 Download PDFInfo
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Abstract
本发明实施例公开了一次性可编程芯片的空间分配方法、使用方法,及装置。其中方法包括:获取一次性可编程芯片OTP的存储空间;按照预定顺序及地址低位到高位的顺序,将对应摄像头模组的基本信息及校正参数的各项,依次写入所述存储空间的预定地址空间内;并在写入的基本信息和或校正参数的末尾设置预定的烧录标示位。采用上述方案可以确定写入的参数项及其顺序和地址,并且可以通过烧录标示位方便地找到这些参数,从而使烧录的各种OTP能够兼容。
Description
技术领域
本发明涉及电子技术领域,特别涉及一种一次性可编程芯片的空间分配方法、使用方法,及装置。
背景技术
随着手机摄像头的快速发展,对影象效果和一致性要求越来越高,而单个摄像头模组硬件还无法做到完全一致,因此需要对单个模组进行某些效果矫正,特别是需要进行白平衡(WhiteBalance,WB),镜头矫正等。
一次性可编程芯片(Onetimeprogramme,OTP),是指具有只能烧录一次的内存空间的芯片,该芯片可以按照要求存放不同效果参数。
目前一般通过在OTP中存放基本信息及校正参数,基本信息用于描述镜头、模组等的基本信息,校正参数是用于校正摄像头模组的参数。
发明人在实现本发明实施例的过程中发现,目前OTP的空间分配混乱并且采用不同的顺序以及不同的存储方式,导致各种烧录的OTP无法兼容。
发明内容
本发明实施例提供了一种一次性可编程芯片的空间分配方法、使用方法,及装置,使烧录的各种OTP能够兼容。
一种一次性可编程芯片的空间分配方法,包括:
获取一次性可编程芯片OTP的存储空间;
按照预定顺序及地址低位到高位的顺序,将对应摄像头模组的基本信息及校正参数的各项,依次写入所述存储空间的预定地址空间内;并在写入的基本信息和或校正参数的末尾设置预定的烧录标示位。
一种一次性可编程芯片的使用方法,包括:
获取一次性可编程芯片的存储空间的预定地址空间;
按照从高位到低位的顺序确定是否为烧录标示位,若是,则将所述烧录标志位所在页地址空间内的校正参数读出,用于校正与所述校正参数对应的摄像头模组;
对应所述摄像头模组的基本信息及校正参数的各项,是按照预定顺序及地址低位到高位的顺序,依次写入所述存储空间的预定地址空间内的。
一种一次性可编程芯片的空间分配装置,包括:
空间获取单元,用于获取一次性可编程芯片OTP的存储空间;
烧录单元,用于按照预定顺序及地址低位到高位的顺序,将对应摄像头模组的基本信息及校正参数的各项,依次写入所述存储空间的预定地址空间内;并在写入的基本信息和或校正参数的末尾设置预定的烧录标示位。
一种一次性可编程芯片的使用装置,包括:
地址获取单元,用于获取一次性可编程芯片的存储空间的预定地址空间;
读取单元,用于按照从高位到低位的顺序确定是否为烧录标示位,若是,则将所述烧录标志位所在页地址空间内的校正参数读出,用于校正与所述校正参数对应的摄像头模组;对应所述摄像头模组的基本信息及校正参数的各项,是按照预定顺序及地址低位到高位的顺序,依次写入所述存储空间的预定地址空间内的。
从以上技术方案可以看出,本发明实施例具有以下优点:按照预定顺序及地址低位到高位的顺序,将对应摄像头模组的基本信息及校正参数的各项,依次写入存储空间的预定地址空间内;并在写入的基本信息和或校正参数的末尾设置预定的烧录标示位;那么可以确定写入的参数项及其顺序和地址,并且可以通过烧录标示位方便地找到这些参数,从而使烧录的各种OTP能够兼容。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域的普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例方法流程示意图;
图2为本发明实施例另一方法流程示意图;
图3为本发明实施例装置结构示意图;
图4为本发明实施例另一装置结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部份实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供了一种一次性可编程芯片的空间分配方法,如图1所示,包括:
101:获取一次性可编程芯片OTP的存储空间;
本步骤获取存储空间的过程可以仅仅只是确定后续将要使用的预定地址空间是否完整,或者是否存在,或者处于可使用状态。存储空间在后续实施例中将有具体举例。
102:按照预定顺序及地址低位到高位的顺序,将对应摄像头模组的基本信息及校正参数的各项,依次写入上述存储空间的预定地址空间内;并在写入的基本信息和或校正参数的末尾设置预定的烧录标示位。
后续实施例将对摄像头模组的基本信息进行举例说明。
本发明实施例方案,按照预定顺序及地址低位到高位的顺序,将对应摄像头模组的基本信息及校正参数的各项,依次写入存储空间的预定地址空间内;并在写入的基本信息和或校正参数的末尾设置预定的烧录标示位;那么可以确定写入的参数项及其顺序和地址,并且可以通过烧录标示位方便地找到这些参数,从而使烧录的各种OTP能够兼容。
更具体地,上述校正参数包括:自动白平衡(Automaticwhitebalance,AWB)参数、镜头阴影校正(LensShadingCorrection,LSC)参数、自动对焦(AutoFocus,AF)参数。在后续实施例中将对各参数可能包含的项进行具体举例说明。需要说明的是,本实施例举例的校正参数的举例并不是摄像头校正可能需要的校正参数的穷举,因此以上举例不应理解为对本发明实施例的限定。
可选地,上述摄像头模组的基本信息、自动白平衡AWB参数以及镜头阴影校正LSC参数存储在上述预定地址空间的前端,并且在末尾设置预定的第一烧录标示位。可选地,上述自动对焦AF参数存储在上述预定地址空间的前端靠后的预定位置,并且在末尾设置预定的第二烧录标示位。后续实施例将对各项参数的具体存放方式进行详细说明。
本发明实施例还提供了一种一次性可编程芯片的使用方法,如图2所示,包括:
201:获取一次性可编程芯片的存储空间的预定地址空间;
该步骤仅是作为进行读取之前的预操作,以确定预定的地址空间是存在的,或者可读取状态。预定地址空间在后续实施例中将有具体举例。
202:按照从高位到低位的顺序确定是否为烧录标示位,若是,则将上述烧录标志位所在页地址空间内的校正参数读出,用于校正与上述校正参数对应的摄像头模组;
对应上述摄像头模组的基本信息及校正参数的各项,是按照预定顺序及地址低位到高位的顺序,依次写入上述存储空间的预定地址空间内的。
本发明实施例方案,按照预定顺序及地址低位到高位的顺序,将对应摄像头模组的基本信息及校正参数的各项,依次写入存储空间的预定地址空间内;并在写入的基本信息和或校正参数的末尾设置预定的烧录标示位;那么可以确定写入的参数项及其顺序和地址,并且可以通过烧录标示位方便地找到这些参数,从而使烧录的各种OTP能够兼容。
更具体地,上述校正参数包括:自动白平衡AWB参数、镜头阴影校正LSC参数、自动对焦AF参数;在后续实施例中将对各参数可能包含的项进行具体举例说明。需要说明的是,本实施例举例的校正参数的举例并不是摄像头校正可能需要的校正参数的穷举,因此以上举例不应理解为对本发明实施例的限定。
上述摄像头模组的基本信息、自动白平衡AWB参数以及镜头阴影校正LSC参数存储在上述预定地址空间的前端,并且在末尾设置预定的第一烧录标示位;上述自动对焦AF参数存储在上述预定地址空间的前端靠后的预定位置,并且在末尾设置预定的第二烧录标示位;
上述按照从高位到低位的顺序确定是否为烧录标示位,包括:按照从高位到低位的顺序确定是否为第一烧录标示位或第二烧录标示位。
本实施例将就Aptina感光芯片(Sensor)OTP的空间分配和运用流程进行举例说明,以下的举例可以适用于AptinaSensorA8140,A8141,A5140,A5141等,也可以适用于与之类似的芯片,具体的应用芯片本发明实施例不予限定。以下将就OTP内存分配和运用流程两部分分别进行说明。
一、OTP内存分配:按照地址顺序分配OTP内存:
1、摄像头模组基本信息:包括:摄像头模组制作时间(某年.某月.某日,占4字节),模组厂信息(占1或2字节),镜头信息(占1或2字节),马达信息(占1或2字节),马达驱动芯片信息(占1或2字节),烧录环境色温信息(占1或2字节)。
2、WB(白平衡)参数:包括:当前模组R/Gr(红色red与同行绿色green的比值),B/Gr(蓝色blue与同行绿色green的比值),Gb/Gr(蓝色同行的绿色green与红色同行的绿色green的比值);典型值模组R,B,Gr,Gb;当前模组R,B,Gr,Gb。一共占空间(22字节或11字节)。
3、镜头矫正参数:由于镜头,芯片上的微透镜等特性,会造画面四个角落明显比中心偏暗,且画面颜色不均匀等现象,为了祢补这个问题,需要通过软件进行镜头矫正,又由于不同模组之间存在一致性问题,所以同一套参数并不能对所有模组很好进行的祢补,所以需要对单个模组进行矫正,因此需要OTP空间分配此参数。不同感光芯片Sensor,矫正参数不一样,所以分配空间大小也不一样。
4、OTP烧录标示位,可以使用值为0xffff,16进制0xffff=65535,0xff=255,4字节2字节(或0xff)代表OTP此页地址的OTP值是有效的。
5、AF(自动对焦)参数:由于AF测试环境和WB参数以及镜头矫正测试环境不一样,所以在模组厂很难实现同个岗位烧录OTP,对于AF烧录,可以采用独立岗位出来烧录,所以一般AF=AutoFocus,自动对焦AF参数在OTP空间上分配,是独立页地址。AF参数包括但不限于:远景马达位置,近景马达位置,马达起始位置。
下面是Aptina感光芯片的OTP空间分配的一个举例,具体请参阅表1、表2以及表3。
表1身份标识(Identity,ID)、AWB烧录
表2LSC烧录
表3AF烧录
光源: | Type(页地址): | |
5100K | 0x3600to0x3B00 | |
Address | data | 说明 |
0x3800 | AF Pos infinity(3m) | AF infinity AF |
0x3802 | AF Pos Macro(10cm) | AF Macro AF |
0x3804 | 存放7.5±2.5um AF | |
0x3806 | 0xFFFF | 烧录标志位 |
二、OTP运用流程:为了判断模组是否已经烧录OTP或者OTP里面的数据是否有效,所以在运用OTP的时候,按照预定的流程读取OTP数据。不同Sensor(感光芯片),OTP空间特点可能不一样,AptinaSensorA8140,A8141,A5140,A5141等型号及相同类别的芯片的SensorOTP运用流程,可以参考如下方案:
1、读取正确数据TYPE(页地址)的流程:
按照表1~3的举例,WB、ID、LSC存放TYPE:0x3000~3500,AF参数存放TYPE:0x3600~0x3B00,那么本步骤具体可以为:
从TYPE3500开始依次判断TYPE的数据是否有效,如果有效则读取该有效的TYPE内的数据,否则判断下一个低位TYPE的数据是否有效,直到找到存放有有效数据的TYPE。
2、TYPE数据有效性判断方法:
按照表1~3的举例,烧录标志位为0xFFFF,那么本步骤具体可以为:
从高TYPE往低TYPE读,判断0x38FC=0xFFFF和0x384AB[6]=1是否成立,如果成立则确定有效数据存放在此TYPE中,低TYPE数据无效;判断0x38FC!=0xffff或0x384AB[6]=0是否成立,如果成立则确定此TYPE没有烧录或无效,需要读取低TYPE数据.
本发明实施例还提供了一种一次性可编程芯片的空间分配装置,该装置可以是对OTP进行烧录的任意设备,具体设备是什么本发明实施例不予限定,如图3所示,包括:
空间获取单元301,用于获取一次性可编程芯片OTP的存储空间;
烧录单元302,用于按照预定顺序及地址低位到高位的顺序,将对应摄像头模组的基本信息及校正参数的各项,依次写入上述存储空间的预定地址空间内;并在写入的基本信息和或校正参数的末尾设置预定的烧录标示位。
本发明实施例方案,按照预定顺序及地址低位到高位的顺序,将对应摄像头模组的基本信息及校正参数的各项,依次写入存储空间的预定地址空间内;并在写入的基本信息和或校正参数的末尾设置预定的烧录标示位;那么可以确定写入的参数项及其顺序和地址,并且可以通过烧录标示位方便地找到这些参数,从而使烧录的各种OTP能够兼容。
更具体地,上述校正参数包括:自动白平衡AWB参数、镜头阴影校正LSC参数、自动对焦AF参数;
上述烧录单元302,具体用于将上述摄像头模组的基本信息、自动白平衡AWB参数以及镜头阴影校正LSC参数存储在上述预定地址空间的前端,并且在末尾设置预定的第一烧录标示位;将上述自动对焦AF参数存储在上述预定地址空间的前端靠后的预定位置,并且在末尾设置预定的第二烧录标示位。
本发明实施例还提供了一种一次性可编程芯片的使用装置,该使用装置可以是需要读取OTP内参数对摄像头模组进行校正的任意装置,例如相机等,对此本发明实施例不予限定,如图4所示,包括:
地址获取单元401,用于获取一次性可编程芯片的存储空间的预定地址空间;
读取单元402,用于按照从高位到低位的顺序确定是否为烧录标示位,若是,则将上述烧录标志位所在页地址空间内的校正参数读出,用于校正与上述校正参数对应的摄像头模组;对应上述摄像头模组的基本信息及校正参数的各项,是按照预定顺序及地址低位到高位的顺序,依次写入上述存储空间的预定地址空间内的。
本发明实施例方案,按照预定顺序及地址低位到高位的顺序,将对应摄像头模组的基本信息及校正参数的各项,依次写入存储空间的预定地址空间内;并在写入的基本信息和或校正参数的末尾设置预定的烧录标示位;那么可以确定写入的参数项及其顺序和地址,并且可以通过烧录标示位方便地找到这些参数,从而使烧录的各种OTP能够兼容。
更具体地,上述校正参数包括:自动白平衡AWB参数、镜头阴影校正LSC参数、自动对焦AF参数;上述摄像头模组的基本信息、自动白平衡AWB参数以及镜头阴影校正LSC参数存储在上述预定地址空间的前端,并且在末尾设置预定的第一烧录标示位;上述自动对焦AF参数存储在上述预定地址空间的前端靠后的预定位置,并且在末尾设置预定的第二烧录标示位;
上述读取单元402,用于按照从高位到低位的顺序确定是否为烧录标示位,具体为:按照从高位到低位的顺序确定是否为第一烧录标示位或第二烧录标示位。
值得注意的是,上述装置实施例中,所包括的各个单元只是按照功能逻辑进行划分的,但并不局限于上述的划分,只要能够实现相应的功能即可;另外,各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分,并不用于限制本发明的保护范围。
另外,本领域普通技术人员可以理解实现上述各方法实施例中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成,相应的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。
以上仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明实施例揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
Claims (6)
1.一种一次性可编程芯片的空间分配方法,其特征在于,包括:
获取一次性可编程芯片OTP的存储空间;
按照预定顺序及地址低位到高位的顺序,将对应摄像头模组的基本信息及校正参数的各项,依次写入所述存储空间的预定地址空间内;其中,所述校正参数包括:
自动白平衡AWB参数、镜头阴影校正LSC参数、自动对焦AF参数;所述摄像头模组的基本信息、自动白平衡AWB参数以及镜头阴影校正LSC参数存储在所述预定地址空间的前端,并且在末尾设置预定的第一烧录标示位;所述自动对焦AF参数存储在所述预定地址空间的前端靠后的预定位置,并且在末尾设置预定的第二烧录标示位;其中,所述烧录标示位用于表示OTP当前页地址的OTP值是否有效。
2.一种一次性可编程芯片的使用方法,其特征在于,包括:
获取一次性可编程芯片的存储空间的预定地址空间;
按照从高位到低位的顺序确定是否为烧录标示位,若是,则将所述烧录标示位所在页地址空间内的校正参数读出,用于校正与所述校正参数对应的摄像头模组;
对应所述摄像头模组的基本信息及校正参数的各项,是按照预定顺序及地址低位到高位的顺序,依次写入所述存储空间的预定地址空间内的;
其中,所述烧录标示位用于表示OTP当前页地址的OTP值是否有效。
3.根据权利要求2所述方法,其特征在于,所述校正参数包括:自动白平衡AWB参数、镜头阴影校正LSC参数、自动对焦AF参数;
所述摄像头模组的基本信息、自动白平衡AWB参数以及镜头阴影校正LSC参数存储在所述预定地址空间的前端,并且在末尾设置预定的第一烧录标示位;所述自动对焦AF参数存储在所述预定地址空间的前端靠后的预定位置,并且在末尾设置预定的第二烧录标示位;
所述按照从高位到低位的顺序确定是否为烧录标示位,包括:
按照从高位到低位的顺序确定是否为第一烧录标示位或第二烧录标示位。
4.一种一次性可编程芯片的空间分配装置,其特征在于,包括:
空间获取单元,用于获取一次性可编程芯片OTP的存储空间;
烧录单元,用于按照预定顺序及地址低位到高位的顺序,将对应摄像头模组的基本信息及校正参数的各项,依次写入所述存储空间的预定地址空间内;其中,所述校正参数包括:自动白平衡AWB参数、镜头阴影校正LSC参数、自动对焦AF参数;
所述烧录单元,具体用于将所述摄像头模组的基本信息、自动白平衡AWB参数以及镜头阴影校正LSC参数存储在所述预定地址空间的前端,并且在末尾设置预定的第一烧录标示位;将所述自动对焦AF参数存储在所述预定地址空间的前端靠后的预定位置,并且在末尾设置预定的第二烧录标示位;其中,所述烧录标示位用于表示OTP当前页地址的OTP值是否有效。
5.一种一次性可编程芯片的使用装置,其特征在于,包括:
地址获取单元,用于获取一次性可编程芯片的存储空间的预定地址空间;
读取单元,用于按照从高位到低位的顺序确定是否为烧录标示位,若是,则将所述烧录标示位所在页地址空间内的校正参数读出,用于校正与所述校正参数对应的摄像头模组;对应所述摄像头模组的基本信息及校正参数的各项,是按照预定顺序及地址低位到高位的顺序,依次写入所述存储空间的预定地址空间内的;
其中,所述烧录标示位用于表示OTP当前页地址的OTP值是否有效。
6.根据权利要求5所述装置,其特征在于,所述校正参数包括:自动白平衡AWB参数、镜头阴影校正LSC参数、自动对焦AF参数;所述摄像头模组的基本信息、自动白平衡AWB参数以及镜头阴影校正LSC参数存储在所述预定地址空间的前端,并且在末尾设置预定的第一烧录标示位;所述自动对焦AF参数存储在所述预定地址空间的前端靠后的预定位置,并且在末尾设置预定的第二烧录标示位;
所述读取单元,用于按照从高位到低位的顺序确定是否为烧录标示位,具体为:按照从高位到低位的顺序确定是否为第一烧录标示位或第二烧录标示位。
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C53 | Correction of patent for invention or patent application | ||
CB02 | Change of applicant information |
Address after: 516600 Guangdong Industrial Zone, Shanwei City Road, Lee Lee Industrial City, a district of the building fifteenth Applicant after: Truly Opto-Electronics Ltd. Address before: 516600 Guangdong Industrial Zone, Shanwei City Road, Lee Lee Industrial City, a district of the building fifteenth Applicant before: Truly Semiconductors (Shanwei) Co., Ltd. |
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COR | Change of bibliographic data |
Free format text: CORRECT: APPLICANT; FROM: TRULY OPTO-ELECTRONICS LIMITED TO: TRULY OPTO-ELECTRONICS LTD. |
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C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant |