CN103018594A

CN103018594A - 一种电容式触摸屏的测试方法、***及电子设备

Info

Publication number: CN103018594A
Application number: CN2012105013371A
Authority: CN
Inventors: 申聪; 乔胜强
Original assignee: Shenzhen Huiding Technology Co Ltd
Current assignee: Shenzhen Goodix Technology Co Ltd
Priority date: 2012-11-30
Filing date: 2012-11-30
Publication date: 2013-04-03
Anticipated expiration: 2032-11-30
Also published as: CN103018594B

Abstract

本发明属于触摸屏测试技术领域，提供了一种电容式触摸屏的测试方法、***及电子设备。其中的方法包括：获取电容式触摸屏上各节点电容分别对应的采样信号；将采样信号转换成可处理的触摸数据后，根据预存的标准值对触摸数据进行分析，输出分析结果。本发明提供的方法及***实现了对电容式触摸屏的自动测试功能，避免了测试员的操作体验式测试方式，缩短了测试时间、提高了测试结果的可靠性。另外，当该电容式触摸屏的测试***内置于带有显示屏的整机测试时，显示屏可用于显示分析模块输出的分析结果，从而利用整机充当专业的测试治具，在不依赖于外接设备的情况下，独立完成电容式触摸屏的性能测试。

Description

一种电容式触摸屏的测试方法、***及电子设备

技术领域

本发明属于触摸屏测试技术领域，尤其涉及一种电容式触摸屏的测试方法、***及电子设备。

背景技术

电容式触摸屏是一种利用人体的电流感应进行工作的触摸屏，其广泛应用在各种移动终端、特别是智能手机中。

由于工厂生产触摸屏是存在良率问题和工艺偏差，还有一些触摸屏会因为后期因素造成损坏，例如触摸屏划伤、柔性电路板损伤，因此作为质量控制的必要环节，对于采用电容式触摸屏的电子设备，在其生产过程中除了需要对装配前的各个模块和部件进行测试外，还需要对装配后的整机进行测试，该整机是指至少装配有电容式触摸屏和触摸屏驱动芯片，能够运行基本程序的电子设备。

现有技术提供的电容式触摸屏的测试方法是通过测试员对整机的操作体验来完成的，该种测试方法耗时长，测试覆盖面有限，可能会忽略对一些电容节点的测试，且测试结果主要依赖于测试员的主观感受，测试结果可靠性较差。

在本背景技术本部分所公开的上述信息仅仅用于增加对本发明背景技术的理解，因此其可能包括不构成对该国的本领域普通技术人员已知的现有技术。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电容式触摸屏的测试方法，旨在解决现有的通过测试员对整机的操作体验实现对电容式触摸屏测试的方法耗时长、测试覆盖面有限、且测试结果可靠性较差的问题。

本发明是这样实现的，一种电容式触摸屏的测试方法，所述方法包括以下步骤：

获取电容式触摸屏上各节点电容分别对应的采样信号；

将所述采样信号转换成可处理的触摸数据后，根据预存的标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析结果。

本发明的另一目的在于提供一种电容式触摸屏的测试***，所述***包括：

存储模块，用于预存标准值；

获取模块，用于获取电容式触摸屏上各节点电容分别对应的采样信号；以及

分析模块，用于将所述获取模块获取的所述采样信号转换成可处理的触摸数据后，根据所述存储模块预存的所述标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析结果。

本发明的另一目的在于提供一种电子设备，包括电容式触摸屏，所述电子设备还包括一上所述的电容式触摸屏的测试***。

本发明提供的电容式触摸屏的测试方法及***预存有电容节点采样数据的标准值，在测试过程中，自动获取各电容节点的采样信号，并根据标准值和采样信号对各电容节点的性能进行分析，输出分析结果，实现了对电容式触摸屏的自动测试功能，避免了测试员的操作体验式测试方式，缩短了测试时间、提高了测试结果的可靠性。另外，当该电容式触摸屏的测试***内置于带有显示屏的整机测试时，显示屏可用于显示分析模块输出的分析结果，从而利用整机充当专业的测试治具，在不依赖于外接设备的情况下，独立完成电容式触摸屏的性能测试。

附图说明

图1是本发明提供的电容式触摸屏的测试方法的流程图；

图2是本发明提供的电容式触摸屏的测试***的结构图；

图3是图2中分析模块的结构图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

针对现有电容式触摸屏的测试方法存在的问题，本发明提供的电容式触摸屏的测试方法预存有电容节点采样数据的标准值，在测试过程中，自动获取各电容节点的采样信号，并根据标准值和采样信号对各电容节点的性能进行分析。

图1示出了本发明提供的电容式触摸屏的测试方法的流程。

在步骤S11中，获取电容式触摸屏上各节点电容分别对应的采样信号。其中的采样信号可以是电容式触摸屏上的电容节点在受到外部触发后发出的相应电脉冲信号，和/或从电容式触摸屏的触摸屏驱动芯片中直接获取的、表征被触发电容节点所在位置的原始触摸位置数据，和/或从电容式触摸屏的触摸屏的驱动芯片中直接获取的、表征所有电容节点的所有原始数据。

在步骤S12中，将采样信号转换成可处理的触摸数据后，根据预存的标准值对触摸数据进行分析，输出分析结果。

本发明中，当采样信号是电脉冲信号时，将采样信号转换成可处理的触摸数据的数据具体为：将电脉冲信号进行模/数转换处理，得到触摸数据；而当采样信号是从触摸屏驱动芯片中直接获取的原始触摸位置数据时，由于原始触摸数据在触摸屏驱动芯片中是以一定的数据存储格式存储的，因此需要将该种数据存储格式存储的原始触摸数据进行组合、裁剪和/或丢弃等处理，以转换成可处理的数据格式，例如，若原始触摸位置数据在触摸屏驱动芯片中的原始触摸位置数据是短整型，且在触摸屏驱动芯片中的低地址空间存放原始触摸位置数据的高字节数据、在触摸屏驱动芯片中的高地址空间存放原始触摸位置数据的低字节数据，则将采样信号转换成可处理的触摸数据的步骤即为：将原始触摸位置数据进行组合处理，将低地址的原始触摸位置数据左移8位后，再加上高地址的原始触摸位置数据。

作为本发明的一个实施例，根据预存的标准值对触摸数据进行分析即是根据预存的标准值对触摸数据进行最大值测试分析，此时，预存的标准值包括一最大值，则根据预存的标准值对触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤具体为：判断触摸数据是否超过最大值，并将超过最大值的触摸数据对应的节点电容的位置坐标作为分析结果输出。

作为本发明的另一个实施例，根据预存的标准值对触摸数据进行分析即是根据预存的标准值对触摸数据进行最小值测试分析，此时，预存的标准值包括一最小值，则根据预存的标准值对触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤具体为：判断触摸数据是否达到最小值，并将未达到最小值的触摸数据对应的节点电容的位置坐标作为分析结果输出，当然，在输出节点电容的位置坐标的同时，也可以将对应的触摸数据一同输出。

作为本发明的再一个实施例，根据预存的标准值对触摸数据进行分析即是根据预存的标准值对触摸数据进行相邻偏差测试分析，此时，预存的标准值包括一相邻偏差标准值，则根据预存的标准值对触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤具体包括以下步骤：计算当前节点电容的触摸数据与各个相邻节点电容的触摸数据之间差值的绝对值，并将每一差值的绝对值除以当前节点电容的触摸数据，得到与相邻节点电容数目相当的相邻偏差值；判断各个相邻偏差值是否超过相邻偏差标准值，并将超过相邻偏差标准值的相邻偏差值对应的当前节点电容的位置坐标作为分析结果输出，当然，在输出当前节点电容的位置坐标的同时，也可以将对应的触摸数据、相邻偏差值一同输出。

作为本发明的再一个实施例，根据预存的标准值对触摸数据进行分析即是根据预存的标准值对触摸数据进行整屏偏差测试分析，此时，预存的标准值包括一整屏偏差标准值，则根据预存的标准值对触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤具体包括以下步骤：计算全部节点电容的触摸数据的平均值，并将当前节点电容的触摸数据减去该平均值后，将得到的数据的绝对值除以当前节点电容的触摸数据，得到当前节点电容对应的整屏偏差值；判断各个整屏偏差值是否超过整屏偏差标准值，并将超过整屏偏差标准值的整屏偏差值对应的当前节点电容的位置坐标作为分析结果输出，当然，在输出当前节点电容的位置坐标的同时，也可以将对应的触摸数据、整屏偏差值一同输出。

而在实际应用过程中，根据预存的标准值对触摸数据进行分析的步骤也可同时包括上述对触摸数据进行最大值测试分析、对触摸数据进行最小值测试分析、对触摸数据进行相邻偏差测试分析、对触摸数据进行整屏偏差测试分析中的两种或多种分析的组合。下面举例说明每一种分析的具体过程：

假设电容式触摸屏上一部分待测试区域的节点电容的触摸数据分布如下表一所示：

表一

	X1	X2	X3
				Y1	3000	2500	2000
Y2	3100	2600	1800
				Y3	3300	2700	2200

其中，节点电容的位置坐标（X1，Y1）的触摸数据是3000，节点电容的位置坐标（X1，Y2）的触摸数据是3100，节点电容的位置坐标（X1，Y3）的触摸数据是3300，节点电容的位置坐标（X2，Y1）的触摸数据是2500，节点电容的位置坐标（X2，Y2）的触摸数据是2600，节点电容的位置坐标（X2，Y3）的触摸数据是2700，节点电容的位置坐标（X3，Y1）的触摸数据是2000，节点电容的位置坐标（X3，Y2）的触摸数据是1800，节点电容的位置坐标（X3，Y3）的触摸数据是2200。同时，假设预存的最大值是3200，预存的最小值是2000，预存的相邻偏差标准值是0.2，预存的整屏偏差标准值是0.25，则在最大值测试分析中，可判断出位置坐标（X1，Y3）的节点电容对应的触摸数据超出最大值，从而输出作为分析结果的位置坐标（X1，Y3），或者提示超出最大值等；在对触摸数据进行最小值测试分析中，可判断出位置坐标（X3，Y2）的节点电容对应的触摸数据未达到最小值，从而输出作为分析结果的位置坐标（X3，Y2），或者提示超出最小值等；在对触摸数据进行相邻偏差测试分析中，计算每一节点电容的相邻偏差值，以位置坐标（X2，Y2）为例，首先计算位置坐标（X2，Y2）与位置坐标（X2，Y1）之间触摸数据的差值为100，相应的相邻偏差值为100/2600=0.038，同理计算出位置坐标（X2，Y2）与位置坐标（X2，Y3）之间的相邻偏差值为100/2600=0.038、位置坐标（X2，Y2）与位置坐标（X1，Y2）之间的相邻偏差值为500/2600=0.192、位置坐标（X2，Y2）与位置坐标（X3，Y2）之间的相邻偏差值为800/2600=0.307，由于存在超过相邻偏差标准值的相邻偏差值0.307，则输出作为分析结果的位置坐标（X2，Y2），或者提示超出相邻偏差等；在对触摸数据进行整屏偏差测试分析中，计算全部节点电容的触摸数据的平均值为2578，并得到当前节点电容对应的整屏偏差值如下表二所示：

表二

	X1	X2	X3
				Y1	0.141	0.031	0.289
Y2	0.168	0.008	0.432
				Y3	0.219	0.045	0.172

可以看出，位置坐标（X3，Y1）和位置坐标（X3，Y2）分别的整屏偏差值超过了整屏偏差标准值，则输出作为分析结果的位置坐标（X3，Y1）和位置坐标（X3，Y2），或者提示超出整屏偏差等。

本发明提供的电容式触摸屏的测试方法预存有电容节点采样数据的标准值，在测试过程中，自动获取各电容节点的采样信号，并根据标准值和采样信号对各电容节点的性能进行分析，输出分析结果，实现了对电容式触摸屏的自动测试功能，避免了测试员的操作体验式测试方式，缩短了测试时间、提高了测试结果的可靠性。当该测试方法应用于带有显示屏的整机测试时，显示屏可显示输出的分析结果。

图2示出了本发明提供的电容式触摸屏的测试***的结构，为了便于说明，仅示出了与本发明相关的部分。

本发明提供的电容式触摸屏的测试***包括：存储模块13，用于预存标准值；获取模块11，用于获取电容式触摸屏上各节点电容分别对应的采样信号，该采样信号可以是电容式触摸屏上的电容节点在受到外部触发后发出的相应电脉冲信号，和/或从电容式触摸屏的触摸屏驱动芯片中直接获取的、表征被触发电容节点所在位置的原始触摸位置数据，和/或从电容式触摸屏的触摸屏的驱动芯片中直接获取的、表征所有电容节点的所有原始数据；分析模块12，用于将获取模块11获取的采样信号转换成可处理的触摸数据后，根据存储模块13预存的标准值对触摸数据进行分析，输出分析结果。

图3示出了图2中分析模块12的结构。

具体地，当存储模块13预存的标准值包括一最大值时，作为本发明的一个实施例，分析模块12可以包括：预处理模块121，用于将获取模块11获取的采样信号转换成可处理的触摸数据；最大值分析模块122，用于判断预处理模块121转换得到的触摸数据是否超过存储模块13预存的最大值，并将超过该最大值的触摸数据对应的节点电容的位置坐标作为分析结果输出。

当存储模块13预存的标准值包括一最小值时，作为本发明的另一实施例，分析模块12可以包括：预处理模块121，用于将获取模块11获取的采样信号转换成可处理的触摸数据；最小值分析模块123，用于判断预处理模块121转换得到的触摸数据是否达到存储模块13预存的最小值，并将未达到该最小值的触摸数据对应的节点电容的位置坐标作为分析结果输出；

当存储模块13预存的标准值包括一相邻偏差标准值时，作为本发明的再一实施例，分析模块12可以包括：预处理模块121，用于将获取模块11获取的采样信号转换成可处理的触摸数据；相邻偏差分析模块124，用于计算预处理模块121转换得到的、当前节点电容的触摸数据与各个相邻节点电容的触摸数据之间差值的绝对值，并将每一差值的绝对值除以当前节点电容的触摸数据，得到与相邻节点电容数目相当的相邻偏差值，之后判断各个相邻偏差值是否超过存储模块13预存的相邻偏差标准值，并将超过相邻偏差标准值的相邻偏差值对应的当前节点电容的位置坐标作为分析结果输出。

当存储模块13预存的标准值包括一整屏偏差标准值时，作为本发明的再一实施例，分析模块12可以包括：预处理模块121，用于将获取模块11获取的采样信号转换成可处理的触摸数据；整屏偏差分析模块125，用于计算预处理模块121转换得到的、全部节点电容的触摸数据的平均值，并将当前节点电容的触摸数据减去该平均值后，将得到的数据的绝对值除以当前节点电容的触摸数据，得到当前节点电容对应的整屏偏差值，之后判断各个整屏偏差值是否超过存储模块13预存的整屏偏差标准值，并将超过整屏偏差标准值的整屏偏差值对应的当前节点电容的位置坐标作为分析结果输出。

当然，在实际应用过程中，分析模块12还可以同时包括最大值分析模块122、最小值分析模块123、相邻偏差分析模块124、整屏偏差分析模块125中的两个或多个。

本发明提供的电容式触摸屏的测试***中，存储模块13预存有电容节点采样数据的标准值，在测试过程中，获取模块11自动获取各电容节点的采样信号，分析模块12根据标准值和采样信号对各电容节点的性能进行分析，输出分析结果，实现了对电容式触摸屏的自动测试功能，避免了测试员的操作体验式测试方式，缩短了测试时间、提高了测试结果的可靠性。当该测试***内置于带有显示屏的整机测试时，显示屏可用于显示分析模块12输出的分析结果，从而利用整机充当专业的测试治具，在不依赖于外接设备的情况下，独立完成电容式触摸屏的性能测试。

本发明还提供了一种电子设备，该电子设备包括电容式触摸屏，还包括一如上所述的电容式触摸屏的测试***。优选地，该电子设备是电容式触控设备。

进一步地，当其中的采样信号是获取模块11利用通信协议从电容式触摸屏的触摸屏驱动芯片中直接获取时，该电子设备还进一步包括有电容式触摸屏的触摸屏驱动芯片。

另外，为了方便测试，电子设备还包括一显示屏，用于显示分析模块12输出的分析结果。

本发明提供的电容式触摸屏的测试方法及***预存有电容节点采样数据的标准值，在测试过程中，自动获取各电容节点的采样信号，并根据标准值和采样信号对各电容节点的性能进行分析，输出分析结果，实现了对电容式触摸屏的自动测试功能，避免了测试员的操作体验式测试方式，缩短了测试时间、提高了测试结果的可靠性。另外，当该电容式触摸屏的测试***内置于带有显示屏的整机测试时，显示屏可用于显示分析模块12输出的分析结果，从而利用整机充当专业的测试治具，在不依赖于外接设备的情况下，独立完成电容式触摸屏的性能测试。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来控制相关的硬件完成，所述的程序可以在存储于ROM/RAM、磁盘、Flash、磁盘、光盘等存储介质中。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims

1.一种电容式触摸屏的测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

获取电容式触摸屏上各节点电容分别对应的采样信号；

2.如权利要求1所述的电容式触摸屏的测试方法，其特征在于，所述采样信号是所述电容式触摸屏上的所述电容节点在受到外部触发后发出的相应电脉冲信号，和/或从所述电容式触摸屏的触摸屏驱动芯片中直接获取的、表征被触发电容节点所在位置的原始触摸位置数据，和/或从所述电容式触摸屏的触摸屏的驱动芯片中直接获取的、表征所有电容节点的所有原始数据。

3.如权利要求1所述的电容式触摸屏的测试方法，其特征在于，所述标准值包括一最大值，所述根据预存的标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤具体为：

判断所述触摸数据是否超过所述最大值，并将超过所述最大值的触摸数据对应的节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出。

4.如权利要求1所述的电容式触摸屏的测试方法，其特征在于，所述标准值包括一最小值，所述根据预存的标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤具体为：

判断所述触摸数据是否达到所述最小值，并将未达到所述最小值的触摸数据对应的节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出。

5.如权利要求1所述的电容式触摸屏的测试方法，其特征在于，所述标准值包括一相邻偏差标准值，所述根据预存的标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤包括以下步骤：

计算当前节点电容的触摸数据与各个相邻节点电容的触摸数据之间差值的绝对值，并将每一差值的绝对值除以所述当前节点电容的触摸数据，得到与所述相邻节点电容的数目相当的相邻偏差值；

判断各个相邻偏差值是否超过所述相邻偏差标准值，并将超过所述相邻偏差标准值的相邻偏差值对应的当前节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出。

6.如权利要求1所述的电容式触摸屏的测试方法，其特征在于，所述标准值包括一整屏偏差标准值，所述根据预存的标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤包括以下步骤：

计算全部节点电容的触摸数据的平均值，并将当前节点电容的触摸数据减去所述平均值后，将得到的数据的绝对值除以所述当前节点电容的触摸数据，得到所述当前节点电容对应的整屏偏差值；

判断各个整屏偏差值是否超过所述整屏偏差标准值，并将超过所述整屏偏差标准值的整屏偏差值对应的当前节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出。

7.一种电容式触摸屏的测试***，其特征在于，所述***包括：

存储模块，用于预存标准值；

8.如权利要求7所述的电容式触摸屏的测试***，其特征在于，所述存储模块预存的所述标准值包括最大值、最小值、相邻偏差标准值、整屏偏差标准值，所述分析模块包括：

预处理模块，用于将所述获取模块获取的所述采样信号转换成可处理的触摸数据；

最大值分析模块，用于判断所述预处理模块转换得到的所述触摸数据是否超过所述最大值，并将超过所述最大值的触摸数据对应的节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出；

最小值分析模块，用于判断所述预处理模块转换得到的所述触摸数据是否达到所述最小值，并将未达到所述最小值的触摸数据对应的节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出；

相邻偏差分析模块，用于计算所述预处理模块转换得到的、当前节点电容的触摸数据与各个相邻节点电容的触摸数据之间差值的绝对值，并将每一差值的绝对值除以当前节点电容的触摸数据，得到与相邻节点电容数目相当的相邻偏差值，之后判断各个相邻偏差值是否超过所述相邻偏差标准值，并将超过所述相邻偏差标准值的相邻偏差值对应的当前节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出；以及

整屏偏差分析模块，用于计算所述预处理模块转换得到的、全部节点电容的触摸数据的平均值，并将当前节点电容的触摸数据减去所述平均值后，将得到的数据的绝对值除以当前节点电容的触摸数据，得到当前节点电容对应的整屏偏差值，之后判断各个整屏偏差值是否超过所述整屏偏差标准值，并将超过所述整屏偏差标准值的整屏偏差值对应的当前节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出。

9.一种电子设备，包括电容式触摸屏，其特征在于，所述电子设备还包括一如权利要求7或8任一项所述的电容式触摸屏的测试***。

10.如权利要求9所述的电子设备，其特征在于，所述电子设备是电容式触控设备，所述电子设备还包括：

所述电容式触摸屏的触摸屏驱动芯片；以及

显示屏，用于显示所述分析模块输出的所述分析结果。