CN102957494B - 一种盲检校验方法以及相关装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种盲检校验方法以及相关装置，用于快速地完成下行控制信息的盲检校验。本发明实施例方法包括：获取译码后的N位下行控制信息；对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果，所述M为CRC校验位数，所述M为大于1的整数，所述N大于M；对M位CRC校验结果进行无线网络临时标识RNTI加掩，得到M位RNTI加掩结果；将所述M位RNTI加掩结果与所述N位下行控制信息中的最后M位进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败。此外，本发明还提供了实现该方法的相关装置。

Description

一种盲检校验方法以及相关装置

技术领域

本发明涉及通信领域，尤其涉及一种盲检校验方法以及相关装置。

背景技术

在长期演进(LTE，Long Term Evolution)协议下的下行物理控制信道(PDCCH，Physical Downlink Control Channel)中进行下行控制信息(DCI，Downlink Control Information)的传输，由于用户设备(UE，User Equipment)一般不知道当前传送的DCI是什么类型的信息，也不知道自己需要的信息在哪个位置。但是UE知道自己当前在期待什么信息，例如在空闲(Idle)状态的UE期待的信息是paging，SI；在发起随机访问(Random Access)后，期待的是RACH Response；在有上行数据等待发送的时，期待UL Grant等。对于不同的期望信息，UE用相应的无线网络临时标识(RNTI，radio network temporaryidentifier)去和控制信道单元(CCE，Control Channel Element)信息(承载DCI的基本单元是CCE)做循环冗余校验码(CRC，Cyclic Redundancy Check)校验，如果CRC校验成功，那么UE就知道这个信息是自己需要的，也知道相应的DCI类型，从而进一步解出DCI内容，这就是盲检的过程。

在下行控制信息的发送端确定好相关数据之后，对下行控制信息依次进行编码，CRC校验，RNTI加掩以及速率匹配等处理，将进行上述处理后的下行控制信息映射到空口资源上进行发送。

在现有技术中，UE端若需要接收上述下行控制信息，则需要对该下行控制信息进行盲检，即在计算得到的搜索空间上搜索该下行控制信息所在的位置，对该位置的下行控制信息进行译码，并依次对译码后的下行控制信息进行RNTI解掩和CRC校验，若经CRC校验后，该下行控制消息的值全为零，则UE端的盲检成功。

现有技术在检验盲检结果时是按发送端的逆操作进行检验的，即先对译码后的下行控制信息进行RNTI解掩，然后对每次RNTI解掩的结果进行一次CRC校验，由于UE端需要对每个RNTI值都进行一次解掩，若需要对A次盲检结果进行RNTI解掩，后续则需要进行A×B(B为RNTI的个数)次CRC校验；显然，随着盲检次数以及RNTI个数的增加，CRC校验次数也会陡增，大大增加了处理时延。

发明内容

本发明实施例提供了一种盲检校验方法以及相关装置，用于快速地完成下行控制信息的盲检校验。

本发明提供的盲检校验方法，包括：获取译码后的N位下行控制信息；对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果，所述M为CRC校验位数，所述M为大于1的整数，所述N大于M；对所述M位CRC校验结果进行无线网络临时标识RNTI加掩，得到M位RNTI加掩结果；将所述M位RNTI加掩结果与所述N位下行控制信息中的最后M位进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败。

本发明提供的盲检校验方法，包括：获取译码后的N位下行控制信息；对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果，所述M为CRC校验位数，所述M大于1的整数，所述N大于M；对所述N位下行控制信息中的最后M位进行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩结果；将所述M位RNTI解掩结果与所述M位CRC校验结果进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败。

本发明提供的盲检校验装置，包括：获取单元，用于获取译码后的N位下行控制信息；校验单元，用于对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果，所述M为CRC校验位数，所述M为大于1的整数，所述N大于M；加掩单元，用于对所述M位CRC校验结果进行无线网络临时标识RNTI加掩，得到M位RNTI加掩结果；对比单元，用于将所述M位RNTI加掩结果与所述N位下行控制信息中的最后M位进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败。

本发明提供的盲检校验装置，包括：获取单元，用于获取译码后的N位下行控制信息；校验单元，用于对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果，所述M为CRC校验位数，所述M为大于1的整数，所述N大于M；解掩单元，用于对所述N位下行控制信息中的最后M位进行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩结果；盲检判断单元，用于将所述M位RNTI解掩结果与所述M位CRC校验结果进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败。

从以上技术方案可以看出，本发明实施例具有以下优点：本发明在对下行控制信息进行CRC校验时，先去掉该下行控制信息的CRC校验位(即只对N减M位的下行控制信息进行CRC校验)，使得在盲检校验的过程中无需先执行RNTI解掩，也可以完成盲检校验。由于UE端先进行CRC校验，在执行RNTI解掩，则在需要对A次盲检结果进行盲检校验的情况下，UE端只需执行A次CRC校验，有效的减小了处理时延，提高了盲检校验的效率。

附图说明

图1是本发明实施例中盲检校验方法的一个流程示意图；

图2是本发明实施例中盲检校验方法的一个信令流程图；

图3是本发明实施例中CRC校验电路的结构示意图；

图4是本发明实施例中盲检校验方法的另一个流程示意图；

图5是本发明实施例中盲检校验装置的一个结构示意图；

图6是本发明实施例中盲检校验装置的另一个结构示意图。

具体实施方式

本发明实施例提供了一种盲检校验方法以及相关装置，用于快速地完成下行控制信息的盲检校验。

请参阅图1，本发明实施例中盲检检验方法的一个实施例包括：

101、UE端获取译码后的N位下行控制信息；

UE端获取译码后的N位下行控制信息，N的具体数值(即该下行控制信息的数据长度)由该下行控制信息的发送端决定。

假设原始的下行控制消息有K位，发送端在对K位的下行控制消息进行编码之后，先对编码后的下行控制消息进行CRC校验，得到M位的CRC校验结果，M为CRC校验位数，M值取决于CRC校验电路中寄存器的数目，M为大于1的整数，N大于M；然后，对该M位的CRC校验结果进行RNTI加掩，得到M位RNTI加掩结果；最后，将该M位RNTI加掩结果追加到编码后的K位下行控制消息之后，得到N位下行控制信息，将该N位下行控制信息映射到空口资源上进行发送；上述的K和M皆正整数，且K+M＝N。

UE端在计算得到的搜索空间上搜索该N位下行控制信息所在的位置，对该位置的N位下行控制信息进行译码，得到译码后的N位下行控制信息。

102、UE端对N减M位下行控制信息进行CRC校验；

UE端对N减M位下行控制信息进行CRC校验，得到M位CRC校验结果，M为CRC校验位数，且为小于N的正整数。

上述CRC校验的方法和发送端的CRC校验一致，在实际应用中，发送端可以将具体的CRC校验方法通过传输消息的形式发送给接收端，也可以在预设CRC校验方法时，将发送端和UE端的CRC校验方法预设为相同的，具体的实现方式此处不作限定。

在本发明实施例中，在进行CRC校验时，先去掉该下行控制信息的CRC校验位(由于UE端的CRC校验与发送端的一致，因此也可以获知CRC校验位的长度)，使得在盲检校验的过程中无需先执行RNTI解掩，也可得到原K(即N减M)位下行控制信息在发送端进行CRC校验后得到的M位CRC校验结果。

103、UE端对M位CRC校验结果进行RNTI加掩；

UE端对M位CRC校验结果进行RNTI加掩，得到M位RNTI加掩结果。

UE端的RNTI加掩方法和上述发送端所使用的RNTI加掩方法也是相同的。

104、UE端将M位RNTI加掩结果与N位下行控制信息中的最后M位进行比对。

UE端将M位RNTI加掩结果与上述译码后的N位下行控制信息中的最后M位进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败。

由于上述得到的M位CRC校验结果和发送端得到的M位CRC校验结果是一致的，只要仿照发送端进行RNTI加掩的处理过程对M位CRC校验结果进行加掩，得到的M位RNTI加掩结果和发送端的RNTI加掩结果也会是相同的，且发送端的RNTI加掩结果追加在K位下行控制消息之后，即N位下行控制信息中的最后M位，因此，只要UE端的译码没有出错，且UE端盲检到了正确的下行控制信息，则M位RNTI加掩结果与译码后的N位下行控制信息中的最后M位肯定是相同的。

本发明在对下行控制信息进行CRC校验时，先去掉该下行控制信息的CRC校验位(即只对N减M位的下行控制信息进行CRC校验)，使得在盲检校验的过程中无需先执行RNTI解掩，也可以完成盲检校验。由于UE端先进行CRC校验，再执行RNTI解掩，则在需要对A次盲检结果进行盲检校验的情况下，UE端只需执行A次CRC校验，有效的减小了处理时延，提高了盲检校验的效率。

下面从下行控制信息的发送端到UE端对本发明的盲检校验方法进行描述，本发明实施例中盲检检验方法的另一个实施例包括：

201、发送端确定下行控制信息所在CCE资源的位置；

发送端根据资源使用情况确定下行控制信息的发送时需要采用的聚合级别(L)，然后根据RNTI值和子帧号信息计算出下行控制信息所在CCE资源的位置。

202、发送端对下行控制信息依次进行编码；

在确定上述下行控制信息所在CCE资源的位置之后，发送端再根据当前资源的使用情况确定机会编号m；发送端再根据上述聚合级别L以及机会编号m对下行控制信息依次进行编码以及速率匹配，得到承载了K位下行控制信息的数据流。

203、发送端对下行控制信息进行CRC校验；

发送端对上述K位的下行控制信息进行CRC校验，得到M位的CRC校验结果，M为CRC校验位数，K和M皆为正整数。

假设K值为57，确定的CRC校验位为16位，16位CRC校验电路的生成多项式为：g_CRC16(D)＝[D¹⁶+D¹²+D⁵+1]for a CRC length L＝16

上述多项式对应本发明实施例中的图3，上述length L为聚合级别，上述公式中的D为输入的延时节拍，如：D¹⁶表示延时16个节拍；

发送端对57位的下行控制信息进行CRC校验的具体过程如下：

首先，发送端建立16位的CRC校验电路，其中，包括有16个寄存器，自右而左，如图3所述，16个寄存器分别对应图中的D15至D0；在该16个寄存器中，位值为1的寄存器的右边都有一个异或电路；

然后，上述57位的下行控制信息从图3中的最左边进入CRC校验电路，每次一个比特位，每下一个比特位进入时，寄存器中的比特位右移一位。经过异或电路的异或后进入下一位；最右边的寄存器发送比特位到各异或电路，作为第二个操作数；初始时寄存器全为零，进入的下行控制信息从第一位的寄存器开始，到进入最后一位的寄存器结束，此时16位寄存器中的内容即为57位下行控制信息的16位CRC校验结果。

上面仅以一些例子对本发明实施例中的应用场景进行了说明，可以理解的是，在实际应用中，还可以有更多的应用场景，具体此处不作限定。

204、发送端对CRC校验结果进行RNTI加掩；

发送端对上述M位的CRC校验结果进行RNTI加掩，并把M位的RNTI加掩结果追加在上述K位编码后的下行控制信息之后，得到N(K+M＝N)位的下行控制信息。

205、发送端向UE端发送N位的下行控制信息；

发送端将上述N位下行控制信息进行调制以及资源映射，将处理后的N位下行控制信息映射到空口资源上，向UE端发送。

206、UE端在空口资源上搜索N位下行控制信息；

UE端根据当前的RNTI值计算出上述N位下行控制信息在PDCCH中的搜索空间，UE端再根据计算得到的搜索空间搜索该N位下行控制信息(即为盲检过程)。

207、UE端对N位下行控制信息进行译码；

UE端对上述搜索到的N位下行控制信息进行译码，得到译码后的N位下行控制信息。

208、UE端对N减M位下行控制信息进行CRC校验；

UE端使用发送端的CRC校验电路对N减M位下行控制信息进行CRC校验，得到M位CRC校验结果。

在本发明实施例中，在进行CRC校验时，先去掉该下行控制信息的CRC校验位(由于UE端的CRC校验与发送端的一致，因此也可以获知CRC校验位的长度)，使得在盲检校验的过程中无需先执行RNTI解掩，也可得到原K(即N减M)位下行控制信息在发送端进行CRC校验后得到的M位CRC校验结果。

209、UE端对M位CRC校验结果进行RNTI加掩；

UE端对M位CRC校验结果进行RNTI加掩，得到M位RNTI加掩结果。

UE端的RNTI加掩方法和上述发送端所使用的RNTI加掩方法也是相同的。

210、UE端将M位RNTI加掩结果与N位下行控制信息中的最后M位进行比对。

UE端将M位RNTI加掩结果与上述译码后的N位下行控制信息中的最后M位进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败。

上述实施例中，UE端在盲检校验中对比的是发送端加掩后的CRC校验位，而在实际应用中，UE端也可以对比加掩前的CRC校验位，同样可以实现下行控制信息的盲检校验，请参阅图4，本发明实施例中盲检检验方法的另一个实施例包括：

401、UE端获取译码后的N位下行控制信息；

UE端获取译码后的N位下行控制信息，N的具体数值由该下行控制信息的发送端决定。

假设原始的下行控制消息有K位，发送端在对K位的下行控制消息进行编码之后，先对编码后的下行控制消息进行CRC校验，得到M位的CRC校验结果，M为CRC校验位数，M值取决于CRC校验电路中寄存器的数目，M为大于1的整数，N大于M；然后，对该M位的CRC校验结果进行RNTI加掩，得到M位RNTI加掩结果；最后，将该M位RNTI加掩结果追加到编码后的K位下行控制消息之后，得到N位下行控制信息，将该N位下行控制信息映射到空口资源上进行发送；上述的K和M皆正整数，且K+M＝N。

UE端在计算得到的搜索空间上搜索该N位下行控制信息所在的位置，对该位置的N位下行控制信息进行译码，得到译码后的N位下行控制信息。

402、UE端对N减M位下行控制信息进行CRC校验；

UE端对N减M位下行控制信息进行CRC校验，得到M位CRC校验结果，M为CRC校验位数，且为小于N的正整数。

上述CRC校验的方法和发送端的CRC校验一致，在实际应用中，发送端可以将具体的CRC校验方法通过传输消息的形式发送给发送端，也可以在预设CRC校验方法时，将发送端和UE端的CRC校验方法预设为相同的，具体的实现方式此处不作限定。

对N减M位下行控制信息进行CRC校验的具体过程可以为：

建立由M个寄存器组成的校验电路，该M个寄存器的初始值为0；将上述N减M位下行控制信息依次输入所述校验电路，当该N减M位下行控制信息完全经过CRC校验电路的处理后，将该M个寄存器中的当前值作为M位CRC校验结果。

在本发明实施例中，在进行CRC校验时，先去掉该下行控制信息的CRC校验位，使得在盲检校验的过程中无需先执行RNTI解掩，也可得到原K位下行控制信息在发送端进行CRC校验后得到的M位CRC校验结果。

403、UE端N位下行控制信息中的最后M位进行RNTI解掩；

UE端对上述N位下行控制信息中的最后M位进行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩结果。

由于发送端是将加掩后的M位CRC校验结果追加在K位的下行控制消息之后，故直接对上述N位下行控制信息中的最后M位进行RNTI解掩后，即可得到发送端加掩前的M位CRC校验结果。

404、UE端将M位RNTI解掩结果与M位CRC校验结果进行比对。

UE端将步骤403得到的M位RNTI解掩结果与步骤402得到的M位CRC校验结果进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败。

在UE端对译码后的N减M位下行控制信息进行CRC校验，相对于在发送端对原始的K位下行控制信息进行CRC校验，得到的M位CRC校验也是一致的，因此，直接将M位RNTI解掩结果与M位CRC校验结果作比对，也可以实现下行控制信息的盲检校验，同时，又不会产生由于先对整体的N为下行控制信息进行解掩而导致的大量处理时延。

下面对用于执行上述盲检校验方法的本发明盲检校验装置的实施例进行说明，其逻辑结构请参考图5，本发明实施例中盲检校验装置的一个实施例包括：

获取单元501，用于获取译码后的N位下行控制信息；

校验单元502，用于对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果，M为大于1的整数，N大于M；

加掩单元503，用于对M位CRC校验结果进行无线网络临时标识RNTI加掩，得到M位RNTI加掩结果；

对比单元504，用于将上述M位RNTI加掩结果与上述N位下行控制信息中的最后M位进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败。

本发明实施例中的校验单元502可以包括：

电路建立模块5021，用于建立由M个寄存器组成的校验电路，该M个寄存器的初始值为0；

输入校验模块5022，用于将N减M位下行控制信息依次输入上述校验电路，当该N减M位下行控制信息完全经过该校验电路的处理后，将M个寄存器的当前值作为M位CRC校验结果。

本发明实施例盲检校验装置中各个单元具体的交互过程如下：

获取单元501获取译码后的N位下行控制信息，N的具体数值(即该下行控制信息的数据长度)由该下行控制信息的发送端决定。

校验单元502对N减M位下行控制信息进行CRC校验，得到M位CRC校验结果，M为CRC校验位数，且为小于N的正整数。

上述CRC校验的方法和发送端的CRC校验一致，在实际应用中，发送端可以将具体的CRC校验方法通过传输消息的形式发送给发送端，也可以在预设CRC校验方法时，将发送端和UE端的CRC校验方法预设为相同的，具体的实现方式此处不作限定。在本发明实施例中，在进行CRC校验时，先去掉该下行控制信息的CRC校验位(由于UE端的CRC校验与发送端的一致，因此也可以获知CRC校验位的长度)，使得在盲检校验的过程中无需先执行RNTI解掩，也可得到原K(即N减M)位下行控制信息在发送端进行CRC校验后得到的M位CRC校验结果。

校验单元502对N减M位下行控制信息进行CRC校验具体可以包括：电路建立模块5021建立由M个寄存器组成的校验电路，M个寄存器的初始值为0；然后输入校验模块5022将N减M位下行控制信息依次输入上述校验电路，当该N减M位下行控制信息完全经过该校验电路的处理后，将M个寄存器的当前值作为M位CRC校验结果。

在得到M位CRC校验结果之后，加掩单元503对M位CRC校验结果进行RNTI加掩，得到M位RNTI加掩结果，UE端的RNTI加掩方法与发送端所使用的RNTI加掩方法相同。最后，对比单元504将M位RNTI加掩结果与上述译码后的N位下行控制信息中的最后M位进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败。

由于上述得到的M位CRC校验结果和发送端得到的M位CRC校验结果是一致的，只要仿照发送端进行RNTI加掩的处理过程对M位CRC校验结果进行加掩，得到的M位RNTI加掩结果和发送端的RNTI加掩结果也会是相同的，且发送端的RNTI加掩结果追加在K位下行控制消息之后，即N位下行控制信息中的最后M位，因此，只要UE端的译码没有出错，且UE端盲检到了正确的下行控制信息，则M位RNTI加掩结果与译码后的N位下行控制信息中的最后M位肯定是相同的。

请参考图6，本发明实施例中盲检校验装置的另一个实施例包括：

获取单元601，用于获取译码后的N位下行控制信息；

校验单元602，用于对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果，M为CRC校验位数，M为小于N的正整数；

解掩单元603，用于对上述N位下行控制信息中的最后M位进行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩结果；

盲检判断单元604，用于将上述M位RNTI解掩结果与M位CRC校验结果进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败。

本发明实施例中的校验单元可以包括：

电路建立模块6021，用于建立由M个寄存器组成的校验电路，该M个寄存器的初始值为0；

输入校验模块6022，用于将N减M位下行控制信息依次输入上述校验电路，当该N减M位下行控制信息完全经过该校验电路的处理后，将M个寄存器的当前值作为M位CRC校验结果。

本发明实施例盲检校验装置中各个单元具体的交互过程如下：

获取单元601获取译码后的N位下行控制信息，N的具体数值(即该下行控制信息的数据长度)由该下行控制信息的发送端决定。

校验单元602对N减M位下行控制信息进行CRC校验，得到M位CRC校验结果，M为CRC校验位数，且为小于N的正整数。

上述CRC校验的方法和发送端的CRC校验一致，在实际应用中，发送端可以将具体的CRC校验方法通过传输消息的形式发送给发送端，也可以在预设CRC校验方法时，将发送端和UE端的CRC校验方法预设为相同的，具体的实现方式此处不作限定。在本发明实施例中，在进行CRC校验时，先去掉该下行控制信息的CRC校验位(由于UE端的CRC校验与发送端的一致，因此也可以获知CRC校验位的长度)，使得在盲检校验的过程中无需先执行RNTI解掩，也可得到原K(即N减M)位下行控制信息在发送端进行CRC校验后得到的M位CRC校验结果。电路建立模块6021和输入校验模块6022的具体实现功能与上述图5实施例中电路建立模块5021和输入校验模块5022的相同，此处不再赘述。

解掩单元603对上述N位下行控制信息中的最后M位进行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩结果。由于发送端是将加掩后的M位CRC校验结果追加在K位的下行控制消息之后，故直接对上述N位下行控制信息中的最后M位进行RNTI解掩后，即可得到发送端加掩前的M位CRC校验结果。

在得到M位RNTI解掩结果以及M位CRC校验结果之后，盲检判断单元604将该M位RNTI解掩结果以及M位CRC校验结果进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败。

在UE端对译码后的N减M位下行控制信息进行CRC校验，相对于在发送端对原始的K位下行控制信息进行CRC校验，得到的M位CRC校验也是一致的，因此，直接将M位RNTI解掩结果与M位CRC校验结果作比对，也可以实现下行控制信息的盲检校验。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (5)

1.一种盲检校验方法，其特征在于，包括：

获取译码后的N位下行控制信息；

对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果，所述M为CRC校验位数，所述M为大于1的整数，所述N大于M；

对所述M位CRC校验结果进行无线网络临时标识RNTI加掩，得到M位RNTI加掩结果；

将所述M位RNTI加掩结果与所述N位下行控制信息中的最后M位进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败；

所述对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果的过程，包括：

建立由M个寄存器组成的校验电路，所述M个寄存器的初始值为0；

将所述N减M位下行控制信息依次输入所述校验电路，当所述N减M位下行控制信息完全经过所述校验电路的处理后，将所述M个寄存器的当前值作为M位CRC校验结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述M为16。

3.一种盲检校验方法，其特征在于，包括：

获取译码后的N位下行控制信息；

对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果，所述M为CRC校验位数，所述M大于1的整数，所述N大于M；

对所述N位下行控制信息中的最后M位进行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩结果；

将所述M位RNTI解掩结果与所述M位CRC校验结果进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败；

所述对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果的过程，包括：

建立由M个寄存器组成的校验电路，所述M个寄存器的初始值为0；

将所述N减M位下行控制信息依次输入所述校验电路，当所述N减M位下行控制信息完全经过所述校验电路的处理后，将所述M个寄存器的当前值作为M位CRC校验结果。

4.一种盲检校验装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取译码后的N位下行控制信息；

校验单元，用于对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果，所述M为CRC校验位数，所述M为大于1的整数，所述N大于M；

加掩单元，用于对所述M位CRC校验结果进行无线网络临时标识RNTI加掩，得到M位RNTI加掩结果；

对比单元，用于将所述M位RNTI加掩结果与所述N位下行控制信息中的最后M位进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败；

所述校验单元包括：

电路建立模块，用于建立由M个寄存器组成的校验电路，所述M个寄存器的初始值为0；

输入校验模块，用于将所述N减M位下行控制信息依次输入所述校验电路，当所述N减M位下行控制信息完全经过所述校验电路的处理后，将所述M个寄存器的当前值作为M位CRC校验结果。

5.一种盲检校验装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取译码后的N位下行控制信息；

校验单元，用于对N减M位下行控制信息进行循环冗余校验码CRC校验，得到M位CRC校验结果，所述M为CRC校验位数，所述M为大于1的整数，所述N大于M；

解掩单元，用于对所述N位下行控制信息中的最后M位进行RNTI解掩，得到M位RNTI解掩结果；

盲检判断单元，用于将所述M位RNTI解掩结果与所述M位CRC校验结果进行比对，若相同，则盲检成功，若不相同，则盲检失败；

所述校验单元包括：

电路建立模块，用于建立由M个寄存器组成的校验电路，所述M个寄存器的初始值为0；

输入校验模块，用于将所述N减M位下行控制信息依次输入所述校验电路，当所述N减M位下行控制信息完全经过所述校验电路的处理后，将所述M个寄存器的当前值作为M位CRC校验结果。