CN102866755A - 集成测试***上电复位装置 - Google Patents
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Abstract
集成测试***上电复位装置,涉及一种集成测试***上电复位装置。为了解决目前集成测试***的上电复位可靠性总是存在不稳定的情况的问题。它包括:CPU控制芯片,用于从Flash存储器中启动bootloader初始化CPU的各个寄存器;还用于读取DDR2模块的集成测试***的各个外设模块的固定地址,并判断所述地址的值是否为预设定值,若否,向所述地址写入预设值,并将复位信号通过PXIe接口模块发送给集成测试***的各个外设模块,若是,继续启动集成测试***;PXIe接口模块,用于连接CPU控制芯片与集成测试***的各个外设模块互相通讯;DDR2模块,用于存储可靠性复位判断标志。用于锂集成测试***可靠性复位。
Description
技术领域
本发明涉及一种集成测试***上电复位装置。
背景技术
随着集成测试***设备在军用和民用市场的日益普及,各个厂商及研究院所开发的满足不同需求的集成测试***(如VXI,PXI,PXIE)的***模块及外设模块也大量投入使用。各个厂商及研究院所的模块都是基于相关规范而生产,故它们之间可以兼容使用,但是由于每个模块的器件性能以及上电时序的影响,并不能保证所有外设模块都能上电有效复位,导致***控制器不能有效的检测到外设模块及对其进行相应的初始化。随着对集成测试***的深入研究,发现目前集成测试***的上电复位可靠性总是存在不稳定的情况。
发明内容
本发明的目的是为了解决目前集成测试***的上电复位可靠性总是存在不稳定的情况的问题,本发明提供一种集成测试***上电复位装置。
本发明的集成测试***上电复位装置,它包括CPU控制芯片、PXIe接口模块、DDR2模块和电源模块;
CPU控制芯片,用于从Flash存储器中启动bootloader初始化CPU的各个寄存器;还用于读取DDR2模块的集成测试***的各个外设模块的固定地址,并判断所述地址的值是否为预设定值,若否,向所述地址写入预设值,并将复位信号通过PXIe接口模块发送给集成测试***的各个外设模块,若是,继续启动集成测试***;
PXIe接口模块,用于连接CPU控制芯片与集成测试***的各个外设模块互相通讯;
DDR2模块,用于存储可靠性复位判断标志;
电源模块,用于为CPU控制芯片、PXIe接口模块和DDR2模块提供工作电源。
本发明的有益效果为:本发明可以让集成测试***的控制器能够在上电的时候可靠的复位各个外设模块,使其能正常工作。本发明可广泛应用于各种集成测试***的***控制器,无需对原有的硬件进行改动,只需要在上电过程中用软件做一定的处理即可满足需求。
附图说明
图1为本发明所述的集成测试***上电复位装置的整体结构示意图。
具体实施方式
具体实施方式一:结合图1说明本实施方式,本实施方式所述的集成测试***上电复位装置,
它包括CPU控制芯片、PXIe接口模块、DDR2模块和电源模块;
CPU控制芯片,用于从Flash存储器中启动bootloader初始化CPU的各个寄存器;还用于读取DDR2模块的集成测试***的各个外设模块的固定地址,并判断所述地址的值是否为预设定值,若否,向所述地址写入预设值,并将复位信号通过PXIe接口模块发送给集成测试***的各个外设模块,若是,继续启动集成测试***;
PXIe接口模块,用于连接CPU控制芯片与集成测试***的各个外设模块互相通讯;
DDR2模块,用于存储可靠性复位判断标志;
电源模块,用于为CPU控制芯片、PXIe接口模块和DDR2模块提供工作电源。
PXIe(PCI((Peripheral Component Interconnection,周边元件扩展接口)eXtensions for Instrumentation Express,仪器利用其所使用的快速PCI总线)接口模块;
DDR2(Double Data Rate 2,双倍速率同步动态随机存储器2);
Bootloader为集成测试***内核运行之前运行的一段小程序,启动Bootloader,是为了初始化硬件,然后引导集成测试***内核,直到集成测试***启动。
CPU控制芯片,负责管理***控制器上的各个外设以及与集成测试***的各个外设模块通信。在***上电时候,负责完成上电可靠性复位机制。
本实施方式中的DDR2模块采用CPU自带的DDR2控制器外加一个DDR2连接器,主要为CPU提供***运行的环境。
在***上电的时候,CPU从Flash中启动bootloader,初始化CPU的各个寄存器使相关的片上控制器可以正常工作,当bootloader完成了对DDR2模块的初始化后,CPU读取DDR2模块的内存条某几个固定的地址,如果读出的值不为预先设定值,那么CPU向以上地址写入预设值并复位***重启,复位信号通过PXIE连接器传送到集成测试***的各个外设模块,这样就完成了再复位,利用DDR2模块的掉电数据丢失的机制,只要***不掉电,就有且仅有一次复位。此时集成测试***的各个外设模块已经完成了上电过程,此刻复位就已经非常可靠。
具体实施方式二:本实施方式是对具体实施方式一所述的集成测试***上电复位装置的进一步说明,CPU控制芯片为飞思卡尔公司的型号为MPC8536芯片。
具体实施方式三:本实施方式是对具体实施方式一所述的集成测试***上电复位装置的进一步说明,PXIe接口模块包括PCIe交换芯片和PXIe连接器;PCIe交换芯片与CPU和PXIe连接器相连,完成CPU的PCI Express总线到PXIe连接器的路由功能。
具体实施方式四:本实施方式是对具体实施方式三所述的集成测试***上电复位装置的进一步说明,PCIe交换芯片为PLX公司的PEX8624芯片。
PCIe交换芯片采用PLX公司的PEX8624芯片来实现PCI Express接口路由电路。
本发明提供一种能让***控制器在集成测试***上电的时候对外设模块进行可靠性复位的方法,让各个厂商及研究院所的各个模块之间能更好的兼容。
Claims (4)
1.集成测试***上电复位装置,其特征在于,它包括CPU控制芯片、PXIe接口模块、DDR2模块和电源模块;
CPU控制芯片,用于从Flash存储器中启动bootloader初始化CPU的各个寄存器;还用于读取DDR2模块的集成测试***的各个外设模块的固定地址,并判断所述地址的值是否为预设定值,若否,向所述地址写入预设值,并将复位信号通过PXIe接口模块发送给集成测试***的各个外设模块,若是,继续启动集成测试***;
PXIe接口模块,用于连接CPU控制芯片与集成测试***的各个外设模块互相通讯;
DDR2模块,用于存储可靠性复位判断标志信息;
电源模块,用于为CPU控制芯片、PXIe接口模块和DDR2模块提供工作电源。
2.根据权利要求1所述的集成测试***上电复位装置,其特征在于,CPU控制芯片为飞思卡尔公司的型号为MPC8536芯片。
3.根据权利要求1所述的集成测试***上电复位装置,其特征在于,PXIe接口模块包括PCIe交换芯片和PXIe连接器;PCIe交换芯片与CPU和PXIe连接器相连,完成CPU的PCIExpress总线到PXIe连接器的路由功能。
4.根据权利要求3所述的集成测试***上电复位装置,其特征在于,PCIe交换芯片为PLX公司的PEX8624芯片。
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WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20130109 |