CN102810122A - 电子产品设计的验证***和方法 - Google Patents

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Abstract

一种电子产品设计的验证***及方法,包括步骤:建立预设格式的电子产品设计模块与产品模块的失效模型数据于数据库中;当利用计算机的模块化设计***完成后,读取设计模块的失效模型数据检查电子产品的设计是否合格;当检查电子产品的设计合格时,读取产品模块的失效模型数据以对电子产品的产品模块进行验证,当电子产品的产品模块验证成功时,获取运行该电子产品的故障数据,当获取到故障数据时,更新该故障数据转化的预设格式的失效模型数据至数据库中。利用本发明可以方便用户能快速有效地对电子产品设计进行验证。

Description

电子产品设计的验证***和方法
技术领域
本发明涉及一种电子产品设计的验证***和方法。
背景技术
随着科技的日益进步和发展,一套完整的电子产品设计也越来越复杂起来,例如计算机***,一套基本的计算机***包含机箱、电源、计算机板、中央处理器CPU、内存条以及相应的存贮设备硬盘等。因此电子产品的设计也随之变得复杂起来。此外,对电子产品设计的验证是一个最重要的环节。针对复杂的电子产品设计,如果验证电子产品设计的环节效率不高,那么计算机***设计可靠性也不高,同时也大大增加了整个开发电子产品设计的成本。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种电子产品设计的验证方法,有效地对电子产品设计进行验证,提高计算机***设计的可靠性。
此外,还有必要提供一种电子产品设计的验证***,有效地对电子产品设计进行验证,提高计算机***设计的可靠性。
一种电子产品设计的验证方法,应用于计算机上,该方法包括:建立步骤:建立预设格式的电子产品的设计模块与产品模块失效模型数据,并存储于计算机的数据库中;检查步骤:当利用计算机的模块化设计***完成电子产品的设计后,读取数据库中的设计模块的失效模型数据,对电子产品的设计进行失效检查,以判断电子产品的设计是否合格;验证步骤:当电子产品的设计合格时,读取数据库中的产品模块的失效模型数据,对电子产品的产品模块进行验证;获取步骤:当电子产品的产品模块验证成功时,获取运行该电子产品的故障数据;更新步骤:当获取到故障数据时,更新该故障数据转化的预设格式的失效模型数据至数据库中。
一种电子产品设计的验证***,运行于计算机上,该***包括:建立模块,用于建立预设格式的电子产品的设计模块与产品模块失效模型数据,并存储于计算机的数据库中;检查模块,用于当利用计算机的模块化设计***完成电子产品的设计后,读取数据库中的设计模块的失效模型数据,对电子产品的设计进行失效检查,以判断电子产品的设计是否合格;验证模块,用于当电子产品的设计合格时,读取数据库中的产品模块的失效模型数据,对电子产品的产品模块进行验证;获取模块,用于当电子产品的产品模块验证成功时,获取运行该电子产品的故障数据;更新模块,用于当获取到故障数据时,当获取到故障数据时,更新该故障数据转化的预设格式的失效模型数据至数据库中。
相较于现有技术,本发明提供的电子产品设计的验证***及方法,基于FMEA(Failure Mode and Effects Analysis,失效模式与影响分析)的原理,有效地对电子产品设计进行验证,降低了一定的设计开发成本、提高了电子产品设计的可靠性,同时也提高了电子产品设计的效率。
附图说明
图1是本发明电子产品设计的验证***较佳实施例的运行环境示意图。
图2是本发明电子产品设计的验证***的较佳实施例的功能模块图。
图3是本发明电子产品设计的验证***中失效模型数据较佳实施例的示意图。
图4是本发明电子产品设计的验证方法的较佳实施例的流程图。
主要元件符号说明
  计算机  1
  模块化设计***  10
  验证***  20
  数据库  30
  测试软件  40
  建立模块  200
  检查模块  202
  提示模块  204
  验证模块  206
  获取模块  208
  更新模块  210
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
针对本发明的专业词汇注释如下:
RPN(risk priority number,风险优先数)是事件发生的频率(发生度O)、严重程度(严重度S)和检测等级(难检度D)三者乘积,其数值愈大潜在问题愈严重,以便采取可能的预防措施减少关键的工艺变化,使工艺更加可靠。其中,发生度O:指具体的失效起因或机理发生的频度,分1-10级,从几乎不可能发生失效到发生失效几乎无法避免;严重度S:指潜在失效模式对顾客的影响后果的严重程度评价指标,一般分1-10级,从无失效后果到无警告的严重危害后果;难检度D:指失效的起因或机理不可探测的程度,分1-10级,从几乎肯定到几乎不可能探测。
如图1所示,是本发明电子产品设计的验证***较佳实施例的运行环境示意图。该电子产品设计的验证***20(以下简称“验证***20”)运行于计算机1中,该计算机1包括模块化设计***10、数据库30以及多个测试软件40。
所述的模块化设计***10用于采用模块化设计的方法进行电子产品设计。所述的电子产品可以是主板、计算机***、机箱等。所述模块化设计的方法是根据要求或规格将该电子产品定义及划分为多个模块,利用多个模块的电路图等来进行设计。
所述的数据库30用于存储各类数据,例如存储预设格式的失效模型数据。所述的数据库30是FMEA(Failure Mode and EffectsAnalysis,失效模式与影响分析)数据库,所述的FMEA是指依据质量目标所制定的技术文件,它根据经验分析产品设计与制造中存在的薄弱环节和可能产生的缺陷,以及这些缺陷将导致的后果与风险,在决策与实施中采取措施加以避免。所述的失效模型数据可以包括:预估失效模型、预估失效影响、严重度(S)、预估失效原因、发生率(O)、难检度(D)、RPN、建议控制措施等数据。
所述的测试软件40包括各类测试软件,用于对电子产品进行测试,例如,测试电子产品的设计模块,例如各类元器件,以及对电子产品设计成样品的各个产品模块进行测试等。
其中,电子产品设计的验证***20包含一个或多个软件模块,该一个或多个软件模块是具有特定功能的软件程序段,以完成对电子产品设计的验证。该电子产品设计的验证***20的功能将结合图2及图4中进行详细描述。
如图2所示,是本发明较佳实施例中电子产品设计的验证***20的功能模块图。该验证***20包括建立模块200、检查模块202、提示模块204、验证模块206、获取模块208以及更新模块210。
所述的建立模块200用于建立预设格式的电子产品的设计模块的失效模型数据与产品模块的失效模型数据并存储于数据库30中。所述的设计模块的失效模型数据是根据电子产品设计时的规格要求以及根据电子产品设计的经验建立的,是电子产品在设计时容易出现故障的数据。所述的产品模块的失效模型数据是根据验证电子产品时实际经验来建立的,是电子产品设计为实际样品之后在产品验证与测试阶段时容易出现的故障的数据。
所述的设计模块可以是电子产品的元器件,例如,电阻、电容、电感、二极管等。如图3(a)所示,是电子产品设计中,某个电阻的失效模型数据。假设电子产品为计算机***,所述的产品模块可以是处理器、网卡、内存等。例如图3(b)所示,是电子产品设计为实际样品之后,其中的NIC(Network Interface Card,网卡)的失效模型数据,其失效模型数据就如图3(b)表格中的数据所示。所述的预估失效模型表示失效情形;所述的严重度、发生率以及难检度是根据该预估失效模型设定的程度;所述的建议控制措施表示预设的解决措施。
所述的检查模块202用于当模块化设计***10根据客户的要求完成初步的电子产品设计时,读取数据库30中的设计模块的失效模型数据,对电子产品的设计进行失效检查,以判断电子产品的设计是否合格。具体检查步骤如下:针对设计模块的失效模型数据中每个设计模块均生成一个设计检查项目表,该设计检查项目表中的设计检查项目是根据该设计模块的预估失效模型生成的;读取计算机1中相应的测试软件40对电子产品的各设计模块中的设计检查项目依次进行测试,判断是否有任意一个设计检查项目的测试结果是该设计检查项目对应的预估失效模型。当有设计模块的设计检查项目的测试结果不是其对应的预估失效模型时,将该设计检查项目标记为OK,当电子产品的所有设计模块对应的设计检查项目都标记为OK时,表示没有设计模块的设计检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型,即表示电子产品的设计是合格的。一旦有设计模块的设计检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型,表示电子产品的设计是不合格的,不对该设计检查项目进行标记。
例如,若当一个设计模块只有一个预估失效模型时,该设计模块的设计检查项目表中就只有一个设计检查项目。结合图3(a)中的设计模块的失效模型数据,所述的设计检查项目表就只有一个检查项目:电阻,其预估失效模型是电阻烧掉。所述的检查模块202利用相应的测试软件40对该某个电路的电阻进行测试,判断是否是电阻烧掉的预估失效模型,如果是该估失效模型,电子产品设计不合格;如果不是该预估失效模型,标记该设计检查项目为OK。
提示模块204用于当有设计模块的设计检查项目的测试结果是对应的预估失效模型时,将该预估失效模型及其对应的失效模型数据提示给用户,例如其对应的预估失效原因、各预估失效原因对应的RPN值以及建议措施,让用户可以根据RPN值的高低依次检查是否是由于上述的预估失效原因造成的预估失效模型,并依据所述建议控制措施进行解决,利用模块化设计***10对该设计模块进行重新修改设计。
应说明的是,当模块化设计***10重新对电子产品进行修改设计后,所述的检查模块202从没有标记OK的设计检查项目开始进行检查。
验证模块206用于当电子产品的设计合格后,读取数据库30中的产品模块的失效模型数据,对电子产品的各产品模块进行验证,此时,所述的电子产品是以上述检查合格的电子产品设计为样板完成的产品样品。具体验证步骤:针对产品模块的失效模型数据中每个产品模块均生成一个产品检查项目表,该产品检查项目表中的产品检查项目是根据该产品模块的预估失效模型生成的;读取计算机1中相应的测试软件40对电子产品的各产品模块中的产品检查项目依次进行测试,判断是否有任意一个产品检查项目的测试结果是该产品检查项目对应的预估失效模型。当有产品模块的产品检查项目的测试结果不是其对应的预估失效模型时,将该产品检查项目标记为OK,当电子产品的所有产品模块对应的产品检查项目都标记为OK时,表示没有产品模块的产品检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型,即表示电子产品的产品模块验证成功。一旦有产品模块的产品检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型,表示电子产品验证不成功,不对该项目进行标记。
例如,若当一个产品模块只有一个预估失效模型时,该产品模块的设计检查项目表中就只有一个设计检查项目。如图3(b)中的NIC,所述生成的产品检查项目为两个:MAC address以及EEPROM data。所述的验证模块206利用相应的测试软件40对电子产品中NIC的MAC address、与EEPROM data依次进行测试,根据测试结果判断MAC address是否是其对应的预估失效模型“MAC address相同”;以及EEPROM data是否是其对应的预估失效模型“EEPROM datalost”;如果其中有一个产品检查项目是其对应的预估失效模型,则电子产品验证不成功。
所述的提示模块204还用于一旦有产品模块的产品检查项目的测试结果是对应的预估失效模型时,提示将该预估失效模型及其对应失效模型数据,例如预估失效原因、各预估失效原因对应的RPN值以及建议措施,让用户可以根据RPN值的高低依次检查是否是由于上述的预估失效原因造成的预估失效模型,并依据所述建议控制措施进行解决,然后重新验证。当验证模块206重新验证时,也是从没有标记OK的产品检查项目开始进行验证。
所述的获取模块208用于当电子产品的产品模块验证成功时,获取运行该电子产品的故障数据,并判断是否获取到故障数据。所述的故障数据包括电子产品在使用或运行时出现缺陷和问题的数据。如果没有获取到故障数据,表示电子产品的设计是成功的,可以直接进行后续的量产等工作。
如果获取到故障数据时,所述的更新模块210用于更新该故障数据转化的预设格式的失效模型数据至数据库30中。应说明的是,这里故障数据转化的预设格式的失效模型数据主要指电子产品的设计模块的失效模型数据,也可以是电子产品的产品模块的失效模型数据。
应说明的是,所述的更新模块210还用于根据实际经验,将不容易出现缺陷的失效模型数据进行删减,使电子产品设计的验证更加快速方便。
如图4所示,是本发明电子产品设计的验证方法较佳实施例的流程图。步骤S100,建立模块200用于建立预设格式的电子产品的设计模块的失效模型数据与产品模块的失效模型数据并存储于数据库30中。所述的设计模块的失效模型数据是根据电子产品设计的规格要求以及根据电子产品设计的经验建立的,是电子产品在设计时容易出现故障的数据。所述的产品失效模型是根据验证电子产品时实际经验来建立的,是电子产品设计为实际样品之后在产品验证与测试阶段时容易出现的故障的数据。
步骤S101,模块化设计***10根据客户的要求对电子产品进行初步设计。
步骤S102,当模块化设计***10完成初步的电子产品的设计时,所述的检查模块202读取数据库30中的设计模块的失效模型数据,对电子产品的设计进行失效检查,以判断电子产品的设计是否合格。
在步骤S102中,具体检查步骤如下:针对设计模块的失效模型数据中每个设计模块均生成一个设计检查项目表(Design checklist),该设计检查项目表中的设计检查项目是根据该设计模块的预估失效模型生成的;读取计算机1中相应的测试软件40对电子产品的各设计模块中的设计检查项目依次进行测试,判断是否有任意一个设计检查项目的测试结果是该设计检查项目对应的预估失效模型。当有设计模块的设计检查项目的测试结果不是其对应的预估失效模型时,将该设计检查项目标记为OK,当电子产品的所有设计模块对应的设计检查项目都标记为OK时,表示没有设计模块的设计检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型,即表示电子产品的设计是合格的。一旦有设计模块的设计检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型,表示电子产品的设计是不合格的,不对该设计检查项目进行标记。
步骤S103,判断电子产品的设计是否合格。当电子产品的设计不合格时,进入步骤S104;当电子产品的设计合格时,进入步骤S105。
步骤S104,提示模块204将该预估失效模型及其对应的失效模型数据提示给用户,例如其对应的预估失效原因、各预估失效原因对应的RPN值以及建议控制措施,然后返回步骤S101通过模块化设计***10重新完善电子产品设计,直到电子产品的设计合格。
步骤S105,当电子产品的设计合格时,验证模块206读取数据库30中的产品模块的失效模型数据,电子产品的产品模块进行验证,此时,所述的电子产品是以上述检查合格的电子产品设计为样板完成的产品样品。
在步骤S105中,具体验证步骤:针对产品模块的失效模型数据中每个产品模块均生成一个产品检查项目表,该产品检查项目表中的产品检查项目是根据该产品模块的预估失效模型生成的;读取计算机1中相应的测试软件40对电子产品的各产品模块中的产品检查项目依次进行测试,判断是否有任意一个产品检查项目的测试结果是该产品检查项目对应的预估失效模型。当有产品模块的产品检查项目的测试结果不是其对应的预估失效模型时,将该产品检查项目标记为OK,当电子产品的所有产品模块对应的产品检查项目都标记为OK时,表示没有产品模块的产品检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型,即表示电子产品的产品模块验证成功。一旦有产品模块的产品检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型,表示电子产品验证不成功,不对该项目进行标记。
步骤S106,判断电子产品是否验证成功。当电子产品验证不成功时,进入步骤S107;当电子产品的产品模块验证成功时,进入步骤S108。
步骤S107,所述的提示模块204提示将该预估失效模型及其对应失效模型数据,例如预估失效原因、各预估失效原因对应的RPN值以及建议控制措施,并返回步骤S105重新验证。
步骤S108,获取模块208获取运行该电子产品的故障数据,并判断是否获取到故障数据。所述的故障数据包括电子产品在使用或运行时出现缺陷和问题的数据。如果没有获取到故障数据,表示电子产品的设计是成功的,可以直接进行后续的量产等工作,流程结束;当获取到故障数据时,进入步骤S109。
步骤S109,所述的更新模块210更新该故障数据转化的预设格式的失效模型数据至数据库30中,返回步骤S101,通过模块化设计***10重新完善电子产品设计以及对电子产品设计进行验证。
最后所应说明的是,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制,尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换,而不脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种电子产品设计的验证方法,其特征在于,该方法包括:
建立步骤:建立预设格式的电子产品的设计模块与产品模块的失效模型数据,并存储于计算机的数据库中;
检查步骤:当利用计算机的模块化设计***完成电子产品的设计后,读取数据库中的设计模块的失效模型数据,对电子产品的设计进行失效检查,以判断电子产品的设计是否合格;
验证步骤:当电子产品的设计合格时,读取数据库中的产品模块的失效模型数据,对电子产品的产品模块进行验证;
获取步骤:当电子产品的产品模块验证成功时,获取运行该电子产品的故障数据;
更新步骤:当获取到故障数据时,更新该故障数据转化的预设格式的失效模型数据至数据库中。
2.如权利要求1所述的电子产品设计的验证方法,其特征在于,所述设计模块的失效模型数据是根据电子产品设计的规格要求以及电子产品设计的经验建立的;
所述的产品失效模型是根据验证电子产品的实际经验来建立的;以及
所述的失效模型数据包括:电子产品的各设计模块或各产品模块的预估失效模型、预估失效影响、严重度S、预估失效原因、发生率O、难检度D、风险优先数RPN、建议控制措施数据。
3.如权利要求2所述的电子产品设计的验证方法,其特征在于,所述的检查步骤包括:
针对设计模块失效模型数据中的每个设计模块均生成一个设计检查项目表,该设计检查项目表中的设计检查项目是根据该设计模块的预估失效模型生成的;
读取计算机中的测试软件依次对电子产品的各设计模块中的设计检查项目进行测试,判断是否有任意一个设计检查项目的测试结果是该设计检查项目对应的预估失效模型;
一旦有设计检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型,表示该电子产品的设计不合格;
当没有设计模块的设计检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型时,表示电子产品的设计合格。
4.如权利要求3所述的电子产品设计的验证方法,其特征在于,所述的验证步骤包括:
针对产品模块的失效模型数据中每个产品模块均生成一个产品检查项目表,该产品检查项目表中的产品检查项目是根据该产品模块的预估失效模型生成的;
读取计算机中的测试软件对电子产品的各产品检查项目表中的产品检查项目依次进行测试,判断是否有任意一个产品检查项目的测试结果是该产品检查项目对应的预估失效模型;
一旦有产品检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型,表示电子产品验证不成功;
当没有产品模块产品检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型时,表示电子产品的产品模块验证成功。
5.如权利要求4所述的电子产品设计的验证方法,其特征在于,该方法还包括步骤:
提示步骤一:一旦有设计模块的设计检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型时,或一旦有产品检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型时,提示该预估失效模型及其对应的失效模型数据;以及
在提示步骤或更新步骤后,再次利用模块化设计***完成电子产品设计并重新返回检查步骤。
6.一种电子产品设计的验证***,其特征在于,该***包括:
建立模块,用于建立预设格式的电子产品的设计模块与产品模块失效模型数据,并存储于计算机的数据库中;
检查模块,用于当利用计算机的模块化设计***完成电子产品的设计后,读取数据库中的设计模块的失效模型数据,对电子产品的设计进行失效检查,以判断电子产品的设计是否合格;
验证模块,用于当电子产品的设计合格时,读取数据库中的产品模块的失效模型数据,对电子产品的产品模块进行验证;
获取模块,用于当电子产品的产品模块验证成功时,获取运行该电子产品的故障数据;
更新模块,用于当获取到故障数据时,当获取到故障数据时,更新该故障数据转化的预设格式的失效模型数据至数据库中。
7.如权利要求6所述的电子产品设计的验证***,其特征在于,所述设计模块的失效模型数据是根据电子产品设计的规格要求以及电子产品设计的经验建立的;
所述的产品失效模型是根据验证电子产品的实际经验来建立的;以及所述的失效模型数据包括:电子产品的各设计模块或各产品模块的预估失效模型、预估失效影响、严重度S、预估失效原因、发生率O、难检度D、风险优先数RPN、建议控制措施数据。
8.如权利要求7所述的电子产品设计的验证***,其特征在于,所述的检查模块对电子产品的设计进行失效检查包括:
针对设计模块失效模型数据中的每个设计模块均生成一个设计检查项目表,该设计检查项目表中的设计检查项目是根据该设计模块的预估失效模型生成的;
读取计算机中测试软件依次对电子产品的各设计模块中的设计检查项目进行测试,判断是否有任意一个设计检查项目的测试结果是该设计检查项目对应的预估失效模型;
一旦有设计检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型,表示该电子产品的设计不合格;
当没有设计模块的设计检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型时,表示该电子产品的设计合格。
9.如权利要求8所述的电子产品设计的验证***,其特征在于,所述的验证模块对电子产品的产品模块进行验证包括:
针对产品模块的失效模型数据中每个产品模块均生成一个产品检查项目表,该产品检查项目表中的产品检查项目是根据该产品模块的预估失效模型生成的;
读取计算机中测试软件对电子产品的各产品模块中的产品检查项目依次进行测试,判断是否有任意一个产品检查项目的测试结果是该产品检查项目对应的预估失效模型;
一旦有产品检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型,表示电子产品验证不成功;
当没有产品模块的产品检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型时,表示电子产品的产品模块验证成功。
10.如权利要求9所述的电子产品设计的验证***,其特征在于,该***还包括提示模块,用于一旦有设计模块的设计检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型时,或一旦有产品模块的产品检查项目的测试结果是其对应的预估失效模型时,提示该预估失效模型及其对应的失效模型数据。
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US13/237,968 US20120310849A1 (en) 2011-06-02 2011-09-21 System and method for validating design of an electronic product

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106027691A (zh) * 2016-05-13 2016-10-12 深圳市国鑫恒宇科技有限公司 一种网卡mac地址的检查修正方法
CN110892278A (zh) * 2018-11-14 2020-03-17 Oppo广东移动通信有限公司 电子设备的故障验证方法及***
CN111047125A (zh) * 2018-10-11 2020-04-21 鸿富锦精密电子(成都)有限公司 产品不良分析装置、方法及计算机可读存储介质
CN112419094A (zh) * 2020-08-12 2021-02-26 国网江西省电力有限公司信息通信分公司 配电物联网数据产品构建方法、装置及可读存储介质

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110023967B (zh) * 2016-12-09 2022-12-23 三菱电机株式会社 故障风险指标估计装置和故障风险指标估计方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020124010A1 (en) * 2000-12-28 2002-09-05 Joong-Ki Park Design system based on design options with shared data base
US20050096874A1 (en) * 2003-10-31 2005-05-05 Smiley Karen J. Transformer testing
CN1744094A (zh) * 2004-09-03 2006-03-08 Ykk株式会社 产品设计方法、产品设计装置、产品设计***以及产品设计程序

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5021997A (en) * 1986-09-29 1991-06-04 At&T Bell Laboratories Test automation system
FR2764072B1 (fr) * 1997-05-30 1999-09-17 Sextant Avionique Procede et dispositif de test pour equipements electroniques
US7055138B2 (en) * 2001-10-23 2006-05-30 Agilent Technologies, Inc. Test executive system with tree structure for summarizing results
US7177773B2 (en) * 2005-05-31 2007-02-13 Caterpillar Inc Method for predicting performance of a future product

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020124010A1 (en) * 2000-12-28 2002-09-05 Joong-Ki Park Design system based on design options with shared data base
US20050096874A1 (en) * 2003-10-31 2005-05-05 Smiley Karen J. Transformer testing
CN1744094A (zh) * 2004-09-03 2006-03-08 Ykk株式会社 产品设计方法、产品设计装置、产品设计***以及产品设计程序

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106027691A (zh) * 2016-05-13 2016-10-12 深圳市国鑫恒宇科技有限公司 一种网卡mac地址的检查修正方法
CN106027691B (zh) * 2016-05-13 2019-06-14 深圳市同泰怡信息技术有限公司 一种网卡mac地址的检查修正方法
CN111047125A (zh) * 2018-10-11 2020-04-21 鸿富锦精密电子(成都)有限公司 产品不良分析装置、方法及计算机可读存储介质
CN111047125B (zh) * 2018-10-11 2023-11-14 鸿富锦精密电子(成都)有限公司 产品不良分析装置、方法及计算机可读存储介质
CN110892278A (zh) * 2018-11-14 2020-03-17 Oppo广东移动通信有限公司 电子设备的故障验证方法及***
CN110892278B (zh) * 2018-11-14 2022-01-11 Oppo广东移动通信有限公司 电子设备的故障验证方法及***
US11536778B2 (en) 2018-11-14 2022-12-27 Guangdong Oppo Mobile Telecommunications Corp., Ltd. Method and system for fault verification of electronic device
CN112419094A (zh) * 2020-08-12 2021-02-26 国网江西省电力有限公司信息通信分公司 配电物联网数据产品构建方法、装置及可读存储介质
CN112419094B (zh) * 2020-08-12 2024-03-29 国网江西省电力有限公司信息通信分公司 配电物联网数据产品构建方法、装置及可读存储介质

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