CN102708770A - 平面显示器的缺陷检测***及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种检测***及方法，用以对一平面显示器进行缺陷检测。首先，对待测平面显示器供电以进行操作，之后量测待测平面显示器的表面温度，并得到待测平面显示器的表面温度分布图。通过观察表面温度分布图是否有温度异常的亮点或亮线，以判别是否有缺陷存在，其中，亮点或亮线所在的区域，即为缺陷存在的区域。最后以一光学检查装置直接对缺陷存在的区域进行扫描，并得到一光学影像，进一步得知缺陷类型及位置。本发明的检测***及方法，不仅可以缩短平面显示器的检测时间，又可确切得知平面显示器的问题点，有利于进一步修复缺陷。

Description

平面显示器的缺陷检测***及方法

技术领域

本发明涉及一种检测***及方法，特别是针对平面显示器缺陷检测的***及方法。

背景技术

近年来，平面显示器的各种应用与消费者的日常生活息息相关，因此，平面显示器的发展具有无限潜力，并已成为本世纪最令人瞩目的产业。

平面显示器相关产业包括液晶显示器(LCD)、电子纸、有机发光半导体显示器(OLED display)等。其相关的应用已经具有薄型化、省电、省能源、轻量化、画质提升、视觉效果更佳以及更符合新时代生活需求的人机沟通媒介等优点。

然而，每一个平面显示器出货前需经过检测，证明没有任何缺陷，才能销售至市面。对平面显示器进行检测的现有方式包括，以自动光学检测***扫描检测，作业人员操作显微镜检测，或是对显示器通电，检查是否有断路、短路或其他缺陷。

然而，随着显示器的荧幕尺寸增加，利用自动光学检测装置，以线扫描(linescan)配合影像撷取，来检测存在于显示器中的一两个缺陷，相当费时。往往耗费一天的时间，只能检测一至两个工件。而若是由作业人员操作显微镜检测，不仅不易查找问题，也需要耗费人力成本。

另外，对平面显示器供电，直接检测显示器的电性虽然省时，但却无法得知问题所在，只要检测结果不符合标准，只能将显示器作废。但是这对于制作单价高的平面显示器来说，相当不符合经济效益。

因此，有必要提供一种检测平面显示器的方法及装置，除了解决现有的检测技术中，花费太多检测时间及人力成本的问题之外，同时又能够迅速且精确的找出问题所在，增加进一步予以修复的可能，以减少废品产生。

发明内容

有鉴于上述课题，本发明提供一种平面显示器缺陷检测***，可在短时间内检测到缺陷所在位置。平面显示器缺陷检测***包括：一电源供应器，以对平面显示器供电；一红外线温度感测装置，以在平面显示器通电后，量测平面显示器的表面温度，并输出一表面温度分布图，观察表面温度分布图是否有温度异常的亮点或亮线，来判断是否有缺陷存在；及一光学检测装置，当观察到亮点或亮线时，对该亮点或亮线所在区域进行细部扫描，并输出一光学影像，以进一步确定缺陷类型及所在位置。

本发明的平面显示器缺陷检测***包括一控制装置，具有一处理分析模块，接收并分析表面温度影像，将亮点或亮线所在区域转换为坐标数据，提供给控制装置。

本发明的又一目的，是提供一种平面显示器缺陷检测方法，包括：提供一待测平面显示器；对待测平面显示器供电以进行操作；量测待测平面显示器的表面温度，并得到表面温度分布图；通过观察表面温度分布图是否有温度异常的亮点或亮线，以判别是否有缺陷存在，其中，亮点或亮线所在的区域，即为缺陷存在的区域；及以一光学检查装置对亮点或亮线所在的区域进行扫描，以进一步得知缺陷类型及位置。

本发明的检测***及方法，不仅可以缩短平面显示器的检测时间，又可确切得知平面显示器的问题点，有利于进一步修复缺陷。关于本发明的优点与精神，可通过以下的发明说明及所附图式得到进一步的了解，然而所附图式仅供参考与说明，非以对本发明加以限制。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本发明的限定。在附图中：

图1为本发明的检测平面显示器缺陷的方法的流程图；及

图2为本发明的平面显示器缺陷检测***的俯视图。

附图标号：

S100、S105、S110、S115、S116、S117、S118、S120、S121：检测步骤

2：平面显示器缺陷检测***

20：检测设备                21：控制装置

210：处理分析模块           200：电源供应器

2100：数据库                2010：红外线电荷耦合二极管

201：红外线温度感测装置     2020：可见光电荷耦合二极管

202：光学检测装置           204：控制轨

203：滑动轨                 206：第一Y轴驱动元件

205：X轴驱动元件            207：第二Y轴驱动元件

3：平面显示器

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文依本发明所提供的平面显示器检测***及方法，特举较佳实施例，并配合所附相关图式，作详细说明如下。

请参照图1，为本发明所提供的检测平面显示器缺陷的方法的流程图。首先提供一待测平面显示器，如S100。本发明的检测方法可以适用于市面上各种尺寸及种类的平面显示器，比如：液晶显示器、电子纸、有机发光二极管显示器、电浆显示器等等。但是，针对荧幕尺寸超过80时的平面显示器来说，更能突显本发明检测方法的优点。

接着，对待测平面显示器供电以进行操作，如S105。并在待测平面显示器供电后，量测待测平面显示器的表面温度，以得到平面显示器的表面温度分布图，如S110。经由观察或分析表面温度分布图，是否有温度异常的亮点或亮线，可以判断是否有缺陷存在，如S115。

其中，测量平面显示器的表面温度时，可以选择接触式或非接触式的测量方法。在本发明实施例中，以红外线温度感测方法对平面显示器进行检测，并将平面显示器表面温度的分布，以一灰阶或彩色的表面温度影像显示。

当平面显示器中存在断路、短路或电阻过高等缺陷时，缺陷点的温度会高于其他区域，所以，会在表面温度分布图上形成亮点；另外，和缺陷点同一排或一列的像素点，由于共用同一个电极，其温度也同样会受到缺陷点影响，而在表面温度分布图上形成亮线。也就是说，亮点或亮线所在之处，即为缺陷存在之处。若无亮点或亮线存在，即表示待测平面显示器无缺陷，如S121。

虽然可以立即确定缺陷所存在区域，但是，要进一步确定缺陷类型及位置时，还需要利用一光学检测装置。要注意的是，此时光学检测装置只要扫描缺陷存在的区域即可，如S120。由于不需要再像现有技术一般，耗费很长时间扫描整个平面显示器，来确定缺陷的位置，所以相当省时。

在本发明一实施例中，除了直接观察表面温度分布图之外，若要使检测流程自动化，可以一标准平面显示器的表面平均温度，作为一参考值，如S116；接着，计算待测平面显示器每一像素点的表面温度和参考值之间的温度差值，以判断缺陷存在的位置，如S117。标示温度差值大于一预定值的像素点所在位置，并转换成坐标数据输出，以提供光学检测装置移动到该处，进行扫描，如S118及S120。

图2为依据本发明一较佳实施例的平面显示器缺陷检测***的俯视图。平面显示器缺陷检测***2至少包括一检测设备20及一控制装置21。

检测设备20包括一电源供应器200、一红外线温度感测装置201、一光学检测装置202。电源供应器200对待测的平面显示器3提供一工作电压及电流，以进行检测。

红外线温度感测装置201，配备一红外线电荷耦合二极管2010(CCD)，用来量测平面显示器3通电后的表面温度，并将平面显示器3表面温度分布图输出。在本发明实施例中，使用中远红外线温度感测器，所使用的红外线波长范围大约800至1060nm。

光学检测装置202包括一可见光电荷耦合二极管2020，以输出缺陷所在区域的光学影像。所述的光学检测装置202最佳为一自动光学检测装置。

控制装置21可以是一电脑或一处理器，用以控制红外线温度感测装置201及光学检测装置202，对平面显示器3量测表面温度及拍摄影像，并处理数据。

在一较佳实施例中，本发明的控制装置21更包括一处理分析模块210，用来计算表面温度分布图每一像素点的表面温度与一参考值之间的温度差值，以得知缺陷存在区域，并转换为坐标数据。在本发明实施例中，所述的参考值是指标准平面显示器的表面平均温度。所以，本实施例中，处理分析模块210更包括一数据库2100，以储存不同尺寸及种类平面显示器的表面平均温度。

请再参照图2，本发明实施例的检测设备20更包括二滑动轨203、一控制轨204、一X轴驱动元件205、第一Y轴驱动元件206及一第二Y轴驱动元件207。

其中，控制轨204两端架设于相互平行的二滑动轨203之间，并与二滑动轨203垂直。红外线温度感测装置201及光学检测装置202分别设置于控制轨204前后两侧。

X轴驱动元件205用以驱动控制轨204在水平方向移动，藉此调整红外线温度感测装置201及光学检测装置202的X轴坐标。第一及第二Y轴驱动元件206、207则分别驱动红外线温度感测装置201，及光学检测装置202沿控制轨204轴向，也就是Y轴方向移动。

综上所述，本发明的平面显示器检测***及方法可以在短时间内确定是否有缺陷存在。过去仅以光学检测装置对一个显示器面板，特别是对于大尺寸的面板查找缺陷或进行检测时，可能甚至要耗费一天的时间。本发明以红外线温度感测装置配合光学检测装置来检测，只需要花费数十秒钟时间，就能完成一个平面显示器检测，相较于现有技术而言，大幅节省了检测时间。

除此之外，本发明的检测方法相较于现有技术中采用通电检测的方法而言，不仅检测迅速，同时可以进一步找出问题所在，以判断是否进行修复。对于高单价的产品而言，本发明的检测方式可以降低废品产生的机会。

本发明虽以较佳实例阐明如上，然其并非用以限定本发明精神与发明实体仅止于上述实施例。凡本领域技术人员，当可轻易了解并利用其它元件或方式来产生相同的功效。是以，在不脱离本发明的精神与范畴内所作的修改，均应包含在权利要求范围内。

Claims (10)

1.一种检测平面显示器缺陷的方法，其特征在于，包括：

提供一待测平面显示器；

对所述待测平面显示器供电以进行操作；及

量测所述待测平面显示器的表面温度，并得到所述待测平面显示器的表面温度分布图；及

观察所述表面温度分布图是否有温度异常的亮点或亮线，以判别是否有缺陷存在，其中，所述亮点或亮线所在的区域，即为所述缺陷存在的区域。

2.如权利要求1所述的检测平面显示器缺陷的方法，其特征在于，量测所述待测平面显示器的表面温度时，是利用一红外线温度感测方法对所述待测平面显示器进行检测，其中，所使用的红外线波长范围大约800nm至1060nm。

3.如权利要求1所述的检测平面显示器缺陷的方法，其特征在于，当确定有缺陷存在时，更包括以一光学检查装置对所述缺陷存在的区域进行扫描，以得到一光学影像，进一步得知所述缺陷类型及位置。

4.如权利要求3所述的检测平面显示器缺陷的方法，其特征在于，观察所述表面温度分布图，并定义所述缺陷存在的区域时，更包括下列步骤：

预设一参考值；

计算所述待测平面显示器每一像素点的表面温度，与所述参考值之间的温度差值；

标示所述温度差值高于一预定值的像素点，并将所述像素点所在位置转换成坐标数据，使所述光学检查装置对所述像素点进行扫描。

5.如权利要求4所述的检测平面显示器缺陷的方法，其特征在于，所述参考值选择一标准平面显示器的表面平均温度。

6.一种平面显示器检测***，用以对一平面显示器进行缺陷检测，其特征在于，包括：

一电源供应器，以对所述平面显示器供电进行操作；

一红外线温度感测装置，以量测所述平面显示器的表面温度，并输出一表面温度分布图，通过观察所述表面温度分布图是否有温度异常的亮点或亮线，以判别是否有缺陷存在，其中，所述亮点或亮线所在的区域，即为所述缺陷存在的区域；及

一光学检测装置，当观察到亮点或亮线时，对所述亮点或亮线所在区域进行细部扫描，并输出一光学影像，以进一步得知所述缺陷类型及位置。

7.如权利要求6所述的平面显示器检测***，其特征在于，更包括一控制装置，用以控制所述红外线温度感测装置及所述光学检测装置进行检测。

8.如权利要求7所述的平面显示器检测***，其特征在于，所述控制装置包括一处理分析模块，包括一数据库，用以储存不同尺寸及种类平面显示器的表面平均温度，做为一参考值，其中，所述处理分析模块分析所述表面温度分布图每一像素点的表面温度与所述参考值的温度差值，以得知所述亮点或亮线所在区域，并转换为坐标数据。

9.如权利要求6所述的平面显示器检测***，其特征在于，所述红外线温度感测装置包括一红外线电荷耦合二极管，以输出所述表面温度影像。

10.如权利要求6所述的平面显示器检测***，其特征在于，所述光学检测装置包括一可见光电荷耦合二极管，以输出所述光学影像。

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