CN102636718B - 互电容触摸屏检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种互电容触摸屏检测方法，在待检测触摸屏上选取待检测点，检取待检测点的电容值为m，待检测点电容值的最大设定值为a、最小设定值为b；待检测点电容值与相邻检测点电容值的偏值为n，该偏值的最大设定值为x，该偏值的最小设定值为y；待检测点所在行的各检测点电容最大值与电容最小值的比值为k，比值最大设定值为u，比值最小设定值为v；如果同时满足以下条件：A＞m＞b，x＞n＞y，u＞k＞v，则判定该电容触摸屏合格，否则，判定该电容触摸屏不合格。本发明可以更准确的对互电容触摸屏进行检测，提高了产品的合格率。

Description

互电容触摸屏检测方法

技术领域

本发明涉及一种互电容触摸屏检测方法。

背景技术

在互电容触摸屏的生产制造过程中，需要对所制造的互电容触摸屏进行检测，现有的大部分作法是，在触摸屏上选取一部分点(如触摸屏的边框线上的点)作为待检测点，如果被选取的待检测点处的电容值在设定范围，则判定该互电容触摸屏合格，否则，则判定互电容触摸屏不合格。

现有的检测方法过于粗糙，无法对所生产制造的互电容触摸屏进行严格的筛选，使得产品的合格率大大降低。

发明内容

基于此，本发明在于克服现有技术的缺陷，提供一种互电容触摸屏检测方法，本发明可以更准确的对互电容触摸屏进行检测，提高了产品的合格率。

其技术方案如下：

一种互电容触摸屏检测方法，在待检测触摸屏上选取待检测点，检取待检测点的电容值为m，待检测点电容值的最大设定值为a、最小设定值为b；待检测点电容值与相邻检测点电容值的偏值为n，该偏值的最大设定值为x，该偏值的最小设定值为y；待检测点所在行的各检测点电容最大值与电容最小值的比值为k，比值最大设定值为u，比值最小设定值为v；

如果同时满足以下条件：

a>m>b，x>n>y，u>k>V，

则判定该电容触摸屏合格，否则，判定该电容触摸屏不合格。

在前述步骤中，所选取待检测点为所述触摸屏上的所有电容节点。

下面对前述技术方案的优点或原理进行说明：

在对互电容触摸屏进行检测时，需要同时考虑各待检测点处的电容值、其与相邻检测点的偏值、该偏值的斜率等多种因素，采用该检测方法后，可以使产品的合格率大大提高。

具体实施方式

下面对本发明的实施例进行详细说明：

一种互电容触摸屏检测方法，在待检测触摸屏上选取待检测点，检取待检测点的电容值为m，待检测点电容值的最大设定值为a、最小设定值为b；待检测点电容值与相邻检测点电容值的偏值为n，该偏值的最大设定值为x，该偏值的最小设定值为y；待检测点所在行的各检测点电容最大值与电容最小值的比值为k，比值最大设定值为u，比值最小设定值为v；

如果同时满足以下条件：a>m>b，x>n>y，u>k>v，则判定该电容触摸屏合格，否则，判定该电容触摸屏不合格。

在前述步骤中，所选取待检测点为所述触摸屏上的所有电容节点。

本实施例的优点是：

在对互电容触摸屏进行检测时，需要同时考虑各待检测点处的电容值、其与相邻检测点的偏值、该偏值的斜率等多种因素，采用该检测方法后，可以使产品的合格率大大提高。

以上所述实施例仅表达了本发明的具体实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。

Claims (2)

1.一种互电容触摸屏检测方法，其特征在于，在待检测触摸屏上选取待检测点，检取待检测点的电容值为m，待检测点电容值的最大设定值为a、最小设定值为b；待检测点电容值与相邻检测点电容值的偏值为n，该偏值的最大设定值为x，该偏值的最小设定值为y；待检测点所在行的各检测点电容最大值与电容最小值的比值为k，比值最大设定值为u，比值最小设定值为v；

如果同时满足以下条件：

a>m>b，

x>n>y，

u>k>v，

则判定该电容触摸屏合格，否则，判定该电容触摸屏不合格。

2.根据权利要求1所述互电容触摸屏检测方法，其特征在于，在前述步骤中，所选取待检测点为所述触摸屏上的所有电容节点。